WWW.DISSERS.RU

БЕСПЛАТНАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ БИБЛИОТЕКА

   Добро пожаловать!

Pages:     || 2 |
Физика и техника полупроводников, 2001, том 35, вып. 11 Импульсный синтез слоев -FeSi2 на кремнии, имплантированном ионами Fe+ © Р.И. Баталов, Р.М. Баязитов¶, Е.И. Теруков, В.Х. Кудоярова, G. Weiser†, H. Kuehne† Казанский физико-технический институт Российской академии наук, 420029 Казань, Россия Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, 194021 Санкт-Петербург, Россия † Philipps University of Marburg, Renthof 5, D-35032, Germany (Получена 4 апреля 2001 г. Принята к печати 19 апреля 2001 г.) Синтез сплошных слоев и мелкодисперсных пленок -FeSi2 проводился с использованием имплантации ионов Fe+ в Si (100) с последующей наносекундной импульсной ионной обработкой имплантированных слоев. С использованием рентгеновской дифракции показано, что импульсная ионная обработка приводит к образованию смеси двух фаз: FeSi и -FeSi2 с напряженными кристаллическими решетками. Последующий кратковременный термический отжиг приводит к полной трансформации фазы FeSi в фазу -FeSi2 с образованием текстурированного слоя. Данные рамановского рассеяния подтверждают образование фазы -FeSi2 при высокой степени кристалличности кремния. Результаты измерений оптического поглощения свидетельствуют о формировании слоев и преципитатов -FeSi2 с прямозонной структурой с величиной оптической щели Eg 0.83 эВ и шириной хвоста Урбаха E0 220 мэВ. Сигнал фотолюминесценции при 1.56 мкм, обусловленный прямыми межзонными переходами в -FeSi2, наблюдался вплоть до температуры 210 K.

1. Введение высокотемпературных (до 900C) и продолжительных (до 20 ч) термообработок. Однако такие термические воздействия нежелательны в микроэлектронике при соОдним из основных направлений кремниевой оптоздании интегральных микросхем, поскольку они привоэлектроники является создание тонкопленочных струкдят к существенной диффузии атомов железа в глубь тур, излучающих в области 1.5 мкм — ”окне” прозрачбазового Si из-за большого коэффициента диффузии ности кремния и двуокиси кремния. Основным подходом железа при высоких температурах (D 5 · 10-6 см2/с к решению данной проблемы в последние 10–15 лет при температуре T 1000C), что ведет к деградации являлось создание твердых растворов Er в Si [1,2]. При основных параметров кремниевых приборов [10].

этом слои Si : Er излучают на длине волны 1.54 мкм на 4 Преодолеть указанные ограничения можно с испольпереходах I13/2-4I15/2 во внутренней 4 f оболочке иона зованием импульсных лучевых (лазерных, ионных, элекEr3+, находящегося в оптически активном состоянии.

тронных) обработок, которые воздействуют только на Однако низкая растворимость редкоземельных элеменприповерхностные слои материала ( 1мкм) в течение тов в Si и их тенденция к образованию оптически неаккороткого интервала времени (< 1мкс), что исключает тивных кластеров существенно ограничивают интенсивнежелательную диффузию примеси в базовый материность внутрицентровой люминесценции при комнатной ал. Кроме того, высокие скорости нагрева, плавления температуре [3].

и последующего затвердевания ( 1м/с) приводят к В последние 5 лет начал бурно развиваться новый, формированию бездефектных, эпитаксиальных и сильно альтернативный подход к решению проблемы, связанный легированных слоев Si [11–13]. Характерными осос синтезом соединений и их кластеров в Si. Таким собенностями импульсной ионной обработки (ИИО, или единением является полупроводниковый дисилицид же”Pulsed ion-beam treatment” — PIBT) по сравнению с леза — -FeSi2, являющийся прямозонным материалом импульсной лазерной являются более глубокое и равс шириной оптической щели около 0.85 эВ, соответствуномерное распределение потерь энергии ионов в мающей длине волны, близкой к 1.5 мкм [4]. К настоятериале, что ведет к меньшему перегреву и нарушещему времени продемонстрирована низкотемпературная нию поверхности, а также независимость результатов ( 200 K) фотолюминесценция (ФЛ) слоев -FeSi2 [5–7] обработки от оптических свойств облучаемого материи уже созданы первые светодиоды с активной областью с ала [14].

преципитатами -FeSi2, работающие в режиме прямого В данной работе формирование тонких пленок -FeSiсмещения при 80 [8] и 300 K [9]. Основными методами проводилось с использованием ИИО слоев Si, имплансоздания диодных структур являются ионная имплантатированных ионами Fe+ с дозами, соответствующими ция и молекулярно-лучевая эпитаксия с использованием образованию сплошных слоев и мелкодисперсных пленок [15]. Синтезированные пленки -FeSi2 исследова¶ E-mail: bayaz@kfti.knc.ru лись методами скользящей рентгеновской дифракции, раИмпульсный синтез слоев -FeSi2 на кремнии, имплантированном ионами Fe+ мановского рассеяния света, резерфордовского обратно- 3. Результаты и обсуждение го рассеяния (РОР), оптической и фотолюминесцентной спектроскопии. 3.1. Рентгеноструктурный анализ После ионной имплантации в спектре рентгеновской дифракции (не показан) отсутствуют какие-либо рефлек2. Эксперимент сы, что свидетельствует о полной аморфизации имплантированного слоя. На рис. 1 приведены спектры рентгеПластины монокристаллического кремния (по Чоновской дифракции образцов, имплантированных двумя хральскому) n-типа с ориентацией (100) имплантиродозами ионов Fe+ (1 · 1016 и 1.8 · 1017 см-2) после ИИО вались ионами Fe+ при 300 K с энергией 40 кэВ двумя (50 нс, 50 А/см2) и дополнительного ТО (800C, 20 мин).

дозами 1·1016 и1.8·1017 см-2 (плотность ионного тока — Из рис. 1, a видно, что после ИИО образуется смесь 5 µA/см2). После имплантации образцы подвергались фаз: металлической FeSi и полупроводниковой -FeSi2.

ИИО мощным наносекундным ионным пучком (C+ — Наиболее интенсивный пик на спектре обусловлен брэг80%, H+ — 20%, E = 300 кэВ, = 50 нс, j 50 А/см2, говским отражением от плоскостей (202)/(220) -FeSi2.

2–3 импульса) [14]. Общая доза ионов C+ и H+, Положение данного пика (2 = 36.2) существенно вводимых в процессе ИИО, не превышала 1 · 1014 см-2.

отличается от табличного значения (2 = 36.9), что Термический отжиг (ТО, или ”Thermal annealing” — TA) имплантированных образцов проводился в кварцевой печи в атмосфере азота при температуре 800Cвтечение 20–150 мин.

Структура и фазовый состав имплантированных и отожженных слоев исследовались методом скользящей рентгеновской дифракции (угол падения пучка 1) с использованием Fe K-излучения ( = 1.9373 ). Азимутальная зависимость наиболее интенсивного дифракционного пика записывалась путем фиксации детектора на позиции данного рефлекса с последующим проведением азимутального сканирования в диапазоне углов = 0-360. Исследование распределения имплантированных атомов железа по глубине проводилось с использованием спектрометрии резерфордовского обратного рассеяния (РОР) пучком дейтронов (2D+) с энергией 0.9 МэВ при угле рассеяния 135. Микроструктура образцов исследовалась методом рамановской спектроскопии. Рамановские спектры были получены с использованием рамановского комплекса JY U1000. Все спектры были записаны при 300 K в области 0-600 см-1 с разрешением 3 см-1. В качестве источника возбуждения использовался аргоновый лазер ( = 514.5нм). Использование данной лазерной линии позволяло нам получать информацию о микроструктуре как пленки -FeSi2, так и кристаллического Si, поскольку глубины оптического зондирования в слое -FeSi2 и в Si равны 18 и 760 нм соответственно [16].

ИК спектроскопия в режиме отражения и пропускания применялась для определения энергии зонной щели сформированного силицида. Измерения были проведеРис. 1. Спектры скользящей рентгеновской дифракции Si, имны на спектрофотометре Hitachi-330 при 300 K в спекплантированного ионами Fe+ дозой 1.8·1017 см-2 (a, b) и дозой тральной области 1000-2000 нм. Фотолюминесценция 1 · 1016 см-2 (c): a — после ИИО (50 нс, 50 А/см2), b —после (ФЛ) синтезированных пленок -FeSi2 исследовалась в ИИО и дополнительного ТО (800C, 20 мин), c — после ИИО ближней ИК области спектра ( = 1.0-1.7мкм) в и дополнительного ТО. На вставках показаны азимутальные диапазоне температур 77-250 K. Возбуждение сигнала зависимости дифракционного пика (202)/(220). a — диФЛ проводилось с использованием аргонового лазера фракционные пики: I — -FeSi2 (202)/(220), II — FeSi (111), ( = 514.5нм, P = 50 мВт), а регистрация сигнала III — FeSi (210), IV — (041); b — дифракционные пики:

осуществлялась охлаждаемым до 77 K германиевым фо- I — (313)/(331), II — (041), III — (422); c —дифрактодиодом. ционные пики: I — Si (111).

Физика и техника полупроводников, 2001, том 35, вып. 1322 Р.И. Баталов, Р.М. Баязитов, Е.И. Теруков, В.Х. Кудоярова, G. Weiser, H. Kuehne близко к данным, полученным при близких режимах имплантации [15,18].

На рис. 2 показаны неканалированные спектры РОР имплантированного Si после ИИО с последующим кратковременным ТО (1), а также подвергнутого только ТО (2). В обоих случаях слой -FeSi2 образуется вблизи поверхности на глубине до 100 нм. При этом существенного перераспределения атомов железа, обусловленного диффузией либо сегрегацией к поверхности, не наблюдается. Отсутствие в спектрах РОР характерных ”ступенек” на участках, соответствующих кремнию и железу, обусловленных образованием стехиометрического дисилицида FeSi2, можно объяснить недостаточным разрешением (12 кэВ) детектора рассеянных дейтронов.

Рис. 2. Спектры РОР Si, имплантированного ионами Fe+ дозой 1.8 · 1017 см-2 после ИИО (50 А/см2) и дополнительного ТО (800C, 20 мин) (1), а также только после ТО (800C, 3.2. Рамановская спектроскопия 150 мин) (2). Стрелками показаны положения поверхности для железа и кремния.

Рамановские спектры Si имплантированного ионами Fe+ двумя дозами 1 · 1016 см-2 и 1.8 · 1017 см-2 после ИИО и дополнительного ТО показаны на рис. 3. Видны 4 наиболее интенсивные линии с максимумами при 190, можно объяснить напряженным состоянием кристалли246, 301 и 521 см-1. Последние две линии обусловлены ческой решетки дисилицида, которое вызвано быстрой поперечными оптическими (ТО) фононами и двухфожидкофазной кристаллизацией имплантированного слоя.

нонным процессом (2ТА) в объемном кристаллическом Для снятия напряжения решетки, а также для полной (c-Si) кремнии. Следует отметить, что линия 301.5 см-трансформации остаточного количества фазы FeSi в фанаблюдается лишь в бездефектных кристаллах c-Si и зу -FeSi2 был проведен кратковременный ТО (800C, отсутствует в слоях -FeSi2, полученных ионной имплан20 мин) в азотной атмосфере. Спектр рентгеновской ди- тацией с последующим ТО [19]. Это свидетельствует фракции после дополнительного ТО показан на рис. 1, b. о низком уровне дефектности нижележащих областей Видно существенное увеличение интенсивности пика кремния. Что касается рамановских линий, расположен(202)/(220) и его смещение к величине 2 = 36.9, ных при 190 и 246 см-1, то они обусловлены присутствием -FeSi2. -фаза дисилицида железа кристаллизучто свидетельствует о снятии напряжений в решетке дисилицида. Кроме того, видно исчезновение рефлек- ется в орторомбическую пространственную группу D18.

2h Для рамановской спектроскопии факторный групповой сов фазы FeSi. Соотношение интенсивностей пиков анализ предсказывает 12 активных внутренних мод, коI220 : I422 = 8.5, в то время как в случайно ориторые, вероятно, дают большинство из 14 рамановских ентированных порошках -FeSi2 это соотношение равлиний. Кроме того, рамановская восприимчивость трех но 1.25. Данный факт свидетельствует о наличие в слое -FeSi2 преимущественной ориентации зерен (текстуры).

На вставке рис. 1, b показана азимутальная зависимость пика (220), характеризуемая четырьмя интенсивными максимумами, обусловленными ростом слоя -FeSi2 на Si (100). Необходимо заметить, что в случае только ТО имплантированного Si наблюдалась очень слабая текстура, а интенсивность основного дифракционного пика была почти в 3 раза меньше (не показано). На рис. 1, c показан спектр рентгеновской дифракции Si, имплантированного дозой 1·1016 см-2, после ИИО и ТО.

Видно присутствие в спектре рефлексов фазы -FeSi(без включений металлической фазы FeSi), а также рефлекса от Si матрицы (111), который свидетельствует о том, что приповерхностные участки Si матрицы имеют поликристаллическую структуру. Вставка на рис. 1, c Рис. 3. Рамановские спектры Si, имплантированного разсвидетельствует о предпочтительной ориентации прециличными дозами ионов Fe+ после ИИО (50 нс, 50 А/см2) и питатов -FeSi2 в направлении 110. Расчеты среддополнительного ТО (800C, 20 мин): 1 — 1.8 · 1017 см-2, него размера преципитатов -FeSi2 с использованием 2 —1 · 1016 см-2. Положение пиков, см-1: I —, 190.4;

программы MAUD [17] дают величину 40 нм, что II —, 246.2, III — Si, 2TA, 301,5; IV — Si, TO, 521.2.

Физика и техника полупроводников, 2001, том 35, вып. Импульсный синтез слоев -FeSi2 на кремнии, имплантированном ионами Fe+ Ag-мод не должна изменяться, когда поляризация возбуждающего поля вращается относительно поляризации рассеянного света. Это имеет место в случае трех наиболее интенсивных линий поперечно-поляризованного спектра при 197, 253 и 346 см-1, которые наблюдались в пленке -FeSi2 с толщиной 1 мкм, находящейся на подложке FeSi. Рамановские линии при 178, 201 и 252 см-1 измерялись для объемного поликристаллического -FeSi2. В случае пленки -FeSi2 с толщиной 200 нм, которая была выращена на Si-подложке, авторы работ [16,20] наблюдали основные рамановские линии при 176, 195/200 и 247 см-1. Необходимо отметить, что во всех случаях пик, расположенный при 247 см-(Ag-мода), был наиболее интенсивным, и по этой причине многие авторы концентрируют свое внимание только на этом пике. Как видно из рис. 3, интенсивность пика при 246 см-1 возрастает с увеличением дозы имплантированных ионов Fe+, что может быть объяснено увеличением количества синтезируемой фазы -FeSi2.

3.3. Оптическая ИК спектроскопия На рис. 4 показаны спектры пропускания (T ) и отражения (R) имплантированных образцов после ИИО Рис. 5. Спектр поглощательной способности Si, имплантии ТО в спектральном диапазоне, соответствующем пророванного ионами Fe+ дозой 1 · 1016 см-2 после ИИО (50 нс, зрачности кремниевой подложки. Для обоих образцов 50 А/см2) и дополнительного ТО (800C, 20 мин). Штриховая наблюдается схожее поведение кривых пропускания и линия — аппроксимация экспериментальных данных выражеотражения, т. е. монотонное уменьшение пропускания и нием (1), 1 — экспериментальные данные.

незначительный рост отражения с увеличением энергии фотона. Различие по абсолютному значению в спектрах T и R объясняется различной микроструктурой сформированных пленок -FeSi2, т. е. формированием при E > 1 эВ обусловлен фундаментальным поглощенисплошного слоя при дозе 1.8 · 1017 см-2 и мелкодисем кремния. Участок спектра 0.8-1.0 эВ соответствует персной пленки, состоящей из преципитатов -FeSi2 зонной щели -FeSi2, величина которой может быть размером около 40 нм, при дозе 1 · 1016 см-2. На рис. найдена аппроксимационным выражением для прямых показана зависимость поглощательной способности A межзонных переходов [21]:

Pages:     || 2 |



© 2011 www.dissers.ru - «Бесплатная электронная библиотека»

Материалы этого сайта размещены для ознакомления, все права принадлежат их авторам.
Если Вы не согласны с тем, что Ваш материал размещён на этом сайте, пожалуйста, напишите нам, мы в течении 1-2 рабочих дней удалим его.