WWW.DISSERS.RU

БЕСПЛАТНАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ БИБЛИОТЕКА

   Добро пожаловать!

Pages:     | 1 |   ...   | 76 | 77 || 79 | 80 |   ...   | 185 |

шахтной печи руды га аппаратах: пла- зом, получаемым методом коннетарных и струйных мельницах, дезинтег- версии прир. газа и водяным паром кораторах и где сочетаются высокие часто- лошникового газа (рис.). разработан в та и сила механич.

1965-1967 гг. ф. «Midland Ross (США).

В 1969 г. в Портланде (США) пущены две МЕХАНОСТРИКЦИЯ шахтные печи = 3,66 м) произв-тью по — в ферро- и антифер200 тыс. т в год. В г. вводятся в эксплуата образцах при наложении механич. нацию печи (d = 5 м) произв-тью 400 тыс. т в пряжений, изменяющих магн. состояние обгод (модуль 400), а в 1977 г. на з-де ф.

разцов. М. является следствием Dosco» в г. Контрекере (Канада) — модуль ции: смещения границ магн. доменов и вра600. В 1992 г. на установках «Мидрекс» произщения векторов их самопроизв. намагнич., ведено млн. т (~64 % мирового произ-ва протекающих в образце даже в отсутствие губч. железа). В 80-х г. на ОЭМК (Россия) помагн. поля. При наличии м. деформация строен крупнейший в Европе цех с 4 печами (напр., удлинение) образца непропорц. на«Мидрекс» общей произв-тью 1,7 млн. т в год.

пряжению, т. е. наблюд. отклонение от закоМ.-п. осуществляют в противоточной шахтна Гука.

ной печи с двумя зонами (металлизации и охлаждения), имеющ. газовые цикМЕШАЛКА [mixer; agitator, — лы. Первая зона расположена над горизонтом для механич. жидкостей ввода газа-восстановителя. Процесс ведут при и пульп (рис.). Каждый тип мешалок (винтодавлении МПа и темп-ре ниже вая, лопастная, рамная, цепная, турбинная, начала спекания шихты. В газ. цикл якорная) пригоден для перемешив. жидкостей зоны металлизации входят мокрый скруббер с определ. плотн. и вязкостью. При необходиколошникового газа, два компрессора и усмости распульповать твердую фазу, осевшую тановка конверсии прир. газа. Общая продолна дно реактора, эффективна цепная пребывания окатышей в шахтной печи мешалка, обладающая наим. лобовым сопро ч, из них ч в зоне где одтивлением. Для интенсификации перемешив.

новрем. с охлажд. окатышей (до жидкостей и пульп винтовые и турбинные 40-50 °С) происходит их науглероживание мешалки помещают в диффузор (см. тж. ДифСО. На ОЭМК режим восстановления окафузор). 1. Аппарат для перемешивания пульпы тышей осуществлен в двух варис флотореагентами перед флотацией (см. тж.

антах: при 680-740 и 840-880 °С. Второй Агитатор):

вариант требует нанесения на исх. окатыши защитного покрытия, образованию спеков. режим обеспечигаз 7 ПросуОсновные типы мешалок для перемешивания и пульп: / — лопастная; рамная; цепная;

5 — турбинная; 6 — якорная шлам мешалка Говарда [Howard mixer] — или пропеллерная мешалка для смешив. Zn с жидким при его обессеребривании, назв. по имени конструктора Воздух газа мешалка-чан [mixing — чан для для горения щелачив. и одноврем. механич. перемешив. рудного концентрата с р-рителем. Схема процесса «Мидрекс»: зона охлаждения; зона восстановления; 1 — теплообменник; 2 — смеситель газов;

3 — реформер; 4 — скруббер; 5 — шахтная печь; 6 — виброг [Midrex process] рохот; 7 — окатыши или брикеты; 8 — получение железа восстановлением в окатыши; 9 - продукт - МИКРОЛЕГИРОВАНИЕ ва, используемое в эл-нной микроскопии для анализа локальной структуры материала.

вает рост произв-ти печи на 15 % и снижеМИКРОИНТЕРФЕРОМЕТР ние уд. расхода прир. газа с 294 до rometer] — прибор для измерения неровносОкатыши при t > 840 °С, иметей на наружных поверхностях металлоиздеют низкую склонность к вторичному окислия с следами механич. обработки, а лению на воздухе (при увлажнении) и мотж. для определения толщины пленочных погут морскими судами. Хим. сокрытий. В оптич. схеме м. использованы инстав окатышей ОЭМК, 92,терферометр и микроскоп, что позволяет од С, 0,3 S, новрем. наблюдать исслед. поверхность и ин0,011 P, Cu, 0,0015 0,00013 Pb, картину, получ. в рез-те взаимо0,0005 Sn. Широкое распространение действия двух когерентных световых волн:

связано с его простотой и технологич. пресравнения, зеркала, и имуществами. Уд. расход тепла в печах «Мидот исслед. поверхности. С помощью м. можно рекс» (модуль 600) -2,57 Для расшиизмерять высоты неровностей от 0,03 до 1 мкм.

рения топливной базы м.-п. разработаны тех м. имеют устр-ва для изнологич. схемы, позволяющие использовать мерения неровностей до 10 мкм.

для получения восстановителя богатые метаном газы, коксовый и газы, жидМИКРОКРИСТАЛЛОСКОПИЯ [microкие углеводороды и некоксующ. угли.

crystallography] — один из методов МИКРО [micro] — Составная часть слож анализа, на применении ных слов, (в противоположность макреакций, в рез-те кристаллы харро...) на малые размеры, величину чего-либо рной формы. Кристаллы рассматривают под микродефект, микровключение, микмикроскопом. Большинство микропора в металле, обнаруживаемые под мик реакций хар-ризуется роскопом при увеличениях > х50, и т.п.).

чувствительностью: в капле р-ра можно 2. Приставка для образования едиобнаружить десятые и сотые доли мкг вещниц, по размеру равных одной миллионной ва. М. в металлургии применяют гл. обр. при доле исх. единиц. Обозначения: межанализе включений в металлах.

дунар. Пример: 1 мкс (микросекунда) = = с; 1 1 мкм.

МИКРОЛЕГИРОВАНИЕ [microalloying] введение в сплав неб. (до % его МИКРОАНАЛИЗ - Коммассы) добавок легир. элементов для измеплекс физич. методов локального (в объеме нения его св-в в нужном направлении, неск. мкм) анализа химич. состава и структудля повышения или ры образца или изделия. 2. Химич. анализ про жаропроч. и коррозибы массой до 1 мг:

онно стойких никелевых сплавов. Часто в полазерный микроанализ [laser microanalysis] нятие «микролегирование» ошибочно вклю— метод определения химич. состава вещ-ва чают процессы раскисления и модифициров локальном объеме, на воздействии вания, отлич. механизмом влияния на струклазера, эмиссию частиц, в том чис- туру и св-ва стали и сплавов (см.

ле квантов излучения; Fe, Модифицирование). Роль малых добавок при проявляется в рез-те их микроанализ воздействия на тв. состояние металла (обраspectrum analysis] — метод локального химич.

зование тв. р-ра внедрения или замещения;

на регистрации спектра харразмер вторичных зерен; дисперсность, форристич. рентг. излучения, возбужд. в му и распределение неметаллич, включений:

узким пучком эл-нов или рентг. лучей.

строение границ и тонкую структуру зерен;

МИКРОДЕФОРМАЦИЯ [microstrain] - снижение влияния вредных примесей).

деформация в объеме металла (изделия), со- Теоретич. обоснованием эффективного влияния малых добавок легир. элементов на струк малую долю его общего объема, к-рая туру и св-ва сталей и сплавов являются полом. б. большой по величине локальных жения теории внутр. адсорбции в металлах, смещений элементов его структуры.

по обогащение дефектных участков (зон МИКРОДИФРАКЦИЯ - структурной неоднородности) металла некрассеяние эл-нов малым объемом вещ- примес. атомами их энергию. активность - МИКРОСКОП примесей наз. а примеси, обладающие такой активностью, — При м. применяют приборы (лупу Частный случай — или микроскоп), к-рые крепят на сварочной внутр. адсорбция, связ. с обогащением мик- машине. В от особенностей из сочленений делий, технологич. и др. требований выполпримесями. Напр., легир. эле- няют контактную, или конденсаменты адсорбируются на границах зерен, торную холодную, ультразвуковую, теруменьшают вредное влияние легкоплавких мокомпрессорную, электроннолучевую, лапримесей (S, Pb, Bi), связывая их в ту- зерную и др., а тж. комбинированную.

гоплавкие соединения.

Для м. стали и сплавов применяют туго- МИКРОСКОП (от микро... и греч. skopeo плавкие металлы (Zr, Ti, V), РЗМ (Се, - смотрю) [microscope] — оптич! прибор для La, Y и др.) и их смеси (ферроцерий, миш- получения сильно изображений объектов (или деталей их структуры), не видимых а тж. Ca, Mg, В, Ва и N. Оптим.

глазом. Первый прибор типа м. был РЗМ в сталях бора построен ок. г. изобретателем 3. Янв сталях 0,001-0,002 в нерж. и сеном. Быстрое м. и их совершенжаропрочных — 0,0015-0,002 М. стали РЗМ используют для получения контролир. фор- ствование начались в 1609-1610 гг., когда мы включений, снижения зо- Г. Галилей использовал сконструир. им нальной и дендритной ликвации в крупных трубу в кач-ве изменяя в ней расстояние м-ду объективом и окуляром. Начало примеслитках.

нению и развитию м. для изучения структуры МИКРОМЕТР [micrometer] — металлов было положено П. П. Аносовым, кприбор, преобразоват. механизмом в 1837 г. использ. м. для исследования микропара м. применяют для из- структуры стали. В последующие годы осн.

мерения линейных размеров проката (изде- усилия были направлены на увеличение разлий) контактным методом. реш. способности хар-ризующейся миним. расстоянием м-ду двумя МИКРОНАПРЯЖЕНИЯ [microstresses] соседними деталями структуры объекта, квнутр. напряжения (11 рода), урав раздельно различимы (рис.). В от новешиваются в объемах, соизмер. с зерном вида излучения с помощью к-рого формиметалла. Источники м. — несовершенства крируется изображение, и разрешающей способ строения: точечные дефекты и их ности металлографич. м. подразделяют на свескопления, дислокации и т. п. По мере притовые, и ионные:

ближения к дефекту напряжения возрастают и могут достигать значений порядка меАтомарные талла. определяют ряд св-в издеАвтоионный лий (полуфабрикатов), и прежде всего закономерности их холодного пластич. деформирования и разрушения.

§ микроскоп 1C МИКРОПОРЫ [micropores] — мелкие поры, в материале методами световой или эл-нной микроскопии (см. тж. Пористость).

Годы МИКРОРАДИОГРАФИЯ приборов, (увеличение разрешающей — метод радиографии, при к-ром способности) распределение радиоакт. вещ-в определяется по количеству треков (следов), образуе- автоионный микроскоп (ионный проектор) мых в фотоэмульсии а-частицами, эл-нами [field-ion microscope] — безлинзовый ионнои позитронами. оптич. прибор для получения увелич. в неск.

миллионов раз изображения поверхности тв.

МИКРОСВАРКА — сварка тела. С помощью а. м. можно различать детали изделий из цв. и черных металлов малой тол- поверхности, на 0,2-0,3 нм, что дает щины (< 0,5 мм) и сечений (< 100 а возможность наблюдать располож. отд. атомов тж. изделий с полупроводниковыми в решетке. А. м. изобретен в 1951 г.

МИКРОСКОП просвечивающий растровый электронный микроскоп (ПРЭМ) [scanning transmission electron microscope — просвечива микроскоп, в к-ром изобранем. ученым Э. Мюллером. схема а. м.

жение формируется аналогично РЭМ, что показана на рис. электродом и одпозволяет исключить наличие линз м-ду обноврем. объектом, поверхность к-рого изобразцом и регистрир. изображение экраном.

на экране, служит острие тонкой иглы.

ПРЭМ обладают столь же высокой разреш.

Атомы (или молекулы) газа, заполн. внутр.

способностью (PC), как и ПЭМ. В этих микобъем прибора, ионизир. в сильном электроскопах применяются автоэмисс. пушки, рич. поле вблизи поверхности острия, отдаобеспеч. достаточно большой ток в зонде вая ему свои Возникшие диам. до нм. Высокая PC в ПРЭМ ионы, приобретая под действием поля радостигается при развертках зонда;

диальное (перпендик. поверхности острия) ускорение, устремляются к флюоресцирую- растровый электронный микроскоп (РЭМ) щему экрану (потенциал к-рого отрицате- [scanning electron microscope (SEM)] — в лен) и бомбардируют его. Свечение каждого к-ром изображение формируется при скаэлемента экрана пропорц. плотности прихо- нировании (развертывании), т. е. последовадящегося на ион. потока. Поэтому чем тельном к точке перемещении тонтоньше острие, тем больше увеличение. А. м. кого эл-нного луча (зонда) по поверхности широко применяют для исследования ат. образца. Первые РЭМ были созданы структуры металлов и сплавов и ее связи с в Германии (фон Ардене, 1938 г.) и США их механич. св-вами; дефектов в кристаллах; (В. К. Зворыкин, 1942 К середине 1960-х процессов коррозии; адсорбции и десорбции; гг. РЭМ (рис.) достигли высокого сосв-в тонких пленок, на поверхности вершенства, и с этого времени по темпам металлов, и др; развития и кол-ву моделей РЭМ опережают ПЭМ. В н. в. РЭМ — один из приборов для микроструктурных исследований в и материаловедении. РЭМ с ч л накаливаемым катодом имеет PC от 7 до I нм. Ускоряющее напряжение в РЭМ можно К регулировать от 1 до кВ. Соврем. РЭМ 3.

4 условно подразделяют, как и ПЭМ, на три группы: РЭМ высокого разрешения нм), универсальные (PC нм) и упрощенные (PC нм). распространены универсальные РЭМ, т.к. имеют хорошую PC и Схема автоионного микроскопа (ионного проектора): 1 — широкий набор устр-в для возжидкий 2 - жидкий азот; 3 - острие; 4 - проводядействия на объект исследования, обработ кольцо; 5 — экран ки и представления информации;

ионный микроскоп [ion microscope] — в к-ром для получения изображений применяют пучок ионов, создаваемый термоионным или газоразрядным ионным источником. По принципу действия и. м. аналогичен эл-нному. Пройдя через объект, ионный пучок фокусируется системой электростатических или магнитных линз и дает на экране или фотослое изображение объекта. Создано возникающие при взаимодействии электроннопока лишь несколько опытных образцов и. м.

го пучка с веществом и для формирования Работы по его усовершенствованию продол- изображения в РЭМ: / — электронный пучок; 2 — образец;

3 - отраженные электроны; 4 - вторичные электроны; 5 И. м. должен обладать более высокой ток электронов; 6 — разреш. способностью по ср. с Од рентгеновское излучение; 9— навенако и. м. пока не нашел практич. примене- денный ток; 10 - прошедшие электроны ния. Значительно более эффективным оказал- световой микроскоп [light microscope] — ся и. м. без линз, т. наз. автоионный микро- оптич. в к-ром изображение формир. с скоп, или ионный проектор; помощью светового излучения (рис. 1). С поМИКРОСКОП изучения границ зерен, дисперсных выделений, механизма пластич. деформации (линий скольжения, двойников) и др.

методы.

с. м. рассчитаны на предельное (достигаемое в видимом свете) Рис. схема микро- увеличение и, как правило, универс., т. е.

скопа: / — шлиф; 2 - объектив; 3 — источник (лампа) све возможность использ. всех перета; 4 — 5 - диафрагма; 6, методов исследования. Такие с. напр.

8 — вспомогательные 7 — полевая 9 — (ф. «Karl Zeiss, Jena», Германия), полупрозрачная пластина; окуляр; — глаз наблюдателя обеспеч. быструю смену увеличений в широких пределах (от 10 до 2000) и методов исмощью с. м. можно изучать структуру спец.

следования, имеют автоматизир. для микрошлифов при от и м. 6. снабжены разными до Большинство ис (напр., для измер. тв., образследований проводят с применением светлоца в вакууме и др.).

Pages:     | 1 |   ...   | 76 | 77 || 79 | 80 |   ...   | 185 |



© 2011 www.dissers.ru - «Бесплатная электронная библиотека»

Материалы этого сайта размещены для ознакомления, все права принадлежат их авторам.
Если Вы не согласны с тем, что Ваш материал размещён на этом сайте, пожалуйста, напишите нам, мы в течении 1-2 рабочих дней удалим его.