WWW.DISSERS.RU

БЕСПЛАТНАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ БИБЛИОТЕКА

   Добро пожаловать!

Pages:     | 1 ||

ловушку E36 как комплекс V O. Из активационных зависимостей (см. вставку на рис. 5) найдено, что энергия активации эмиссии электронов для этой ловушки составляет величину E = 0.053 эВ. Нельзя исключать однако, что эта величина может оказаться несколько заниженной вследствие эффекта электрического поля.

В легированных кристаллах Si этот эффект, как известно [23], приводит к заметному снижению энергии активации эмиссии электронов для A-центра.

4. Заключение Результаты проведенных исследований комплексов вакансия–два атома кислорода в кристаллах n-кремния с различным уровнем легирования и (или) с различной степенью компенсации однозначно свидетельствуют об электрической активности дефекта, находящегося („замороженного“) в метастабильной конфигурации V O.

В сильно компенсированных кристаллах, когда уровень Рис. 5. Фрагменты DLTS-спектров образца n-Cz-Si ([ Oi ] = Ферми локализован у середины запрещенной зоны, = 1.1 · 1018, [ Cs ] =5 · 1015, [ P ] =6 · 1014 см-3), облученного дефекту V O при низкой температуре соответствуют электронами с энергией 4 МэВ (F = 1 · 1016 см-2) и отожжен- полосы поглощения у 928 и 1004 см-1. При комнатной ного при 320C в течение 30 ч. 1 — после последующего температуре эти полосы смещаются в область меньших отжига при 480C в течение 5 мин, 2 и 3 после дальнейших отжигов при 250C в течение 6 и 50 ч соответственно. энергий к 924 и 1000 см-1 соответственно. Такой температурный сдвиг положения полос является типичным для комплексов V Om (m 1) в кремнии [16,17]. Эти же полосы у 924 и 1000 см-1 наблюдаются и для слабо активным дефектом с мелким акцепторным уровнем в компенсированных кристаллов Cz-Si n-типа в спектрах, верхней половине запрещенной зоны. На рис. 4 показаны измеренных при комнатной температуре. В то же время температурные зависимости концентрации свободных в спектрах, измеренных при низкой температуре, когда электронов (ТЗКН), полученные из измерений эффекта уровень Ферми находился вблизи зоны проводимости, Холла, для одного из образцов после отжигов при дефекту V O соответствовали полосы поглощения у и 250C. Видно, что в области низких температур эти и 1023 см-1. По аналогии с A-центром, полоса поглозависимости заметно отличаются вследствие уменьше- щения которого смещается в область более высоких Физика и техника полупроводников, 2006, том 40, вып. 1320 Л.И. Мурин, В.П. Маркевич, И.Ф. Медведева, L. Dobaczewski энергий при изменении зарядового состояния от нейт- [22] L.I. Murin, J.L. Lindstrm, V.P. Markevich, I.F. Medvedeva, V.J.B. Torres, J. Coutinho, R. Jones, P.R. Briddon. Sol. St.

рального к отрицательно заряженному, полосы у Phenomena, 108–109, 223 (2005).

и 1023 см-1 были приписаны комплексу V O в отрица[23] B.A. Komarov, V.I. Sopryakov. Phys. Status Solidi A, 66, тельно заряженном состоянии.

(1981).

Присутствие бистабильного комплекса вакансия-два атома кислорода в кристаллах Si проявляется и в элек- Редактор Л.В. Беляков трических измерениях. Данные, полученные методом эффекта Холла и DLTS, позволили достаточно надежно Bistability and electrical activity определить положение акцепторного уровня V O как of the vacancy–dioxygen defect in silicon EC-(0.06 ± 0.01) эВ.

L.I. Murin, V.P. Markevich, I.F. Medvedeva, Авторы выражают благодарность Леннарту Линдстре L. Dobaczewski му за помощь в проведении оптических измерений и Joint Institute of Solid State полезные обсуждения.

and Semiconductor Physics, Работа выполнена при частичной финансовой подNational Academy of Sciences of Belarus, держке Белорусского республиканского фонда фунда220072 Minsk, Belarus ментальных исследований (проект Ф04МС-029).

Institute of Physics, Polish Academy of Sciences, 02-668 Warsaw, Poland Список литературы

Abstract

The vacancy–dioxygen complex (V O2) in irradiated [1] Oxygen in Silicon, ed. by F. Shimura [Semiconductors and n-type Si crystals with different doping level has been investigated Semimetals (Academic, London, 1994) v. 42].

by means of infrared absorption, Hall effect and transient capaci[2] R.C. Newman. J. Phys.: Condens. Matter., 12, R335 (2000).

tance spectroscopy. The previously discovered bistability of V O[3] M. Pesola, J. Von Boehm, T. Mattila, R.M. Nieminen. Phys.

is confirmed and a strong evidence for the electrical activity of Rev. B, 60, 11 449 (1999).

a metastable V O configuration is presented. It is found that [4] J. Coutinho, R. Jones, P.R. Briddon, S. Oberg. Phys.

an acceptor level at about EC-0.06 eV is associated with this Rev. B, 62, 10 824 (2000).

configuration. The absorption bands at 967 and 1023 cm-1 are [5] G.D. Watkins, J.W. Corbett. Phys. Rev., 121, 1001 (1961).

shown to arise from a negative charge state of V O while the [6] J.W. Corbett, G.D. Watkins, R.M. Chrenko, R.S. McDonald. Phys. Rev., 121, 1015 (1961). bands at 928 and 1004 cm-1 relate to a neutral state of the defect.

[7] V.P. Markevich, A.R. Peaker, L.I. Murin, N.V. Abrosimov.

Appl. Phys. Lett., 82, 2652 (2003).

[8] K.L. Brower. Phys. Rev. B, 4, 1968 (1971).

[9] L.I. Murin, V.P. Markevich, T. Hallberg, J.L. Lindstrm. Sol.

St. Phenomena, 69–70, 309 (1999).

[10] A.R. Bean, R.C. Newman. Sol. St. Commun., 9, 271 (1971).

[11] B.G. Svensson, J.L. Lindstrm. Phys. Rev., 34, 8709 (1986).

[12] J.L. Lindstrm, L.I. Murin, T. Hallberg, V.P. Markevich, B.G. Svensson, M. Kleverman, J. Hermansson. Nucl. Instrum.

Meth. Phys. Res. B, 186, 121 (2002).

[13] L.I. Murin, V.P. Markevich, J.L. Lindstrm, M. Kleverman, J. Hermansson, T. Hallberg, B.G. Svensson. Sol. St. Phenomena, 82–84, 57 (2002).

[14] J.W. Corbett, G.D. Watkins, R.S. McDonald. Phys. Rev., 135, 1381 (1964).

[15] J.L. Lindstrm, L.I. Murin, V.P. Markevich, T. Hallberg, B.G. Svensson. Physica B: Condens. Matter., 273–274, (1999).

[16] J.L. Lindstrm, B.G. Svensson. Mater. Res. Soc. Symp. Proc., 59, 45 (1986).

[17] L.I. Murin, J.L. Lindstrm, B.G. Svensson, V.P. Markevich, C.A. Londos. Sol. St. Phenomena, 108–109, 267 (2005).

[18] L.I. Murin, J.L. Lindstrm, V.P. Markevich, A. Misiuk, C.A. Londos. J. Phys.: Condens. Matter., 17, S2237 (2005).

[19] V.V. Voronkov, R. Falster. J. Electrochem. Soc., 149, G(2002).

[20] V.V. Voronkov, R. Falster. J. Appl. Phys., 91, 5802 (2002).

[21] J.L. Lindstrm, L.I. Murin, B.G. Svensson, V.P. Markevich, T. Hallberg. Physica B: Condens. Matter., 340–342, (2003).

Физика и техника полупроводников, 2006, том 40, вып.

Pages:     | 1 ||



© 2011 www.dissers.ru - «Бесплатная электронная библиотека»

Материалы этого сайта размещены для ознакомления, все права принадлежат их авторам.
Если Вы не согласны с тем, что Ваш материал размещён на этом сайте, пожалуйста, напишите нам, мы в течении 1-2 рабочих дней удалим его.