WWW.DISSERS.RU

БЕСПЛАТНАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ БИБЛИОТЕКА

   Добро пожаловать!

Pages:     | 1 ||

ласти, где происходит ударная ионизация КТ, зависят от Proc. 23rd Int. Conf. on Physics of Semiconductors (Berlin, толщины, распределения заряда в канале и контактном 1966) (World Sci., Singapore, 1966) p. 1807.

слое n+-GaAs и других факторов [15]. Они во многом [10] G.B. Galiev, V.E. Kaminskii, V.A. Kul’bachinskii. In: Microразличаются от образца к образцу (рис. 3). Однако and Nanoelectronics 2003, ed. by K.A. Valiev, A.A. Orliпосле завершения ионизации КТ для всех образцов kovsky [Proc. SPIE, (SPIE, Bellingham, WA, 2004) v. 5401, характерен выход на почти одинаковый высокий уровень p. 466].

тока насыщения 500 мкА, демонстрирующий эффект [11] Ю. Пожела, К. Пожела, В. Юцене. ФТП, 34, 1053 (2000) гигантского роста максимальной дрейфовой скорости.

[J. Poela, K. Poela, V. Juciee. Semiconductors, 34, (2000)].

Наконец, гигантский рост тока насыщения не обуслов[12] D. Bimberg, M. Grundmann, N. Ledentsov. Quantum Dot лен ударной ионизацией зона–зона и лавинным умноHeterostructures (N. Y., John Willey & Sons, 1999) p. 122.

жением числа носителей тока. Оценка коэффициента [13] H. Sakaki, G. Yusa, T. Someya, Y. Ohno, T. Noda, ударной ионизации зона–зона в GaAs в поле 4 · 104 B/cм H. Akiyama, Y. Kadoya, H. Noge. Appl. Phys. Lett., 67, дает m 104 [18]. Однако эксперимент при росте поля (1995).

E в области насыщения тока не дает такого умножения.

[14] P. Redkozubov, D.Yu. Ivanov, Yu.V. Dubrovskii, A. Levin, Эффект умножения носителей тока наблюдается лишь в A. Neumann, L. Eaves, M. Henini. In: Proc. 11th Int. Symp.

некоторых образцах при температуре жидкого азота.

„Nanostructures: Physics and Technology“ (St. Petersburg, 2003) (Ioffe Inst., 2003) p. 404.

Таким образом, квантование оптических фононов в уз[15] В.Г. Мокеров, Ю.К. Пожела, Ю.В. Федоров. ФТП, 37, ких КЯ позволяет преодолеть фундаментальный барьер 1248 (2003) [V.G. Mokerov, Yu.K. Pozela, Yu.V. Fedorov.

для роста дрейфовой скорости vS 107 cм/с и увеличить Semiconductors, 37, 1217 (2003)].

дрейфовую скорость до нового максимального значения [16] Н.А. Черкашин, М.В. Максимов, А.Г. Макаров, В.А. Щуvmax vS.

кин, В.М. Устинов, Н.В. Луковская, Ю.Г. Мусихин, Г.Э. Цырлин, Н.А. Берт, Ж.И. Алферов, Н.Н. Леденцов, Д. Бимберг. ФТП, 37 (7), 890 (2003).

4. Заключение [17] Г.Г. Зегря, О.В. Константинов, А.В. Матвеенцев. ФТП, 37 (3), 334 (2003).

Квантование моментов оптических фононов в GaAs [18] K. Thronber. J. Appl. Phys., 52, 279 (1981).

путем формирования фононных барьеров (слоев КТ Редактор Л.В. Шаронова InAs) непосредственно в КЯ GaAs позволяет исключить неупругое рассеяние электронов на уровне энергии опФизика и техника полупроводников, 2006, том 40, вып. 366 Ю.К. Пожела, В.Г. Мокеров Giant increase of electron maximum drift velocity in a channel of heterostructure field-effect transistor J.K. Poela, V.G. Mokerov Semiconductor Physics Institute, 01108 Vilnius, Lithuania Institute of Ultra High Frequency Semiconductor Electronics, Russian Academy of Sciences, 117105 Moscow, Russia

Abstract

It is shown that the quantization of an optical phonon momentum in the GaAs quantum well (QW) by inserting a barrier layer of InAs with quantum dots (QD) eliminates non-elastic scattering of electrons by optical phonons and allows us to increase the electron drift velocity over the saturations drift velocity. It is determined experimentally that there is a tenfold increase of the electron maximum drift velocity in high electric fields in the AlGaAs/GaAs heterostructure with an inserted InAs barrier layer with QDs into GaAs QW in comparison with saturated drift velocity in the bulk GaAs. The increase of electron maximum drift velocity allows to increase the maximum current density, gain and cutoff frequency of heterostructure field-effect transistors with QDs.

Физика и техника полупроводников, 2006, том 40, вып.

Pages:     | 1 ||



© 2011 www.dissers.ru - «Бесплатная электронная библиотека»

Материалы этого сайта размещены для ознакомления, все права принадлежат их авторам.
Если Вы не согласны с тем, что Ваш материал размещён на этом сайте, пожалуйста, напишите нам, мы в течении 1-2 рабочих дней удалим его.