WWW.DISSERS.RU

БЕСПЛАТНАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ БИБЛИОТЕКА

   Добро пожаловать!

Pages:     | 1 ||

ные в модели роста. Этому соответствуют прямоугольные профили на рис. 2. В процессе согласования с экспериментом пришлось увеличить энергии активации про5. Обсуждение результатов цессов обмена (E1 = 1.95 эВ, E2 = 2.25 эВ) в сравнении исследования с литературными данными для процессов МПЭ (1.и 2.0 соответственно). При значении E1 = 1.8эВ в низВозникает вопрос — на сколько реалистична такая котемпературном процессе роста B сегрегация была бы модель, где избыток индия хранится в верхнем слое еще более выражена, чем для структуры A, поэтому твердой фазы. По нашему мнению, данные работы [19] величина E1 увеличена до значения 1.95 эВ, когда кривая служат подтверждением модели. Авторы [19] наблюдали вычисленного профиля входит в пределы погрешности изменение прогиба подложки во время нанесения слоя эксперимента. Аналогично этому увеличение E2 позвоInGaAs. Прогиб рос во время нанесения слоя, затем лило объяснить большой выход индия на поверхность оставался постоянным во время паузы, хотя поток As в структуре A. Такое увеличение барьеров выхода атомов не прерывался, и, самое неожиданное, снова рос при пона поверхность в процессе МОГФЭ может быть связано следующем заращивании чистым GaAs. В рамках модели со стабилизацией ненасыщенных связей мышьяка верхроста с обменом слой–поверхность можно предложить него слоя твердой фазы водородом [8].

следующее объяснение эксперимента. Избыток индия во Травление поверхности с помощью CCl4 в случае время роста слоя InGaAs накапливается в верхнем слое структуры C моделировали удалением верхнего моно- твердой фазы, но этот слоей по своим механическим слоя твердой фазы после роста каждого из двух слоев свойствам отличается от объемного InGaAs, поскольку InGaAs. На рис. 3 дана более подробная картина про- связи на поверхности ненасыщены. Поэтому слой не цесса. Кривыми 1 и 4 показаны заданный прямоуголь- вносит вклада в упругую деформацию подложки. Во Физика и техника полупроводников, 2003, том 37, вып. Сегрегация индия при выращивании квантовых ям InGaAs / GaAs в условиях газофазной эпитаксии время паузы, несмотря на подачу мышьяка, слой не с сегрегацией. Модели удовлетворительно описывают растет, так как индий выходит на поверхность лишь эксперимент. Выявлены следующие особенности:

путем обмена, а Ga не подается. При дальнейшем зара- - модель с термоактивированным обменом слой–пощивании слоем GaAs происходит обмен, т. е. фактически верхность позволяет описать профили структур, вырарастет слой InGaAs со спадающей концентрацией индия, щенных при различных температурах;

что и приводит к росту кривизны подложки. Прямые - энергии активации процессов обмена атомов индия измерения концентраций на поверхности и в объеме in и галлия оказались выше, чем известные из литературsitu [7] также подтверждают эту модель роста в реакторе ных данных по высоковакуумным процессам. ПредлоМПЭ.

женное объяснение состоит в стабилизации ростовой поПрименяя модель послойного роста к МОГФЭ-струк- верхности водородом, который присутствует в качестве турам, мы должны иметь подтверждение слоевого ме- газа-носителя;

ханизма роста. Подтверждением могут служить резуль- добавка примеси висмута не повлияла на параметры таты атомно-силовой микроскопии поверхности аналосегрегации, в отличие от данных по МПЭ-процессам, гичных обсуждаемым структур, выращенных на слабо что также может быть связано с состоянием поверхноразориентированных подложках ( 0.2 по отношению сти, отличным от условий высокого вакуума;

к основным кристаллографическим направлениям). На - введение четыреххлористого углерода в конце роповерхности регистрировались ступени высотой 0.3 нм, ста слоя InGaAs заметно уменьшило влияние сегрегации разделенные широкими террасами [20]. Об этом же на профиль структуры, что объяснено стравливанием свидетельствуют низкие значения шероховатости поверхнего слоя, в котором накоплен избыток индия.

верхности.

Работа выполнялась при финансовой поддержке Является ли однозначной предлагаемая интерпретаРФФИ (гранты № 00-0216141, № 01-02-16441), ФЦНТП ция экспериментальных профилей Видимо нет, по„Физика твердотельных наноструктур“, „Поверхностскольку не учтена кинетика химических реакций и ганые атомные структуры“ и НАТО (проект SfP-зодинамика МОГФЭ-реактора. Можно также отметить „Semiconductors“).

некоторое противоречие в данных: для слоя 4 приходится задавать поток Ga больше, чем для слоя (см. таблицу), хотя в реальных процессах поток Ga Список литературы поддерживался постоянным для всех 4-х слоев структуры. Однако потоки в модели и в реальном процессе [1] K. Muraki, S. Fukatsu, Y. Shiraki. Appl. Phys. Lett., 61, имеют несколько разный смысл, в реальном процессе (1992).

это вводимый в реактор триметилгаллия, в модели — [2] H. Toyoshima, T. Niwa, J. Yamazaki, A. Okmato. Appl. Phys.

доставленный на растущую поверхность галлий. В связи Lett., 63, 821 (1993).

с этим природа указанного противоречия остается невы- [3] P. Yashar, M.R. Pillai, J. Mirecki-Millunchik, S.A. Barnett. J.

Appl. Phys., 83, 2010 (1998).

ясненной.

[4] M.R. Pillai, S.-S. Kim, S.T. Ho, S.A. Barnett. J. Vac. Sci.

Тем не менее наши результаты показывают, что моTechnol. B, 18, 1232 (2000).

дель с сегрегацией объясняет экспериментальные про[5] K.-J. Chao, N. Liu, C.-K. Shih. Appl. Phys. Lett., 75, фили и должна учитываться в качестве возможной при (1999).

описании процесса МОГФЭ. Отличия процессов сегре[6] O. Dehaese, X. Wallart, F. Mollot. Appl. Phys. Lett., 66, гации в МОГФЭ от высоковакуумных МПЭ-процессов (1995).

состоят в повышении энергетических барьеров выхода [7] Y.-J. Zheng, A.M. Lam, J.R. Engstrom. Appl. Phys. Lett., 75, катионов на поверхность из твердой фазы и в различном 817 (1999).

влиянии висмута в качестве проверхностно-активной [8] M. Sato, Y. Horikoshi. J. Appl. Phys., 69, 7697 (1991).

примеси. Они могут быть объяснены большой концен- [9] F. Bugge, U. Zeimer, M. Sato, M. Weyers, G. Trankle. J. Cryst.

Growth, 183, 511 (1998).

трацией водорода на поверхности в процессе МОГФЭ, [10] A.A. Marmalyuk, O.I. Govorkov, A.V. Petrovsky, D.B. Nikitin, где водород используется в качестве газа-носителя.

A.A. Padalitsa, P.V. Bulaev, I.V. Budkin, I.D. Zalevsky. Proc.

9th Int. Symp. „Nanostructures: Physics and Technology“ (St. Petersburg, Russia, 2001) p. 63.

6. Заключение [11] S.Yu. Karpov, Yu.N. Makarov. Proc 9th Int. Symp. „Nanostructures: Physics and Technology“ (St. Petersburg, Russia, В газофазном реакторе атмосферного давления вы2001) p. 47.

ращена серия структур с двойными квантовыми ямами [12] T.S. Yeoh, R.B. Swint, A.E. Huber, S.D. Roh, C.Y. Woo, InGaAs, и затем результирующий профиль распределеK.E. Lee. Appl. Phys. Lett., 79,221 (2001).

ния индия зарегистрирован с помощью послойного оже[13] J.A. Gupta, S.P. Watkins, A.D. Crozier, J.C. Woicik, электронного анализа. Процессы роста и анализа модеD.A. Harrison, D.T. Jiang, I.J. Pickering, B. A. Karlin. Phys.

лировали в едином вычислительном алгоритме, и выRev. B, 61, 2073 (2000).

численные профили согласовывали с экспериментальны- [14] Т.С. Бабушкина, Л.М. Батукова, Б.Н. Звонков, В.Н. Портми, что позволило уточнить параметры модели роста нов. Изв. РАН. Сер. Неорг. матер., 28 (2), 299 (1992).

Физика и техника полупроводников, 2003, том 37, вып. 208 Ю.Н. Дроздов, Н.В. Байдусь, Б.Н. Звонков, М.Н. Дроздов, О.И. Хрыкин, В.И. Шашкин [15] А.А. Бирюков, Б.Н. Звонков, Е.А. Ускова, В.Я. Алешкин, В.Н. Шастин. Материалы совещания „Нанофотоника“ (Н. Новгород, 26–29 марта 2001) с. 98.

[16] М.Н. Дроздов, В.М. Данильцев, Ю.Н. Дроздов, Д.В. Мастеров, О.И. Хрыкин, В.И. Шашкин. Письма ЖТФ, 22 (18), 61 (1996).

[17] S. Hoffman. Rep. Progr. Phys., 61, 827 (1998).

[18] Ю.Н. Дроздов, М.Н. Дроздов, В.М. Данильцев, О.И. Хрыкин, Д.В. Мастеров, Л.Д. Молдавская. Материалы совещания „Нанофотоника“ (Н. Новгород, 20–23 марта 2000) с. 246.

[19] J.M. Garcia, J.P. Silveira, F. Briones. Appl. Phys. Lett., 77, (2000).

[20] Ю.Н. Дроздов, Н.В. Востоков, Д.М. Гапонова, В.М. Данильцев, М.Н. Дроздов, А.В. Мурель, О.И. Хрыкин, В.И. Шашкин. Тез. докл. 5-й Росс. конф. по физике полупроводников (Н. Новгород, 10–14 сент. 2001) т. 2, с. 324.

Редактор Т.А. Полянская Indium segregation in InGaAs / GaAs quantum wells grown by metal organic vapor phase epitaxy Yu.N. Drozdov, N.V. Baidus, B.N. Zvonkov, M.N. Drozdov, O.I. Khrikin, V.I. Shashkin Institute for Physics of Microstructures, Russian Academy of Sciences, 603950 Nizhny Novgorod, Russia Physical Technical Research Institute, University of Nizhny Novgorod, 603950 Nizhny Novgorod, Russia

Abstract

Indium atom distribution in double InGaAs / GaAs quantum wells grown by metal organic vapor phase epitaxy have been studied. An indium depth profile was obtained experimentally by the Auger electron spectrometry and then simulated using the indium segregation growth model and the Auger depth profiling model. Consistency between the calculated profile and experimental data makes it possible to extract the In-Ga atomic exchange energies for the kinetic segregation model.

The values obtained are found to be somewhat above those known for molecular beam epitaxy, probably, beause of stabilizing the growth sufrace by hydrogen atoms in the vapor phase reactor.

Физика и техника полупроводников, 2003, том 37, вып.

Pages:     | 1 ||



© 2011 www.dissers.ru - «Бесплатная электронная библиотека»

Материалы этого сайта размещены для ознакомления, все права принадлежат их авторам.
Если Вы не согласны с тем, что Ваш материал размещён на этом сайте, пожалуйста, напишите нам, мы в течении 1-2 рабочих дней удалим его.