WWW.DISSERS.RU

БЕСПЛАТНАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ БИБЛИОТЕКА

   Добро пожаловать!

Pages:     | 1 ||

пиков является следствием малого размера частиц в b — расчетный спектр от „идеального порошка“ модельных порошке или доменов в пленке, что подтверждается частиц политипной структуры высотой 3.4 nm с длиной сторотакже и данными просвечивающей электронной микроны гексагональной грани частицы 2.9 nm, частица состоит из скопии [19]. В основе большинства методов расчета 3380 атомов; c — суперпозиционный спектр от „идеального рентгеновских спектров лежит моделирование рассеяпорошка“, состоящего на 35% из частиц кубической фазы ния либо на бесконечной трехмерной структуре, либо на и на 65% из частиц гексагональной фазы (вклады спектров ряде бесконечных кристаллических плоскостей, поэтому кубической и гексагональной фаз обозначены штриховой и уширение пиков в этих методах, как правило, реали- пунктирной линиями соответственно), кристаллы обеих фаз зуется путем аппроксимации отдельного пика уширяю- состоят из 2710 атомов, высота частиц 1.7 nm, длина стороны 3.7 nm.

щей колоколообразной функцией псевдо-Фойгта. Метод расчета, предлагаемый в данной работе, приводит к уширению дифракционных пиков автоматически (вследствие моделирования рассеяния рентгеновских лучей на При отличии в 5-10% от этого соотношения основчастице с малым числом атомов).

ной максимум расчетных спектров расщепляется на Большинство экспериментальных спектров от тонких ряд пиков, соответствующих ГЦК- и ГПУ-структурам, пленок и нанопорошков сульфида кадмия имеет следуюи полностью теряет черты основного пика эксперищие особенности: 1) основной максимум интенсивности ментальных спектров. В большинстве работ отмечается приходится на угол 2 27, его полная ширина на сложность интерпретации спектров тонких пленок и половине высоты может достигать 4.5; 2) наличие нанопорошков CdS суперпозицией кубической и гексаплеч по обе стороны основного пика, „левое плечо“ гональной фаз; тем не менее это объяснение является (около 25.5) обычно более выражено, чем „правое“ самым распространенным в литературе. Компьютерное (28); 3) значительно меньшие по интенсивности пики моделирование позволяет убедиться в неполноте такого при углах около 44 и 52; иногда между ними возникает объяснения и выявляет скрытое при поверхностном слобоинтенсивный едва заметный широкий пик.

анализе предположение о строгом процентном соотноОсновная проблема интерпретации спектра от пленок шении двух кристаллических фаз при любых условиях и нанопорошков CdS состоит в том, что на угол, синтеза CdS (65% ГПУ и 35% ГЦК), что представляется равный 27, не приходится максимумов интенсивностей маловероятным.

от кристаллических ГЦК- и ГПУ-структур. Оптимальный На рис. 3 приведено сравнение экспериментального результат сравнения расчета спектра для смеси двух спектра с рассчитанным для „порошка“ частиц разуфаз с экспериментальными данными возникает при 65% порядоченной структуры и рассчитанным суперпозицисодержании гексагональной фазы и 35% содержании онным спектром для „порошка“ двух кристаллических кубической. Только при таком количественном соот- фаз (65% ГПУ и 35% ГЦК). Очевидно, что спектр ношении между кубической и гексагональной фазами от разупорядоченной структуры отражает характерные основной максимум интенсивности рассеяния находится черты экспериментального спектра CdS в отличие от на угле, равном 27. Но пик расчетного спектра является суперпозиционного спектра. Малые пики расчетных „тупым“, тогда как на экспериментальных спектрах спектров смещены в сторону меньших углов примерно основной пик достаточно „острый“. на 0.1-0.3 относительно экспериментальных пиков при Физика твердого тела, 2007, том 49, вып. Атомная структура наночастиц сульфида кадмия углах 44.2 и 52.1. Вызвано это тем, что расстояние между двумя ближайшими атомами в модельной частице задается равным 0.413 nm, как в идеальной структуре CdS, тогда как в реальной структуре оно может варьироваться от 0.41 до 0.415 nm.

Спектры от разупорядоченных структур рассчитываются при одном конкретном расположении шестиугольних плоских структур в модельной наночастице (для рис. 3 ABABCACABA), что, однако, дает хорошее согласие с экспериментом (в отличие от модели, предложенной в [10], где только суперпозиция спектров от структур с различными последовательностями дает качественное согласие с экспериментом). Естественно, различные частицы реального порошка могут иметь разную разупорядоченную структуру, расчет лишь позволяет выявить тип разупорядоченности, свойственный большинству частиц.

Рис. 4. Зависимость расчетных дифракционных спектров от Для того чтобы оценить степень надежности поструктуры частиц „идеального порошка“. Спектр значительно лученного результата с разупорядоченной структурой меняется в зависимости от степени неупорядоченности струкCdS, далее проведен анализ того, как дефект упаковки туры, вызываемой C-плоскостью внутри гексагональной послев структуре частицы влияет на вид дифракционной довательности ABA... BA. Сравнение спектров по R-фактору картины (рис. 4). В зависимости от расположения проводится в таблице.

C-плоскости внутри гексагональной последовательности ABABABABA структура частицы, а следовательно, и дифракционная картина претерпевают значительные изтуры относительно других расматриваемых структур менения. Будем сравнивать спектры дефектных структур или, иначе говоря, наиболее ярко выраженным политисо спектрами кристаллических структур.

пизмом. В зависимости от величины фактора расходиСравнение спектров (рис. 4) на основе фактора расхомости (Rstruct 0.5) структуры можно характеризовать димости R проводится в таблице. R-фактор определяеткак дефектные кристаллические или политипные. Из ся как рис. 4 видно, что при введении дефектных плоскостей 60 не удается получить спектр, который бы также хорошо Rstruct = Istruct(2) - I(2) Istruct(2), описывал расчетный спектр, как это происходит в случае 2=20 2=20 с разупорядоченной структурой.

Все указанные выше особенности расчетных спектров где I(2) — значение интенсивности рассеяния при от „идеального порошка“ модельных частиц свидетельугле, равном 2; Istruct(2) — значение интенсивности ствуют о том, что при интерпретации рентгеновских рассеяния при угле, равном 2, для спектра от структуспектров тонких пленок и ультрадисперсных порошков ры, относительно которой проводится сравнение. Спектр сульфида кадмия необходимо учитывать эффект, выот структуры с последовательностью ABAB-C-ABAB званный малым размером рассеивающих частиц и их имеет Rfcc, Rhcp 2, т. е. эта структура обладает макнеупорядоченной структурой.

симальной степенью неупорядоченности атомной струк5. Заключение Значения фактора расходимости R для спектров (рис. 4) различных структур, рассчитанных относительно спектров ГПУ-, О нанокристаллическом состоянии сульфида кадмия ГЦК- и политипной (ABAB-C-ABAB) структур (структуры в тонких пленках и порошках свидетельствуют данные разделены на типы в соответствии со значением Rstruct 0.5) как рентгеноструктурного анализа, так и просвечивающей электронной микроскопии. Однако эти методы в Тип структуры Последовательность Rhcp Rfcc RABAB-C-ABAB большинстве случаев не позволяют однозначно опредеГПУ-структуры ABABABABA 0 6.5 2.лить структуру CdS в наносостоянии. Численный расчет (в том числе ABABABAB-C 0.1 5.3 1.дифракционных спектров на системе модельных частиц дефектные) BABABAB-C-A 0.5 3.7 0.позволяет уточнить как структуру нано-CdS, так и харакПолитипные ABABAB-C-AB 1.4 2.5 0.терные размеры частиц. Установлено, что наночастицы структуры BABAB-C-ABA 1.8 2.5 0.сульфида кадмия имеют разупорядоченную структуру, ABAB-C-ABAB 2.2 2.6 отличную от кристаллических структур вюрцита и сфаAB-C-ABAB-C-A 3.6 1.1 0.лерита. Это является важным при освоении технологий ГЦК-структура ABC-ABC-ABC 6.5 0 2.использования нанокристаллического сульфида кадмия 10 Физика твердого тела, 2007, том 49, вып. 148 А.С. Ворох, А.А. Ремпель в оптоэлектронных устройствах на основе квантовых точек. Характерные размеры наночастиц по экспериментальным и расчетным данным составляют порядка 5 nm, модельные частицы такого размера содержат примерно 3400 атомов.

Ввиду простоты алгоритмизации кинематической формулы Дебая предложенный метод расчета дифракционных спектров может быть применим и для других наноматериалов (в частности, в том случае, когда нанообъекты имеют структуру, отличную от кристаллической).

Список литературы [1] J. Zhang, L. Sun, S. Liao, C. Yan. Solid State Commun. 124, 45 (2002).

[2] K. Yasuda, H.B. Samion, M. Miuata, N. Araki, Y. Masuda, Y. Tomita. J. Cryst. Growth 222, 477 (2001).

[3] M.H. Badawi, S. Aboul-Enein, M. Ghali, G. Hassan.

Renewable Energy 14, 107 (1998).

[4] H. El Maliki, J.C. Berne’de, S. Marsillac, J. Pinel, X. Castel, J. Pouzet. Appl. Surf. Sci. 205, 65 (2003).

[5] M. Rusu, A. Rumberg, S. Schuler, S. Nishiwaki, R. Wurz, S.M. Babu, M. Dziedzina, C. Kelch, S. Siebentritt, R. Klenk, Th. Schedel-Niedrig, M.Ch. Lux-Steiner. J. Phys. Chem. Sol.

64, 1849 (2003).

[6] H. Metin, R. Esen. J. Cryst. Growth 258, 141 (2003).

[7] Daniel R. Johnson. Thin Solid Films 362, 321 (2000).

[8] B. Su, M. Wei, K.L. Choy. Mater. Lett. 47, 83 (2001).

[9] K. Senthil, D. Mangalaraj, Sa.K. Narayandass, R. Kesawamoorthy, G.L.N. Reddy, B. Sundaravel. Physica B 304, (2001).

[10] P.N. Gibson, M.E. Ozsan, D. Lincot, P. Cowache, D. Summa.

Thin Solid Films 362, 34 (2000).

[11] C. Ricolleau, L. Audinet, M. Gandais, T. Gacoin, J.P. Boilot.

J. Cryst. Growth 203, 486 (1999).

[12] G.S. Wu, X.Y. Yuan, T. Xie, G.C. Xu, L.D. Zhang, Y.L. Zhuang.

Mater. Lett. 58, 794 (2004).

[13] W. Wang, Z. Liu, C. Zheng, C. Xu, Y. Liu, G. Wang. Mater.

Lett. 57, 2755 (2003).

[14] O. Conde, A.G. Rolo, M.J.M. Gomes, C. Riccoleau, D.J. Barber. J. Cryst. Growth 247, 371 (2003).

[15] N. Pinna, K. Weiss, J. Urban, M.P. Pileni. Adv. Matter 13, (2001).

[16] International tables for X-ray crystallography. Vol. IV.

Birmingham, England (1974). 366 с.

[17] С.В. Черепанова. Автореф. канд. дис. Новосибирск (2000). 19 с.

[18] А.И. Гусев, А.А. Ремпель. Нанокристаллические материалы. Физматлит, М. (2000). 224 с.

[19] A.A. Rempel, N.S. Kozhevnikova, S. Van den Berghe, W. Van Renterghem. Phys. Stat. Sol. (b) 242, R 61 (2005).

[20] B. Liu, H.C. Zeng. JACS 127, 18 262 (2005).

Физика твердого тела, 2007, том 49, вып.

Pages:     | 1 ||



© 2011 www.dissers.ru - «Бесплатная электронная библиотека»

Материалы этого сайта размещены для ознакомления, все права принадлежат их авторам.
Если Вы не согласны с тем, что Ваш материал размещён на этом сайте, пожалуйста, напишите нам, мы в течении 1-2 рабочих дней удалим его.