WWW.DISSERS.RU

БЕСПЛАТНАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ БИБЛИОТЕКА

   Добро пожаловать!

Pages:     | 1 ||

Табл. 4-1. Результаты определения средних по полю матрицы значений параметров СЭТ Единица Параметр модели Обозначение Значение измерения A 3.58105 Ne– / сек.

Величина фототока K 0.0465 отсч. АЦП/Ne– Коэффициент усиления СЭТ Число электронов, приходящихся 1/K 21.5 Ne–/отсч. АЦП на отсчёт АЦП B –11.5 отсч. АЦП Постоянная составляющая Дисперсия собственного шума 2 2.07 (отсч. АЦП) системы Среднеквадратичное отклонение 1.44 отсч. АЦП собственного шума системы 31 Ne– то же, приведённое ко входу 0.015 0.0.0.0.0.0.-0.-0.-0.-0.-0.-0.-0.0 0.002 0.004 0.006 0.008 0.01 0.012 0.014 -0.0 0.002 0.004 0.006 0.008 0.01 0.012 0.Время накопления, сек.

Время накопления, сек.

Рис. 4-5.

Рис. 4-6.

Относительная нелинейность Относительная нелинейность дисперсии математического ожидания суммы двух разности двух кадров в зависимости от кадров в зависимости от времени времени накопления накопления 5 Выводы Описанный в данной работе метод позволяет определять характеристики СЭТ ПЗС-камеры двумя способами:

1) Быстрая оценка средних по полю матрицы параметров. При этом точность оценки определяется действительным разбросом параметров по полю матрицы и для типичных современных ПЗС-матриц составляет 3-10%.

2) Определение параметров отдельно для каждого пиксела. В этом случае точность зависит лишь от объёма накопленной статистической информации, который, в свою очередь, определяет время, необходимое для измерений.

Например, для более чёткого различения пикселов по уровню шума следует увеличить объём выборки, что, естественно, приведёт к увеличению необходимого для эксперимента времени.

6 Список литературы 1. J. Janesick, K. Klaasen and T. Elliott “CCD charge collection efficiency and the photon transfer technique” in Solid State Imaging Arrays, K. N. Prettyjohns and E.

L. Dereniak eds., Proc. SPIE 570, 7–19 (1985) 2. J. R. Janesick, T. Elliott, S. Collins, M. M. Blouke and J. Freeman “Scientific charge–coupled devices” Optical Engineering 26(8), 692–714 (1987) 3. Bernd Stark, Bengt Nolting, Herbert Jahn, Karl Andert “Method for determining the electron number in charge-coupled measurement devices” in Optical Engineering 31(4). 852-656 (April 1992).

Относительная нелинейность математического ожидания Относительная нелинейность дисперсии 4. http://www.cs.qub.ac.uk/~F.Murtagh/courses.html;

F.Murtagh “Image Processing - UU 4th Year Course, 1996-1998”; Chapter 2 -Digital Image Fundamentals, A Note on CCD Calibration in astronomy.

5. http://www.pv-inc.com/tutorial-illum-curves.htm; PixelVision, Inc.

George M. Williams, James R. Janesick, Taner Dosluoglu,and Alice Reinheimer, "BACK-ILLUMINATED CCD IMAGING TECHNOLOGIES FOR LOWLIGHT-LEVEL IMAGING APPLICATIONS".

6. http://www.apogee-ccd.com/ccd105.html Apogee Instruments Inc., автор не указан.

Pages:     | 1 ||



© 2011 www.dissers.ru - «Бесплатная электронная библиотека»

Материалы этого сайта размещены для ознакомления, все права принадлежат их авторам.
Если Вы не согласны с тем, что Ваш материал размещён на этом сайте, пожалуйста, напишите нам, мы в течении 1-2 рабочих дней удалим его.