WWW.DISSERS.RU

БЕСПЛАТНАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ БИБЛИОТЕКА

   Добро пожаловать!

Pages:     | 1 ||

Физика и техника полупроводников, 2001, том 35, вып. 366 И.П. Сошников, О.М. Горбенко, А.О. Голубок, Н.Н. Леденцов [8] A. Rosenauer, S. Kaiser, T. Reisinger, J. Zweck, W. Gerhardt, D. Gerthsen. Optik, 102 (2), 63 (1996).

[9] M.M.J. Treacy, J.M. Gibson. J. Vac. Sci. Technol., B4, (1986).

[10] Современная кристаллография. (М., Мир, 1990) т. 1.

[11] Л.П. Ярославский. Введение в цифровую обработку изображений (М., Сов. радио, 1979).

[12] O.M. Gorbenko, D.V. Kurochkin, A.O. Golubok. Proc. I Int.

Conf. on Digital Signal Processing and its Application (Moskow, June 30–July 3, 1998) v. III, part E, p. 130.

[13] J.W. Cahn. Acta Met., 9, 795 (1961).

[14] Ю.А. Буренков, Ю.М. Бурдуков, С.Ю. Давыдов, С.П. Никаноров. ФТТ, 15 (6), 1757 (1973). [Sov. Phys. Sol. St., 15 (6), 1175 (1973)].

[15] Ю.А. Буренков, С.Ю. Давыдов, С.П. Никаноров. ФТТ, 17, 2183 (1975). [Sov. Phys. Sol. St., 17, 1446 (1975)].

[16] Landolt-Brnstein. Num. Data and Functional Relationships in Science and Technology (Springer Verlag, 1982) v. 17e.

[17] V.A. Shchukin, N.N. Ledentsov, P.S. Kop’ev, D. Bimberg. Phys.

Rev. Lett., 75, 2968 (1995).

[18] V.A. Shchukin, D. Bimberg. Rev. Mod. Phys., 71, 1125 (1999).

[19] M.M.J. Treacy, J.M. Gibson. Ultramicroscopy, 14, 345 (1984).

Редактор Т.А. Полянская Composition analysis of coherent nanostructures of a solid solution by high resolution electron microscopy images I.P. Soshnikov, O.M. Gorbenko, A.O. Golubok, N.N. Ledentsov Ioffe Physicotechnical Institute, Russian Academy of Sciences, 194021 St. Petersburg, Russia Institute of Analytical Instruments, St. Petersburg, Russia

Abstract

A program is presented of back fast Fourier transformation of images, as well as of the filtration by any methods of noises and of spectral windows, and of the calculation of local surface distance (LISD) by high resolution electron microscopy images.

The algorithm of LISD calculation includes the filtration of the reflexes combination and the determination of corrected periods by the filtered image. Notice that the algorithm peculiarity is applied to the weight method with correction of summary ranges. The map of LISD obtained can be used for determining composition of the exchange solid solution, for example: AxB1-x, AxB1-xC. The method employment is demonstrated on InGaAs/GaAs submonolayer superlattice heterostructure image.

Физика и техника полупроводников, 2001, том 35, вып.

Pages:     | 1 ||



© 2011 www.dissers.ru - «Бесплатная электронная библиотека»

Материалы этого сайта размещены для ознакомления, все права принадлежат их авторам.
Если Вы не согласны с тем, что Ваш материал размещён на этом сайте, пожалуйста, напишите нам, мы в течении 1-2 рабочих дней удалим его.