WWW.DISSERS.RU

БЕСПЛАТНАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ БИБЛИОТЕКА

   Добро пожаловать!

Pages:     | 1 |   ...   | 5 | 6 ||

в 6H-SiC обнаруживалась ОДП, вызванная режимом На рис. 14 не показана характеристика для политипа блоховских осцилляций (рис. 13).

15R-SiC, которая исследовалась в ограниченном интерЕсли это домен, то какой: статический или подвижвале напряжений в силу высокого уровня утечек. Тем не ный ВАХ на рис. 17 говорит в пользу последнего.

менее значения насыщенной дрейфовой скорости были Действительно, в данном конкретном случае локализополучены и для политипа 15R-SiC. Основные значения ванный домен имел бы ширину d = U/Fb. При U = 50 В параметров, характеризующих квантовый транспорт в и Fb = 2000 кВ/см d 0.25 мкм. В случае статического ЕСР политипов карбида кремния в режиме ВШЛ, преддомена ВАХ обнаруживала бы пологий участок с диффеставлены в табл. 2.

ренциальным сопротивлением R = L2/vS, которое при L = 3-5мкм, = 10-12 Ф/см, v = 2·106 см/с, L = 4мкм, S = 1.3 · 10-5 см2 будет 3 · 103 Ом (рис. 17, прерывистая 4.5. Исследования блоховских осцилляций линия), в то время как дифференциальное сопротивлев 6H-SiC диодных n+-n--n+-структурах ние на участке пробоя составляет 10-20 Ом. В случае Вышеупомянутая специальная структура, сформироподвижного домена скорость генерации электроннованная как биполярный транзистор, со специфически дырочных пар на участке пробоя (в предположении одустроенной базой, к сожалению, по своим временным свойствам не пригодна для использования в СВЧ диапазоне. Для этих задач были разработаны униполярные структуры диодного типа n+-n--n+, что стало возможным после недавних достижений по росту эпитаксиальных слоев с низким содержанием донорной примеси.

База таких структур n- имела электронную проводимость с концентрацией 1015 < Nd - Na < 1017 см-3, а из двух n+-областей одна являлась исходной подложкой с Nd-Na (2-3) · 1018 см-3, а другая представляла собой сильно легированный эпитаксиальный или имплантированный слой с Nd-Na 1020 см-3. Структура формировалась в виде мезы с поперечным размером 25-40 мкм, при толщине базы 3-5 мкм. ВАХ такой структуры показана на рис. 17. Поведение структуры до некоторого напряжения не имеет особенностей и обнаруживает ход, близкий к линейному. Интерес вызывает резкий рост тока при определенном значении напряжения на структуре, который сопровождается излучением света. Спектр этого излучения совпадал со спектром излучения при Рис. 17. I-V -характеристика n+-n--n+-диодной структуры пробое p-n-переходов. Однако величина однородного политипа 6H-SiC. 1 — статический домен.

Физика и техника полупроводников, 2002, том 36, вып. 790 В.И. Санкин Рис. 18. Структура СИТ на основе политипа 6H-SiC. 1 —исток, 2 —затвор, 3 — домен, 4 —сток.

нородности генерации и пренебрежении из-за быстрого размерами 40 2 3мкм3, который по своей структупролета рекомбинацией) будет G = I/SeL, что при ре аналогичен вышерассмотренной структуре диодного I = 100 мА дает G = 1.2 · 1026 см-3/с. Скорости гене- типа n+-n--n+, в отличие от последнего с двух сторации оценим с помощью выражения (12в) из рабо- рон охвачен полями p-n-переходов, направление коты [67] для подвижных ганновских доменов. Используя торых имеет составляющую, поперечную направлению для = 1 · 106 см-1 [23,28], nr = 1016 см-3, получим тока в канале от стока к истоку. Опыты показали, G = 2 · 1026 см-3/c, что следует считать хорошим совпа- что ВАХ таких каналов (рис. 19, a) при напряжении дением, подтверждающим предположение о подвижном на затворе Vg = 0 подобна ВАХ диодной структуры домене.

(рис. 17). Экспериментально было установлено, что реакции ВАХ при Vg = 0 на линейном и пробойном участках радикально отличаются. На линейном участке 4.6. Исследования блоховских осцилляций наблюдается обычная реакция, характерная для СИТ:

в 6H-SiC триодных n+-n--n+-структурах ток падает с увеличением поля на затворах с крутизной S = 2-4 мА/В, что соответствует параметрам канала.

Для получения еще более убедительных доказательств высказанного предположения о доменизации электриче- При реализации геометрии СИТ с параметрами, аналогичными кремниевым СИТ, указанные значения круского поля был проведен дополнительный эксперимент.

Для этого на основе n+-n--n+-структуры по специаль- тизны увеличатся примерно в 30–50 раз. Но на участке ной технологии была впервые реализована в несколь- пробоя при определенном поле на затворах ток падал с крутизной S = 40-60 мА/В (рис. 19, a и b). Такой болько упрощенном варианте, а именно с укороченной периферией длиной в 200 мкм, униполярная триодная шой по амплитуде и резкий эффект падения тока можно структура на основе карбида кремния в виде транзистора объяснить разрушением домена электрическим полем, со статической индукцией (СИТ) с p-n-переходом в направленным поперек поля домена. Естественно, вслед качестве затвора. Схематически данный СИТ показан за разрушением домена происходит подавление прона рис. 18. Токопроводящий канал с геометрическими боя и резкое падение тока. Этот экспериментальный Физика и техника полупроводников, 2002, том 36, вып. Ванье-штарковская локализация в естественной сверхрешетке политипов карбида кремния... Рис. 19. ISD-USD-характеристики СИТ структуры политипа 6H-SiC при различных Ug (a); ISD-Ug-характеристика СИТ структуры политипа 6H-SiC (b).

факт является ярким аргументом в пользу образования СВЧ сигнала. Эффект резкого падения тока с большой домена в канале с ЕСР. Вместе с тем полученные амплитудой — основа мощных приборов с быстрым данные являются также убедительным аргументом в переключением. К сожалению, деградация структуры и пользу подвижного домена, поскольку, согласно гео- в этом случае является препятствием для быстрой пракметрии СИТ (рис. 18), поле затвора действует в той тической реализации эффекта. Однако эта ситуация не области канала, которая отстоит от истока примерно представляется бесперспективной и по существу, скорее на 2.0 мкм и не может воздействовать на статический всего, обусловлена неоднородностью n--слоя на основе домен, обычно локализованный вблизи истока (катода). карбида кремния. Как обычно, эта материаловедческая К сожалению, этот режим практически не пригоден проблема решается направленными исследованиями по для наблюдения генерации СВЧ сигнала, поскольку улучшению качества материала. Но возможно, что это не удается стабилизировать сквозной ток и структура негативное явление — специфика материала, выращенбыстро деградирует. Но, с другой стороны, получен но- ного в условиях конкретной технологической установки.

вый эффект, перспективы которого в прикладном плане, В этом случае можно прибегнуть к использованию возможно, не менее привлекательны, чем генерация материала иного изготовленя. По-видимому, последнее Физика и техника полупроводников, 2002, том 36, вып. 792 В.И. Санкин не выглядит очень сложным, учитывая расширяющийся [12] K. Leo, P. Haring Boilvar, E. Bruggeman, R. Schwedler, K. Kohler. Sol. St. Commun., 84, 943 (1992).

круг проводимых исследований в области технологии [13] A. Sibille, J.F. Palmier, H. Wang, F. Mollot. Phys. Rev. Lett., карбида кремния.

64, 52 (1990).

[14] F. Bettram, F. Capasso, D.L. Sivco, A.L. Hutchinson, S.N.G. Chu, A.Y. Cho. Phys. Rev. Lett., 64, 3167 (1990).

5. Заключение [15] J. Grenzer, A.A. Ignatov, E. Schomburg, K.F. Renk, D.G. Pavel’ev, Yu. Koschurinov, B. Metzer, S. Ivanov, S. SchaposchВ данной работе были получены результаты, укаnikov, P.S. Kop’ev. Ann. Physik, 4, 1 (1995).

зывающие на определяющее влияние ЕСР политипов [16] A. Sibille, J.F. Palmier, F. Mollot. Appl. Phys. Lett., 60, карбида кремния на процесс электронного транспорта (1992).

в сильных электрических полях вдоль выделенной оси [17] Ю.А. Водаков, А.О. Константинов, Д.П. Литвин, В.И. Сансимметрии политипов SiC (она же ось ЕСР). Это вли- кин. Письма ЖТФ, 7 (7), 5 (1981).

яние выражается в виде серии сильных эффектов при [18] А.О. Константинов, А.П. Кузьмин, М.И. Лебедев, Д.П. Литвин, А.Г. Остроумов, В.И. Санкин, В.И. Семенов.

электронном транспорте в квантующем электрическом ЖТФ, 54, 1622 (1984).

поле, полученных прямым наблюдением ВАХ, а не [19] В.И. Санкин, Р.Г. Веренчикова, Ю.А. Водаков, М.Г. Рамм, косвенным сверхчувствительным методом оптического А.Д. Роенков. ФТП, 16, 1325 (1982).

детектирования. Полученные результаты, в большинстве [20] А.О. Константинов, Д.П. Литвин, В.И. Санкин. Письма своем, являются первыми серьезными доказательствами ЖТФ, 7, 1335 (1981).

эффективного влияния ванье-штарковской локализации [21] Р.Г. Веренчикова, Ю.А. Водаков, Д.П. Литвин, Е.Н. Мохов, на электронные спектры в кристаллах. Заметим, что В.И. Санкин, М.Г. Рамм, А.Г. Остроумов, В.И. Соколов.

в искусственных сверхрешетках этого до сих пор не ФТП, 16, 2029 (1982).

получено, что может быть следствием их недоста- [22] G.A. Baraff. Phys. Rev., 128, 2507 (1962).

точного кристаллического совершенства. Представлен- [23] Ю.А. Водаков, Д.П. Литвин, В.И. Санкин, Е.Н. Мохов, А.Д. Роенков. ФТП, 19, 814 (1985).

ные результаты, прежде всего монополярность ударной [24] G.B. Dubrovskii, A.A. Lepneva, E.I. Radovanova. Phys. St.

ионизации и обнаружение подвижного домена электриSol., 57, 423 (1973).

ческого поля, являются основой для очень интересных [25] А.П. Дмитриев, А.О. Константинов, Д.П. Литвин, и перспективных практических разработок уникальных В.И. Санкин. ФТП, 17, 1093 (1983).

приборов на основе карбида кремния. Согласно получен[26] H. Ando, H. Kanbe. Sol. St. Electron., 24, 629 (1981).

ным данным, обнаруженный домен, будучи подвижным, [27] А.С. Тагер. ФТТ, 6, 1093 (1964).

является аналогом ганновского домена в известном [28] В.И. Санкин, Ю.А. Водаков, Д.П. Литвин. ФТП, 18, эффекте Ганна, что с большой долей вероятности свиде(1984).

тельствует о возникновении микроволновых колебаний в [29] P.P. Webb, R.Y. McIntyre, Y. Conradi. RCA Rev., 35, (1974).

кристалле, представляющих собой трансформированные [30] В.И. Санкин, А.В. Наумов, М.Г. Рамм, А.А. Вольфсон, блоховские осцилляции электронов. Их прямое обнаЛ.С. Смеркло. Письма ЖТФ, 15 (24), 43 (1989).

ружение — предмет предстоящих исследований. На[31] V.I. Sankin, A.A. Lepneva. Int. Symp. on Nanostructures:

блюдение эффекта разрушения электрического домена, Physics and Technology, June 22–26 (St. Petersburg, Russia, которое сопровождается эффектом резкого высокоам1997).

плитудного переключения тока, также создает привле[32] З.С. Грибников. ЖЭТФ, 74, 2112 (1978).

кательную перспективу для практических разработок.

[33] Г.Б. Дубровский, В.И. Санкин. ФТТ, 14, 1200 (1972).

[34] Г.Б. Дубровский, В.И. Санкин. ФТТ, 17, 2776 (1975).

[35] C. van Opdorp, J. Vrakking. J. Appl. Phys., 40, 2320 (1969).

Список литературы [36] W.V. Muench, I.P. Pfaffeneder. J. Appl. Phys., 48, 4831 (1977).

[37] P.J. Price. IBM J. Res Dev., 17, 39 (1973).

[1] F. Bloch. Z. Phys., 52, 555 (1928).

[38] Р.А. Сурис, Б.С. Щамхалова. ФТП, 18, 178 (1984).

[2] Л.В. Келдыш. ФТТ, 4, 2265 (1962).

[39] С. Зи. Физика полупроводниковых приборов (М., Мир, [3] G.N. Wannier. Phys. Rev., 11, 432 (1960).

1984) с. 111.

[4] L. Esaky, R. Tsu. IBM J. Res. Dev., 14, 61 (1970).

[40] Б.С. Кернер, Д.П. Литвин, В.И. Санкин. Письма ЖТФ, [5] A. Rabinovitch, J. Zak. Phys. Rev. B, 4, 2358 (1971).

13 (8), 19 (1987).

[6] D. Emin, C.F. Hart. Phys. Rev. B, 36, 7353 (1987).

[41] B.S. Kerner, D.P. Litvin, A.D. Roenkov, V.I. Sankin. Springer [7] L. Kleinman. Phys. Rev. B, 41, 3857 (1990).

Proc. in Phys., 43, 243 (1991).

[8] N.L. Chupricov. J. Phys.: Condens. Matter., 11, 1069 (1999).

[42] В.А. Ващенко, Ю.А. Водаков, В.В. Гафийчук, Б.Й. Дацко, [9] E.E. Mendez, F. Agullo-Rueda, J.M. Hong. Phys. Rev. Lett., Б.С. Кернер, Д.П. Литвин, В.В. Осипов, А.Д. Роенков, 160, 2426 (1988).

В.И. Санкин. ФТП, 25, 1209 (1991).

[10] P. Voisin, J. Bleuse, C. Bouche, S. Gaillard, C. Alibert, [43] Ю.А. Водаков, Д.П. Литвин, Е.Н. Мохов, А.Д. Роенков, A. Regreny. Phys. Rev. Lett., 61, 1639 (1988). В.И. Санкин. Письма ЖТФ, 10 (3), 3 (1984).

[11] J. Feldman, K. Leo, D.A.B. Miller, J.E. Cunningham, [44] А.И. Бараненков, В.В. Осипов. Микроэлектроника, 1, S. Schmitt-Rink, T. Meier, G. von Plessen, A. Schulze, (1972).

P. Thomas. Phys. Rev. B, 46, 7252 (1992). [45] Б.С. Кернер, В.В. Осипов. ЖЭТФ, 74, 1675 (1978).

Физика и техника полупроводников, 2002, том 36, вып. Ванье-штарковская локализация в естественной сверхрешетке политипов карбида кремния... [46] Б.С. Кернер, В.В. Осипов. ЖЭТФ, 79, 2218 (1980). The Wannier–Stark localization in natural [47] V.V. Bryksin, Yu.A. Firsov, S.A. Ktitorov. Sol. St. Commun., superlattice of silicon carbide polytypes 39, 385 (1981).

V.I. Sankin [48] D. Emin, C.F. Hart. Phys. Rev. B, 36, 2530 (1987).

[49] R. Tsu, G. Dohler. Phys. Rev. B, 12, 680 (1975).

Ioffe Physicotechnical Institute, [50] Р.Ф. Казаринов, Р.А. Сурис. ФТП, 6, 148 (1972).

Russian academy of sciences, [51] В.И. Санкин, Д.П. Литвин, А.А. Мальцев, А.В. Наумов, 194021 St. Petersburg, Russia А.Д. Роенков. Письма ЖТФ, 13 (12), 47 (1987).

[52] В.И. Санкин, А.В. Наумов. Письма ЖТФ, 16, 91 (1990).

[53] V.I. Sankin, A.V. Naumov. Springer Proc. in Phys., 43, 221

Abstract

In this paper the result on investigation of the transport (1991).

phenomenon of silicon carbide polytypes in strong electrical fields [54] V.I. Sankin, A.V. Naumov. Superlattice and Microstructures, are presented. It is shown that presence of a natural superlattice 10, 353 (1991).

in silicon carbide polytypes affects the minizone structure in [55] В.И. Санкин, А.В. Наумов, И.А. Столичнов. Письма ЖТФ, the conduction band, which leads to a number of effects such 17, 38 (1991).

as the negative differential conduction in the Bloch oscillation [56] V.I. Sankin, I.A. Stolichnov. Int. Symp. on Nanostructures:

regime, Stark-phonon resonances, the low minizone localization, Physics and Technology, June 22–26 (St. Petersburg, Russia, the resonance tunneling between minizones, the monopolar hole 1994).

impact ionization in wide field region, anomalous high breakdown [57] В.И. Санкин, I.A. Stolichnov. Superlat. Microstruct., 23, fields with negative temperature dependence of breakdown voltage (1998).

and a lot of other new effects. Notice that all numbered [58] В.И. Санкин, А.А. Лепнева. ФТП, 34, 831 (2000).

[59] В.И. Санкин, И.А. Столичнов. Письма ЖЭТФ, 64, 105 above are constituents of the single Wannier–Stark localization (1996).

process, occuring as the middle field increases from 100 kV/cm [60] А.Ф. Волков, Ш.М. Коган. УФН, 96, 633 (1968).

to 2900 kV/cm (the maximum field in abrupt p-n-junction is two [61] В.И. Санкин, И.А. Столичнов. Письма ЖЭТФ, 59, times larger).

(1994).

[62] V.I. Sankin, I.A. Stolichnov. Int. Symp. on Nanostructures:

Pages:     | 1 |   ...   | 5 | 6 ||



© 2011 www.dissers.ru - «Бесплатная электронная библиотека»

Материалы этого сайта размещены для ознакомления, все права принадлежат их авторам.
Если Вы не согласны с тем, что Ваш материал размещён на этом сайте, пожалуйста, напишите нам, мы в течении 1-2 рабочих дней удалим его.