WWW.DISSERS.RU

БЕСПЛАТНАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ БИБЛИОТЕКА

   Добро пожаловать!

Pages:     | 1 ||

Используя известное соотношение /(2)мах, получаем значение (45±5) нм, которое совпадает с определенным методом ПЭМ (табл.1). Т.е., появление пика на кривой I(2) для СКП, обусловлено регулярными порами.

АМг-1 А5 10 15 20 25 30 35 2, мин Рис.5. Зависимости интенсивностей МУРР I(2) от угла рассеяния 2 для пористых Al2O3, полученных в сернокислом электролите.

Необходимо отметить, что уровень интенсивности МУРР для СКП, полученных на сплаве, ниже, чем для пленок на алюминии (рис.5). Как уже указывалось ранее, такая особенность характерна и для ЩКП (рис.3). Можно предположить, что снижения уровня интенсивности МУРР пленками на сплаве АМг-1 обусловлено увеличением вклада в нерегулярную пористость фракции с наименьшим значением радиуса Гинье при одновременном уменьшении вкладов других фракций.

I, эл.

ед.

Электронный журнал «ИССЛЕДОВАНО В РОССИИ» 681 http://zhurnal.ape.relarn.ru/articles/2003/057.pdf Выводы 1. Со стороны барьерного слоя все исследованные пленки имеют ячеистую структуру, характерную для пористых Al2O3. Cредние значения эффективного размера ячеек для пленок, полученных анодированием как алюминия А99 так и сплавов АВ и АМг-1, составляют 200 нм для щавелевокислых и 50 нм для сернокислых пленок.

2. Величина дисперсии эффективного размера ячеек пористых пленок, образованных в щавелевокислом электролите на сплаве АМг-1, почти в два раза больше, чем для оксидов на чистом алюминии.

3. Гексагональный порядок в расположении ячеек пористого оксида, образованного анодированием сплава АМг-1 в растворе С2Н2Оограничивается лишь первой координационной сферой (250 нм), тогда как для пленок, полученных на алюминии, дальность корреляции в расположении ячеек простирается на расстояниях 5-6 координационных сфер ( 600 нм). Область существования регулярной ячеистой структуры в пористых оксидах, сформированных анодированием Al и сплава АМг-1 в сернокислом электролите, составляет 200 нм (7-8 координационных сфер).

4. Малоугловое рассеяние рентгеновских лучей (МУРР) пористыми Al2O3, полученными в щавелевокислом электролите, обусловлено рассеянием на нерегулярных порах с характерными объемами в диапазоне Vi ~ (102 105) нм3 и радиусами Гинье Ri ~ (2 25) нм. Тогда как в случае пленок, сформированных в сернокислом электролите, вклад в МУРР вносят также и регулярные поры. Приближенная оценка вкладов отдельных размерных фракций в объемную нерегулярную пористость Рнр для пленок, сформированных в щавелевокислом электролите на сплаве АМг-1, свидетельствует об увеличении доли малых пор с радиусом Гинье R3 ~ 2 нм по сравнению с пленками, полученными на чистом алюминии, при сохранении одинакового значения Рнр 5%.

Литература 1. Wood G.C. Porous anodic films on aluminum // Oxides and oxide films. V.2. Ed.

Diggle J.W. N.Y. Marsel Dekker Inc., 1972. P. 167-279.

2. Jessensky O., Mller F., Gsele U. Self-organized formation of hexagonal pore structures in anodic alumina // J. Electrochem. Soc. 1998. V. 145. No. 11. P. – 3740.

3. Masuda H., Hasegwa F., Ono S. Self-ordering of cell arrangement of anodic porous alumina formed in sulfuric acid solution // J. Electrochem. Soc. 1997. V.

144. No. 5. P. L127 – L130.

Электронный журнал «ИССЛЕДОВАНО В РОССИИ» 682 http://zhurnal.ape.relarn.ru/articles/2003/057.pdf 4. Liu C.Y., Datta A., Wang Y.L. Ordered anodic alumina nanochannels on focusedion-beam-prepatterned aluminum surfaces // Appl. Phys. Lett. 2001. V. 78. No.1.

P. 120 – 122.

5. Growth of well-aligned carbon nanotube arrays on silicon substrates using porous alumina film as a nanotemplate. Hu W., Gong D., Chen Z., Yuan L. etc // Appl.

Phys. Lett. 2001. V. 79. No.19. P.3083 – 3087.

6. Петрова В.В. Микропористость анодных оксидных пленок алюминия.

Учебное пособие. Петрозаводск. Изд-во ПетрГУ. 1992. 96с.

7. Репникова Е.А., Чупахина Е.А., Яковлева Н.М. Микропористость оксидных пленок алюминия // Нац. конф. по применению рентгеновского, синхротронного излучений, нейтронов и электронов для исследования материалов. Дубна, 25-29 мая 1997 г. Сб. докд. Т.1. С. 257-263.

8. Effects of alloying elements in anodizing of aluminium. H. Habazaki, K. Shimizu, P. Skeldon, G.E. Thompson, G.C. Wood, X. Zhou // Trans IMF. 1997. V.75(1).

P.18-23.

9. Barrier-type anodic film formation on Al –3.5 wt% Cu alloy. M. A. Paez, T.M.

Foong, C.T. Ni, G.E. Thompson etc // Corros. Sci. 1996. V. 38. No.1. P.59 –63.

10. Influence of surface treatment on detachment of anodic films from Al-Mg alloys.

Y. Liu, P. Skeldon, G.E. Thompson, X. Zhou, H. Habazaki, K. Shimizu // Corros.

Sci. 2001. V.43. P. 2349-2357.

11. Грудин Б.Н., Плотников В.С., Покрашенко А.А., Фищенко В.К. Структурноморфологический анализ неоднородностей в металлических материалах по электронно-микроскопическим изображениям // Физика металлов и металловедение. 2000. Т. 90. № 6. С. 58-63.

12. Соколов В.Н., Юрковец Д.И., Разгулина О.В., Мельник В.Н. Программноаппаратный комплекс для исследования микроморфологии поверхности твердых тел по РЭМ-изображениям // Поверхность, 1998, № 1, С. 33-40.

13. Свергун Д.И., Фейгин Л.А. Рентгеновское и нейтронное малоугловое рассеяние. М. Наука. 1986. 280 с.

14. Денисов А.И., Яковлева Н.М., Яковлев А.Н. Оcобенности пористой структуры анодных оксидных пленок на алюминии // Тонкие пленки и слоистые структуры. Материалы междунар. Науч.-техн. конф. Москва. 26-ноября 2002 г. Ч.2. С.172-174.

15. Сокол В.А. Закономерность формирования размеров ячеек пористого оксида алюминия // Докл. АН БССР. 1986. Т. 30. № 3. С. 243 –245.

16. Одынец Л.Л., Орлов В.М. Анодные оксидные пленки. Л. Наука. 1990. 200с.

Pages:     | 1 ||



© 2011 www.dissers.ru - «Бесплатная электронная библиотека»

Материалы этого сайта размещены для ознакомления, все права принадлежат их авторам.
Если Вы не согласны с тем, что Ваш материал размещён на этом сайте, пожалуйста, напишите нам, мы в течении 1-2 рабочих дней удалим его.