WWW.DISSERS.RU

БЕСПЛАТНАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ БИБЛИОТЕКА

   Добро пожаловать!

Pages:     | 1 ||

ческих осажденных 4-QP пленок так, как межмолекулярное взаимодействие незначительно в обоих типах структур. Рассчитанная структура пиков DOS пленок 4-QP (рис. 4, a) хорошо соответствует результатам ков DOUS. Для того чтобы охарактеризовать природу исследований пленок квантерфенила методами фото- пиков DOUS пленки 4-QP автор использовал данные по электронной спектроскопии [34], и она имеет достаточно конденсированному бензолу и его производным [9,12].

много общих особенностей с DOS конденсированного Структура пиков DOUS при энергиях ниже 7 eV (рис. 4) бензола [11]. Использованная в данной работе методика не обладает сходством с структурой пиков DOUS конрасчетов не предоставляет возможности непосредствен- денсированного бензола. Следует полагать, что структуного определения природы каждого из полученных пи- ра DOUS пленок 4-QP в этой области обусловлена энергетическими зонами DOUS пик пленок 4-QP при энергии 8.5 eV хорошо соответствует пику конденсированного бензола [9,12]. DOUS пики пленки 4-QP при энергиях 12 и 18 eV расположены аналогично пикам конденсированного бензола.

Заключение TCS методика применена к исследованию электронной структуры интерфейсов пленок 4-кватерфенила с поверхностями окисленного кремния и поликристаллического Au. Обнаружено, что изменения потенциала поверхности обусловлены изменениями работы выхода вследствие изменения состава поверхностного слоя в процессе осаждения пленки. Обнаружено, что поляризационный слой модекул 4-квантерфенила ограничен областью около 0.5 nm вблизи интерфейса с поверхностью подложек. Обнаружено хорошее соответствие структуры пиков DOUS пленок 4-кватерфенила, полученной в результате расчетов методами DFT и в результате TCS Рис. 3. Анализ процесса осаждения пленки 4-QP на поэкспериментов.

верхность (SiO2)n-Si. a — спадание интенсивности тонкой Работа поддержана Датским научным агентством, структуры TCS подложки (кривая 1) и увеличение интенсивЛюндбекфондом и Российским фондом фундаментальности тонкой структуры TCS пленки 4-QP (кривая 2); b — изменения потенциала поверхности. ных исследований (05-03-33237).

Журнал технической физики, 2006, том 76, вып. 74 А.С. Комолов Список литературы [32] Schwarz K., Blaha P. In: Quantum-Mechanical Ab-initio Calculation of the Properties of Crystalline Materials.

[1] Fahlman M., Salaneck W.R. // Surf. Sci. 2002. Vol. 500. Pisani C., ed., Springer, Berlin, 1996. P. 139.

P. 904. [33] Blhl P.E., Jepsen O., Andersen O.K. // Phys. Rev. B. 1994.

[2] Ishii H., Oji H., Ito E., Hayashi N., Yoshimura D., Seki K. // Vol. 49. P. 16 223.

J. Luminescence 2000. Vol. 87–89. P. 61. [34] Schroeder P.G., Nelson M.W., Parkinson B.A., Schlaf R. // [3] Hill I., Milliron D., Schwartz J., Kahn A. // Appl. Surf. Sci. Surf. Sci. 2000. Vol. 459. P. 349.

2000. Vol. 166. P. 354. [35] Harrison W.A. Electronic structure and the properties of [4] Yan L., Gao Y. // Thin Solid Films 2002. Vol. 417. P. 101. solids. Freeman W.H. and Co. San Francisco, 1980. 582 p.

[5] Blochwitz J., Fritz T., Pfeiffer M. et al. // Organic Electr. 2001. [36] Jungyoon E., Kim S., Lim E. et al. // Appl. Surf. Sci. 2003.

Vol. 2. P. 97. Vol. 205. P. 274.

[6] Gotou Y., Kakinoki I., Noto M., Era M. // Curr. Appl. Phys. [37] Winokur M.J., Wamsley P., Moulton J. et al. // Macro2005. Vol. 5. P. 19. molecules. 1991. Vol. 224. P. 3812.

[7] Kobayashi S., Haga Y. // Synth. Met. 1997. Vol. 87. P. 31. [38] Bredas J.L., Calbert J.P., da Silva Filho D.A., Cornil J. // Proc.

[8] Balzer F., Rubahn H.-G. // Surf. Sci. 2002. Vol. 507–510. Nat. Acad. Sci. 2002. Vol. 99. P. 5804.

P. 588. [39] Cornil J., Beljonne D., Calbert J.P., Bredas J.L. // Adv. Mater.

[9] Sthr Y. NEXAFS Spectroscopy. Springer, Berlin, 1996. 2001. Vol. 13. N 14. P. 1053.

Chapters 6 and 10. [40] Ito E., Oji H., Furuta M. et al. // Synth. Met. 1999. Vol. 101.

[10] Hitchcock A.P., Newbury D.C., Ishii I., Sthr J. et al. // J. Phys. P. 654.

Chem. 1986. Vol. 85. P. 484.

[11] Guo J.H., Magnuson M., Sathe C. et al. // J. Chem. Phys.

1998. Vol. 108. P. 5990.

[12] Oji H., Mitsumoto R., Ito E. et al. // J. Chem. Phys. 1998.

Vol. 109. N 23. P. 10 409.

[13] Springborg M., Schmidt K., Meider H., de Maria L. In:

Organic Electronic Materials. Farchioni R. and Grosso G., eds., Springer, Berlin, 2001. P. 39.

[14] Hill I., Kahn A., Cornil J., dos Santos D., Bredas J.L. // Chem.

Phys. Lett. 2000. Vol. 317. P. 444.

[15] Strocov V.N., Starnberg H.I. // Phys. Rev. B. 1995. Vol. 52.

P. 8759.

[16] Komolov S.A. Total current spectroscopy of surfaces.

Gordon & Breach, Philadelphia, 1992.

[17] Panchenko O.F. // J. El. Spectr. Rel. Phen. 2002. Vol. 127.

P. 11.

[18] Komolov A.S., Moller P.J., Lazneva E.F. // J. El. Spectr. Rel.

Phen. 2003. Vol. 131–132. P. 67.

[19] Komolov A.S., Mo P.J. // Synth. Met. 2002. Vol. 128. P. 205.

/ller [20] Komolov A.S. // Phys. Low-Dim. Struct. 2004. Vol. 3–4. P. 103.

[21] Bartos I. // Progr. Surf. Sci. 1998. Vol. 59. P. 197.

[22] Komolov A., Mo P.J. // Appl. Surf. Sci. 2005. Vol. 244.

/ller P. 573.

[23] Mo P.J., Komolov S.A., Lazneva E.F., Komolov A.S. // /ller Appl. Surf. Sci. 2001. Vol. 175–176. P. 663.

[24] Peisert H., Schwieger T., Auerhammer J.M. et al. // J. Appl.

Phys. 2001. Vol. 90. N 1. P. 467.

[25] Papaefthimiou V., Siokou A., Kennou S. // Surf. Sci. 2004.

Vol. 569. P. 207.

[26] Rivire J.C. In Solid State Surface Science. Vol. 1. M. Green, ed., Marcel Dekker, 1069. P. 180.

[27] Li X.Y., Tang X.S., He F.C. // Chem. Phys. 1999. Vol. 248.

P. 137.

[28] Athouel L., Resel R., Koch N. et al. // Synth. Met. 1999.

Vol. 101. P. 628.

[29] Blaha P., Schwarz K., Madsen G., Kvasnicka D., Luitz.

WIEN2k. An Augmented Plane Wave + Loca. Orbitals Program for Calculating Crystal Properties. Karlheinz.

Schwarz, Techn. University of Wien, Austria, 2001. ISBN 39501031-1-2.

[30] Kohn W., Sham L.J. // Phys. Rev. 1965. Vol. 140. P. A1133.

[31] Perdew J.P., Chevary J.A., Vosko S.H. // Phys. Rev. B. 1992.

Vol. 46. P. 6671.

Журнал технической физики, 2006, том 76, вып.

Pages:     | 1 ||



© 2011 www.dissers.ru - «Бесплатная электронная библиотека»

Материалы этого сайта размещены для ознакомления, все права принадлежат их авторам.
Если Вы не согласны с тем, что Ваш материал размещён на этом сайте, пожалуйста, напишите нам, мы в течении 1-2 рабочих дней удалим его.