WWW.DISSERS.RU

БЕСПЛАТНАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ БИБЛИОТЕКА

   Добро пожаловать!

Pages:     || 2 |
Физика твердого тела, 1998, том 40, № 1 Исследование пленок фторированного фуллерена методами электронной спектроскопии © А.Л. Шахмин, С.В. Мурашов, Н.В. Баранов, М.А. Ходорковский Российский научный центр ”Прикладная химия”, 199034 Санкт-Петербург, Россия Всероссийский научный центр ”Государственный оптический институт им. С.И. Вавилова”, 199034 Санкт-Петербург, Россия (Поступила в Редакцию 8 июня 1997 г.) Исследованы химическая и энергетическая структуры пленки высоко-фторированного фуллерена. Проведеный анализ сложной структуры 1s спектров углерода показал наличие фрагментов C–F, C–F2, а, также присутствие некоторого числа нефторированных атомов углерода при подавляющем количестве связей C–F.

Оценена ширина запрещенной зоны полученного фторфуллерена и его пленки, равная 8.0 eV, а также отмечено наличие энергетической потери на межзонный переход при 11 eV. Сопоставление спектров валентных зон исследованных образцов позволило сделать вывод о разделении валентной зоны фторфуллеренов на анионную и катионную части (подобно щелочно-галоидным кристаллам) и предположить наличие у фторфуллеренов соответствующих свойств, позволяющих найти новым материалам широкое практическое применение.

В настоящее время наблюдается смещение интереса от 300 до 400 a.m.u., начиная с температуры 290C.

и количества работ от исследования свойств фуллерена В то же время не наблюдалось отчетливых сигналов к исследованию свойств его производных и соединений, в диапазоне масс 720-1800 a.m.u. (кроме 840 a.m.u.), связанное с поиском возможных применений новых ма- которые можно было приписать фуллеренам различной териалов. В представленной работе методами электрон- степени фторирования.

ной спектроскопии были исследованы порошки фуллере- Таким образом, из масс-спектров следует, что порошок на и фторированного фуллерена, а также полученные из фторированного фуллерена преимущественно разлагалних пленки.

ся при нагреве на фтор (в том числе атомарный) и Исследованные в представленной работе образцы при- фуллерены. Наличие большого числа пиков в диапазоне готавливались из исходной фуллереновой сажи (сме- 400-600 a.m.u. свидетельствует о развале некоторого си C60(86%) +C70(14%)). Для получения фториро- числа фторированных фуллеренов на большие фрагменты, что характерно для высокофторированных фуллереванных пленок использовался порошок фторированного фуллерена, полученного из фуллереновой сажи мето- нов [1]. Испаряемые компоненты осаждались на алюминиевую фольгу, имеющую комнатную температуру, дом газофазного фторирования молекулярным фтором при этом могло происходить, во-первых, одновременное (90% F2 + 10% N2), производства РНЦ ”Прикладная химия” в проточно-диффузионной системе. Навеска по- формирование пленки фуллерена и ее фторирование, во-вторых, фторирование фуллерена в газовом облаке рошка фуллереновой сажи фторировалась в реакторе в между напылительной ячейкой и поверхностью образтечение четырех суток при изменении температуры в ца, расстояние между которыми не превышало одного пределах от 19 до 170C до приобретения порошком сантиметра. Полученная пленка в условиях сверхвысосветло-желтого цвета. Номинальный состав полученного таким образом фторированного фуллерена (пересчитан- кого вакуума перемещалась в рентгеновский фотоэлектронный спектрометр, где проводились исследования ее ный на C60) по брутто-формуле составлял C60F46.

энергетической структуры.

Пленки фуллереновой сажи и фторированного фуллеРентгеновские фотоэлектронные спектры (РФС) всех рена получались in situ путем термического распыления образцов снимались на спектрометре ESCA-5400 (Perkin соответствующего порошка на алюминиевую фольгу, Elmer) с использованием MgK-излучения. Спектропредварительно очищенную ионным травлением. Вакуметр был откалиброван по энергии по уровню 4 f7/2 золоум в камере в процессе напыления был не хуже чем та, энергия связи которого принималась равной 84.00 eV.

5 · 10-8 Torr. Процесс напыления контролировался с помощью квадрупольного масс-спектрометра с диапа- В процессе исследования всех образцов снимались обзорные спектры, 1s-спектры O, C и F, спектры валентзоном масс до 2000. Напыление проводилось при ной зоны, а также наблюдалась зависимость разностного контролируемом нагреве до температуры 350C. При напылении пленки фторированного фуллерена по масс- тока через образец. Учет эффекта зарядки для образцов спектрам были замечены появление и заметный рост пи- фторированного фуллерена проводился по пику 1s фтора, энергия которого принималась равной энергии связи ка атомарного фтора (19 a.m.u.) и молекулярного фтора линии F1s для тефлона (688.75 eV) [2].

(38 a.m.u.) после 250C, а также появление интенсивных сигналов с массами 720 a.m.u. (C60) и 840 a.m.u. (C70), их Атомный состав исследованных образцов, рассчитандвойных ионов и большого количества масс в диапазоне ный по РФС спектрам, приведен в табл. 1. Из нее, в Исследование пленок фторированного фуллерена методами электронной спектроскопии Рис. 1. a) 1s-спектры углерода при различных углах сбора фотоэлектронов. 1 —80, 2 —45, 3 —30. b) Результат разложения 1s-спектра углерода при угле сбора (45).

частности, следует, что степень фторирования C60Fx по- бенностей для обоих фторированных образцов, что и рошка несколько выше полученного путем взвешивания. характерно для фтора, который в различных соединеДля полученных C1s-спектров пленки фторированного ниях с углеродом имеет примерно одинаковую энергию фуллерена (как впрочем и для порошка) характерна связи [2]. Обзорный спектр, полученный для пленки сложная форма, что предполагает наличие большого фторированного фуллерена, позволяет утверждать, что числа компонент, соответствующих различным химическим состояниям атомов углерода (рис. 1). НеобТаблица 1. Атомный состав порошка и пленки фторированходимо отметить, что облучение образца электронами ного фуллерена (в атомных процентах) при различных углах низкой энергии (10 eV) для компенсации зарядки не сбора фотоэлектронов приводит к изменению формы и взаимного положения особенностей C1s-спектра. Спектр при этом смещается Порошок Пленка Элемент по энергетической шкале как единой целое, что свиде45 30 45 тельствует о равномерной зарядке поверхности образца и дает возможность интерпретировать особенности F 46 34.7 34.7 36.спектра, учитывая их взаимное расположение. Спектр O 7 2.1 3.3 2.C 47 63.2 62.0 61.F1s в отличие от углерода не имеет выраженных осоФизика твердого тела, 1998, том 40, № 170 А.Л. Шахмин, С.В. Мурашов, Н.В. Баранов, М.А. Ходорковский Таблица 2. Результаты разложения C1s-спектра пленки фто- отмечалось выше, при изменении условий зарядки порированного фуллерена на отдельные компоненты верхности образца форма спектра практически не менялась, можно предположить следующую картину химичеНомер пика Относительная Eb, eV ских связей во фторированной пленке фуллерена.

(рис. 1, b) интенсивность пика, % 1) Исходя из энергий связи компонент разложения, 1 285.83 10.логично предположить, что три низкоэнергетических пи2 286.59 7.ка соответствуют атомам углерода, не имеющим связей 3 287.61 28.со фтором, но имеющим различное число ближайших 4 290.05 42.атомов углерода, соединенных со фтором. Наличие таких 5 291.93 8.6 293.6 2.32 соседей приводит к изменениям энергии связи атома 7 295.1 1.примерно по 0.3 eV (по оценке [4]) за счет каждой связи со фтором соседнего атома.

2) Максимальный пик при 290.05 eV соответствует атомам углерода, имеющим одну связь со фтором. Истолщина полученной пленки по крайней мере значиходя из атомной концентрации и численных результательно больше глубины выхода электронов с энергиятов разложения спектра C1s, приведенных в табл. 2, ми около 1100 eV (> 25 ), поскольку пики алюминия, получаем, что эти атомы составляют 26% от общего соответствующие 2s- и 2p-уровням, на спектре не прочисла атомов углерода и, следовательно, столько же являются, а небольшой пик кислорода имеет энергию атомов фтора соединены с ними. Остается еще 9% связи (535.5 eV), значительно отличающуюся от таковой атомов фтора, которые могут образовать с углеродом для исходной поверхности алюминия (533.0 eV). Как фрагменты CF2. Соответственно этих атомов углерода видно из табл. 1, кислород присутствует также и в будет примерно 7.3% от общего количества атомов углепорошке фторированного фуллерена в количестве 7% с энергией связи O1s, в максимуме равной 535.3 eV (с рода, что достаточно близко к значению интенсивности учетом зарядки по F1s), при этом спектр O1s имеет две пика при 291.93 eV. Таким образом, этот пик обусловлен особенности с энергиями 532.7 и 530.7eV. Энергия фрагментами CF2. Пики с энергиями 295.1 и 293.связи в максимуме близка к энергии связи кислорода имеют слишком малую интенсивность для серьезного в воде [2], и эта компонента может рассматриваться, анализа и могут быть обусловлены как атомами углекак адсорбированная из атмосферы вода. Остальные две рода, имеющими более 2 связей со фтором, так и (что компоненты можно отнести к кислороду, связанному кажется более вероятным) атомами углерода, имеющими с фуллереном, аналогично [3]. Пик O1s, полученный помимо связей с двумя атомами фтора еще и достаточное на пленке фторированного фуллерена, имеет максимум количество фторированных атомов углерода в качестве при 535.5 eV и небольшое плечо при 533.5 eV и может ближайших соседей.

интерпретироваться аналогично кислороду в порошке.

На пленках фуллерена, полученных тем же способом, пика кислорода не наблюдается.

Атомный состав порошка и пленки фторированного фуллерена в табл. 1 приведен для различных углов сбора фотоэлектронов, что соответствует изменению глубины анализа в пределах 10-30.

Из табл. 1 видно, что пленка достаточно однородна в пределах анализируемой толщины. Небольшое увеличение количества углерода в приповерхностной области можно отнести за счет недофторированности при окончании процесса напыления, однако разница в значениях меньше погрешности экспериментального определения атомной концентрации. В то же время эти изменения могут быть косвенно подкреплены рис. 1, a, на котором приведены C1s-спектры, полученные на пленке фторированного фуллерена при различных углах сбора электронов. Из этого рисунка видно, что на поверхности пленки (по сравнению с объемом) происходит увеличение интенсивности низкоэнергетической особенности спектра, которую (учитывая энергию связи) логично приписать атомам углерода, не связанным со фтором.

Рис. 2. Зависимость первой производной разностного тока На рис. 1, b приведены результаты разложения через пленку фторированного фуллерена от энергии падающих С1s-спектра на отдельные компоненты. Поскольку, как электронов.

Физика твердого тела, 1998, том 40, № Исследование пленок фторированного фуллерена методами электронной спектроскопии Рис. 3. Спектры энергетических потерь фотоэлектронов. 1 —после 1s-пика углерода для пленки фуллерена, 2 —после 1s-пика фтора для пленки фторированного фуллерена.

Для оценки ширины запрещенной зоны полученной дами из максимума плотности состояний валентной зоны пленки были сняты спектры валентной зоны, спектр (особенность A на рис. 4) на дно зоны проводимости.

зависимости разностного тока через образец при облу- На рис. 4 представлен спектр валентной зоны пленки чении пленки фторированного фуллерена электронами в фторированного фуллерена, форма которого существенинтервале энергий от 0 до 12 eV и РФС энергетических но отличается от формы спектра исходного фуллерена.

потерь электронов после F1s-пика.

Из сравнения спектров видно, что при совпадении по энергии ряда особенностей верха валентных зон пленка На зависимости первой производной разностного тока фторированного фуллерена имеет значительно большую через образец (рис. 2) наблюдаются пики при 1.68, 8.плотность состояний у верха валентной зоны (подобно и 11 eV. Пик при 1.68 eV соответствует ширине запреспектру валентной зоны тефлона). При этом максищенной зоны C60 и может быть обусловлен поверхностными нефторированными фрагментами C60. Поскольку низкоэнергетичные первичные электроны рассеиваются прежде всего в приповерхностном слое (в котором концентрация фтора меньше), пик при 1.68 eV имеет наибольшую интенсивность. На этом основании можно сделать вывод о том, что в поверхностном слое исследованной пленки существуют достаточно значительные структурные образования нефторированного фуллерена.

Особенность при 8.12 eV, по-видимому, характеризует запрещенную зону пленки фторированного фуллерена.

Такое значение ширины запрещенной зоны согласуется с тем, что полученная на алюминиевой фольге пленка высокофторированного фуллерена была визуально прозрачна, что свидетельствует о существенно большей, чем у фуллерена, ширине запрещенной зоны (у последнего она составляет по данным различных авторов от 1.до 1.95 eV [5,6]), и согласуется со спектром потерь после пика F1s на РФС (рис. 3), где ширина запрещенной зоны оценивается порядка 8.0 eV. Небольшое плечо у пика фтора связано, по-видимому, с рассеянием в пленке Cна поверхности. Особенность при 11 eV на зависимости Рис. 4. Спектры валентной зоны исходного фуллерена (1), разностного тока (рис. 2) может быть связана с перехо- пленки фторированного фуллерена (2) и тефлона (3).

Физика твердого тела, 1998, том 40, № 172 А.Л. Шахмин, С.В. Мурашов, Н.В. Баранов, М.А. Ходорковский мальная плотность (особенность A) лежит примерно на 3-4 eV ниже верха валентной зоны, что находится в хорошем соответствии с положением особенности при 11 eV на рис. 2. Сравнение валентных зон показывает, что область -орбиталей валентной зоны пленки фторированного фуллерена сдвинута в область больших энергий по сравнению с соответствующим районом валентной зоны фуллерена, что связано с переносом заряда ко фтору, а верх валентной зоны пленки фторированного фуллерена в основном образован 2p-состояниями фтора. Валентная зона пленки фторированного фуллерена, таким образом, состоит из низкоэнергетичной подзоны (анионной), образованной состояниями атомов фтора, и высокоэнергетичной (катионной), обусловленной состояниями углерода, т. е. является подобной зонам щелочно-галоидных кристаллов (ЩГК) [7]. На основании сходства валентных зон и величин запрещенной зоны [7] можно ожидать, что высокофторированный фуллерен и его пленки будут обладать рядом свойств, характерных для ЩГК. Например, можно предположить возможность создания простых и технологичных высокоэффективных эммитеров вторичных электронов, в том числе на основе фторирования ориентированных структур трубчатых фуллеренов.

Данная работа проводилась в рамках Государственной научно-технической программы ”Актуальные направления в физике конденсированных сред” (направление ”Фуллерены и атомные кластеры”) и финансировалась Общественным объединением ученых Фонд интеллектуального сотрудничества ”Интеллект”.

Список литературы [1] H. Selig, C. Lifshitz, T. Peres, J.E. Fischer, A.R. McGhile, W.J. Romanow, J.P. McCauley, A.B. Smith. J. Am. Chem. Soc.

113, 5475 (1991).

Pages:     || 2 |



© 2011 www.dissers.ru - «Бесплатная электронная библиотека»

Материалы этого сайта размещены для ознакомления, все права принадлежат их авторам.
Если Вы не согласны с тем, что Ваш материал размещён на этом сайте, пожалуйста, напишите нам, мы в течении 1-2 рабочих дней удалим его.