WWW.DISSERS.RU

БЕСПЛАТНАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ БИБЛИОТЕКА

   Добро пожаловать!

Pages:     | 1 || 3 |

отложенным по оси абсцисс значениям энергии ее излучения. На рис. 4, b представлены также данные о ширине квантовой ямы QWE в условиях неоднородного образом, энергетическое положение полосы C является ее состава (кривая 2) и о значениях параметра y для параметром, характеризующим толщину слоев структуэтой ямы (кривая 3), полученные пересчетом эксперы для каждого конкретного спектра. Этот параметр риментальных значений энергии переходов (рис. 4, a, и использован здесь при построении эксперименталькривая 3) с учетом отношений времени роста слоев и ных зависимостей в качестве обобщенного параметра зависимости толщины слоя Iny Ga1-yAs от параметра y.

толщины.

Оценки соответствующих параметров для QWD могут Оценка значений ширины КЯ и значений параметбыть получены аналогичным образом.

ра состава In-содержащих КЯ в точках проведения измерений осуществлялся расчетным путем по экспе4.1. Фотолюминесценция квантовых ям риментальным значениям максимумов полос ФЛ соAlGaAs-GaAs-AlGaAs ответствующих КЯ. Для расчета была использована модель, дающая численное решение уравнения ШреЭкспериментальные значения энергии полос B и C дингера в рамках метода огибающих волновых функ(EB и EC соответственно) и кривая 1 рис. 4, b демонстриций. Рассчитывалась энергия перехода E = Ee1 - Ehh1 руют значительный диапазон вариации толщин слоев (переход e1-hh1) между нижним электронным уров- исследуемого образца. Так, сопоставление диапазона нем Ee1 в зоне проводимости и первым уровнем изменения экспериментальных значений EC рис. 4, a и тяжелых дырок в валентной зоне Ehh1. Расчет для кривой 1 рис. 4, b дает для ширины КЯ QWC значения в In-содержащих КЯ проводился аналогично выполнен- интервале 2.5-14 нм. Для КЯ AlGaAs-GaAs-AlGaAs ному в работе [5] с использованием ряда допущений.

это соответствует широкому набору пар КЯ разной Предполагалась прямоугольная форма КЯ без учета ширины с технологически заданным отношением знаизменения ее формы внутренним электрическим по- чений ширины. Поскольку энергия квантовых состоялем, эффективные массы носителей заряда (электронов ний КЯ является величиной, чувствительной к целому и тяжелых дырок) считались одинаковыми для слоя ряду параметров полупроводникового кристалла, таких Iny Ga1-yAs КЯ и образующих ее барьерных слоев и как внутреннее электрическое поле, параметры зонной равными соответствующим значениям в КЯ, рассчи- структуры, структура гетерограниц, и степень этой чувтанным из соотношений m(y) =(0.0665 - 0.044y)m0, ствительности различна в зависимости от ширины КЯ, e m (y) =(0.62 - 0.22y)m0, где m0 — масса свободно- вид экспериментальной кривой типа EB = f (EC) должен hh го электрона. Зависимость ширины запрещенной зоны отражать информацию об этих параметрах. Поэтому Iny Ga1-yAs от содержания In описывалась соотноше- были рассчитаны теоретические кривые зависимости Физика и техника полупроводников, 2003, том 37, вып. Исследования физических явлений в полупроводниковых наноструктурах... (tC/tB = 3.4). Разброс экспериментальных значений на правом краю кривой 1 обусловлен в основном точками группы 2 поверхности пластины. В условиях высокой чувствительности энергий квантовых состояний в узких КЯ от параметров структуры он может быть связан с незначительными вариациями состава барьерных слоев.

Теоретическая кривая 5 на рис. 4, a получена для отношения ширин квантовых ям, равного отношению времен роста, т. е. wC/wB = 3.4. Она заметно отличается от экспериментальных значений. По-видимому, причиной такого отличия является принятое при расчете допущение о резких гетерограницах, образующих КЯ.

Расчет энергии перехода e1-hh1 для квантовой ямы с симметричными наклонными (ступенчатыми) границами (трапециевидная квантовая яма) и средней шириной w показывает превышение энергии по сравнению со случаем прямоугольной ямы такой же ширины на величину, возрастающую с уменьшением значения w. Такой энергетический сдвиг эквивалентен дополнительному сужению узкой ямы (QWB) и, таким образом, увеличению эффективного отношения wC/wB, что и отражает кривая 5. Приближение трапециевидной квантовой ямы в данном случае может соответствовать мелкомасштабному рельефу гетерограницы, усреденному экситонным состоянием [2]. Аналогично к специфическим отклонениям расчетных кривых от экспериментальной приводят вариации напряженности электрического поля или расчет без учета энергии связи экситона.

Приведенные результаты расчетов, таким образом, показывают возможность достаточно близкого к эксперименту модельного описания параметров слоев неодноРис. 4. Экспериментальные и теоретические значения энергии родной структуры на всем поле неоднородности при знаполос ФЛ и параметров КЯ неоднородной структуры от чительном диапазоне вариации параметров. Это в свою энергии излучения КЯ QWC: a — экспериментальные значения очередь позволяет, анализируя один экспериментальный энергии максимума полос B, D и E (1, 2, 3 соответственно) и расчетные кривые энергии оптического перехода e1-hh1 КЯ образец и не прибегая к технологическим оценкам QWB при wC/wB = 3.8 (кривая 4) и wC/wB = 3.4 (кривая 5), параметров слоев, на основе только экспериментальных экспериментальные значения энергии излучения слоев GaAs данных получать информацию о природе наблюдае(кривая 6); b — расчетная зависимость штрины КЯ QWC мых оптических переходов, о характере гетерограниц, от энергии ее излучения (1) и оценочные значения ширины оценивать величину внутреннего электрического поля слоя InyGa1-y As для КЯ QWE (2) и параметра состава этого структуры и ряда других параметров.

слоя y (кривая 3), полученные пересчетом экспериментальных Представленный здесь подход позволил получить позначений. Экспериментальные точки группы 1 обозначены дробную картину изменения интенсивности полос ФЛ сплошными кружками, точки группы 2 —полыми кружками, в поле изучаемой неоднородности, которая отражена на точки, полученные пересчетом экспериментальных значений, рис. 5.

обозначены треугольниками.

Интенсивность полосы B узкой квантовой ямы QWB обнаруживает аномальное поведение при увеличении параметра толщины (кривая 1). С его увеличением она, EB = f (EC) энергий ФЛ переходов e1-hh1 квантовых возрастая от нулевого значения, проходит через отчетям QWB и QWC с вариациями ряда параметров (рис. 4, a, ливо выраженный максимум при ширине КЯ 2-2.2нм и кривые 4, 5).

затем уменьшается почти на порядок до уровня интенНа рис. 4, a демонстрируется хорошее соответствие сивности полосы C, которая в масштабе этих изменений экспериментальных точек, относящихся к полосам B остается в свою очередь примерно постоянной во всем и C (кривая 1), теоретической кривой 4. Кривая 4 диапазоне вариаций параметров (кривая 2). Дополнение получена для значения внутреннего электрического поля данных, полученных при измерениях на диаметре об5 · 103 В/см2 и отношения ширины ямы QWC к ши- разца точками группы 2, принципиально не изменяет рине ямы QWB wC/wB = 3.8, которое несколько пре- этой картины (см. рис. 5). Такое поведение интенсиввышает величину отношения времен роста этих слоев ности ФЛ трудно связать с изменением перекрытия Физика и техника полупроводников, 2003, том 37, вып. 344 Ю.В. Хабаров спада интенсивности соответствует изменению ширины квантовой ямы QWC на 2 нм (см. кривую 1 на рис. 4, b), а, следовательно, изменению эффективной ширины квантовой ямы QWB примерно на 0.6 см. Линейный участок кривой 1, по-видимому, связан с уменьшением области возможного существования экситонных состояний вследствие сближения гетерограниц квантовой ямы с нерезким профилем распределения атомов Al. Конечный участок кривой 1 на рис. 5 соответствует высоким, близким к барьерным, значениям энергии квантовых состояний электронов, когда заметную роль могут играть процессы туннельного ухода носителей из квантовой ямы, находящейся во внутреннем электрическом поле.

Последний участок кривой 1 с низкой интенсивностью, вероятно, соответствует разрыву двумерной потенциальной ямы для электронов на отдельные локальные микроучастки, в которых локализация носителей еще возможна.

Наблюдаемые особенности ФЛ в области узких КЯ, энергетические состояния в которых наиболее чувствительны к вариациям параметров структуры, могут быть интересны с точки зрения оценки параметров полупроводниковой структуры. Так, предположение о том, что окончанию участка линейного спада интенРис. 5. Экспериментальные зависимости интенсивности посивности ФЛ, иллюстрирующему процесс сближения лос ФЛ от энергии излучения КЯ QWC: 1, 2, 3, 4 —полосы B, гетерограниц КЯ, соответствует предельный случай траC, D и E соответственно. Для полосы B экспериментальные пециевидной КЯ — треугольная КЯ, приводит в рамках точки группы 1 обозначены сплошными кружками, точки группы 2 —полыми кружками. используемой теоретической модели к оценке отношения разрыва зоны проводимости к разрыву запрещенной зоны на гетерогранице Ec/ Eg = 0.612, что довольно близко к общепринятому значению 0.6 [2]. При этой волновых функций носителей в квантовой яме в условиоценке использованы экспериментальные значения энерях внутреннего электрического поля, поскольку в этом гии краевой ФЛ барьерных слоев AlGaAs EA = 1.85 эВ, случае более сильные изменения следовало бы ожизначение энергий EB и EC, соответствующих точке дать для широкой ямы QWC. Наблюдаемый „всплеск“ пересечения наклонной прямой спада интенсивности ФЛ интенсивности, по-видимому, определяется заполнени с осью абсцисс (EB = 1.757 эВ, EC = 1.597 эВ), отноем КЯ носителями и связан с немонотонным характером шение средних значений ширин КЯ wB/wC = 3.4 и зависимости процесса перераспределения носителей из ступенчатая аппроксимация потенциала стенок КЯ из барьерных слоев в КЯ от параметра толщины. В рамках 5 ступенек для каждой стенки.

настоящего эксперимента остается неопределенным, каВ рамках настоящей работы не предполагалось более кой из факторов, включенных в параметр толщины, — подробно рассматривать особенности ФЛ узких КЯ.

толщина барьерных слоев или ширина КЯ — влияет на Отметим лишь следующую из изложенного высокую наблюдаемые изменения интенсивности доминирующим образом. Однако эта неопределенность не возникает, ес- информативность представляемого подхода для исследования свойств КРС при вариации параметров, формирули в исследуемой структуре зафиксированы параметры, емых технологически. Наиболее эффективным его принапример, барьерных слоев, а планарно-неоднородным остается только слой КЯ. менение представляется для исследования процессов поПравый край кривой 1 рис. 5 соответствует предель- рогового и резонансного характера, когда возможность ной (в смысле светимости) ширине КЯ, при уменьшении прецизионной вариации параметров особенно важна.

которой фотолюминесцентное излучение из ямы уже не наблюдается. Отсутствие эксперименталных точек 4.2. Фотолюминесценция In-содержащих кривой 1 рис. 4, a правее EC = 1.64 эВ означает исчезквантовых ям новение полосы B со спектров для достаточно малых Переходя к рассмотрению ФЛ In-содержащих слозначений ширины ямы. Процесс этого исчезновения ев, прежде всего отметим доминирующий уровень изотражен линейным спадом интенсивности полосы B на правой части кривой 1 рис. 5 и далее непродолжитель- лучения наиболее глубоко расположенной квантовой ным более пологим участком с низкой интенсивностью и ямы QWE (полоса E) практически на всей поверхноможет быть прослежен достаточно подробно с очень ма- сти пластины (см. рис. 5, кривая 4). Напротив, QWD лым шагом вариации толщины. Весь участок линейного показывает очень низкую интенсивность ФЛ (рис. 5, Физика и техника полупроводников, 2003, том 37, вып. Исследования физических явлений в полупроводниковых наноструктурах... кривая 3), которая с увеличением параметра толщины вало возможность исследования процессов с прецибыстро уменьшается и аналогично полосе C исчезает зионной вариацией параметров, выявило особенности со спектров. На большей части пластины полоса D поведения ФЛ узких КЯ, позволило наблюдать особенотсутствует. ности перераспределения носителей в структуре с КЯ.

Наблюдаемая картина ФЛ In-содержащих слоев, Рассмотренный вариант метода исследования показал его применимость к исследованию квантово-размерных по-видимому, в значительной степени определяется структур. Полученные результаты позволяют считать электрическим полем, создаваемым МЛГП. Это поле предложенный новый метод исследования полупроводспособствует оттеснению дырок от гетероперехода в никовых структур перспективным и, конечно, не огранинаправлении к In-содержащим КЯ и буферному слою.

ченным рассмотренными в настоящей работе аспектами.

При этом КЯ может являться эффективным стоком для дырок, что и создает условия для интенсивной излуАвтор благодарит В.А. Петрова за многочисленные чательной рекомбинации из КЯ. Наблюдаемый высокий полезные обсуждения результатов работы и А.В. Гука уровень интенсивности полосы E, по-видимому, связан за помощь в подготовке образца.

с таким захватом носителей в QWE. Немонотонный характер зависимости интенсивности полосы E от паСписок литературы раметра толщины (рис. 5, кривая 4) при незначительных вариациях состава In-содержащего слоя (рис. 4, b, кри[1] Ю.В. Хабаров. Патент РФ № 2168238 (2001).

вая 3) может быть объяснен „оптимизацией“ процесса [2] M.A. Herman, D. Bingerg, J. Christen. J. Appl. Phys., 70 (2), заполнения QWE носителями при изменении геометR1 (1991).

рических параметров системы МЛГП-QWE вследствие [3] J. Wagner, A. Fischer, K. Ploog. Phys. Rev. B, 42, 7280 (1990).

измерения ширины барьерных слоев. Иные условия [4] L. Pavesi, M. Guzzi. J. Appl. Phys., 75 (10), 4779 (1994).

заполнения узкой и менее глубокой QWD, находящейся [5] С.В. Евстигнеев, Р.М. Имамов, А.А. Ломов, Ю.Г. Садофьев, в более сильном электрическом поле из-за близости Ю.В. Хабаров, М.А. Чуев, Д.С. Шипицин. ФТП, 34, МЛГП, определяют низкий уровень ФЛ в ней.

(2000).

Отметим, что на спектрах, как правило, отсутствуют [6] G. Bastard, C. Delalande, Y. Guldner, P. Voison. In: Advances особенности, которые можно связать с излучением баin Electronics and Electron Physics, ed. by P.W. Hawkes (Acaрьерных слоев GaAs и, в том числе, буферного слоя.

demic Press, 1988) v. 72.

Слабая полоса вблизи 1.508 эВ появляется лишь на Редактор Л.В. Беляков небольшой области пластины, соответствующей тонким слоям (рис. 4, a, кривая 6). В этой же области пластины Investigation of physical phenomena наблюдается снижение уровня ФЛ из QWE (рис. 5, in semiconductor nanostructures using кривая 4). Это также свидетельствует о том, что проplanar non-uniform layers.

Pages:     | 1 || 3 |



© 2011 www.dissers.ru - «Бесплатная электронная библиотека»

Материалы этого сайта размещены для ознакомления, все права принадлежат их авторам.
Если Вы не согласны с тем, что Ваш материал размещён на этом сайте, пожалуйста, напишите нам, мы в течении 1-2 рабочих дней удалим его.