WWW.DISSERS.RU

БЕСПЛАТНАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ БИБЛИОТЕКА

   Добро пожаловать!

Pages:     | 1 | 2 || 4 | 5 |   ...   | 6 |

ски обоснован оптимизированный метод синтеза таких Такие многослойные гетерострукутры с квантовыми точквантово-размерных структур, как вертикальные сверх- ками имеют прикладное значение в связи с открываюрешетки, наносистемы из квантовых нитей или точек щимися новыми возможностями (например, электронная и т. п. при циклическом изменении пересыщения во связь кластеров по вертикали, формирование трехмервремя выращивания каждого атомного слоя пленки [58]. ных решеток, состоящих из островков–кластеров, часто Упорядочение по площади — наиболее слабая форма называемых ”искусственными атомами” [61,62]).

упорядочения, что связано со слабостью взаимодействия островков на начальном этапе их формирования. По3.3. Размеры и плотность островков:

этому предварительное создание упорядоченных мест возможности управления для зарождения нанокластеров является основным путем для получения их последующего пространственно- На рис. 9 демонстрируются характерные размеры клаупорядоченного состояния. Этот тезис хорошо подтвер- стеров GeSi типа ”hut ” и типа ”dome”, возрастающие при увеличении содержания кремния в твердом растворе ждается анализом двух ранее представленных картинок распределения островков Ge на сингулярной (рис. 7, a) GeSi (построены по данным [29,42,49,63]). Там же на и вицинальной (рис. 7, b) (100) гранях Si. На рис. 8 основе работы Obayashi, Shintani [64] приведена теореприведены характеристики пространственного упорядо- тическая зависимость периода волнистости поверхности чения, полученные статистической обработкой данных пленки GeSi/Si(100), являющейся результатом упругой рис. 7: радиальные корреляционные функции, характе- релаксации напряженного твердого раствора. С ростом ризующие вероятность обнаружения кластера на опреде- доли Si напряжения в кластере уменьшаются и необленном расстоянии от произвольно выбранного островка ходимый выигрыш энергии за счет упругой релаксации (рис. 8, a, b). Видно, что, несмотря на рекордно малый островков наступает при их больших размерах. Исслеразброс по размерам островков, сообщаемый в [53], микрофотография которых приведена на рис. 7, a, их пространственное распределение практически неупорядочено. Свидетельствами присутствия некоторого упорядочения являются наличие слабо выделенного предпочтительного расстояния между ближайшими соседями, а также отсутствие 3D центров на расстояниях меньше среднего (рис. 8, a). Пространственное распределение островков, приведенных на рис. 7, b (работа [56]), можно считать наиболее упорядоченным, наблюдавшимся в системе Ge–Si. Форма корреляционной функции на рис. 8, b свидетельствует о наличии ближнего порядка в 1-м и 2-м координационных окружениях. Пространственное упорядочение островков возрастает с увеличением покрытия (отношения суммарной площади островков к площади подложки), что обусловлено минимизацией отталкивающих (repulsive) сил упругого взаимодействия между соседними островками [46,59]. Поэтому наиболее пространственно упорядоченные массивы островков занимают большую часть площади подложки (см., например, рис. 7, b, где островки практически соприкасаются).

В работе [13] было показано, что последовательное наращивание слоев с островками Ge, которые заращиваются материалом, согласованным с подложкой (Si), приводит к улучшению упорядочения островков как по их размерам, так и по площади. Возмущения полей Рис. 9. Схема изменения размеров кластеров типа hut и dome упругой деформации от кластера проникают на разные с ростом доли кремния в островке на основе данных из работ:

расстояния в заращивающий слой в зависимости от a — Kamins et al. [29], b — Востоков и др. [42], c —Ross объема конкретного островка и от их скопления. На поet al. [63], d —Floro et al. [49]. Пунктир — расчетный периверхности заращивающего слоя создаются места преиму- од волнистости поверхности напряженного твердого раствора щественного зарождения новых островков на следующем GeSi по Obayashi, Shintani [64].

Физика и техника полупроводников, 2000, том 34, вып. Кремний-германиевые наноструктуры с квантовыми точками: механизмы образования... дования твердых растворов GeSi с большим содержанием Si весьма удобным для модельных экспериментов, позволяющих легко выяснить основные закономерности формирования островков вследствие их относительно больших размеров [49]. Однако практический интерес исследователей концентрируется на системах с размером наноостровков около 10 нм и менее (чистый Ge-на-Si), что в первую очередь связано с их оптическими свойствами. Плотность островков имеет также важное значение, поскольку отклик системы на внешнее воздействие напрямую связан с числом островков, а значит, и с их плотностью. Оба этих параметра (размер и плотность) зависят от таких условий выращивания, как температура подложки и скорость роста. Понижение температуры роста, так же как и увеличение потока Ge, ведет к Рис. 10. Перспективное STM-изображение типичных островуменьшению диффузионной длины адатомов Ge на подков Ge после осаждения 4.1 (a) и 6.8 (b) бислоя германия ложке. Соответственно область сбора адатомов для одно- на поверхности (111) кремния; 330 330 нм. Средняя высота го островка уменьшается, уменьшаются и его размеры, островков на рис. b — 8 нм. Подробности в работе [68].

а плотность возрастает. Abstreiter et al. [65], понизив температуру роста до 550C и увеличивая поток Ge, закономерно варьировали плотность островков вплоть Как было отмечено в разд. 2, морфологическая недо 1010 см-2. Дальнейшее понижение температуры роста устойчивость поверхности напряженного слоя и крайнее до 300C позволило существенно повысить плотность ее проявление — образование 3D когерентных островнанокластеров Ge до 3 · 1011 см-2 [66]. Peng et al. [67], ков — развиваются, если выигрыш в свободной энериспользуя сурьму как сурфактант, понижающий поверхгии системы за счет упругой релаксации напряжений в ностную диффузионную длину адатомов Ge, достигли островках превышает добавку поверхностной энергии за рекордно высокой на сегодняшний день величины плотсчет увеличения площади поверхности и возникновения ности островков 5 · 1011 см-2.

фасеточных граней с большей поверхностной энергией. Рассмотрим с этих позиций системы Ge/Si(001) 3.4. Поверхности Si {001} и {111}: сравнение и Ge/Si(111) в сравнении.

Ближайшая к плоскости (100) фасеточная грань как Подавляющее количество теоретических и эксперидля германия [73,74], так и для кремния [75] — ментальных работ по изучению образования островгрань (105) и отклонена на 11.3 от плоскости (100).

ков Ge посвящено исследованию этих процессов на По данным [76], эта грань состоит из террас (100), раздеповерхности Si(001) вследствие того, что именно эта ленных ступенями. Образование hut-кластеров Ge-на-Si, поверхность является наиболее благоприятной для обраограненных именно поверхностями {105}, обусловлезования когерентных наноостровков большой плотности.

но, по предположению Liu, Wu, Lagally [77], незначиТем не менее проблема влияния ориентации поверхтельной разницей поверхностных энергий граней {100} ности подложки на процесс формирования островков и {105}. С другой стороны, грань (113), которой в напряженной гетероэпитаксиальной пленке остается ограняются 3D островки Ge на начальном этапе их актуальной и мы в данном параграфе попытаемся кратко образования на плоскости (111) Si [68], отклонена от отметить особенности, отличающие системы Ge/Si(001) базовой уже на 29.5. Поверхностная энергия () этой и Ge/Si(111) по способности к морфологической нестаграни была определена экспериментально для Si в работе бильности.

При осаждении Ge на поверхности Si(001) после обра- Eaglesham et al. [78] и она больше в 1.13 раза, чем {111}. Те же авторы [78] экспериментально показали, зования смачивающего слоя появляются когерентные что энергия ступени на поверхности Si(111) в 5 раз (без ДН) hut-кластеры (рис. 5), а затем dome-кластеры, больше, чем на поверхности (001), что, по-видимому, высота которых существенно превосходит критическую является основной причиной, способствующей большей толщину введения ДН [10]. Последние появляются в островках, превышающих по высоте 50 нм [10] (так на- атомарной гладкости поверхности (111) по сравнению с (001) и, соответственно, большей морфологической зываемые superdome [39]). Таким образом, в системе Ge/Si(001) имеется протяженная область условий суще- стабильности этой грани. Berbezier et al. [72] также подствования 3D когерентных островков Ge. 3D остров- черкивают определяющее влияние повышенной энергии ки Ge, образующиеся на Si(111), существенно отлича- образования ступеней на поверхности (111) по сравнеются по форме, представляя собой трехгранные пира- нию с (001), приводящее к устойчивости грани (111) по миды с плоской вершиной (рис. 10) и боковыми граня- отношению к морфологической нестабильности. Поэтоми {113} [48,68–70], причем даже на начальных стадиях му 3D островки Ge на поверхности Si(111) представляобразования наноостровки содержат ДН [71,72]. ют собой усеченные пирамиды, верхняя грань которых Физика и техника полупроводников, 2000, том 34, вып. 1290 О.П. Пчеляков, Ю.Б. Болховитянов, А.В. Двуреченский, Л.В. Соколов, А.И. Никифоров...

остается той же (111), а высота находится в пределах 0.1-0.13 от их поперечных размеров [68]. Можно предположить, что кластеры такой формы существенно менее склонны к релаксации напряжений за счет упругих деформаций по сравнению с кластерами типа hut на (001) поверхностях.

Таким образом, формирующиеся на поверхности Si(111) островки Ge должны иметь меньший выигрыш свободной энергии за счет упругой релаксации напряжений по сравнению с hut-кластерами на поверхности (001) и больший проигрыш поверхностной энергии за счет большего угла наклона ближайшей фасеточной грани.

Добавим к этому сравнению тот факт, что поверхность (111) является плоскостью скольжения дислокаций, а наличие резкой ступеньки (111)–(113) на краю 3D островка приводит к так называемому геометричеРис. 11. Кинетическая диаграмма структурных переходов на скому усилению напряжений, понижающему энергетиповерхности пленки в процессе гетероэпитаксии германия на ческий барьер зарождения ДН. Соответственно такая поверхность Si(111)-(7 7).

форма островков является благоприятной для быстрого начала их пластической релаксации [79]. Совокупность рассмотренных факторов, по нашему мнению, и приво3.6. Контроль in situ дит к тому, что в системе Ge–Si(111) область условий существования 3D когерентных островков Ge крайне Сильная зависимость параметров островков от усломала, либо отсутствует вовсе.

вий проведения технологического процесса делает необходимым непрерывный мониторинг ситуации на ростовой поверхности подложки. Традиционным методом, пригодным для этого, является дифракция бы3.5. Факторы, влияющие на процесс стрых электронов (ДБЭ). Типичным примером всеупорядочения стороннего изучения поверхности во время гетероэпиРанее отмечалось, что морфология поверхности, на таксии является работа [98], в которой методом дикоторой формируются 3D островки, играет существен- фракции электронов на отражение были построены фаную роль и может использоваться как управляющий зовые диаграммы структур, существующих на поверхфактор, способствующий упорядочению островков как ности во время эпитаксии Ge на подолжках Si(111) по размерам, так и по их пространственному распределе- и Si(001).

нию. Управление параметрами поверхности может быть На рис. 11 представлен пример такой диаграммы для осуществлено следующими путями: поверхности Si(111). Две структуры с периодом, кратным 7, наблюдались в процессе эпитаксии Ge-на-Si(111).

— использование подложек, отклоненных от поверхЭто структуры Si(111)-(7 7)Ge и Ge(111)-(7 7)Si.

ности (001), и связанные с этим различные способы Здесь первый химический символ указывает на маупорядочения ступеней, являющихся в дальнейшем шатериал, на поверхности которого наблюдалась данная блонами для зарождения островков [56,80–86];

сверхструктура; второй символ — на материал, который — использование сурфактантов, модифицирующих постабилизирует данную сверхструктуру. Сверхструктура верхностные характеристики (поверхностная энергия, Si(111)-(77)Ge формируется при высокой температуре длина диффузии адатомов) как подложки, так и эпитаки малом количестве Ge на поверхности Si. Максисиального слоя [67,87–90];

мальная температура, при которой эта сверхструктура — создание на поверхности подложки микрострессобыла стабильна в процессе роста пленки, составляла ров, инициирующих зарождение островков в определен950C. По оценке, данной в работе [98], при этой темных местах [91–93];

пературе потоки адсорбирующихся и десорбирующихся — литография: создание окон на подложке, ограничиатомов Ge равны. При дальнейшем увеличении темпевающих область сбора адатомов в островок и отделяюратуры концентрация атомов Ge на поверхности быстро щих островки друг от друга [94,95]. Формирование с уменьшается.

помощью фотолитографии фасеточных граней, локалиПосле достижения пленкой критической толщины ввезующих места зарождения островков Ge [96,97].

дения ДН на поверхности островков Ge формируетКаждое из этих направлений получило свое развитие, ся сверхструктура Ge(111)-(7 7)Si, стабилизируемая но исследования находятся в стадии активного поиска. атомами Si, диффундирующими из подложки. Этот выПоэтому мы только обращаем внимание читателя на эти вод подтверждается тем фактом, что поверхность пленнаправления, не анализируя их подробно. ки Ge, выращенной при температуре меньше 350C, Физика и техника полупроводников, 2000, том 34, вып. Кремний-германиевые наноструктуры с квантовыми точками: механизмы образования... 4. Электронные свойства систем ”искусственных атомов” Исследования электронных свойств структур Ge–Si проводились с помощью электронной туннельной спектроскопии, емкостной спектроскопии, спектроскопии проводимости, изучения прыжковой проводимости и эффекта поля. Гетеропара Ge–Si относится к гетероструктурам второго типа, в которой островки Ge являются потенциальными ямами для дырок. Этим обстоятельством обусловлен выбор типа проводимости исследуемых систем.

4.1. Электрические свойства Рис. 12. Кинетическая диаграмма структурных перехо- 4.1.1. Электронная туннельная спектроскопия. При дов на поверхности пленки в процессе гетероэпитаксии на совпадении уровня Ферми в эмиттере с разрешенным Si (001)-(2 1).

уровнем носителя в квантовой яме должно наблюдаться резонансное увеличение туннельного тока. Меняя энергию инжектированного носителя путем изменения напряжения, можно получить информацию об энергетиимеет сверхструктуру Ge(111)-(2 8), тогда как послеческом спектре квантовых точек (КТ). Впервые этот дующий отжиг пленки при 600-700C дает Ge(111)(7 7). В дополнение к структурам, описанным ранее, наблюдалась сверхструкутра Ge(111)–(5 5), обнаруженная нами ранее [99,100]. Ее присутствие связывается с псевдоморфным состоянием пленки Ge.

Pages:     | 1 | 2 || 4 | 5 |   ...   | 6 |



© 2011 www.dissers.ru - «Бесплатная электронная библиотека»

Материалы этого сайта размещены для ознакомления, все права принадлежат их авторам.
Если Вы не согласны с тем, что Ваш материал размещён на этом сайте, пожалуйста, напишите нам, мы в течении 1-2 рабочих дней удалим его.