WWW.DISSERS.RU

БЕСПЛАТНАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ БИБЛИОТЕКА

   Добро пожаловать!

Pages:     | 1 ||

Таким образом, нами было экспериментально показано, что слои с когерентными включениями InAs могут быть сформированы в монокристаллической кремниевой Список литературы матрице. Выяснено, что качество выращенных структур сильно зависит от температуры подложки, последова[1] N.N. Ledentsov. Proc. 23th Int. Conf. Phys. Semiconductors, тельности роста и геометрических параметров образца, Berlin, 1996, ed. by M. Scheffler and R. Zimmermann (World а также то, что кремниевая матрица может принять Scientific, Singapoure, 1996) v.1, p. 19.

Физика и техника полупроводников, 2000, том 34, вып. Исследование многослойных структур с InAs нанообъектами в кремниевой матрице методом... [2] Г.Э. Цырлин, В.Н. Петров, В.Г. Дубровский, С.А. Масалов, А.О. Голубок, Н.И. Комяк, Н.Н. Леденцов, Ж.И. Алф еров, Д. Бимберг. Письма ЖТФ, 24 (8), 10 (1998).

[3] G.E. Cirlin, V.G. Dubrovskii, V.N. Petrov, N.K. Polyakov, N.P. Korneeva, V.N. Demidov, A.O. Golubok, S.A. Masalov, D.V. Kurochkin, O. M. Gorbenko, N.I. Komyak, V.M. Ustinov, A.Yu. Egorov, A.R. Kovsh, M.V. Maximov, A.F. Tsatsul’nikov, B.V. Volovik, A.E. Zhukov, P.S. Kop’ev, Zh.I. Alferov, N.N. Ledentsov, M. Grundmann, D. Bimberg. Semicond. Sci. Technol., 13, 1262 (1998).

[4] Г.Э. Цырлин, В.Н. Петров, В.Г. Дубровский, Ю.Б. Самсоненко, Н.К. Поляков, А.О. Голубок, С.А. Масалов, Н.И. Комяк, В.М. Устинов, А.Ю. Егоров, А.Р. Ковш, М.В. Максимов, А.Ф. Цацульников, Б.В. Воловик, А.Е. Жуков, П.С. Копьев, Н.Н. Леденцов, Ж.И. Алферов, Д. Бимберг.

ФТП, 33 (9), 1066 (1999).

[5] J. Tersoff, C. Teichert, M.G. Lagally. Phys. Rev. Lett., 76, (1996).

[6] N.N. Ledentsov, V.A. Shchukin, M. Grundmann, N. Kirstaedter, J. Bhrer, O. Schmidt, D. Bimberg, S.V. Zaitsev, V.M. Ustinov, A.E. Zhukov, P.S. Kop’ev, Zh.I. Alferov, O.A. Kosogov, S.S. Ruvimov, P. Werner, U. Gsele, J. Heydenreich. Phys. Rev. B, 54, 8743 (1996).

[7] Г.Э. Цырлин, В.Н. Петров, Н.К. Поляков, С.А. Масалов, А.О. Голубок, Д.В. Денисов, Ю.А. Кудрявцев, Б.Я. Бер, В.М. Устинов. ФТП, 33 (10), 1158 (1999).

[8] Г.М. Гурьянов, В.Н. Демидов, Н.П. Корнеева, В.Н. Петров, Ю.Б. Самсоненко, Г.Э. Цырлин. ЖТФ, 67 (8), 111 (1997).

[9] R. Kilaas. Proc. 45th Annual EMSA Meeting, ed. by G.W. Bailey (San-Francisco Press, San Francisco, 1987) p. 66.

[10] Г.Э. Цырлин, В.Н. Петров, С.А. Масалов, А.О. Голубок.

ФТП, 33 (6), 733 (1999).

Редактор В.В. Чалдышев An transmission electron microscopy study of multilayer structures of InAs nanoobjects in a silicon matrix V.N. Petrov, N.K. Polyakov, V.A. Egorov, G.E. Cirlin, N.D. Zakharov, P. Werner, V.M. Ustinov†, D.V. Denisov†, N.N. Ledentsov†, Zh.I. Alferov† Institute for Analytical Instrumentation RAS, 198103 St.Petersburg, Russia Max-Planck Institute of Microstructure Physics, Halle/Saale, Germany † Ioffe Physicotechnical Institute, Russian Academy of Sciences, 194021 St.Petersburg, Russia Физика и техника полупроводников, 2000, том 34, вып.

Pages:     | 1 ||



© 2011 www.dissers.ru - «Бесплатная электронная библиотека»

Материалы этого сайта размещены для ознакомления, все права принадлежат их авторам.
Если Вы не согласны с тем, что Ваш материал размещён на этом сайте, пожалуйста, напишите нам, мы в течении 1-2 рабочих дней удалим его.