WWW.DISSERS.RU

БЕСПЛАТНАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ БИБЛИОТЕКА

   Добро пожаловать!

Pages:     | 1 ||

Следует подчеркнуть, что данные виды дефектов не Увеличение толщины Li, рассчитанной интегральным являются единственными, дающими вклад в рентгеновспособом, можно объяснить тем, что чувствительность скую дифракцию. Известны [11] другие нарушения криданного метода к сильно деформированным слоям выше.

сталлической решетки кремния в виде стержнеобразных Величина Li вычисляется через разность площадей КДО дефектов, скоплений вакансий и межузельных атомов, нарушенного и совершенного кристаллов. В связи с пор, трещин, тетраэдров дефектов упаковки и т. д.

тем что коэффициент отражения последнего выше, чем у имплантированного, возникает необходимость исклю- Авторы выражают благодарность В.А. Бушуеву за чить часть КДО в области брэгговского угла. Данные всемерную поддержку и консультации.

Журнал технической физики, 1998, том 68, № 96 А.П. Петраков, Н.А. Тихонов, С.В. Шилов Список литературы [1] Казимиров А.Ю., Ковальчук М.В., Конн В.Г. // Металлофизика, Т. 9. № 4. 1987. С. 54–58.

[2] Holy V., Kubena J. // Czech. J. Phys. 1982. Vol. 32. N 7.

P. 750–766.

[3] Servidori M., Cembaly F. // J. Appl. Cryst. 1988. Vol. 21. N 5.

P. 176–181.

[4] Zaumseil P., Winter U. // Phys. Stat. Sol. 1990. Vol. 120. N 1.

P. 67–75.

[5] Бушуев В.А., Петряков А.П. // Кристаллография. 1995.

Т. 40. N 6. C. 1043–1049.

[6] Iida A., Kohra K. // Phys. Status Solidi A. 1979. T. 51.

P. 533–541.

[7] Афанасьев А.М., Александров П.А., Имамов Р.М. Рентгенодифракционная диагностика субмиркронных слоев. М.:

Наука, 1989. 152 с.

[8] Kohn V.G., Kovalchuk M.V., Imamov R.M., Labonovich E.F. // Phys. Stat. Sol. (a). 1981. Vol. 64. N 2. P. 435–442.

[9] Бушуев В.А., Петраков А.П. // ФТТ. 1993. Т. 35. Вып. 2.

С. 355–364.

[10] Качурин Г.А., Тысченко И.Е., Фельсков М. // ФТТ. 1987.

Т. 21. Вып. 7. С. 1193–1197.

[11] Мейер Дж., Эриксон Л., Дэвис Дж. Ионное легирование полупроводников. М.: Наука, 1973. 296 с.

[12] Комаров Ф.Ф., Новиков А.П., Соловьев В.С., Ширяев С.Ю. Дефекты структуры в ионноимплантированном кремнии. Минск: Университетское изд-во, 1990. 319 с.

Журнал технической физики, 1998, том 68, №

Pages:     | 1 ||



© 2011 www.dissers.ru - «Бесплатная электронная библиотека»

Материалы этого сайта размещены для ознакомления, все права принадлежат их авторам.
Если Вы не согласны с тем, что Ваш материал размещён на этом сайте, пожалуйста, напишите нам, мы в течении 1-2 рабочих дней удалим его.