WWW.DISSERS.RU

БЕСПЛАТНАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ БИБЛИОТЕКА

   Добро пожаловать!

Pages:     || 2 |
Физика твердого тела, 1999, том 41, вып. 8 Особенности структуры и температурная стойкость шунгитового углерода к графитации © С.В. Холодкевич, В.И. Березкин, В.Ю. Давыдов Научно-исследовательский Центр экологической безопасности Российской академии наук, 197110 Санкт-Петербург, Россия Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, 194021 Санкт-Петербург, Россия E-mail: kholod@ip.nwpi.ru (Поступила в окончательном виде 6 февраля 1999 г.) Методом комбинационного рассеяния света экспериментально исследуются структурные изменения природного стеклоуглерода шунгитов-I разновидности при их температурной обработке в диапазоне 500-2700C в инертной атмосфере. Оказалось, что в объеме образцов термообработки приводят к незначительному увеличению содержания графитовой фазы, в то время как в приповерхностных областях процесс графитации шунгитового стеклоуглерода может быть выражен гораздо сильнее. Наблюдаемую стойкость шунгита к графитации можно объяснить в рамках модели структуры, согласно которой шунгитовый стеклоуглерод состоит из плотноупакованных наноструктур, представляющих собой полые многослойные глобулы, окруженные углеродом случайной сетки.

Природные шунгиты представляют собой силикатные 1. Методика эксперимента образования, содержащие естественный стеклоуглерод Использовались образцы шунгита-I из одной партии с в количествах от единиц до 99.6% в некоторых образхарактерными размерами в несколько mm и удельным цах. Эти неупорядоченные структуры характеризуются весом 1.85 g / cm3. Измерения проводились в геометрии разнообразием состава и наряду с углеродом содержат рассеяния назад. Спектры возбуждались 5145 -линией кварц, окислы металлов, алюмосиликаты, слюду и т. д.

Ar+-лазера при мощностях падающего на образцы изВсе составляющие ”перемешаны” удивительно однородлучения от 5 до 30 mW. Размеры области возбуждения но [1–3].

находились в пределах 20-50 µm. Для сканирования поИз данных по рентгеноструктурному анализу известверхности образцов использовалась микрометрическая но, что области когерентного рассеяния рентгеновских приставка с шагом 50 µm. Измерялись как исходные, лучей представляют собой микрокристаллиты, содержатак и подвергнутые температурной обработке образцы щие 3–6 искаженных и сильнодефектных графитоподоб- при 500, 1000, 2000 и 2700C. Для предотвращения ных атомных слоев с количеством ароматических колец окисления образцов температурную обработку проводив слое на порядок больше. Электронографические иссле- ли в атмосфере аргона в специальной СВЧ-печи. После нагрева образец в течение 5–10 минут выдерживался дования [1] и рамановские спектры [4] дают практически одинаковую величину размеров графитоподобных микро- при заданной температуре, затем печь выключалась, и образец медленно охлаждался вместе с ней до комнатной кристаллитов для углерода шунгитов-I (c наибольшим температуры, при которой и проводились измерения. Разсодержанием углерода — до 98%), равную 25.

меры микрокристаллитов вычислены путем сравнения Одной из особенностей природного стеклоуглерода интегральных интенсивностей соответствующих полос шунгитов является его стойкость к графитации вплоть до рассеяния [6], предварительно обработанных по специтемператур около 3000C. В различных типах шунгитов альной программе для выделения контуров.

процесс частичного графитирования заканчивается при разных температурах в диапазоне от 2200 до 2800C [2], 2. Экспериментальные результаты но до конца его провести не удается. По мнению авторов [2], это объясняется присутствием углерода в На рис. 1 представлены спектры КРС исходных (крицепочечном виде, который характеризуется устойчивывая 1) и прошедших предварительную температурную ми связями типа -CC- и =C=C=, являющимися обработку образцов (кривые 2–5). Вид спектров образглавным препятствием графитации шунгитов. Авторы [5] цов шунгита аналогичен спектрам большинства других основной причиной неграфитируемости считают присутуглеродных неупорядоченных структур. Наибольшей инствие гетероатомов в шунгитовом веществе.

тенсивностью обладают две основные наблюдаемые поВ настоящей работе методом комбинационного расселосы с центрами при 1355 и 1580-1590 cm-1, отвечаюяния света (КРС) исследуются структурные изменения щие A1g- иE2g2-модам колебаний атомов кристаллическошунгитового углерода, подвергнутого температурным го графита соответственно. Первая запрещена правилами обработкам. отбора и проявляется в аморфной фазе углерода. ПоОсобенности структуры и температурная стойкость шунгитового углерода к графитации вая 4). Наиболее сильные изменения наблюдаются в образцах, подвергнутых нагреву до 2700C (кривая 5):

высокочастотная полоса заметно превышает по интенсивности низкочастотную, что указывает на несколько большую упорядоченность структуры углерода, т. е. на его частичное графитирование.

С целью проверки того, относится ли данный эффект ко всему объему образца или только к его приповерхностной области, были проведены дополнительные измерения сколов образцов. Оказалось, что до 2000C включительно спектры КРС от поверхности и объема практически не отличаются. При 2700C степень графитации поверхности существенно выше (кривая 1 на рис. 2) чем объемных областей (кривые 2, 3). В связи с этим на кривой 5 рис. 1 показан спектр КРС объемной области образца.

Рис. 1. Спектры КРС шунгита-I после отжига в инертной ат мосфере при различных температурах. T C: 1 — 20, 2 — 500, 3 — 1000, 4 — 2000, 5 — 2700. Для удобства кривые смещены 3. Обсуждение результатов по вертикальной оси.

Процесс графитации в углеродных материалах обычно идет по следующей схеме. При температурах 1000-2000C увеличивается диаметр слоев La путем слияния соседних сеток и присоединения неупорядоченных атомов углерода. Межплоскостные расстояния d практически не меняются. При температурах свыше 2000C рост сеток замедляется, а величина d значительно уменьшается, при этом происходит азимутальное упорядочение слоев по отношению друг к другу. Далее происходит упаковка гексагональных сеток в параллельные слои с образованием пакетов различной толщины [8].

На рис. 3 показана зависимость размера микрокристаллитов La от температуры отжига, соответствующая данным рис. 1. Видно, что наблюдается монотонный рост, и если в исходном образце La 24, то после термообработок La увеличивается более чем в 2 раза.

Для образца, соответствующего кривой 1 на рис. 2, La 162. Межслоевое расстояние d в шунгитах уменьРис. 2. Спектры КРС шунгита-I после отжига при 2700C в шается незначительно и при 2800C может стать равным, инертной атмосфере. 1 — от приповерхностной области, 2 и например, d = 3.436 при исходном d = 3.497 [2].

3 — объем образца от разных точек скола.

Последняя величина близка к средней для шунгитов.

Напомним, что у кристаллического графита d = 3.355.

Представленные экспериментальные данные подтверждают, что в высокоуглеродистых шунгитах после высоложение, полуширины и соотношение интенсивностей этих полос для кривой 1 практически совпадают как с данными, приведенными в [4], так и с аналогичными особенностями спектров КРС так называемой ”луковичной” формы углерода [7].

Температурная обработка образцов приводит к тому, что в спектрах наблюдаются некоторые изменения, наиболее характерным из которых является изменение соотношения интенсивностей основных полос рассеяния света. При увеличении температуры отжига это соотношение несколько изменяется в пользу более высокочастотной полосы (кривые 2, 3), и для температуры Рис. 3. Зависимость размеров микрокристаллитов шунгита-I 2000C полосы примерно равны по амплитуде (кри- от температуры отжига образцов.

Физика твердого тела, 1999, том 41, вып. 1414 С.В. Холодкевич, В.И. Березкин, В.Ю. Давыдов котемпературных обработок полная графитация образ- то время как для первого наиболее характерны велицов не наблюдается ни в объеме, ни на поверхности. В чины 1.79-1.85 g / cm3 [1], что находится на уровне выпротивном случае полоса при 1355 cm-1 должна была сококачественных монокристаллических промышленных бы полностью исчезать. Причины тому следует искать, графитов и превышает уровень других известных форм по-видимому, в особенностях структуры и состава шун- природного аморфного углерода.

гитов.

По данным электронно-микроскопических исследоваШунгиты имеют сложный минералогический состав. ний, основным элементом строения шунгитового вещеДаже в высокоуглеродистых шунгитах-I самые разно- ства является глобула, представляющая собой предпообразные примеси могут присутствовать в количестве до ложительно пустотелую частицу, по форме близкую к нескольких процентов. Однако примесные атомы, на наш шаровой, с размерами 100 и с многослойной обовзгляд, не только не могут служить препятствием графи- лочкой [11]. Области когерентного рассеяния рентгеновтации шунгитов, а, наоборот, должны содействовать ей. ских лучей представляют собой наиболее протяженные Дело в том, что целый ряд металлов, а также кремний, плоские стенки глобулы, т. е. области однотипного распокак хорошо известно [9], обладает каталитическим дей- ложения слоев атомов углерода. Между глобулами нахоствием на процесс графитации углеродных материалов. дится углерод, обеспечивающий связь между ними [12].

Интенсификация процесса происходит через карбидо- Он, по-видимому, наименее организован и представляет образование и возникновение эвтектических расплавов собой углерод случайной сетки. Такая структура подобна типа Me–MeC, MeC–C (где Me — атом металла или ”луковичной” форме углерода, образующейся при темпекремния), когда чередующиеся акты синтеза-разложения ратуре 1000C в результате структурного фазового пекарбидов ведут к образованию графита. Примеси, не рехода алмаз–графит на поверхности 40 -кластеров участвующие в карбидообразовании, т. е. не являющиеся алмаза, полученных методом детонационного синтеза из катализаторами, существенного влияния на процесс не углерода взрывчатых веществ [7]. Здесь глобула не оказывают [8,9]. В шунгитах подавляющее большинство пустотелая, а содержит алмазный нанокластер. Что канеуглеродных составляющих обладают каталитическим сается шунгитов, то при термообработках уменьшается действием. кривизна слоев вследствие слияния глобул и образования относительно более крупных полых частиц [12].

Что касается цепочечного углерода, то он может присутствовать как в базовых плоскостях, так и осуще- Увеличение эллиптичности также даст наблюдаемый рост видимых размеров микрокристаллитов.

ствлять жесткую связь между ними. Считается, что в шунгитах-I на 5-6 атомов в слое может приходиться Известно, что в неграфитирующихся углеродных ма1-2 атома углерода, имеющего прочную связь с сосед- териалах структура остается несовершенной даже после ней плоскостью [1,2]. При столь высокой концентрации длительных обработок при очень высоких температуатомов цепочечного углерода их присутствие в структу- рах, и если имеются глобулы, то они не изменяют ре шунгитового вещества можно было бы, на наш взгляд, своей морфологии вплоть до температур сублимации фиксировать прямыми методами, такими, как например углерода [13]. Если процесс графитации рассматривать ИК-поглощение или КРС в области 2100-2300 cm-1, как превращение двумерной структуры в трехмерную, характерной для линейных углеродных цепочек [10]. то в шунгитах на фоне видимого укрупнения микроОднако к настоящему времени зафиксировать эти осо- кристаллитов их общая взаимная ориентация остается бенности в шунгитах не удалось. С другой стороны, хаотической. Здесь можно отметить, что эффективность если иметь в виду, что соседние углеродные слои как графитирования, например, промышленных саж убывает в продольном, так и в поперечном направлениях могут с уменьшением размера сферических сажевых частиц объединяться за счет дефектов структуры, например из-за влияния возрастающей кривизны их поверхности, винтовых и краевых дислокаций, то вводить допущение и наиболее дисперсные сажи, канальные, с размерао линейных молекулах углерода нет необходимости [8]. ми частиц 100-400 не графитируются [14]. Таким образом, шунгитовые микрокристаллиты, объединенные Шунгит по степени разупорядоченности является, в глобулы, не способны к полному взаимному слиянию вероятно, одим из крайних членов в ряду твердого вследствие их малого размера и отсутствия взаимной углерода, так как отсутствие на его рентгенограммах ориентации. Иными словами, свойство неграфитируемотрехмерных рефлексов типа (hkl) не дает оснований представлять шунгитовый углерод как мелкодисперс- сти изначально задано самой структурой шунгитового вещества.

ный или плохо кристаллизованный графит. Структура шунгитов-I должна существенно отличаться также и от В связи с вышеизложенным становится понятно, поструктуры синтетического стеклоуглерода (для которого чему процесс графитации на поверхности образцов прохарактерны жесткие перекрещивающиеся кратные угле- ходит гораздо глубже. В объемных областях подавляюродные связи, связи графитоалмазного типа и мостико- щее большинство глобул остается неразрушенным вследвый кислород [9]), так как при примерно одинаковых ствие их плотной упаковки, и микрокристаллиты не имеLa, содержании углерода и пористости удельный вес ют возможностей к выравниванию взаимной ориентации.

второго обычно составляет величину 1.4-1.5g/ cm3, в Напротив, на поверхности благодаря дополнительной Физика твердого тела, 1999, том 41, вып. Особенности структуры и температурная стойкость шунгитового углерода к графитации поверхностной энергии могут разрываться связи, ста- [10] М.Б. Гусева, В.Г. Бабаев, В.М. Бабина, Н.Д. Новиков, В.В. Хвостов. В кн.: Аморфные и микрокристаллические бильные в объемных областях образца, и глобулы, теряя полупроводники. Тез. докл. Всерос. симпоз. СПб (1998).

замкнутость, могут разрушаться на микрокристаллитные С. 55.

фрагменты более интенсивно, чем в объеме, создавая [11] V.V. Kovalevski, N.N. Rozhkova, A.Z. Zaidenberg, дополнительные условия для укладки углеродных слоев A.N. Yermolin. Molec. Mater. 4, 1–3, 77 (1994), в регулярную кристаллическую решетку. Однако процесс [12] В.В. Ковалевский. ЖНХ 39, 1, 31 (1994).

графитации и на поверхности не проходит до конца, так [13] А.С. Фиалков. Углеграфитовые материалы. Энергия, М.

как исходная структура ограничивает пределы укрупне(1979). 320 с.

ния микрокристаллитов и разрушения глобул, т. е. само [14] В.Б. Фенелонов. Пористый углерод. Изд-во ин-та катализа шунгитовое вещество и после термообработок предСО РАН, Новосибирск (1995). 518 с.

ставляет собой в высокой степени разупорядоченный материал.

Анализ полученных в настоящей работе результатов позволяет сделать следующие выводы.

Pages:     || 2 |



© 2011 www.dissers.ru - «Бесплатная электронная библиотека»

Материалы этого сайта размещены для ознакомления, все права принадлежат их авторам.
Если Вы не согласны с тем, что Ваш материал размещён на этом сайте, пожалуйста, напишите нам, мы в течении 1-2 рабочих дней удалим его.