WWW.DISSERS.RU

БЕСПЛАТНАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ БИБЛИОТЕКА

   Добро пожаловать!

Pages:     | 1 || 3 |

В местах выпуклых образований, высотой примерно 200 нм (рис. 4, a), вакансий, очевидно, было значительно меньше, чем в областях между ними. Эти выпуклые образования представляют собой микродефекты, повидимому, состоящие их межузельных атомов. Подобное распределение микродефектов, возникающее вследствие флуктуаций деформационного потенциала, выявляется уже в процессе вскрытия окна в слое окисла для реализации примесной диффузии. В процессе фотолитографии травитель на основе плавиковой кислоты убирает не только слой окисла, он подтравливает и поверхностный слой кремния. При этом подтравливание происходит по-разному: где мало вакансий, большая плотность материала, оно идет медленнее, чем в областях, где вакансий много. В результате на первоначально ровной поверхности диффузионного ”окна”, приготовленного для проведения примесной диффузии, существует рельеф деформационного потенциала, высотой, однако, заметно меньшей, чем 200 нм. Через эту, уже изначально не очень ровную поверхность, была проведена диффузия бора из газовой фазы при температуре 800C. При такой температуре диффузия идет только по вакансиям и доминирует в областях, где их много. На рис. 4, a эти области представляют собой темные участки. При этом в процессе диффузии слои окисла, оставшиеся вне вскрытого фотолитографией ”окна”, продолжают поставлять вакансии, которые устремляются преимущественно в отмеченные выше области с их изначально высокой концентрацией, где и стимулируют примесную диффузию. В результате потенциальный рельеф в этих областях понижается относительно микродефектов, в которые примесные атомы практически не проникают.

Таким образом, происходит своего рода избирательное травление поверхности. При большом скоплении вакансий процесс примесной диффузии вдоль кристаллографической оси [100] идет настолько интенсивно, что можно идентифицировать кристаллографические направления [110] и [100], соответствующие максимальному ускорению примесной диффузии в рамках вакансионного механизма (рис. 6, c). Другого рода процессы идут в областях кристалла, где примесная диффузия заторможена. На рис. 4, a эти области представляют собой микродефекты.

В процессе примесной диффузии данные микродефекты являются стоком для мигрирующих межузельных атомов кремния, что отражается в увеличении их размера.

Углубление в центре микродефектов связано с тем, что скорость миграции межузельных атомов кремния максимальна вдоль кристаллографической оси {111}, вследствие чего захват межузельных атомов кремния Рис. 5. Трехмерные STM-изображения с различным разрена микродефект происходит главным образом вдоль их шением поверхности сверхмелких диффузионных профилей поверхности, т. е. по внешнему контуру микродефекта — бора в кремнии (100), полученных при температуре диффузии вдоль эквивалентных направлений {111} его рост идет Td = 900C и при наличии предварительно нанесенного слоя быстрее, чем в центре. Таким образом, размеры микроокисла средней толщины, dSiO2 /d0 = 1.0. X [001], Y [010].

дефектов, выявленных еще при вскрытии окна в окисле, Физика и техника полупроводников, 2000, том 34, вып. Самоупорядоченные микрорезонаторы в сверхмелких кремниевых p+-n-переходах увеличиваются в процессе примесной диффузии. Следует отметить, что микродефекты пронизывают насквозь не только диффузионный профиль, но и остальной объем образца [9], тем самым формируя самоупорядоченные системы больших квантовых антиточек (рис. 3, a).

При анализе результатов исследований диффузионного профиля бора, полученного при Td = 800C и наличии слоя окисла средней толщины (рис. 4, b), cледует учесть, что в этом случае число вакансий вблизи тавленой кремниевой поверхности (100) внутри диффузионного окна близко к числу межузельных атомов. Однако, несмотря на то, что вакансии и межузельные атомы в значительной мере аннигилируют друг с другом, атомы бора по-прежнему увлекаются вакансиями вследствие низкой температуры примесной диффузии. Тем не менее диффузионный профиль бора формируется сравнительно медленно из-за малого количества вакансий, накопленных в объеме на стадии предварительного окисления.

Кроме того, полученный диффузионный профиль является более однородным из-за ослабления флуктуаций поверхностного деформационного потенциала, что нашло отражение в наличии на его поверхности значительно меньших по размеру микродефектов (рис. 4, b), чем в присутствии толстого слоя окисла (рис. 4, a).

На рис. 4, c представлено STM-изображение поверхности диффузионного профиля, полученного при той же температуре диффузии, но с тонким слоем предварительно нанесенного окисла. Наличие тонкого слоя окисла означает, что вакансий вблизи травленой поверхности (100) внутри диффузионного окна сравнительно мало, и, наоборот, доминируют кластеры межузельных атомов кремния, которые являются в процессе примесной диффузии зародышами для образования крупных кристаллографически ориентированных микродефектов.

Эти микродефекты имеют тонкую структуру, которая проявляется вплоть до малых фрагментов поверхности.

Как видно из рис. 4, c, на поверхности (100) монокристалла кремния имеется выделенное направление, соответствующее кристаллографической оси [111], вдоль которого ориентированы микродефекты. Подобная кристаллографическая ориентация микродефектов вдоль одного из двух эквивалентных направлений [111], лежащих в плоскости (110), обусловлена остаточными механическими напряжениями, часто возникающими при резке слитка кремния на пластины. В этом случае диффузия собственных атомов кремния способна эффективно декорировать направление наибольшего (наименьшего) напряжения. Следует отметить, что коэффициент диффузии собственных межузельных атомов кремния максимален в кристаллографическом направлении [111] и их диффузия в значительной степени подавлена в направлении [100], Рис. 6. Трехмерные STM-изображения поверхности сверхмелтогда как вакансия наиболее эффективно диффундирует ких диффузионных профилей бора в кремнии (100), пов направлении [100] и тормозится в направлении [111].

лученных при температурах диффузии Td = 1100 (a, b), Данная зависимость скоростей диффузии собственных 800C (c) и при наличии предварительно нанесенного слоя дефектов от кристаллографического направления соот- окисла. a, b —тонкий слой, dSiO2/d0 = 0.17; c – толстый слой, ветствующим образом отражается в тензорах коэффи- dSiO2/d0 = 1.28. X [001], Y [010].

циента неравновесной диффузии для вакансионного и Физика и техника полупроводников, 2000, том 34, вып. 732 Н.Т. Баграев, А.Д. Буравлев, Л.Е. Клячкин, А.М. Маляренко, С.А. Рыков Рис. 7. Модель систем микрорезонаторов на основе квантовых антиточек, полученных вследствие фрактального механизма диффузионного легирования в условиях инжекции первичных дефектов.

КО-механизмов [10,11]. По этой причине диффузия процессе примесной диффузии не возникает избыточных бора заторможена при Td = 800C и наличии тонкого потоков неравновесных межузельных атомов и вакансий, слоя окисла, и на поверхности диффузионного профи- вследствие чего величина флуктуаций деформационноля доминируют микродефекты, ориентированные вдоль го потенциала, задаваемая условиями предварительного оси [111], соответствующей наиболее эффективному на- окисления, остается неизменной. Таким образом, поправлению для диффузии межузельных атомов кремния. лучение сверхмелких примесных профилей в условиПри наличии толстого слоя окисла вблизи травленой ях паритета диффузионных механизмов сопровождается поверхности доминируют вакансии и остаточные ме- сглаживанием их поверхностного рельефа в отсутствие жузельные атомы кремния вынуждены диффундировать значительных флуктуаций поверхностного деформационв процессе примесной диффузии вдоль оси [100], которая ного потенциала.

определяет направление роста микродефектов в данных Следует отметить, что форма микродефектов и осоусловиях.

бенности их пространственного распределения на поТаким образом, начальное распределение деформаци- верхности диффузионного профиля хорошо воспроизонного потенциала, которое зависит от толщины предва- водятся при увеличении разрешения регистрируемых рительно нанесенного окисла, определяет кристаллогра- STM-изображений (рис. 5, a–c; рис. 4, a; рис. 6, c). Иныфическую ориентацию не только диффузионных потоков ми словами, наблюдается полная взаимосвязь между примесных атомов, но и оптимальное направление ро- размерами микродефектов и их пространственным расста микродефектов, проникающих сквозь диффузионный пределением в независимости от величины флуктуаций профиль. поверхностного деформационного потенциала, которая STM-изображения фрагментов поверхности диффузи- больше в диффузионных профилях, полученных при Td = 800C, чем в условиях паритета диффузионных меонного профиля бора, полученного при температуре диффузии 900C и средней толщине слоя окисла, пред- ханизмов (Td = 900C). Подобная иерархия микродефектов, не зависящая от начального разброса в их размерах, ставлены на рис. 5, a, b, c. В этом случае реализуется указывает на фрактальный механизм их формирования условие паритета между двумя механизмами диффузии, в условиях сильного разделения неравновесных потоков что позволяет получить самые мелкие диффузионные собственных межузельных атомов и вакансий вследствие профили. Размер микродефектов, образовавшихся в ходе диффузии при данных технологических условиях, значи- генерации флуктуаций деформационного потенциала на границе кремний–окисел.

тельно меньше (рис. 5), чем на поверхности образцов, полученных при температуре диффузии, равной 800C. Предлагаемый механизм формирования поверхностноКроме того, высота поверхностного рельефа диффу- го рельефа сверхмелких диффузионных профилей нахозионных профилей также невелика. Сверхмелкий диф- дит подтверждение при рассмотрении STM-изображения фузионный профиль формируется в данных условиях фрагмента поверхности диффузионного профиля, позначительно медленнее, чем при Td = 800C, из-за ин- лученного при температуре диффузии, равной 1100C тенсивной аннигиляции первичных дефектов. Поэтому в (рис. 6, a, b). При данной температуре примесная Физика и техника полупроводников, 2000, том 34, вып. Самоупорядоченные микрорезонаторы в сверхмелких кремниевых p+-n-переходах диффузия стимулируется в условиях доминирования КО-механизма, роль которого усиливается из-за наличия на поверхности тонкого слоя предварительно осажденного окисла. По этой причине примесная диффузия и формирование микродефектов ускоряются вдоль одной из эквивалентных осей [111], лежащих в плоскости (110), перпендикулярной к рабочей поверхности кремния (100) (рис. 6, a), которой соответствует максимальная скорость миграции межузельных атомов кремния.

Важным обстоятельством является отсутствие крупных микродефектов на поверхности диффузионного профиля бора, полученного при Td = 1100C, что обусловлено интенсивным взаимодействием собственных межузельных атомов с легирующей примесью в условиях доминирования КО-механизма диффузии. В этом случае большинство межузельных атомов кремния стимулирует примесную диффузию, не участвуя в формировании микродефектов в местах флуктуаций диформационного потенциала.

Таким образом, сравнительный анализ STM-изобраРис. 8. Спектральная зависимость коэффициента отражежений, представленных на рис. 4, a и 6, a показывает, ния света R() от поверхности монокристаллического кремчто микродефекты, возникающие в процессе неравнония (100) и сверхмелких кремниевых p+-n-переходов в плосвесной примесной диффузии, преимущественно состоят кости (100), полученных при различных температурах диффуиз собственных межузельных атомов кремния, тогда зии бора и толщинах предварительно нанесенного слоя окисла:

как миграция неравновесных вакансий не приводит к 1 — соответствует рис. 6, c; 2 — соответствует рис. 5, b;

аналогичным образованиям. По-видимому, это является 3 — соответствует рис. 6, b.

следствием их недостаточной подвижности по сравнению с подвижностью собственных межузельных атомов.

Обнаруженные микродефекты представляют собой сиснабженного для измерения отражения интегрирующей стемы антиточек, встроенные в примесные сверхресферой. На рис. 8 представлены спектры отражения света шетки, из которых состоят сверхмелкие диффузионные от сверхмелких диффузионных p+-профилей, полученпрофили [3,12], что делает возможным рассматривать их как основу для формирования самоупорядоченных ных при различной температуре диффузии бора.

микрорезонаторов (рис. 7). С целью идентификации Для всех исследуемых образцов характерно снижение этих необычных микрорезонаторов, характеристики козначения R() по сравнению с умеренно легированторых определяются размерами и распределением миным монокристаллическим кремнием, а также размытие кродефектов, исследовались спектральные зависимости пиков в точках при длинах волн = 354 и 275 нм, коэффициентов отражения и пропускания в видимом и обусловленных переходами между долинами -L вблизи инфракрасном диапазонах длин волн.

точки X в зоне Бриллюэна, первый их которых связан с прямыми переходами 25-15, L 3-L1, 25-2, а второй — X4-X1 и 4-1.

4. Оптические свойства Анализ спектральной зависимости коэффициента отсамоупорядоченных антиточек ражения показывает, что наличие микрорезонаторов, сана поверхности кремния (100) моорганизующихся между самоупорядоченными микродефектами средних размеров, наиболее сильно снижает Самоупорядоченные микрорезонаторы, встроенные в R() в коротковолновой области спектра (200-330 нм), примесные сверхрешетки на поверхности кремния (100) в то время как присутствие более крупных микроде(рис. 3, b), могут существенно снизить коэффициент фектов способствует эффективному отражению света отражения света в коротковолновой области спектра, в более длинноволновой области ( > 330 нм). При которое возникает вследствие прямых межзонных пеэтом из сопоставления R() с данными STM следует, реходов в узких квантовых ямах (шириной d 2нм), что положение минимума коэффициента отражения в сформированных в плоскости сверхмелкого диффузиспектральной зависимости R() и размеры микрорезонаонного p+-профиля [3,6,8]. Выше мы обозначили эти тора взаимосвязаны, подчиняясь соотношению Вульфа– квантовые ямы, являющиеся составляющими примесной сверхрешетки, как продольные. Брэгга: x = /2n, где x — размер резонатора, —длина Спектры отражения R() изучались с помощью спек- волны, n — коэффициент преломления света в кремнии трофотометра UV-VIS Specord M40 (Carl Zeiss Jena), (см. рис. 8; рис. 6, c; 5, b; 6, b).

Pages:     | 1 || 3 |



© 2011 www.dissers.ru - «Бесплатная электронная библиотека»

Материалы этого сайта размещены для ознакомления, все права принадлежат их авторам.
Если Вы не согласны с тем, что Ваш материал размещён на этом сайте, пожалуйста, напишите нам, мы в течении 1-2 рабочих дней удалим его.