WWW.DISSERS.RU

БЕСПЛАТНАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ БИБЛИОТЕКА

   Добро пожаловать!

Pages:     | 1 ||

наблюдаются только в соотношении интенсивностей [7] C. Cros, M. Pouchard, P. Hagenmuller. J. Sol. St. Chem., 2, основных максимумов. Причиной этого может быть 570 (1970).

[8] S. Yamanaka, E. Enishi, H. Fukuoka, M. Yasukawa. Inorg.

неидеальная стехиометрия и кристаллическая структура Chem., 39, 56 (2000).

реального клатрата Na8Si46. В представленном нами [9] H. Kawaji, H. Horie, S. Yamanaka, M. Ishikawa. Phys. Rev.

расчете исследовалась структура Na8Si46 с идеальным Lett., 74, 1427 (1995).

стехиометрическим составом и кристаллической струк[10] S. Yamanaka, H. Horie, H. Nakano, M. Ishikawa. Fullerene турой. Это и могло послужить причиной того, что отSci. Technol., 3, 21 (1995).

носительные интенсивности особенностей эксперимен[11] A. Moewes, E.Z. Kurmaev, J.S. Tse, M. Geshi, M.J. Ferguson, тального и рассчитанного спектров отличаются.

V.A. Trofimova, Y.M. Yarmoshenko. Phys. Rev. B, 65, 153 (2002).

[12] S.N. Vosko, L. Wilk, M. Nusair. Can. J. Phys., 58, 1200 (1980).

6. Заключение [13] D.D. Koelling, G.O. Arbman. J. Phys. F, 5, 2041 (1975).

[14] A.H. MacDonald, W.E. Pickett, D.D. Koelling. J. Phys. C, 13, 2675 (1980).

1. Структура зон в клатратах Si46 и Na8Si46 идентична.

[15] С.И. Курганский, Н.С. Переславцева, Е.В. Левицкая. ФТТ, Различия заключаются только в положении уровня Фер45, 193 (2003).

ми. Клатрат Si46 является полупроводником, тогда как [16] S.I. Kurganskii, N.S. Pereslavtseva, E.V. Levitskaya, Na8Si46 обладает металлическими свойствами.

Yu.A. Yurakov. Phys. Status Solidi B, 223 (2), 2. В полной плотности электронных состояний рас(2002).

сматриваемых клатратов вклад Si-s-состояний домини[17] S.I. Kurganskii, N.S. Pereslavtseva, E.V. Levitskaya, Yu.A. Yuрует в глубине валентной зоны, тогда как около уровrakov, I.G. Rudneva, E.P. Domashevskaya. J. Phys.: Condens ня Ферми преобладающим является вклад p-состояний Matter., 14, 6833 (2002).

Физика и техника полупроводников, 2005, том 39, вып. Электронная структура и спектральные характеристики клатратов Si46 и Na8Si46 [18] G.K. Ramachandran, P.F. McMillan, J. Diefenbacher, J. Gryko, J. Dong, O.F. Sankey. Phys. Rev. B, 60, 12 294 (1999).

[19] F. Herman, R. Kortum, C. Kuglin. Int. J. Quant. Chem., IS, 533 (1967).

Редактор Л.В. Беляков Electronic structure and spectral properties of Si46 and Na8Si46 clathrates S.I. Kurganskii, N.A. Borsch, N.S. Pereslavtseva Voronezh State University, 394006 Voronezh, Russia Voronezh State Technological Academy, 394000 Voronezh, Russia

Abstract

In this work, the results of electronic structure of Siand Na8Si46 clathrates are presented. In calculation the linearized augmented plane wave method was used. Band structure, total and partial density of states and x-ray emission SiK1,3- and SiL2,3-spectra were obtained as results of the calculation. The comparison of calculated and experimental spectra for Na8Si46 are presented.

Физика и техника полупроводников, 2005, том 39, вып.

Pages:     | 1 ||



© 2011 www.dissers.ru - «Бесплатная электронная библиотека»

Материалы этого сайта размещены для ознакомления, все права принадлежат их авторам.
Если Вы не согласны с тем, что Ваш материал размещён на этом сайте, пожалуйста, напишите нам, мы в течении 1-2 рабочих дней удалим его.