WWW.DISSERS.RU

БЕСПЛАТНАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ БИБЛИОТЕКА

   Добро пожаловать!

Pages:     | 1 ||

одной и той же экспозиции. Оценка дискриминационных процессов при эрозии поверхности лазерным излучеЭрозированная поверхность нием производилась по отличию отношения аналити64 64 Параметр As Zn+/ As Zn2+/ As Znсумма Zi/ Catt 64Zn/ 64 ческих сигналов As ZnZi/As CuZi от отношения атте65 65 As Cu+ As Cu2+ As Cuсумма Zi Catt 65Cu стованных концентраций Catt 64Zn/Catt 65Cu. В идеальном Анализ 1 0.819 0.805 0.818 0.случае при отсутствии дискриминаций эти отношения Анализ 2 0.871 0.839 0.868 0.должны совпадать. Результаты измерений на приборе Анализ 3 0.816 0.806 0.815 0.МС 3101 для 4 анализов на исходной и эрозированной Анализ 4 0.897 0.805 0.889 0.поверхностях представлены в табл. 3 и 4. Обработка Ki 0.848 0.814 0.845 0.результатов в соответствии с [5] показала, что две, % -15.07 -18.51 -15.35 совокупности отношения аналитических сигналов для ( ), % 4.71 2.05 4.4 исходной и эрозированной поверхностей не являются Cmin, % 0.784 0.787 0.786 составляющими одной общей совокупности, их различия Cmax, % 0.912 0.84 0.904 определяются эрозией поверхности излучением ОКГ.

Здесь мы наблюдаем те же закономерности: значительное снижение концентрации Zn и увеличение ее для Cu. Интересно оценить зарядовый состав аналитических веденных данных, отношения аналитических сигналов сигналов для исходной и эрозированной поверхности.

двухзарядных и трехзарядных ионов к аналитическим В табл. 5 представлены отношения аналитических сигсигналам однозарядных ионов для Cu и Zn на каждой по65 налов двух и трех зарядных ионов изотопов Cu и Zn верхности одинаковы. Однако выход двухзарядных ионов к их сигналам однозарядных ионов. Как видно из прина исходной поверхности в 3.5 раза, а трехзарядных ионов на порядок выше по сравнению с эрозированной поверхностью. Это свидетельствует о том, что, несмотря на неизменность режима работы оптического квантового генератора, плотность мощности лазерного излучения в точке взаимодействия в этих двух вариантах различна.

Судя по тому, что выход многозарядных ионов из пятна взаимодействия выше на исходной поверхности, плотность мощности лазерного излучения здесь выше, чем на эрозированной. Снижение плотности мощности на эрозированной поверхности можно объяснить ее шероховатостью, которая при одинаковых размерах пятна взаимодействия на обеих поверхностях увеличивает в последнем случае ее площадь. Обычно при проведении анализов методом лазерной масс-спектрометрии в расчете концентраций элементов используют аналитические Рис. 3. РЭММА 102: A — эрозированная поверхность, B — линии однозарядных ионов. Это значительно сокращает исходная поверхность, Ki — отношение концентраций; волвремя обработки результатов и упрощает ее. Такой новой спектрометр: d — CchCu/CattCu, e — CchZn/CattZn, подход может быть оправдан при малом вкладе многоэнергодисперсионный спектрометр: f — CchCu/CattCu, h — CchZn/CattZn, k — CattZn/CattZn, m — CattCu/CattCu. зарядных ионов в аналитический сигнал по сумме всех Журнал технической физики, 2004, том 74, вып. Влияние лазерной эрозии на концентрацию меди и цинка в поверхностном слое латуни Таблица 5. Список литературы Эрозированная Исходная [1] Рамендик Г.И. Элементарный масс-спектрометрический Параметр поверхность поверхность анализ твердых тел. М.: Химия, 1993. 191 с.

65 [2] Борискин А.И., Павленко П.А., Еременко В.М. и др. // As Cu2+/As Cu+ 0.013 0.65 Вестник Сумского государственного университета. Сер.

As Cu3+/As Cu+ 2.7 10-05 2.1 10-64 физика, математика, механика. 2002. № 13 (46). C. 105–119.

As Zn2+/As Zn+ 0.014 0.64 As Zn3+/As Zn+ 3.1 10-05 2.0 10-04 [3] Рамендик Г.И., Хромов А.Ю. и др. // ЖАХ. 1988. Т. 43. № 2.

C. 224–228.

[4] Рамендик Г.И., Хромов А.Ю., Волков В.Л. и др. // ПТЭ.

1986. № 2. C. 182–185.

[5] Митропольский А.К. Техника статических вычислений. М.:

зарядностей. Как видно из табл. 5, при соответствующем ИФМЛ, 1961. 479 с.

выборе величины плотности мощности излучения ОКГ [6] Борискин А.И. Варакин О.В., Еременко В.М. и др. // Вестэтот вклад незначителен и им можно пренебречь.

ник Сумского государственного университета. Сер. физика, математика, механика. 2002. № 5 (38)–6 (39). C. 124–138.

Заключение Исследование эрозированной поверхности стандартного образца М161 показало, что дискриминация концентраций меди и цинка весьма существенна. В результате такого воздействия излучения ОКГ содержание цинка на поверхностном слое уменьшается, а концентрация меди увеличивается. В то же время анализ сходной поверхности масс-спектрометром МС 3101 в режиме, когда кратеры от воздействия отдельных импульсов излучения оптического квантового генератора не накладываются друг на друга, показал отсутствие 64 существенных отличий отношения As ZnZi/As CuZi от аттестованного значения Catt 64Zn/Catt 65Cu. Проведенные измерения показали, что предварительная эрозия поверхности стандартного образца М161 приводит к значительному изменению содержанию меди и цинка в поверхностном слое. Природа подобных дискриминаций кроется в отличиях физических свойств элементов, входящих в сложный по составу образец. Это может иметь значение не только для лазерной масс-спектрометрии, но и для других физических методов, использующих возбуждение пробы с помощью сфокусированного излучения оптического квантового генератора. Можно предположить, что снижение такого рода дискриминаций возможно осуществить путем исключения наложения кратеров друг на друга, чтобы проба отбиралась для анализа с каждым импульсом излучения ОКГ только с исходной поверхности. Такой режим легко реализуется путем сканирования исследуемого образца, соответствующим выбором скорости его перемещения по координатам X, Y и частоты импульсов излучения оптического квантового генератора. Однако окончательный вывод о правомочности такого предположения для различных матриц, элементы которых имеют резко отличающиеся физические свойства, возможен после проведения многочисленных дополнительных исследований. Следует подчеркнуть в этой связи, что представляет также значительный интерес изучение влияния степени эрозии поверхности на концентрации этих элементов.

8 Журнал технической физики, 2004, том 74, вып.

Pages:     | 1 ||



© 2011 www.dissers.ru - «Бесплатная электронная библиотека»

Материалы этого сайта размещены для ознакомления, все права принадлежат их авторам.
Если Вы не согласны с тем, что Ваш материал размещён на этом сайте, пожалуйста, напишите нам, мы в течении 1-2 рабочих дней удалим его.