WWW.DISSERS.RU

БЕСПЛАТНАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ БИБЛИОТЕКА

   Добро пожаловать!

Pages:     || 2 |
Физика твердого тела, 2004, том 46, вып. 1 Фотолюминесценция и структурные дефекты слоев кремния, имплантированных ионами железа © Э.А. Штейнман, В.И. Вдовин, А.Н. Изотов, Ю.Н. Пархоменко, А.Ф. Борун Институт физики твердого тела Российской академии наук, 142432 Черноголовка, Московская обл., Россия Институт химических проблем микроэлектроники, Москва, Россия Московский институт стали и сплавов, 117936 Москва, Россия Измерены спектры фотолюминесценции (ФЛ) образцов кремния, имплантированных ионами железа 56 Fe+ с энергией 170 keV и дозами 1 · 1016, (2-4) · 1017 cm-2 и отожженных при температурах 800, 900 и 1000C. На каждом этапе обработки образцов выполнены структурные исследования методом просвечивающей электронной микроскопии. Обнаружена четкая закономерность в образовании фаз и морфологии кристаллических образований дисилицида железа в зависимости от дозы ионов железа и температуры отжига. Сопоставление данных для зависимостей интенсивности ФЛ и ее спектрального распределения от температуры измерения, температуры отжига и морфологии фазы FeSi2 позволило сделать заключение о дислокационной природе ФЛ.

Работа выполнена при частичной поддержке ИНТАС (грант № 2001-0194).

Полупроводниковая фаза -FeSi2 рассматривается как ния выполнялись методом просвечивающей электронной перспективный материал, легко интегрируемый с крем- микроскопоии (ПЭМ) (JEM 200CX) в основном на прониевой технологией и излучающий в области 0.8 eV бла- дольных фольгах (ориентированных вдоль поверхности годаря прямозонной электронной структуре с величиной пластины) и выборочно на поперечных срезах. Размеры запрещенной зоны около 0.85 eV при комнатной темпечастиц округлой формы и зерен в виде многогранников ратуре [1]. Однако практическое применение материала характеризовались диаметром охватывающей их окружоказалось затруднено в силу ряда причин. Сплошные ности. Фотолюминесценция (ФЛ) образцов, помещенслои -FeSi2 с высоким структурным совершенством не ных в оптический гелиевый криостат, возбуждалась липроявляют соответствующей люминесценции [2]. Устанией 514.5 nm Ar-лазера и регистрировалась с помощью новлено, что морфология, кристаллическое и напряженобычной фазочувствительной техники с использованием ное состояния частиц дисилицида железа сильно зависят светосильного монохроматора МДР2 и охлаждаемого от условий ионно-лучевого синтеза (ИЛС) [3]. Вместе германиевого фотосопротивления.

с тем оказываются различными и их люминесцентные свойства. Недавно в [1,4] было показано, что упруго2. Экспериментальные результаты напряженные шарообразные частицы, располагающиеся в практически бездефектной матрице, не проявляют Наблюдается четкая закономерность в образовании люминесценции, тогда как ненапряженные дискообразные частицы, находящиеся в насыщенной структур- фаз и морфологии кристаллических образований дисилицида железа в зависимости от дозы ионов железа и ными дефектами матрице, дают излучение на 0.8 eV.

температуры отжига. В общем случае приповерхностная Многие авторы отмечали тот факт, что имеет место неопределенность в установлении природы источников область пластины кремния после ИЛС содержит разтакого излучения, поскольку на эту же область спектра ориентированные относительно матрицы кремния мопопадает линия дислокационной люминесценции D1. нокристаллические зерна и мелкие округлые частицы Актуальность этого вопроса сохраняется до сих пор.

дисилицида железа, а также дислокации. МонокристалЦелью настоящей работы является выявление источни- лическая природа частиц и зерен подтверждается появков излучения в области 0.8 eV в кремнии с различной лением на дифракционной картине связанных с ними морфологией образований дисилицида железа, формирумножественных экстрарефлексов и контраста муара на ющихся в результате ИЛС.

них на электронно-микроскопических изображениях.

2.1. Д о з а 1 · 1016 cm-2. На имплантированном образце спектр ФЛ показал наличие только экситонного из1. Детали эксперимента лучения в кремнии за счет возбуждения неискаженного слоя подложки. В спектре ФЛ отожженного при 800C Имплантация ионов железа Fe+ с энергией 170 keV образца (образец 1) доминирует широкая полоса с и дозами 1 · 1016, (2-4) · 1017 cm-2 проводилась в пластины Si (100) n-типа проводимости (КЭФ-4,5) диамет- максимумом на 0.807 eV (рис. 1, a), положение которого точно совпадает с линией дислокационной ФЛ D1. При ром 75 mm при температуре 350C. Термический отжиг осуществлялся в атмосфере аргона при температурах повышении температуры образца до 50 K интенсивность 800-1000C в течение 30 min. Структурные исследова- пика понижается, причем гашение длинноволнового Фотолюминесценция и структурные дефекты слоев кремния, имплантированных ионами железа ПЭМ-исследования этого образца показали наличие в приповерхностной области пластины частиц округлой формы и дислокаций (рис. 2). Размеры частиц колеблются в диапазоне от 3 до 30 nm, а плотность составляет > 8 · 1010 cm-2. Плотность дислокаций можно ориентировочно оценить как > 1010 cm-2. Полосы контраста муара на различных частицах сильно разориентированы, что указывает на нерегулярное ориентационное расположение частиц в матрице кремния. На дифракционной картине регистрируется относительно небольшое количество экстрарефлексов, имеющих преимущественное распределение в пределах кольца, проходящего через матричные отражения {220}. Эти экстрарефлексы точно соответствуют отражениям от плоскостей (114), (422) и (313) -FeSi2. Остальные немногочисленные слабые Рис. 1. Спектры ФЛ образцов с дозой ионов железа экстрарефлексы совпадают с кольцами для отраже1 · 1016 cm-2, отожженных при 800 (a) и 900C (b).

ний (040), (204) и (222) -FeSi2.

В спектре ФЛ от отожженного при 900C образца (образец 2) также доминирует линия D1, хотя интенсивность ее снизилась по сравнению с предыдущим образцом и четко обозначились остальные пики дислокационной люминесценции D2-D4 (рис. 1, b). Следует отметить достаточно высокую интенсивность экситонной ФЛ.

2.2. Д о з а 2 · 1017 cm-2. В имплантированном образце (так же как в образце с меньшей дозой имплантации, но отожженном при 800C) наблюдаются частицы и дислокации. Отличие заключается в увеличении плотности ( 2 · 1011 cm-2) и размеров (20–50 nm) частиц. Дифракционная картина содержит большое количество экстрарефлексов, среди которых имеются очень интенсивные отражения с регулярным расположением. Этот факт указывает на увеличение суммарного объема частиц дисилицида железа и более регулярное ориентационное расположение их в матрице Si. Наибольшая доля частиц дает отражения от плоскостей (114) -FeSi2; кроме того, регулярное расположение экстрарефлексов наблюдается для плоскостей (202) и (224) -FeSi2. В общем все проявляющиеся на дифракционной картине экстрарефлексы совпадают с отражениями, характерными для фазы -FeSi2. В спектре ФЛ этого образца не наблюдается полосы 0.8 eV, несмотря на присутствие в нем частиц дисилицида железа и дислокаций.

Отжиг этого образца при 900C (образец 3) приводит к формированию несплошного слоя, состоящего из сильно разориентированных зерен с размерами в пределах 0.1-0.7 µm (рис. 3). На фоне зерен и на открытых Рис. 2. ПЭМ-темнопольные изображения образца с дозой участках наблюдаются округлые частицы с размераионов железа 1 · 1016 cm-2 после отжига при температуре ми 10–55 nm, имеющие неоднородное распределение 800C. a —частицы фазы -FeSi2 (экстрарефлекс), b —дисплотности. Плотность частиц на открытых участках локации (матричный рефлекс 220 ).

достигает наибольших значений (около 2 · 1010 cm-2).

По всей площади образца обнаруживается однородная плотная дислокационная сетка. Наблюдение образца на крыла значительно меньше, чем для остальной части поперечном срезе показало, что зерна имеют преимуполосы. Такое поведение полосы ФЛ свидетельствует о щественно плоскую форму, однако их толщина сильно разной природе излучающих центров, вносящих вклад в неоднородна и колеблется в пределах 100–200 nm. Часть эту полосу. зерен выходит на поверхность, а над другими остается Физика твердого тела, 2004, том 46, вып. 28 Э.А. Штейнман, В.И. Вдовин, А.Н. Изотов, Ю.Н. Пархоменко, А.Ф. Борун -FeSi2. В спектре ФЛ этого образца не наблюдается излучения в области 0.7–1.1 eV (рис. 4).

2.3. Д о з а 4 · 1017 cm-2. При этой дозе имплантации также исследованы три типа образцов, включая исходно имплантированный и отожженные при 900 и 1000C.

Принципиальное отличие этих материалов от имплантированных дозой 2 · 1017 cm-2 заключается в том, что в них образуется сплошной слой дисилицида железа уже на стадии имплантации. Остальные структурные свойства материалов остаются примерно такими же, в том числе и образование фаз - и -FeSi2 при соответствующих температурах отжига. Для этих материалов характерно (независимо от типа фазы дисилицида железа) полное отсутствие ФЛ в интересующей нас области Рис. 3. ПЭМ-изображение, полученное в матричном рефлекизлучений.

се 220 образца с дозой ионов железа 2 · 1017 cm-2 после отжига при температуре 900C.

3. Обсуждение результатов Как следует из полученных данных, кристаллизация фазы -FeSi2 происходит в процессе имплантации ионов железа в кремний при температуре 350C. Разориентация полос муара на частицах и наличие большого количества нерегулярно расположенных экстрарефлексов на дифракционной картине указывают на хаотическое распределение частиц в матрице кремния. Подобное распределение частиц -FeSi2 наблюдалось в работе [1] в том случае, когда имплантация ионов железа проводилась в предварительно аморфизованный слой кремния и сопровождалась твердофазной эпитаксией при температуре 600C с последующим отжигом при температуре 800C в течение 20 h. В результате сопоставления данных мы можем предположить, что в полученных нами образцах Рис. 4. Спектры ФЛ образцов с дозой ионов железа в процессе имплантации происходила аморфизация при2 · 1017 cm-2, отожженных при 900 и 1000C.

поверхностного слоя кремния и его рекристаллизация в результате in situ отжига. Однако следует отметить, что это предположение не согласуется с ранее опубликованотносительно толстый слой свободной матрицы крем- ными данными [1], согласно которым нагрев образца при ния, в пределах которого располагаются частицы. Трех- имплантации до 250-300C обеспечивает подавление мерная дислокационная сетка имеет ячеистую структуру аморфизации материала. Тем не менее очевидно, что и распространяется от нижнего уровня слоя дисилицида кристаллизация фазы -FeSi2 происходила в результате железа в кремний на глубину до 400 nm. На дифрак- in situ отжига при температуре, существенно меньшей ционной картине регистрируются многочисленные экс- 800C. Образование фазы последовательно проходит трарефлексы, совпадающие с характерными для фазы стадии зарождения изолированных частиц и разрастания -FeSi2 отражениями. На темнопольных изображениях больших частиц до зерен в виде многогранников с в экстрарефлексах одновременно видны изолированные четкой кристаллографической огранкой. Зарождающиеся частицы и отдельные зерна, что указывает на их одинако- частицы распределены по всей глубине имплантировую кристаллическую структуру. В спектре ФЛ от этого ванного слоя, а зерна преимущественно образуются на образца регистрируется интенсивная полоса в области частицах в глубине слоя и, разрастаясь, выходят на 0.807 eV (рис. 4). поверхность пластины.

Отжиг при 1000C исходно имплантированного об- Дислокационная структура формируется одновременразца приводит к образованию аналогичного по форме но с образованием частиц в процессе in situ отжига при несплошного слоя, но состоящего из крупных монокри- имплантации. Механизм призматического выдавливания сталлических фрагментов. Плотность округлых частиц дислокационных петель кристаллизующимися частицанамного меньше, дислокационная структура заметно не ми исключается вследствие меньшего объема, прихоизменилась. Дифракционная картина содержит регуляр- дящегося на атом в орторомбической решетке -FeSiно распределенные экстрарефлексы, типичные для фазы (12.5 ), по сравнению с соответствующим объемом для Физика твердого тела, 2004, том 46, вып. Фотолюминесценция и структурные дефекты слоев кремния, имплантированных ионами железа кремния (20.0 ). Кроме того, на ПЭМ-изображениях то можно назвать по крейней мере две вероятные приявно видно отсутствие характерного для этого меха- чины их отсутствия. Первая связана с радиационными низма распределения дислокационных петель. Вероятно, дефектами; в случае больших доз их концентрация дислокационная структура в форме плотной трехмерной может оказаться слишком велика для отжига в течесетки образуется в результате переплетения многочис- ние 30 min. Вторая обусловлена поглощением основной ленных V -образных дислокаций, зарождающихся в пе- части возбуждающего излучения в слое дисилицида реходной области между аморфным и кристаллическим железа, обладающего меньшей, чем у кремния, шириной кремнием в процессе твердофазной эпитаксии [5]. запрещенной зоны. Отсутствие экситонной ФЛ из слоя Из анализа экспериментальных данных следует чет- подложки ниже границы проникновения ионов железа кая корреляция между излучением материала в об- подтверждает существенное влияние дефектов, возникаласти 0.8 eV и структурными свойствами слоя крем- ющих в результате имплантации.

ния после ИЛС. Интенсивное излучение в области Приведенные выше рассуждения о зависимости кван0.8 eV наблюдалось только в образцах 1–3, содержащих тового выхода ФЛ от дефектной структуры относятся высокую плотность изолированных частиц и дислока- главным образом к матрице кремния и находящимся ций. Как отмечалось выше, в спектре ФЛ образца 1 там центрам излучательной рекомбинации и в зна(DFe = 1 · 1016 cm-2, 800C) регистрируется полоса с ха- чительно меньшей степени к частицам -фазы FeSi2.

Pages:     || 2 |



© 2011 www.dissers.ru - «Бесплатная электронная библиотека»

Материалы этого сайта размещены для ознакомления, все права принадлежат их авторам.
Если Вы не согласны с тем, что Ваш материал размещён на этом сайте, пожалуйста, напишите нам, мы в течении 1-2 рабочих дней удалим его.