WWW.DISSERS.RU

БЕСПЛАТНАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ БИБЛИОТЕКА

   Добро пожаловать!

Pages:     | 1 ||

1 2RdsRdp = arctg cos, (13) Авторы благодарны Т. Галстяну и С. Харбору из уни2 R2 - Rdp ds верситета Лаваль (Квебек) за предоставление дифракционных решеток на основе ПДЖК, чувствительных в где — фазовое расхождение s- и p-волн для дифракциближней инфракрасной области спектра.

онной волны [27]:

2 d = nds Список литературы cos ds [1] Pilot P., Boiko Y., Galstian T.V. // SPIE. 1999. Vol. 3635.

d + d(tg ds - tg dp) sin i - ndp. (14) P. 143–150.

cos dp [2] Banyasz I. // Opt. Comm. 2000. Vol. 181. P. 215–221.

[3] Pilot P., Galstian T.V. // ICAPT’2000. Proc. SPIE. 2000.

В (13) Rds и Rdp являются модулями дифракционной Vol. 4087. P. 1302–1309.

волны соответственно для s- и p-компонент [27]:

[4] Bouguin F., Galstian T.V. // SPIE. Santa Fe, New Mexico.

2001. Vol. 4342. P. 492–501.

Rds = E0 sin s sin, [5] Galstian T., Tork A. // USA. Patent. June 4, 2002. 6, 398, 981.

[6] Nagtegaele P., Galstian T.V. // Synthetic Metals. 2002.

Rdp = E0 sin p cos, (15) Vol. 127. P. 85–87.

[7] Капуто Р., Сухов А.В., Уметон Ч. и др. // ЖЭТФ. 2000.

где E0 — модуль электрического поля падающей волны, Т. 118. Вып. 6(12). С. 1374–1383.

s,p — модуляционный параметр, описывающий глубину [8] Денисюк Ю.Н., Ганжерми Н.М., Черных Д.Ф. // Письма в модуляции [27].

ЖТФ. 2000. Т. 26. Вып. 9. С. 25–30.

Здесь снова используя экспериментальные зависимо[9] Ганжерми Н.М., Денисюк Ю.Н., Конол С.П. // Письма в сти (рис. 4), получим полуэмпирическую зависимость ЖТФ. 2000. Т. 26. Вып. 16. С. 22–29.

угла ориентации дифрагированной волны от темпе[10] Qi J., DeSarkar M., Warren G.T. et al. // J. Appl. Phys. 2002.

ратуры ПДЖК-решетки для трех линейных поляризаций Vol. 91. P. 4795–4800.

падающего пучка. [11] Domash L.H., Chen Y.M., Gozewski C. et al. // Proc. SPIE.

1997. Vol. 3010. P. 214–228.

[12] Domash L.H., Chen Y.M., Gomatam B. et al. // Proc. SPIE.

Заключение 1996. Vol. 2689. P. 188–194.

[13] Bunning T.J., Natarajan L.V., Tondiglia V.P. et al. // Ann. Rev.

Таким образом, теоретически и экспериментально of Mat. Sci. 2000. Vol. 30. P. 83–115.

исследована дифракционная эффективность и измене- [14] Sutherland R.L., Natarajan L.V., Tondiglia V.P. et al. // Chem.

Mat. 1993. Vol. 5. P. 1533–1538.

ние состояния поляризации линейно поляризованного [15] Lee H., Gu X., and Psaltis D. // J. Appl. Phys. 1998. Vol. 65.

света в толстой анизотропной голограмме при падеP. 2191–2194.

нии под углом Брэгга в зависимости от температуры [16] Larson D.A., Black T.D., Green M. et al. // JOSA. A 7. 1990.

ПДЖК. Приведено подробное описание экспериментальP. 1745–1750.

ной установки, с помощью которой проводились ис[17] Escuti M.J., Qi J., Grawford G.P. // Opt. Letters. 2003. Vol. 28.

следования. Поскольку диэлектрическая проницаемость P. 522–524.

жидкого кристалла значительно зависит от температуры, [18] Fontecchio K., Bowley C.C., and Grawford G.P. // Proc. SPIE.

дифракционные и поляризационные характеристики ди1999. Vol. 3800. P. 36–44.

фракционной решетки также должны зависеть от темпе[19] Liu Y., Zhang B., Jia Y. et al. // Opt. Comm. 2003. Vol. 218.

ратуры решетки. Оказывается, что, изменяя температуру P. 27–32.

ПДЖК, можно в некоторых пределах управлять ди- [20] Butler J.J., Rodriguez M.A., Malcuit M.S. et al. // Opt. Comm.

1998. Vol. 155. P. 23–27.

фракционной эффективностью анизотропной голограм[21] Sutherland R.L., Tondiglia V.P., and Natarajan L.V. // Appl.

мы. Легко увидеть, что дифракционная эффективность Phys. Lett. 2001. Vol. 79. P. 1420–1422.

во всех трех случаях возрастает до некоторого мак[22] Polot P., Boiko Y.B., Galstian T.V. // SPIE. 1999. Vol. 3638.

симального значения и после этого убывает. Заметим, P. 26–34.

что температура фазового перехода жидкого кристалла в [23] Sutherland R.L. // JOSA. B. 2002. Vol. 19. P. 2995–3003.

решетке близка к 60C. Ориентация поляризации дифра[24] Sutherland R.L., Natarajan L.V., Tondiglia V.P. et al. // JOSA.

гированной волны также сильно зависит от температуры B. 2002. Vol. 19. P. 3004–3012.

дифракционной решетки. Как видно, поведение теоре[25] Fuh A.Y.-G., Lee C.-R., Mo T.-S. et al. // Appl. Phys. Lett.

тических кривых находится в хорошем соответствии с 2003. Vol. 83. P. 4285–4287.

экспериментальными результатами. Однако абсолютное [26] Kreuzer M., Cipparrone G. et al. // JOSA. B. 2001. Vol. 18.

значение теоретической кривой несколько отличается от P. 1632–1638.

Журнал технической физики, 2006, том 76, вып. Термополяризационные свойства толстых анизотропных дифракционных голограмм... [27] Акопян Р.С., Галстян А.В., Захарян Г.Г. и др. // ЖТФ. 2005.

Т. 75. Вып. 1. С. 55–60.

[28] Fuh A.Y.-G., Lee C.-R., Ho Y.-H. // Appl. Opt. 2002. Vol. 41.

P. 4585–4589.

[29] Han J.-W. // Liquid Crystals. 2001. Vol. 28. P. 1487–1493.

[30] Montemezzani G. and Zgonik M. // Phys. Rev. E. 1997.

Vol. 55. 1. P. 1035–1047.

[31] Kogelnik H. // Bell Syst. Tech. J. 1969. Vol. 48. P. 2909–2947.

[32] Акопян Р.С., Галстян А.В., Галстян Т.В. // ЖЭТФ. 2004.

Т. 126. № 7. С. 120–128.

[33] Борн М., Вольф Э. Основы оптики. М.: Наука, 1970. 719 с.

[34] Aubrecht I., Miler M., Koudela I. // J. Mod. Opt. 1998. Vol. 45.

N 7. P. 1465–1477.

[35] Khoo I.-C., Wu S.-T. Optics and Nonlinear Optics of Liquid Crystals. Singapore; New Jersey; London; Hong Kong: World Scientific, 1993. P. 419.

[36] Davis C.C. Lasers and Electro-Optics. New York, 1996. 720 p.

Журнал технической физики, 2006, том 76, вып.

Pages:     | 1 ||



© 2011 www.dissers.ru - «Бесплатная электронная библиотека»

Материалы этого сайта размещены для ознакомления, все права принадлежат их авторам.
Если Вы не согласны с тем, что Ваш материал размещён на этом сайте, пожалуйста, напишите нам, мы в течении 1-2 рабочих дней удалим его.