WWW.DISSERS.RU

БЕСПЛАТНАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ БИБЛИОТЕКА

   Добро пожаловать!

Pages:     | 1 ||

1 + exp(-cen0L) =[I+ - I- +(I+ - I-)/(1 + 2)]/Ii0. (11) c w a a Экстраполяция зависимости, представленной правой частью соотношения (11), до пересечения с осью ординат позволяет определить коэффициент 1, а аппроксимация этой зависимости экспонентой позволяет оценить сечение перезарядки. Некоторый произвол в выборе характерных для ионов с энергией в сотни keV значений 2 в пределах 0.05-0.1 не приводит к значительной погрешности ввиду малости вклада величины (I+ - I-)/(1 + 2).

a a Анализ варианта с заземленными стенками невозможен без рассмотрения механизма неустойчивости, обеспечивающей уход вторичных электронов из плазмы, обладающей положительным потенциалом относительно коллектора и стенок, что выходит за рамки данной Рис. 2. Зависимость тока в цепи коллектора Ic от давления.

работы.

Энергия ионов аргона 30 keV. Потенциал стенок относительно коллектора Uw: 1 — +30, 2 —0, 3 — -30 V.

Результаты экспериментов и их обсуждение Полученные с использованием высокоэнергетичного ионного пучка зависимости токов на коллектор, ускоряющий электрод и стенки, находящиеся под разными потенциалами, приведены на рис. 2, 3. Ток в цепи коллектора (рис. 2) при изменении потенциала стенок и давления изменяется в пределах 0-70 mA. Ток коллектора максимален при положительном потенциале стенок (кривая 1), что обусловлено беспрепятственным уходом на стенки вторичных электронов, при заземленных стенках (кривая 2) величина измеряемого тока на 7-20 mA превышает ток источника высокого напряжения. При отрицательном потенциале стенок ток на коллектор уменьшается с ростом давления до нуля в результате компенсации тока ускоренных ионов током плазменных электронов. Ток на ускоряющий электрод (рис. 3, кривые 4, 5) слабо зависит от потенциала стенок. Ионный ток на отрицательно смещенные стенки Рис. 3. Зависимость тока на стенки Iw (1, 2, 3) и тока в цепи (рис. 3, кривая 1) не превышает нескольких mA. Ток на ускоряющего электрода Ia (4, 5) от давления. Энергия ионов заземленные стенки (кривая 2) является электронным, аргона 30 keV. Потенциал стенок относительно коллектора Uw:

близок по величине к начальному току пучка и слабо 1, 4 — -30; 2 —0; 3, 5 — +30 V.

3 Журнал технической физики, 2006, том 76, вып. 36 Н.В. Гаврилов, А.С. Каменецких энергии ионов. Ток на ускоряющий электрод (кривая 4) возрастает линейно с давлением газа. Следует отметить, что одной из причин меньших относительных значений токов на стенки и ускоряющий электрод по сравнению с высоковольтной системой является более низкое давление газа в низковольтном ионном источнике.

Кривые 1 и 2 (рис. 7) представляют изменения относительных величин тока ионов перезарядки и ионов, возникших при ионизации газа, от давления для низковольтной системы. Ток ионов перезарядки оказывается на порядок выше тока ионизационных ионов. Зависимости, построенные с использованием соотношения (11) Рис. 4.

ионно-электронной эмиссии коллектора. Кривая 3 представляет отношение Iic/Ii0 тока медленных ионов перезарядки, полученного из (10), к начальному току ионного пучка в функции давления. Кривая 4, представляющая долю Iii/Ii0 тока ионизационных ионов от тока Ii0, получена из (5). Из приведенных зависимостей следует, что в условиях эксперимента процесс перезарядки в большей степени, чем ионизация ионами пучка и быстрыми электронами, влияет на величину тока медленных ионов.

Указанные потенциалы стенок относительно коллектора Uw =+30 V. Энергия ионов аргона 30 keV.

Рис. 5. Зависимость тока в цепи коллектора Ic и суммы Согласно [11] сечение ионизации атомов газа ионами токов на электроды от давления. Энергия ионов аргона 5 keV.

максимально при скорости ионов, близкой к скорости Потенциал стенок относительно коллектора Uw: 1 — +30;

атомных электронов ( 108 cm/s), при этом его значение 2 —0; 3 — -30 V.

может быть порядка газокинетического сечения [12].

Поскольку при энергии 30 keV скорость ионов аргона существенно меньше, интенсивность ионизации атомов газа ионами также оказывается ниже интенсивности резонансной перезарядки. Длина пробега быстрых вторичных электронов до ухода на электроды, которая составляет 100 mm, оказывается в несколько десятков раз меньше средней длины их ионизационного пробега n0ei, где ei — сечение ионизации атома аргона электронным ударом, величина которого для электрона с энергией 1 keV составляет 10-16 cm2 [13], поэтому вклад быстрых электронов в ионизацию газа относительно невелик.

Отличительной особенностью зависимостей, полученных в экспериментах с низкоэнергетичным пучком (рис. 5, 6), является то, что величина тока коллектора (рис. 5, кривые 1–3) всегда меньше тока в цепи источника высокого напряжения и слабо зависит от потенциала стенок. Кривая 4 (рис. 5) получена суммированием токов на все электроды во всем диапазоне давления Рис. 6. Зависимость тока на стенки Iw (1, 2, 3) и тока в цепи газа изменяется в пределах 5.9 ± 0.05 mA. Ток на стенки ускоряющего электрода Ia (4) от давления. Энергия ионов (рис. 6, кривые 1–3) незначителен, так что отношение аргона 5 keV. Потенциал стенок относительно коллектора Uw:

Iw/Ii0 оказывается на порядок меньше, чем при высокой 1, 4 — -30; 2 —0; 3, 5 — +30 V.

Журнал технической физики, 2006, том 76, вып. Экспериментальное исследование влияния процессов в области распространения ионного пучка... удовлетворительно согласуются с известными экспериментальными данными.

В использованных диапазонах энергий ионов от единиц до десятков keV и давлений аргона 0.03-0.15 Pa увеличивающееся с ростом давления газа расхождение величин тока, измеряемого в цепи коллектора ионного пучка, и тока источника высокого напряжения, обусловлено, главным образом, процессом резонансной перезарядки ионов пучка. Ионизация газа ионами пучка и быстрыми вторичными электронами оказывает существенно меньшее влияние на результаты измерений тока пучка. Рост тока в цепи коллектора при увеличении энергии ионов преимущественно обусловлен увеличением коэффициента ионно-электронной эмиссии коллектора, скорость изменения которого с энергией ионов намного выше скорости уменьшения сечения Рис. 7. Зависимость отношения тока ионов перезарядки резонансной перезарядки ионов.

Iic (1), тока ионизационных ионов Iii (2) к току Ii0 и величины Увеличение тока на ускоряющий электрод с ростом 1 + exp(-cen0L) от давления. Энергия ионов аргона: 3 — 30;

давления газа не является следствием ухудшения усло1, 2, 4 —5 keV.

вий формирования пучка, а обусловлено ростом тока медленных ионов в результате усиления интенсивности процессов перезарядки ускоренных ионов и ионизации газа электронным ударом.

для результатов экспериментов с низковольтным (кривая 4) и высоковольтным (кривая 3) ионным источником, позволяют определить значения коэффициента Список литературы ионно-электронной эмиссии и сечения перезарядки. Ап[1] Габович М.Д. Физика и техника плазменных источников проксимация кривых 3 и 4 экспоненциальной функцией ионов. М.: Атомиздат, 1972. 304 с.

дает значения сечений перезарядки ce 1.8 · 10-15 cmдля высокоэнергетичных ионов аргона и 2.2 · 10-15 cm2 [2] Окс Е.М., Юшков Г.Ю. // Тез. докл. 9-го симпозиума по сильноточной электронике. Научно-техническая редакция для низкоэнергетичных ионов, что не противоречит „Гиперокс“, Россия. 1992. С. 90.

известным литературным данным [10,14]. Отметим, что [3] Гаврилов Н.В., Никулин С.П., Радковский Г.В. // ПТЭ.

погрешность значений ce, рассчитанных в [10] с по1996. № 1. С. 93.

мощью асимптотической теории, составляет 10-30%, [4] Гаврилов Н.В., Каменецких А.С. // ПТЭ. 2005. № 2. С. 107.

что, согласно утверждению авторов [13], тем не менее [5] Aston G., Kaufman H.R., Wilbur P.J. // AIAAJ. 1978. V. 16.

N 5. P. 516.

существенно ниже погрешности современного экспе[6] Гаврилов Н.В., Емлин Д.Р. // ЖТФ. 2000. Т. 70. Вып. 5.

римента. Экстраполяция экспонент, аппроксимирующих С. 74.

кривые 3 и 4, до пересечения с осью ординат дает [7] Коваленко Ю.А. Физические принципы построения и значения коэффициента 1 = 1.5 для высоковольтной и методы расчета газонаполненных ускоряющих систем с 1 = 0.15 для низковольтной системы, что находится в плазменными эмиттерами заряженных частиц // Автореф.

приемлемом соответствии с данными [8].

канд. дисс. М. 1995.

[8] Каминский М. Атомные и ионные столкновения на поверхности металла (перевод с англ. под ред. Л.А. АрциЗаключение мовича). М.: МИР, 1967. 506 с.

[9] Плешивцев Н.В., Бажин А.И. Физика воздействия ионных пучков на материалы. М.: Вузовская книга, 1998. 392 с.

С использованием модифицированного цилиндра Фа[10] Смирнов Б.М. Асимптотические методы в теории атомрадея с изменяемой относительно заземленного коллекных столкновений. М.: Атомиздат, 1973. 296 с.

тора пучка полярностью стенок, входным электродом [11] Голант В.Е., Жилинский А.П., Сахаров И.Е. Основы которого является многоапертурный ускоряющий элекфизики плазмы. М.: Атомиздат, 1977. 384 с.

трод, оценен вклад процессов резонансной перезарядки, [12] Месси Г., Бархоп Е. Электронные и ионные столкновения ионизации газа ионами пучка и быстрыми вторичными (перевод с англ. под ред. С.М. Осовца). М.: ИЛ, 1958.

электронами в области распространения ионного пучка, 604 с.

[13] Физические величины: Справочник / Под ред. И.С. Гриа также вторичной электронной эмиссии коллектора горьева, Е.З. Мейлихова. М.: Энергоатомиздат, 1991.

в погрешность электрических измерений тока ионно1232 с.

го пучка при повышенных давлениях газа. Результаты [14] Хастед Д. Физика атомных столкновений / Пер. с англ.

измерений коэффициента ионно-электронной эмиссии под ред. Н.В. Федоренко. М.: Мир, 1965. 710 с.

коллектора и сечения резонансной перезарядки ионов Журнал технической физики, 2006, том 76, вып.

Pages:     | 1 ||



© 2011 www.dissers.ru - «Бесплатная электронная библиотека»

Материалы этого сайта размещены для ознакомления, все права принадлежат их авторам.
Если Вы не согласны с тем, что Ваш материал размещён на этом сайте, пожалуйста, напишите нам, мы в течении 1-2 рабочих дней удалим его.