WWW.DISSERS.RU

БЕСПЛАТНАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ БИБЛИОТЕКА

   Добро пожаловать!

Pages:     | 1 ||

гий от 0.9 до 1.35 eV, в которой фоточувствительность Наблюдающийся после травления рост обратного тока увеличивалась с ростом энергии почти по экспоненции чувствительности к водороду частично может быть альному закону в соответствии с обычно наблюдаемым связан с увеличением рекомбинационной компоненты для реальной поверхности GaAs ростом плотности ПС тока через диод. О наличии такого тока прямо свидетельк потолку валентной зоны [6]. По мере увеличения врествовало наблюдение электролюминесценции в диодах мени травления фоточувствительность в этой области на GaAs, соответствующее межзонной рекомбинации спектра незначительно увеличивалась. При переходе бав GaAs (рис. 2, кривая 2). Таким образом, можно заклюрьера в подложку (толщина стравленного слоя 2 µm) чить, что причиной увеличения чувствительности к вонаблюдалось значительное (в 4 раза) возрастание фодороду после травления является изменение состояния точувствительности в диапазоне 1.28-1.38 eV, что соповерхности GaAs из-за химического взаимодействия полупроводника и травителя. ответствует, по-видимому, увеличению плотности доЖурнал технической физики, 2003, том 73, вып. Влияние модификации поверхности полупроводника на свойства водородочувствительных диодов... а в диодах с КЯ / СС / КТ исчезал сигнал от КЯ (кривые 3, 4), но сохранялся сигнал от КТ. После стравливания слоя толщиной 50 nm на кривой спектральной чувствительности отсутствовал сигнал как от КЯ, так и от КТ (кривая 5).

В табл. 3, 4 содержатся результаты влияния такого травления на характеристики диодов с КЯ и КТ. Видно, что после стравливания КЯ или КТ увеличивались значения величин B (до 0.1 V), Vph, m, NSS и уменьшались значения плотности тока короткого замыкания j.

ph Вероятно, что уменьшение j при стравливании КЯ ph или КТ связано с ростом толщины и, следовательно, сопротивления пленки оксида вследствие возможного дополнительного окисления In, который имелся в приРис. 2. Спектры электролюминесценции (1, 2) и фотолюмиповерхностном слое GaAs в оставшихся после стравнесценции (3). 1 — диод на GaAs с КЯ / СС / КТ, 2 —диод на ливания слоях InAs или InGaAs. После стравливания GaAs, 3 — полупроводник с КЯ и КТ.

слоя полупроводника толщиной 50 nm, когда КЯ и КТ исчезали, ток короткого замыкания снова увеличивался и соответствовал окисленной поверхности GaAs.

Стравливание КЯ и КТ приводило к уменьшению чувствительности к водороду по j в 740 раз после стравливания КЯ и в 187 раз после стравливания КТ.

Роль изменения высоты барьера на величину токовой чувствительности оценивалась по формуле (2). При этом рассчитанные отношения jn/ jt ( jn и jt —чувствительности к H2 до и после травления соответственно) оказывались одного порядка, но всегда меньше, чем экспериментально измеренные отношения (таблица 4, колонки 8 и 7 соответственно). Ранее [16] была показана возможность увеличения чувствительности к водороду в планарной резистивной структуре с Pd контактами на полуизолирующем GaAs после введения КЯ и КТ в ОПЗ полупроводника на 1-2 порядка величины.

Поэтому стравливание КЯ и КТ, наоборот, уменьшает чувствительность к водороду более чем на 2 порядка Рис. 3. Влияние травителя Сиртла на спектры фоточувствительности ДШна GaAs. d, µm: 1 —0, 2 —0.2, 3 —0.7, 4 —2.0.

норных ПС и качественно согласуется с увеличением величины m, отмеченным выше.

2b. Диоды Шоттки на GaAs с КЯ и КТ. Роль КЯ и КТ, встраиваемых в ОПЗ GaAs диодов Шоттки, оказалось возможным выявить после стравливания их ферроцианидным травителем, который как отмечено выше, не изменял основных параметров диодов на GaAs и их чувствительности к водороду.

На рис. 4 показаны спектры фоточувствительности для диодов с КТ / СС / КЯ и КЯ / СС / КТ до и после травления ферроцианидным травителем. Из рисунка видно, что с помощью этого травителя можно довольно точно стравливать весьма тонкие слои в припоРис. 4. Кривые спектральной чувствительности фотоэдс ДШ верхностной области полупроводника. После стравлис КТ / СС / КЯ (кривые 1, 2) и с КЯ / СС / КТ (кривые 3–5).

вания слоя толщиной 25 nm пропадал сигнал от КТ 1, 3 — до травления; 2, 4 — после стравливания в ферроциа(в области 1.0-1.2eV), но сохранялся сигнал от КЯ нидном травителе слоя толщиной d 25 nm соответственно;

(1.30-1.37 eV) [10] в диодах с КТ / СС / КЯ(кривые 1, 2), 5 — d 50 nm.

Журнал технической физики, 2003, том 73, вып. 74 С.В. Тихов, Е.Л. Шоболов, С.Б. Левичев, Н.В. Байдусь величины, что качественно согласуется с результатами Авторы выражают благодарность И.А. Карповичу за работы [16]. полезное обсуждение результатов и Б.Н. Звонкову за изготовление слоев полупроводника.

Больший, чем ожидалось в связи с изменением высоты барьера, эффект уменьшения чувствительности Работа выполнена при финансовой поддержке РФФИ к H2 при стравливании КЯ или КТ, вероятно, связан (грант № 00-02-17598).

с задержкой водорода на поверхности полупроводника напряженными слоями InGaAs и InAs [9], так как Список литературы в диодах с неквантованными, ненапряженными слоями In1-xGax As и InAs эффект очувствления был значитель[1] Евдокимов А.В., Муршудли М.Н., Подлепецкий и др. // но меньше, чем в аналогичных диодах с напряженными Зарубежная электронная техника. 1988. № 2 (321). С. 3– слоями.

39.

Присутствие КЯ и КТ в ОПЗ GaAs также может [2] Petersson L.G., Dunnetum H.M., Fogelbery J. et al. // J. Appl.

увеличивать рекомбинационную составляющую тока чеPhys. 1985. Vol. 58. N 1. P. 404–416.

рез диод. О существенной роли рекомбинации в ОПЗ [3] Johansson M., Lundstrom I., Ekedahi L.D. // J. Appl. Phys.

1998. Vol. 84. N 1. P. 44–51.

через КЯ и КТ свидетельствуют спектры электролю[4] Гаман В.И., Дробот П.И., Дученко М.О. и др. // Поверхминесценции, представленные на рис. 2. Из рис. ность. 1996. № 11. С. 64–73.

(кривая 3) видна мощная люминесценция в области КТ [5] Тихов С.В., Лесников В.П., Подольский В.В. и др. // ЖТФ.

(уровни энергии 0.95, 1.025, 1.11 eV от основного, пер1995. Т. 65 (11). С. 120–125.

вого и второго и возбужденных уровней квантования) [6] Гаман В.И., Дученко М.О., Калыгина В.М. // Изв. вузов.

и в области КЯ ( 1.31 eV). Интересно, что спектры Физика. 1988. № 1. С. 69–83.

электролюминесценции имели лучшее разрешение осо[7] Слободчиков С.В., Салихов К.Н. // ФТП. 2000. Т. 34 (3).

бенно в области свечения от КТ, чем спектры фотолюмиС. 290–296.

несценции, полученные от полупроводника, на котором [8] Тихов С.В., Павлов Д.А., Шиляев П.А. и др. // Письма в ЖТФ. 2002. Т. 28 (9). С. 1–5.

были сделаны диоды (ср. кривые 1 и 3 на рис. 2).

[9] Карпович И.А., Тихов С.В., Шоболов Б.Н. и др. // ФТП.

Травление и введение квантовых слоев не изменяли 2002. Т. 36 (5). С. 582–586.

быстродействия диодов как датчиков водорода, однако [10] Карпович И.А., Аншон А.В., Филатов Д.О. // ФТП. 2001.

значительно увеличивали их обнаружительную способТ. 32 (9). С. 1089–1095.

ность от 10-2 до 10-3-10-4%. Следует также отметить, [11] Звонков Б.И., Карпович И.А., Байдусь Н.В. и др. // ФТП.

что при малых концентрациях H2 (до 10-2%) величина 2001. Т. 35 (1). С. 92–97.

j линейно увеличивалась с ростом концентрации водо[12] Родерик Э.К. Константы металл–полупроводник. М., 1982.

рода, что также представляет интерес для технической 207 с.

[13] Chesters S. et al. // Proc. of Institute of Environmental разработки сенсоров.

Sciencs. 1990. Vol. 316.

[14] Фредер Е. Фракталы. М.: Мир, 1991. 256 с.

[15] Karpovich I.A., Baidus N.V., Zvonkov B.N. et al. // Заключение Nanotechnology. 2001. N 12. P. 405–429.

[16] Карпович И.А., Тихов С.В., Шоболов Е.Л. и др. // Письма Обнаружено, что модификация поверхности полупров ЖТФ. 2002. Т. 28 (8). С. 28–32.

водника в диодах Шоттки с каталитически активным электродом из Pd путем неполирующего травления или введения в область пространственного заряда полупроводника на расстоянии 15 nm от поверхности слоев квантовых ям (InGaAs) и квантовых точек (InAs) может увеличивать чувствительность к водороду в первом случае в 10 - 40 раз, а во втором — более чем на порядка величины. Показано, что это увеличение можно связать с уменьшением высоты потенциального барьера Pd / GaAs задержкой диффузии водорода в глубь полупроводника напряженными слоями КЯ и КТ и влиянием рекомбинационной составляющей тока. Установлено, что введение КЯ и КТ в область пространственного заряда приводит к увеличению рекомбинационного тока и к возникновению электролюминесценции, связанной с рекомбинацией в КЯ и КТ, а увеличение обратного тока после травления в диодах на GaAs сопровождалось электролюминесценцией, соответствующей межзонной рекомбинации в GaAs.

Журнал технической физики, 2003, том 73, вып.

Pages:     | 1 ||



© 2011 www.dissers.ru - «Бесплатная электронная библиотека»

Материалы этого сайта размещены для ознакомления, все права принадлежат их авторам.
Если Вы не согласны с тем, что Ваш материал размещён на этом сайте, пожалуйста, напишите нам, мы в течении 1-2 рабочих дней удалим его.