WWW.DISSERS.RU

БЕСПЛАТНАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ БИБЛИОТЕКА

   Добро пожаловать!

Pages:     | 1 ||
Зависимость подвижностей электронов и дырок от концентрации заряженных примесей не вносит качественных изменений в ход зависимостей (NR) и RH(NR). Кроме того, зависимости RH(NR) и µH(NR) являются немонотонными и имеют минимум при µnn2 = µp p2, что обусловлено изменением n0 и p0 с ростом NR.

Заключение Таким образом, резкое изменение суммы равновесной концентрации, удельного сопротивления, коэффициента Холла, времен жизни носителей заряда являются родственными эффектами и характерны для точно компенсированных полупроводников. Эти эффекты отчетливо проявляются в полупроводниках, в которых концентрация мелких доноров (акцепторов) на несколько порядков больше, чем концентрация электронов (дырок), поставляемых в зону проводимости (валентную зону) близлежащим уровнем глубокой примеси. Еще одним характерным признаком точной компенсации полупроводника и, Рис. 4. Зависимость удельного сопротивления (a), коэфсоответственно, проявления названных выше эффектов фициента Холла RH (b) и холловской подвижности µH (c) от является повышенная чувствительность полупроводника концентрации двойных дефектов NR при 300 K, Nd = 1016 см-3, к вариациям внешних воздействий, таких как интенn = 0 (1) и 1010 см-3 (2).

сивность слабого излучения в области зона-зонного и примесного поглощения, температура и др.

Отметим, что эффект резкого роста удельного сопрос ростом NR медленно убывает, что вызвано слабым тивления ранее наблюдался экспериментально во многих убыванием n0 и постоянством U.

полупроводниковых материалах: в поликристаллическом Зависимость времени жизни дырок от NR повторяет кремнии [8], монокристаллическом кремнии [9,10], телход зависимости величины 1/U от NR (рис. 3, c), поскольку, как сказано выше, при расчете для всех значений NR луриде кадмия [11] ит. д.

В работе [7] сообщалось о возможности появления избыточную концентрацию дырок полагали постоянной.

двух максимумов на зависимостях n(NR) и p(NR). Мы Большое различие в значениях n и p (рис. 3, c) связано с различием в избыточных концентрациях электронов считаем, что такой случай возможен, если в полупроводn и дырок p. В этом нетрудно убедиться, если нике есть два типа независимых друг от друга, глубоких разделить первое уравнение (6) на второе, рекомбинационных центров разных концентраций NR1 и NR2. Только тогда возможно два резких пика n при n n Nd = NR1 и NR2. Поскольку в данной работе мы =. (10) p p рассмотрели только один тип глубоких центров, точная компенсация возможна только при одной концентрации Исследование зависимости времен жизни n и p от глубоких центров при заданной концентрации мелкого вероятности внутрицентрового электронного перехода донора. Соответственно наблюдается всего один макси32 показывает (рис. 3, c), что 32 не вносит качественных мум на зависимости n(NR).

изменений в зависимости n(NR) и p(NR).

Резкое изменение на зависимости n0 + p0 от NR Работа выполнена в рамках UNDR Fellowship и при (рис. 2, a) при полной компенсации обусловливает софинансовой поддержке Академии наук Республики Узбеответствующее резкое изменение других параметров кистан.

полупроводника, характеризующих его электрические свойства. К числу таких параметров относится удельное Работа выполнена в рамках NATO Linkage Grants по сопротивление (рис. 4, a), коэффициент Холла RH контракту PST SLG 975758.

Физика и техника полупроводников, 2000, том 34, вып. 922 С.Ж. Каражанов, Э.В. Канаки Список литературы [1] А. Берг, П. Дин. Светодиоды (М., Мир, 1979).

[2] Л.И. Бережинский, Ф.К. Джапарова, Н.В. Кицюк, В.Е. Родионов. УФЖ, 36, 513 (1992).

[3] В.В. Евстропов, И.Ю. Линков, И.В. Морозенко, Ф.П. Пикус. ФТП, 26, 969 (1992).

[4] В.А. Холоднов. ФТП, 30(6), 1011 (1996).

[5] A.A. Drugova, V.A. Kholodnov. Sol. St. Electron., 38(6), (1995).

[6] В.А. Холоднов. Письма ЖЭТФ, 67(9), 655 (1998).

[7] В.А. Холоднов, П.С. Серебренников. Письма ЖТФ, 23(7), 39 (1997).

[8] J.Y.W. Seto. J. Appl. Phys., 46(12), 5247 (1975).

[9] А. Милнс. Примеси с глубокими уровнями в полупроводниках (М., Мир, 1977).

[10] А.Н. Марченко. Управляемые полупроводниковые резисторы (М., Энергия, 1978).

[11] Ш.А. Мирсагатов, В.М. Рубинов, Ф.Н. Джамалов. Гелиотехника, №2, 12 (1997).

Редактор Л.В. Шаронова Electrical properties of double defect semiconductors S.Zh. Karazhanov, E.V. Kanaki Physicotechnical Institute, 700084 Tashkent, Uzbekistan Физика и техника полупроводников, 2000, том 34, вып.

Pages:     | 1 ||



© 2011 www.dissers.ru - «Бесплатная электронная библиотека»

Материалы этого сайта размещены для ознакомления, все права принадлежат их авторам.
Если Вы не согласны с тем, что Ваш материал размещён на этом сайте, пожалуйста, напишите нам, мы в течении 1-2 рабочих дней удалим его.