WWW.DISSERS.RU

БЕСПЛАТНАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ БИБЛИОТЕКА

   Добро пожаловать!

Журнал технической физики, 2000, том 70, вып. 7 05;11;12 Влияние термического отжига на спектральные свойства электролитически осажденных углеродных пленок © В.П. Дымонт, М.П. Самцов, Е.М. Некрашевич Институт физики твердого тела и полупроводников АН Белоруссии, 220072 Минск, Белоруссия E-mail: ryzkov@ifttp.bas-net.by (Поступило в Редакцию 7 апреля 1999 г.) Изучено влияние термического отжига на свойства углеродных пленок, осажденных на никелевых электродах электрохимическим методом. Показано, что отжиг при температуре 300C приводит к образованию наноразмерных кластеров алмаза. При увеличении температуры отжига размеры алмазных кластеров уменьшаются. При температуре отжига 900C весь углерод взаимодействует с никелем, образуя карбид никеля.

Введение диапазоне 1000–4000 cm-1. Оже-спектры получены с помощью спектрометра PERKIN-ELMER PHI-660.

Ряд свойств алмазоподобных углеродных пленок (прозрачность в видимом и инфракрасном диапазоне, химичеЭкспериментальные результаты ская стойкость, высокая твердость и теплопроводность) делают их перспективным материалом для использоваВакуумный отжиг углеродных пленок приводит к ния в различных областях производства. Характеристивизуально наблюдаемым изменениям поверхности. Так, ки алмазоподобных углеродных пленок в значительной пленка, отожженная при 300C, меняет цвет со светлостепени зависят от способов и условий их получекоричневого на темный, почти черный, оставаясь при ния. Ранее нами разработан новый способ получения этом сплошной. Отжиг при 600C приводит к более знаалмазоподобных углеродных пленок с использованием чительному потемнению пленки: она становится черной, электролитического процесса. Описание этого метода, а глянцево-блестящей. После отжига при 900C пленка также некоторые свойства полученных покрытий пристановится прозрачной. Для всех образцов зарегистриведены в работах [1,2]. В данной работе приводятся рованы спектры комбинационного рассеяния света (КР), результаты исследований электролитически нанесенных, инфракрасные спектры (ИК) и спектры оже-электронов.

отожженных при различных температурах пленок метоа) Свежеприготовленная пленка. КР спектр дами комбинационного рассеяния света, инфракрасного свежеприготовленной пленки приведен на рис. 1. В поглощения и оже-спектроскопии.

области частот 1200–1700 cm-1 наблюдается широкий асимметричный пик. В спектре ИК поглощения этой же Методики получения образцов пленки наблюдаются две широкие полосы поглощения с центрами приблизительно при 1580 и 1350 cm-1. ИК и измерений спектр приведен на рис. 2. На рис. 3 приведен оже-спектр Пленки получены электролитическим методом на ни- пленки. На этом спектре кроме углеродного наблюдаюткелевых электродах при низкой (-40C) температуре. В ся пики, соответствующие азоту, кислороду и никелю.

качестве электролита использовали раствор ацетилена б) Пленка, отожженная при 300 C. КР в жидком аммиаке. Электролиз проводили при напря- спектр этой пленки приведен на рис. 4. В целом он жении 10 V в течение 15 h. Более подробно методика аналогичен спектру предыдущего образца. Наблюдается получения пленок описана в [2]. При таких условиях лишь некоторое увеличение интенсивности рассеяния в были получены достаточно толстые (1-2 µm), гладкие, области более низких частот. ИК спектр отожженной светло-коричневые, высокоомные пленки. Были исследо- пленки мало отличается от ИК спектра свежеприготовваны свойства свежеприготовленных пленок и пленок, ленной. Также не обнаруживается существенных разлиотожженных при 300, 600, 900C. Отжиг пленок прово- чий и в оже-спектрах этих образцов.

дили в течение 1 h в кварцевых ампулах, откаченных до в) Пленка, отожженная при 600 C. В давления не более 10-4 Pa. Спектры комбинационного спектре комбинационного рассеяния этой пленки (рис. 5) рассеяния света в диапазоне 1000–1800 cm-1 регистри- наблюдается дальнейшее увеличение относительной инровали при комнатной температуре на спектрометре тенсивности полосы рассеяния в области 1350 cm-1.

RAMALOG-44 (длина волны возбуждения падающего Оже- и ИК спектры исследованных образцов практичеизлучения = 514.5nm). Инфракрасные спектры в ски не изменяются.

геометрии на отражение снимали на спектрофотомет- г) Пленка, отожженная при 900 C. Спекре PERKIN-ELMER 180 при комнатной температуре в тральные свойства пленки, отожженные при этой темпеВлияние термического отжига на спектральные свойства... ратуре, существенно изменяются. В КР спектре в диапазоне (1000-1800 cm-1) исчезают полосы рассеяния.

Существенно изменяется и оже-спектр (рис. 6). Не наблюдается линии, обусловленной присутствием азота, и, кроме того, существенно изменяется форма низкоэнергетической области углеродного пика (вставка на рис. 6).

Обсуждение Для двух известных кристаллических форм углерода — графита (sp2-гибиридизация) и алмаза (sp3-гибридизация) спектры комбинационного рассеяния света обРис. 3. Оже-спектр свежеприготовленной пленки.

стоятельно рассмотрены в работе [3]. Для монокристаллического и поликристаллического алмаза наблюдается Рис. 4. Спектр комбинационного рассеяния пленки, отожженРис. 1. Спектр комбинационного рассеяния свежеприготов- ной при 300C.

ленной пленки.

только один пик на частоте при 1332 cm-1. Спектр монокристаллического графита также состоит из линии при 1590–1600 cm-1. Для поликристаллического графита спектр комбинационного рассеяния представляет собой две полосы. G-линия (линия графита) локализована в области 1600 cm-1 и D-линия (линия разупорядоченного графита) локализована в окрестности 1355 cm-1. Наличие кристаллитов графита малых размеров приводит к нарушению правил отбора и появлению в спектре рассеяния D-линии. Отношение интегральных интенсивностей D- и G-линий (ID/IG) обратно пропорционально размерам кристаллитов [3]. Спектры комбинационного рассеяния углеродных пленок, в которых присутствует sp2-гибридизированный углерод, подобны спектрам мелкокристаллического графита [4]. Отсутствие в КР спектре линии алмаза даже в том случае, когда наличие Рис. 2. Спектр инфракрасного поглощения свежеприготовленалмазной фазы показывает рентгенографический анализ, ной пленки.

Журнал технической физики, 2000, том 70, вып. 94 В.П. Дымонт, М.П. Самцов, Е.М. Некрашевич ми параметрами при этом будут являться положение пиков, их интегральная интенсивность и полуширина.

Сопоставляя полученные данные с литературными, можно судить о типах химических связей соединений, присутствующих в изучаемых пленках, их относительном содержании, а также о степени совершенства кристаллической структуры.

Экспериментально полученные спектры аппроксимировали в общем случае четырьмя кривыми Гаусса, предполагая, что две из них связаны с sp2-гидридизированным, а две с sp3-гибридизированным углеродом. Спектр пленки до термообработки наилучшим образом описывается двумя кривыми Гаусса с центрами при 1352 cm-1 (D-линия) и 1568 cm-1 (G-линия).

Это смещение G-линии в сторону более низких волновых чисел от асимптотической для графита величины 1600 cm-1 может быть обусловлено наличием sp3-гибридизированного углерода. Согласно [7], положение G-линии при 1568 cm-1 соответствует содержанию в Рис. 5. То же, что и на рис. 4, при 600C.

пленке около 70% sp3-связанного углерода. Отношение интегральных интенсивностей D- и G-линий равно 0.5.

Такое значение характерно для пленок гидрогенизированного аморфного углерода (оно обычно лежит в области 0.3–3.0), а его изменение связано с изменением числа и(или) размеров графитовых кластеров. Полуширина Dи G-линий равна 180 cm-1. Эта величина также характерна для углеродных пленок с малыми графитовыми кластерами.

Наличие в ИК спектре поглощения полос в области 1350–1600 cm-1 позволяет предположить, что часть атомов углерода замещена азотом. Этот вывод сделан на основании того, что в ИК области колебания, обусловленные sp2-связанным углеродом, в чистом углеродном материале неактивны. Замещение части углерода на азот снимает этот запрет [8]. Присутствие азота в пленке подтверждается и наличием азотной линии в оже-спектре. К сожалению, количественно определить содержание азота в пленке по имеющимся данным не Рис. 6. Оже-спектр пленки, отожженной при 900C.

представляется возможным. Можно лишь предположить, что содержание азота не превышает 5–10 at.%.

Вероятнее всего, при комнатной температуре пленка как правило, объясняется тем, что эффективность компредставляет собой малые, легированные азотом графибинационного рассеяния для алмаза в 55 раз ниже по товые кластеры, которые равномерно распределены в сравнению с графитом. Поэтому о количестве углерода матрице аморфного гидрогенизированного углерода.

с sp3-гибридизацией судят по косвенным признакам.

После отжига при 300C D- и G-компоненты спектра Так, положение G-линии в спектре позволяет судить о комбинационного рассеяния сужаются и смещаются в соотношении sp2- и sp3-гибридизированного углерода в направлении асимптотических для графита положений образце [5]. В профиль КР линии углеродной пленки (рис. 4), что свидетельствует о структурном упорядочемогут вносить вклад и другие колебания, обусловленные нии sp2-гибридизированных форм углерода. Количество sp3-гибридизированным углеродом. Так, в спектре могут и размеры графитовых кластеров при этом существенприсутствовать: линия, соответствующая разупорядоченно не изменяются, так как отношение интегральных ному sp3-связанному углероду при 1140 cm-1; линия, интенсивностей ID/IG остается примерно равным 0.5.

соответствующая искаженному sp3-связанному углероду Кроме того, в спектре пленки появляются компоненты, при 1488 cm-1; линия, соответствующая гексагональной связанные с sp3-гибиридизированным углеродом. Это — модификации алмаза — лонсдейлиту при 1305 cm-1 [6].

широкая линия с центром при 1320 cm-1 (кривая 1 на Таким образом, КР спектры углеродных пленок можно рис. 4, 5), которую можно отнести к мелкодисперсному представлять в виде суммы кривых Гаусса, подгоночны- алмазу, и линия с центром при 1440 cm-1 (кривая Журнал технической физики, 2000, том 70, вып. Влияние термического отжига на спектральные свойства... на рис. 4, 5), связанная с искаженным sp3-гибридизи- туры отжига происходят совершенствование кристаллированным углеродом [6]. Образование алмазной фазы ческой структуры графитовых и уменьшение размеров углерода в пленках при атмосферном давлении не проти- алмазных кластеров. При температурах более 600C воречит представлениям об устойчивости аллотропных начинается взаимодействие углерода с находящимся в модификаций углерода (графита и алмаза) в ультрадис- объеме пленки никелем. В результате этого взаимодейперсном состоянии. Например, согласно оценкам, при- ствия весь углерод реагирует с никелем, образуя карбид веденным в [10], кластеры углерода размером 10 nm никеля.

при комнатной температуре и нормальном давлении Работа выполнена при финансовой поддержке Фонда стабильны в алмазной модификации, в то время как для фундаментальных исследований Республики Беларусь.

объемного материала устойчивой фазой в этих условиях Один из авторов выражает благодарность за финансоявляется графит.

вую поддержку Министерству образования Республики КР спектр пленки, отожженной при 600C, также Беларусь.

описан четырьмя кривыми Гаусса (рис. 5). Линии с центрами при 1350 cm-1 (D) и 1593 cm-1 (G) можно отнести к поликристаллическому графиту, линию с Список литературы центром при 1480 cm-1 (кривая 2) — к искаженному sp3-гибридизированному углероду, а линию 1280 cm-1 [1] Новиков В.П., Дымонт В.П. // Письма в ЖТФ. 1996. Т. 7.

(кривая 1) — к мелкодисперсному алмазу. Отношение Вып. 22. С. 39–43.

ID/IG и при этой температуре остается равным 0.5. По- [2] Novikov V.P., Dymont V.P. // Appl. Phys. Lett. 1997. Vol. 70.

N 2. P. 200–202.

луширины линий D и G значительно уменьшаются: линия [3] Tuinstra F., Koenig J.L. // J. Chem. Phys. 1970. Vol. 53. N 3.

D имеет полуширину 90 cm-1, линия G — 70 cm-1.

P. 1126–1130.

Кроме того, положение G-линии близко к асимптоти[4] Андреев В.Д., Начальная Т.А., Созин Ю.И., Семеческому значению для графита. Это свидетельствует о нович В.А. // Техника средство связи. Сер. Технология совершенствовании структуры существующих кластеров производства и оборудование. М., 1991. Вып. 4. С. 18–30.

графита. Наблюдаемое смещение положения ”алмазной” [5] Dillon R.O., Woollam J.A., Katkanat V. // Phys. Rev. B. 1984.

линии (кривая 1) в сторону более низких волновых чисел Vol. 29. N 6. P. 3482–3489.

и одновременное увеличение интегральной интенсивно[6] Nistor L.C., Landuyt J.V., Ralchenko V.G. et al. // Diam.

сти и полуширины линии, отнесенной к искаженному Relat. Mater. 1997. N 6. P. 159–168.

[7] Prawer S., Nugent K.W., Lifshitz Y. et al. // Diam. Relat.

sp3-связанному углероду (кривая 2), свидетельствуют Mater. 1996. N 5. P. 433–438.

об уменьшении размеров кластеров алмаза с ростом [8] Kaufman J.H., Metin S., Saperstein // Phys. Rev. B. 1989.

температуры.

Vol. 39. N 18. P. 13053–13060.

При отжиге пленки при температуре 900C про[9] Lacerda M.M., Franceschini D.F., Freire F.L. et al. // исходит, вероятнее всего, взаимодействие углерода с J. Vacuum Sci. Technol. A. 1997. Vol. 15. N 4. P. 651–658.

мелкодисперсным никелем, присутствующим в объеме [10] Gamarnik M.Y. // Nanostructured Materials. 1996. Vol. 7. N 6.

пленки. В результате этого взаимодействия образуется P. 651–658.

карбид никеля. Оже-спектр такой пленки на вставке к рис. 6 хорошо совпадает с оже-спектром чистого карбида никеля.




© 2011 www.dissers.ru - «Бесплатная электронная библиотека»

Материалы этого сайта размещены для ознакомления, все права принадлежат их авторам.
Если Вы не согласны с тем, что Ваш материал размещён на этом сайте, пожалуйста, напишите нам, мы в течении 1-2 рабочих дней удалим его.