WWW.DISSERS.RU

БЕСПЛАТНАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ БИБЛИОТЕКА

   Добро пожаловать!

Pages:     | 1 ||

бок. При этом предполагалось, что рассматриваемый здесь эффект экранирования относится к нанотрубкам, Список литературы находящимся внутри массива, пренебрегая тем самым краевыми эффектами, которые относятся к нанотрубкам, [1] Dresselhaus M.S., Dresselhaus G., Eklund P.C. Sciecne of находящимся на границе массива. Очевидно, такие наноFullerenes and Carbon Nanotubes. San Diego: Academic трубки меньше подвержены эффекту экранирования, так Press, 1996. 224 p.

что для них величина коэффициента усиления должна [2] Saito R., Dresselhaus G., Dresselhaus M.S. Physical превышать соответствующее значение, присущее внуProperties of Carbon Nanotubes. London: World Scientific тренним нанотрубкам. С целью количественного анализа Publ., 1998. 234 p.

9 Журнал технической физики, 2005, том 75, вып. 130 Г.С. Бочаров, А.В. Елецкий [3] Ebbesen T.W. Carbon Nanotubes: Preparation and Properties.

Boca Raton: CRC Press, 1997. 232 p.

[4] Елецкий А.В. // УФН. 1997. Т. 167. № 9. С. 945–972.

[5] Gulyaev Yu.V. et al. // Proc. 7th Intern. Vacuum Microel. Conf.

Grenoble, 1994. P. 322. Vaccum Sci. & Tech. 1995. Vol. B13.

N 2. P. 234–239. Гуляев Ю.В. и др. // Микроэлектроника.

1997. Т. 26. № 2. С. 84–89. Chernozatonskii L.A. et al. // 8th Intern. Vacuum Microel. Conf. Technical Digest. Portland, 1995. P. 363; Chem. Phys. Lett. 1995. Vol. 233. N 1. P. 63–68.

[6] De Heer W.A., Chatelain A., Ugarte D. // Science. 1995.

Vol. 270. N 23. P. 1179–1182.

[7] Елецкий А.В. // УФН. 2002. Т. 172. № 4. С. 401–438.

[8] Gomer R. Field Emission and Fiels Ionization Harvard Univ.

Press. 2nd ed. 1993. 221 p.

[9] Bocharov G.S., Eletskii A.V., Korshakov A.V. // Rev. Adv.

Mater. Sci. 2003. Vol. 5. N 4. P. 371–374.

[10] Obraztsov A.N. et al. // Diamond and Related Materials. 2003.

Vol. 12. N 23. P. 446–449.

[11] Nilsson L. et al. // Appl. Phys. Lett. 2000. Vol. 76. N 15.

P. 2071–2073.

[12] Kokkorakis G.C., Modinos A., Xanthakis J.P. // J. Appl. Phys.

2002. Vol. 91. N 7. P. 4580–4584.

Журнал технической физики, 2005, том 75, вып.

Pages:     | 1 ||



© 2011 www.dissers.ru - «Бесплатная электронная библиотека»

Материалы этого сайта размещены для ознакомления, все права принадлежат их авторам.
Если Вы не согласны с тем, что Ваш материал размещён на этом сайте, пожалуйста, напишите нам, мы в течении 1-2 рабочих дней удалим его.