WWW.DISSERS.RU

БЕСПЛАТНАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ БИБЛИОТЕКА

   Добро пожаловать!

Pages:     | 1 ||

При моделировании шумов к регистрируемому сигналу (3) добавлялись случайные шумы различной проРис. 5. Результат восстановления при шуме с параметрами странственной частоты (или периода ) и амплитуды.

a — = 0.03 nm, = 0.5%; b — = 0.05 nm, = 2.0%;

На рис. 5 представлены результаты моделирования.

c — = 0.09 nm, = 5.0%; d — = 0.11 nm, = 6.0%.

Амплитуда шума приведена в процентном отношении к максимальному значению самого сигнала R.

по порядку соотвествует ширине зонда ( r = 0.04 nm).

4. Заключение Само изображение не имеет значения для процесса моделирования. Физически моделируемый размер тестовой В результате проделанной работы были выявлены картинки 4 4nm.

следующие диапазоны параметров, которые позволяют Необходимость процедуры восстановления изображес допустимым качеством реконструировать образ при ния образца из детектируемого сигнала видна из рис. 3, сканировании решеткой фокусов атомных линз от пучка где приведен результат сканирования.

электронов: r1 = 0.15-0.30 nm — значения ширины При моделировании выявлялись условия, ограничива- огибающей пиков распределения интенсивности падаюющие возможность визуализировать образец. щей на образец волны, которое используется при реконЖурнал технической физики, 2005, том 75, вып. Возможности реконструкции образа при сканировании решеткой фокусов атомных линз... струкции (значение истинной ширины r1 = 0.25 nm).

Максимальные значения амплитуды шума, которые еще позволяют визуализировать образец с допустимым качеством, для различных пространственных частот шума -1 приведены в таблице.

, nm, % 0.03 0.0.05 2.0.09 5.0.11 6.Приведенные результаты могут служить ориентировочными данными для постановки эксперимента.

Список литературы [1] Smironov Valery V. // J. Phys. D. 1998. Vol. 31. N 13. P. 1548– 1555.

[2] Cowley J.M. // Phys. Rev. Lett. 2000. Vol. 84. N 16. P. 3618– 3621.

[3] Smirnov V.V., Cowley J.M. // Phys. Rev. B. 2002. Vol. 65. N 6.

P. 064 109(9).

[4] Cowley J.M., Hudis J.B. // Microscopy & Microanalysis. 2000.

N 6. P. 429–436.

[5] Dunin-Borkowski R.E., Cowley J.M. // Acta Cryst. 1999.

Vol. A55. P. 119–126.

[6] Cowley J.M., Spence J.C.H., Smirnov Valery V. // Ultramicroscopy. 1997. Vo. 68. N 2. P. 135–148.

[7] Смирнов В.В. // ЖТФ. 2001. Т. 71. Вып. 7. С. 92–97.

[8] Mityureva A.A., Smirnov V.V., Vorobiev O.A. // J. Phys. D.

2001. Vol. 34. N 13. P. L65–L69.

[9] Смирнов В.В., Воробьев О.А., Митюрева А.А., Примагина Т.Е. // Вестник СПбГУ. Сер. 4. 2003. Вып. 3 (№20).

С. 23–36.

[10] Смирнов В.В., Воробьев О.А., Митюрева А.А., Примагниа Т.Е. // Изв. вузов. Электроника. 2003. № 2. С. 3–7.

[11] Sanchez Michael, Cowley J.M. // Ultramicroscopy. 1998.

Vol. 72. P. 214–222.

[12] Cowley J.M., Dunin-Borkowski R.E., Hayward Michele. // Ultramicroscopy. 1998. Vol. 72. P. 223–232.

[13] Cowley J.M., Ooi N., Dunin-Borkowski R.E. // Actae Cryst.

1999. Vol. A55. P. 533–542.

[14] Cowley J.M. // Ultramicroscopy. 2000. Vol. 81. N 2. P. 47–55.

[15] Van Dyck D. // Advances in Electronics and Electron Physics.

Orlando, 1985. Vol. 65. P. 295–355.

[16] Ландау Л.Д., Лившиц Е.М. Квантовая механика. Нерелятивистская теория. Т. 3. М.: Наука, 1989. С. 809.

Журнал технической физики, 2005, том 75, вып.

Pages:     | 1 ||



© 2011 www.dissers.ru - «Бесплатная электронная библиотека»

Материалы этого сайта размещены для ознакомления, все права принадлежат их авторам.
Если Вы не согласны с тем, что Ваш материал размещён на этом сайте, пожалуйста, напишите нам, мы в течении 1-2 рабочих дней удалим его.