WWW.DISSERS.RU

БЕСПЛАТНАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ БИБЛИОТЕКА

   Добро пожаловать!

Pages:     || 2 |
Журнал технической физики, 2002, том 72, вып. 8 06;07;12 Структура, свойства и механизм электролюминесценции пленок ZnS : Cu, полученных химическим методом © В.С. Хомченко, Л.В. Завьялова, Н.Н. Рощина, Г.С. Свечников, И.В. Прокопенко, В.Е. Родионов, П.М. Литвин, О.С. Литвин, Ю.А. Цыркунов Институт физики полупроводников НАН Украины, 03028 Киев, Украина (Поcтупило в Редакцию 6 сентября 2001 г. В окончательной редакции 26 февраля 2002 г.) Пленки ZnS : Cu изготовлены химическим безвакуумным методом путем совместного пиролиза дитиокарбаматов цинка и меди при температуре подложки в диапазоне 260-300C. Исследование структуры пленок показало, что они являются поликристаллическими, гексагонального типа, с преобладающей ориентацией в направлении 0001. Исследованы вольт-яркостные, вольт-зарядовые характеристики пленок, волны яркости, спектры электролюминесценции и деградационные характеристики светоизлучающих структур. Обсужден механизм возбуждения электролюминесценции и характер деградации. Сделан вывод о перспективности применения MOCVD-метода для изготовления электролюминесцентных пленок ZnS : Cu.

Введение По сравнению с аналогичными пленками, полученными традиционным методом электронно-лучевого испарения ZnS : Cu является одним из наиболее распространенв вакууме (EBE-методом), они имеют преимущество в ных порошковых электролюминофоров с сине-зеленым более упорядоченной структуре и менее рельефной поцветом свечения. Однако тонкопленочные электролюверхности. Эти положительные результаты, полученные минофоры такого состава, полученные традиционными в работе [7], дали основание для дальнейшей разработки вакуумными методами, до недавнего времени считались химического метода и исследования свойств пленок в непригодными для практического применения по призависимости от условий их формирования. Получение чине быстрой их деградации. Низкую эффективность пленок ZnS : Cu из дитиокарбаматов существенно отлиработы электролюминесцентных тонкопленочных струкчается от получения пленок EBE-методом: медь вводиттур на их основе связывали с миграцией ионов меди, ся без соактиватора, имеется значительное количество а также с рекомбинационным механизмом излучения.

свободной серы и кислорода. Это обусловливает вероятПолученные по усовершенствованной вакуумной техность образования фазы Cu2S или ZnO и возникновение нологии достаточно ярких, стабильных излучателей на гетеропереходов, например типа Cu2S-ZnS. В таком основе пленок SrS и ZnS, легированных медью [1,2], с случае не исключены условия для нежелательного иннаиболее эффективным для пленок ударным механизжекционного механизма возбуждения электролюминесмом электролюминесценции показало перспективность ценции.

работ, направленных на поиск новых методов изготовлеВ связи с этим актуальным является установление ния пленок.

механизма электролюминесценции исследуемых пленок, В то же время широкое распространение при изгокоторый можно считать определяющим критерием в товлении электролюминесцентных (ЭЛ) излучателей на оценке качества и пригодности пленок ZnS : Cu для основе пленок ZnS : Mn получили химические методы, их практического применения. Цель данной работы заоснованные на термическом разложении металлооргаключается в исследовании структуры, электролюминеснических соединений (MOCVD) [3]. Одним из них, наицентных и электрических свойств пленок, позволяющих более простым и достаточно перспективным, является установить механизм возбуждения свечения и оценить метод получения различных полупроводниковых пленок перспективность использования пленок ZnS : Cu, полуиз хелатных металлоорганических соединений [4–6].

ченных совместным пиролизом дитиокарбаматов цинка Из этих прекурсоров, в числе прочих тонкопленочных и меди, для изготовления ЭЛ излучателей.

элементов и структур, изготовлены ЭЛ излучатели на основе пленок ZnS : Mn с высокими значениями яркости Объекты исследований и методики и светоотдачи [5,6]. Пленки получены при температуре подложки (TS) в диапазоне 240-300C в результате сов- эксперимента местного пиролиза дитиокарбаматов цинка и марганца, взятых в определенных соотношениях. В процессе эксперимента исследовали МДПДМ элекВ работе [7] нами впервые сообщалось о получении тролюминесцентные структуры (металл–диэлектрик–попленок ZnS : Cu с яркой фотолюминесценцией синего, лупроводник–диэлектрик–металл) двух типов: на стекзеленого и желтого цветов свечения. Они получены лянных и керамических подложках. Эти излучатели оттаким же образом, как и пленки ZnS : Mn, т. е. путем личались материалами вспомогательных слоев, а также совместного пиролиза дитиокарбаматов цинка и меди. направлением вывода излучения. В структурах прямого Структура, свойства и механизм электролюминесценции пленок ZnS : Cu... типа, на стеклянных подложках, излучение выводили через подложку, в структурах инверсного типа, на керамических подложках, — через верхний прозрачный электрод. Образцы представляли собой многослойные тонкопленочные ЭЛ структуры сэндвичевого типа, обычно используемые для исследования электролюминесценции. В них излучающий слой ZnS : Cu с двумя диэлектриками заключен между электродами, один из которых прозрачен и используется для вывода излучения. В качестве электродов в структуре прямого типа использовали In2O3 и Al: диэлектриками служили пленки SiO2, Al2O3, а также их комбинации.

Рис. 1. Рентгенодифрактограмма пленок ZnS : Cu, полученных Суммарная толщина диэлектриков равнялась примерна стекле при TS = 280C (сплошная линия) и диаграмма но толщине электролюминесцентного слоя ( 0.5 µm).

дифракционной картины типичного ZnS гексагональной фазы Проводящие и диэлектрические пленки наносили мето(штриховая линия).

дом электронно-лучевого или термического испарения в вакууме. В структурах инверсного типа одним из изоляторов служил толстый ( 40 µm) слой сегнетоэлектрической керамики BaTiO3, который наносили по зерен для пленок обоих типов. АСМ изображения привеспециальной методике [8] на металлические электроды дены для сравнительно низкотемпературных ( 260C) керамической подложки. В качестве второго электрода пленок ZnS : Cu (вставки на рис. 2). Значения высот использовали пленку полупрозрачного золота.

точек поверхности переданы оттенками серого; белый Пленки ZnS : Cu получали путем пульверизации 0.1 M цвет соответствует максимальному значению, равнопиридинового раствора дитиокарбаматов цинка и меди му 200 nm.

на нагретые до 260-300C подложки аналогично [7].

Спектры фото- и электролюминесценции получены Метод характеризуется сравнительно высокой скородля пленок ZnS : Cu, осажденных на различных подложстью роста пленки — 40-120 mn · min-1 и позволяет ках и в различных технологических условиях.

непосредственно в процессе роста вводить легирующие Зависимость яркости (B) от возбуждающего напряжепримеси металлов в любых соотношениях.

ния для ЭЛ структур на основе керамики и стекла предКристаллическая структура пленок исследовалась меставлены на рис. 3 (кривые 1, 2). Обе зависимости имеют тодом дифракции рентгеновских лучей на рентгеновском пороговое напряжение, область крутого роста яркости и спектрометре ДРОН-3М при использовании CuK излувыход на насыщение. Вольт-яркостные характеристики чения. Исследование морфологии поверхности пленок в зависимости от времени наработки электролюминесосуществляли с помощью атомно-силового микроскопа (АСМ) NanoScope IIIa фирмы Digital Instruments.

Электролюминесценцию возбуждали синусоидальным напряжением частотой 2 kHz. Спектры регистрировались фотоэлектрически при помощи спектрального комплекса КСВУ. Измерение интенсивности излучения осуществляли с помощью фотометра ФП4-БПУ. Измерения зависимости заряда от напряжения осуществляли по схеме Sower-Tower [3].

Полученные результаты На рис. 1 представлена рентгенодифрактограмма, типичная для исследуемых пленок ZnS : Cu, полученных из дитиокарбаматов цинка и меди. Как видно, пленки представляют собой поликристаллический ZnS гексагональной фазы. Присутствие дифракционных максимумов, указывающих на наличие кубической фазы ZnS, фаз Cu2S или ZnO, не зарегистрировано.

Исследование морфологии поверхности проводилось для пленок ZnS : Cu, осажденных на стеклянных и кеРис. 2. Гистограмма распределения размеров зерен плерамических подложках в одном технологическом цикле.

нок ZnS : Cu на подложках из BaTiO3 (1) и стекла (2) и АСМ Гистограмма на рис. 2 отражает распределение размеров изображения поверхности соответствующих пленок.

Журнал технической физики, 2002, том 72, вып. 46 В.С. Хомченко, Л.В. Завьялова, Н.Н. Рощина, Г.С. Свечников, И.В. Прокопенко, В.Е. Родионов...

структуры пленок ZnS, полученных исследуемым методом, при сходных параметрах процесса нанесения наблюдался в работах других авторов [10,11,12].

Наличие дополнительной фазы, такой, например, как Cu2S или ZnO, не обнаружено, что дает основания предполагать отсутствие в материале пленок областей неоднородностей состава, приводящих к неоднородности электрического поля, которое проявляется в ускоренной деградации электролюминесценции. Поэтому можно ожидать, что исследуемые пленки, не содержащие дополнительной фазы и достаточно однородные по составу, не должны быть подвержены быстрой деградации.

Исследование морфологии поверхности пленок, осажденных на керамических и стеклянных подложках (рис. 2), показало, что в отличие от пленок, полученных Рис. 3. Вольт-яркостные характеристики структур на подлож- при TS = 300C [7], исследуемые пленки, полученные ках из сегнетокерамики (1) и из стекла (2–4) в зависимости от времени эксплуатации. 2 — непосредственно после изготовления, 3 — через 1 h, 4 — через 4 h.

центной структуры на основе пленок ZnS : Cu на стеклянной подложке представлены на рис. 3 кривыми 2–при частоте возбуждающего напряжения 2 kHz, в 30 раз превышающей обычную рабочую частоту (60 Hz). Форсированный режим эксплуатации, основанный на том, что скорость деградации возрастает сверхлинейно с ростом частоты [9], выбран для уменьшения побочного эффекта от вредного воздействия влаги окружающего воздуха на незагерметизированные образцы за счет сокращения времени такого воздействия.

Вольт-зарядовые характеристики Q(U), отражающие зависимость числа носителей от напряжения возбуждения для обоих типов ЭЛ структур, представлены на рис. 4, a, b для двух состояний: до появления электролюминесценцпии (напряжение U0, B = 0) и в рабочем режиме (вторая кривая).

Вид волн яркости исследуемых ЭЛ пленок ZnS : Cu при возбуждении синусоидальным напряжением U представлен на рис. 5.

Обсуждение результатов Рис. 4. Вольт-зарядовые характеристики электролюминесцентных пленок ZnS : Cu, полученных на подложках из сегнетокерамики (a) и стекла (b).

Исследование рентгеновских спектров пленок ZnS : Cu, полученных совместным пиролизом дитиокарбаматов цинка и меди, показало, что они представляют собой поликристаллический ZnS гексагонального типа. Из сопоставления соотношения интенсивности пика отражения (0002) и пиков других отражений на дифрактограмме исследуемой пленки с соответствующим соотношением пиков дифрактограммы поликристаллического порошка ZnS видно, что пик отражения (0002) значительно выше остальных.

Этот факт свидетельствует о наличии преобладающей ориентации кристаллитов в исследуемой пленке в Рис. 5. Форма волны яркости ЭЛ структуры на подложке из направлении 0001. Данный тип кристаллической стекла (1) и волна возбуждающего напряжения (2).

Журнал технической физики, 2002, том 72, вып. Структура, свойства и механизм электролюминесценции пленок ZnS : Cu... при 260C, состоят из неограненных зерен, слабо приле- излучения — зеленого и голубого. Различие в соотногающих друг к другу. Из сравнения АСМ изображения шении интенсивности полос в спектрах излучения двух пленок, осажденных на BaTiO3 и стекле, следует суще- типов ЭЛ устройств, т. е. на керамике и стекле, по-виственное различие в их структуре. димому, связано также с различиями в кристаллической Поверхность пленок ZnS : Cu на керамике состоит структуре пленок. Различие размеров и типа зерен в из мелких нанокристаллических зерен размером око- пленках на стеклянной и керамической подложках прило 25 nm, которые в свою очередь образуют конгломе- водит к различию условий внедрения меди, появлению раты в виде зерен размерами от 70 до 400 nm (здесь центров свечения с тем или иным компенсирующим ее и далее в качестве размера зерна приводится большой заряд (Cu+) дефектом структуры, а также к различию диаметр эллипса, который наиболее близко передает условий возбуждения.

форму зерна). Установлено, что на количество и форму Вид вольт-яркостных характеристик (рис. 3) (налитаких конгломератов определяющее влияние оказывает чие порогового напряжения, области резко нелинейрельеф поверхности самой подложки BaTiO3, состоящей ного роста яркости и выхода на насыщение) типичен из микрокристаллических зерен размерами 7-9 µm. На для стандартных ЭЛ структур с ударным механизмом более плоской, практически горизонтальной поверхно- возбуждения [3]. Как видно из сопоставления характести отдельного зерна керамики нанокристаллические ристик, пороговое напряжение для структур на основе зерна пленки ZnS : Cu могут образовывать отдельные керамики составляет 20 V, на основе стекла — 110 V.

небольшие конгломераты симметричной формы разме- Различны также значения запаса электрической прочрами около 70 nm, в то время как на склонах зерен ности таких ЭЛ структур, который характеризует стакерамики нанокристаллиты ZnS образуют продолгова- бильность их и определяется протяженностью участка тые зерна с ориентацией поперек склона. Это, вероят- максимальной яркости. Как видно из сопоставления нее всего, обусловлено „сползанием“ пленки за счет кривых 1 и 2, ЭЛ структуры на основе керамики в стекания молекул исходных веществ по склонам зерен отличие от ЭЛ структур на стекле имеют большой подложки. Пленки ZnS на гладкой поверхности зерна запас электрической прочности ( 150 V). Для исходных керамической подложки характеризуются шероховато- структур на основе стекла (кривая 2) участок насыстью Rq = 8-13 nm, которая оценивалась по известной щения яркости отсутствует и появляется только после формуле [13]. формовки в ускоренном режиме в течение нескольких Поликристаллическая поверхность пленок ZnS : Cu, часов (кривые 3, 4).

Pages:     || 2 |



© 2011 www.dissers.ru - «Бесплатная электронная библиотека»

Материалы этого сайта размещены для ознакомления, все права принадлежат их авторам.
Если Вы не согласны с тем, что Ваш материал размещён на этом сайте, пожалуйста, напишите нам, мы в течении 1-2 рабочих дней удалим его.