WWW.DISSERS.RU

БЕСПЛАТНАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ БИБЛИОТЕКА

   Добро пожаловать!

Pages:     | 1 ||

диоде при однократных импульсах является объемным Второй максимум на зависимости экспозиционной и сконцентрирован в местах с наибольшим усилением дозы рентгеновского излучения от частоты обусловлен электрического поля (рис. 7). При использовании катода расширением области, занимаемой разрядом. По-види№ 3 разряд был наиболее однородным (рис. 7,c) и часть мому, при увеличении частоты следования импульсов в тока замыкалась на центральную часть шарика. При областях с наибольшей плотностью тока при больших малой частоте импульсов и малом количестве импульсов частотах следования импульсов плазма не успевает в пачке также наблюдается объемный разряд в виде рекомбинировать и условия формирования СЛЭП ухудперекрывающихся струй с яркими точками на конце шаются (за счет уменьшения градиента электрического трубки (катод № 1) [6] или на поверхности шара (катод поля у анода). При уменьшении плотности тока за счет № 2), находящейся на минимальном расстоянии от расширения разрядной области в сторону передающей анода.

линии условия формирования СЛЭП реализуются уже При больших частотах и значительном числе импульв областях с меньшей плотностью тока, что приводит сов в однойпачке (более 50 импульсов) характер разряда к формированию рентгеновского излучения при высов межэлектродном промежутке начинает изменяться, ких частотах следования импульсов. И хотя величина но его объемный характер сохраняется. С увеличением измерянной экспозиционной дозы при высоких частотах частоты следования импульсов и числа импульсов в повторения (0.5 kHz и выше) была меньше, чем при пачке область между электродами, занимаемая разряболее низких частотах, однако рентгеновское излучение дом, начинает расширяться. Объемный разряд меньшей с энергией квантов более 60 keV стабильно регистрироплотности возникал между катододержателем и внувалось дозиметром.

тренней металлической поверхностью цилиндрического анода. При дальнейшем увеличении частоты следования импульсов и количестве импульсов в пачке ( 1000 и Выводы более) в промежутке появляются яркие каналы.

Отметим, что экспозиционная доза рентгеновского Таким образом, в данной работе проведены исследоизлучения в режимах 1 (с фольгой) и 2 (открытый вания сверхкороткого лавинного электронного пучка в газовый диод) при использовании катода № 1 отли- воздухе атмосферного давления. Впервые показано, что чалась всего на 20% и составила соответственно 16 при высоких частотах следования импульсов (вплоть и 13 миллирентген за 150 импульсов при частоте сле- до 1.5 kHz) условия формирования СЛЭП сохраняются.

дования импульсов 1.5 Hz. Дозиметр в обоих случаях Рентгеновское излучение, формируемое электронами с располагался на расстоянии 5 cm от плоскости фольги. энергией более 60 keV, регистрируется при использоваЖурнал технической физики, 2005, том 75, вып. 74 В.Ф. Тарасенко, С.К. Любутин, С.Н. Рукин, Б.Г. Словиковский, И.Д. Костыря, В.М. Орловский нии наносекундных импульсов высокого напряжения и формирования объемного разряда в открытых газовых диодах, заполненных воздухом атмосферного давления.

Обнаружена немонотонность экспозиционной дозы рентгеновского излучения при изменении частоты следования импульсов. По-видимому, нелинейную зависимость экспозиционной дозы рентгеновского излучения от частоты следования импульсов можно использовать для повышения стабильности срабатывания обострительных разрядников в импульсно-периодическом режиме. За AlBe фольгой толщиной 45 µm получена амплитуда тока пучка > 100 A при длительности импульса на полувысоте 0.2ns.

Авторы благодарят В.Г. Шпака за поддержку данной работы и С.А. Шунайлова за помощь при проведении экспериментов.

Список литературы [1] Месяц Г.А. // Импульсная энергетика и электроника. М.:

Наука, 2004. 704 с.

[2] Алексеев С.Б., Орловский В.М., Тарасенко В.Ф. // Письма в ЖТФ. 2003. Вып. 10. С. 29–35.

[3] Тарасенко В.Ф., Орловский В.М., Шунайлов С.А. // Изв.

вузов. Физика. 2003. № 3. С. 9–95.

[4] Тарасенко В.Ф., Яковленко С.И., Орловский В.М., Ткачев А.Н., Шунайлов С.А. // Письма в ЖЭТФ. 2003. Т. 77.

Вып. 11. С. 737–742.

[5] Тарасенко В.Ф., Шпак В.Г., Шунайлов С.А., Яландин М.И., Орловский В.М., Алексеев С.Б. // Письма в ЖТФ. 2003.

Т. 29. № 21. С. 1–6.

[6] Tarasenko V.F., Skakun V.S., Kostyrya I.D., Alekseev S.B., Orlovskii V.M. // Laser and Particle Beams. 2004. Vol. 22.

N1. P. 75–82.

[7] Алексеев С.Б., Губанов В.П., Орловский В.М., Тарасенко В.Ф. // Письма в ЖТФ. 2004. Т. 30. В. 20. С. 35–41.

[8] Алексеев С.Б., Орловский В.М., Тарасенко В.Ф. // Квантовая электрон. 2003. Т. 31. С. 1059–1061.

[9] Липатов Е.И., Тарасенко В.Ф., Орловский В.М., Алексеев С.Б., Рыбка Д.В. // Письма в ЖТФ. 2005. Т. 31. Вып. 6.

С. 29–33.

[10] Gubanov V.P., Korovin S.D., Pegel I.V., Roitman A.M., Rostov V.V., Stepchenko A.S. // IEEE Trans. Plasma Sci. 1997.

Vol. 25. N 2. P. 258–265.

[11] Любутин С.К., Рукин С.Н., Словиковский Б.Г., Цыранов С.Н. // Письма в ЖТФ. 2005. Т. 31. Вып. 5. С. 36–46.

[12] Аличкин Е.А., Любутин С.К., Пономарев А.В., Рукин С.Н., Словиковский Б.Г. // ПТЭ. 2002. № 4. С. 106–111.

[13] Тарасенко В.Ф., Яковленко С.И. // УФН. 2004. Т. 174. № 9.

С. 953–971.

Журнал технической физики, 2005, том 75, вып.

Pages:     | 1 ||



© 2011 www.dissers.ru - «Бесплатная электронная библиотека»

Материалы этого сайта размещены для ознакомления, все права принадлежат их авторам.
Если Вы не согласны с тем, что Ваш материал размещён на этом сайте, пожалуйста, напишите нам, мы в течении 1-2 рабочих дней удалим его.