WWW.DISSERS.RU

БЕСПЛАТНАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ БИБЛИОТЕКА

   Добро пожаловать!


 

САНКТ-ПЕТЕРБУГСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ

На правах рукописи        

Андрей  викторович  бахтиаров

РЕНТГЕНОФЛУОРЕСЦЕНТНЫЙ  АНАЛИЗ

МИНЕРАЛЬНОГО  СЫРЬЯ  И  ПРОДУКТОВ  ЕГО  ПЕРЕРАБОТКИ

НА  ПРИНЦИПАХ  ИСПОЛЬЗОВАНИЯ  РАССЕЯННОГО  ИЗЛУЧЕНИЯ

Специальность  02.00.02 – АНАЛИТИЧЕСКАЯ ХИМИЯ

 

Автореферат  диссертации на соискание ученой степени 

доктора технических наук

 

Санкт-Петербург - 2010

Работа выполнена на кафедре ядерной геофизики геологического факультета и на кафедре аналитической химии химического факультета Санкт-Петербургского  (Ленинградского)  государственного университета

Официальные оппоненты:        доктор физико-математических наук,

профессор  Брытов Игорь Александрович,

доктор физико-математических наук,

профессор  Филиппов Михаил Николаевич,

доктор технических наук

Симаков Владимир Александрович.

Ведущая организация:                Физический факультет

Южного федерального университета

(Ростов-на-Дону).

Защита состоится  21 октября 2010 года в 15.00 часов на заседании совета

Д 212.232.37 по защите докторских и кандидатских диссертаций

при Санкт-Петербургском государственном университете

по адресу: 199004  Санкт-Петербург, В.О., Средний пр., дом 41-43,

Большая химическая аудитория.

С диссертацией можно ознакомиться в Научной библиотеке

Санкт-Петербургского государственного университета

Автореферат разослан «___»  ______________  2010 года.

Ученый секретарь диссертационного совета                                В.В. Панчук

ОБЩАЯ  ХАРАКТЕРИСТИКА  ДИССЕРТАЦИИ



Актуальность работы. Рентгенофлуоресцентный анализ (РФА), являющийся одним из самых распространенных методов элементного анализа разнообразных веществ, осложнен сильными матричными эффектами: основной аналитический параметр – интенсивность рентгеновской флуоресценции IA  – зависит не только от содержания определяемого элемента,  но и от валового элементного состава и  микроабсорбционных неоднородностей пробы.  Наибольшее влияние оказывает поглощение возбуждающего первичного излучения и самой флуоресценции  в матрице пробы,  называемое матричным эффектом или эффектом наполнителя.  В условиях неконтролируемого изменения состава матрицы учет его влияния становится ключевой проблемой  метода, т.к. при этом невозможно выбрать адекватный стандартный образец  для применения традиционного способа внешнего стандарта.

Для исключения влияний матричного поглощения и других матричных эффектов на результаты количественных определений  применяются  различные способы РФА, требующие дополнительных операций введения  в пробы дозированных количеств элемента сравнения или определяемого элемента (способы внутреннего стандарта  и  добавок), или более сложные способы,  для реализации  которых необходимо измерение флуоресценции всех компонентов пробы (способы фундаментальных параметров, теоретических поправок, множественной регрессии в системе эмпирических уравнений связи).

Более рациональной оказалась идея использовать в качестве своеобразного внутреннего стандарта  IS - интенсивность рассеянного на пробе первичного излучения  рентгеновской трубки, а в качестве аналитического параметра – отношение  интенсивностей  IА  / IS  [G. Andermann, J.W. Kemp, 1958].  Благодаря простоте измерений и эффективному устранению влияния матричного поглощения, это направление,  названное способом стандарта-фона1, получило достаточно широкое распространение. Но его развитие сдерживалось отсутствием сведений о фундаментальных параметрах для расчета интенсивности рассеянного излучения (о дифференциальных коэффициентах когерентного и некогерентного рассеяния), а также не были однозначно определены принципы расчета интенсивности рассеяния (соотношение диффузного и дифракционного компонентов) в условиях РФА.

Кроме того, в первых вариантах способ стандарта-фона был ориентирован на решение частной аналитической задачи: определение низких содержаний тяжелых элементов в легких матрицах. Попытки преодолеть это ограничение и расширить возможности применения способа на высокие содержания привели к методикам, осложненным дополнительными измерениями и вычислениями с введением дополнительных параметров, что лишало способ стандарта-фона одного из главных достоинств - простоты измерений и вычислений.  Это особенно существенно при использовании РФА для контроля состава минерального сырья и продуктов его переработки, которые представляют весьма сложный многокомпонентный объект количественного элементного анализа. 

Горные породы и руды содержат практически все элементы периодической системы Д.И.Менделеева, а их содержания могут изменяться от трудно определяемых кларковых концентраций до матричных, составляющих основу объекта анализа.  В процессе переработки минерального сырья образуются продукты с высокими содержаниями рудных, редких и рассеянных элементов, что усиливает эффекты избирательного поглощения и возбуждения, усложняя задачу количественного анализа.  В этих условиях универсальный и экспрессный метод РФА, не требующий вскрытия твердофазных образцов,  приобретает доминирующее положение, поэтому все лаборатории геологических, горнодобывающих и горно-перерабатывающих организаций оснащены рентгеноспектральной аппаратурой, и на долю РФА приходится до 70% объема аналитических работ в этой области.  При таком объеме анализов предпочтение получают универсальные методики, основанные на принципах, позволяющих анализировать широкий круг продуктов с минимальным количеством адекватных стандартных образцов.  Одним из таких общих принципов является способ стандарта-фона,  но для  решения перечисленных сложных аналитических задач было необходимо найти универсальный алгоритм и дать ему соответствующее теоретическое обоснование.

Цель настоящей работы – развитие методологии РФА на принципах использования рассеянного излучения в качестве внутреннего стандарта, создание теоретических основ универсальных вариантов способа стандарта-фона с использованием квантовомеханических данных о рассеянии рентгеновского излучения и распространение разработанной методологии на сложные многокомпонентные объекты в условиях производственного анализа минерального сырья и продуктов его переработки.

Для достижения поставленной цели предстояло решить следующие основные задачи:

  • На основе квантовомеханических форм-факторных данных  исследовать зависимости коэффициентов когерентного и некогерентного рассеяния от длин волн излучения, атомных номеров элементов и углов рассеяния в диапазоне РФА.
  • Количественно определить влияние диффузного и дифракционного процессов формирования интенсивности рассеянного излучения,  установить принцип расчета интенсивности рассеянного излучения в условиях РФА и доказать адекватность методов расчета описываемым физическим процессам
  • Теоретически и экспериментально определить применимость различных вариантов способа стандарта-фона для определения низких содержаний тяжелых элементов в легких матрицах.
  • Расширить применимость способа стандарта-фона на определение высоких содержаний определяемых элементов при наличии мешающих элементов, вызывающих избирательное поглощение и вторичное возбуждение рентгеновской флуоресценции. Оценить адекватность нового подхода условиям производственного анализа реальных руд различных металлов и продуктов их обогащения и обосновать универсальный алгоритм выполнения РФА многоэлементных руд и продуктов их переработки.
  • Разработать и внедрить методику РФА с использованием универсального алгоритма в систему аналитического контроля состава твердофазных проб полиметаллических руд и продуктов их переработки.

Научная новизна работы

1.  Созданы теоретические основы для расчетов интенсивностей рассеянного излучения в условиях рентгеноспектральных измерений, включающие банк атомных дифференциальных коэффициентов da/d  и универсальные аппроксимирующие формулы для их расчета как функций  , Z и    Показана адекватность расчетов интенсивности рассеянного излучения по формулам диффузного рассеяния с применением созданного банка коэффициентов рассеяния и аппроксимирующих формул.

2.  Обоснован новый вариант уравнения для расчета содержаний по отношению аналитического параметра (сигнала) пробы к удельному параметру при использовании рассеянного излучения в качестве внутреннего стандарта.  Предложенное уравнение является вариантом физически обоснованного регрессионного уравнения, которое при условии стабилизации микроабсорбционных неоднородностей позволяет вести РФА во всем диапазоне изменений состава матриц и содержаний определяемых и мешающих элементов.

3.  Предложен новый алгоритм построения градуировочной характеристики РФА по способу стандарта - рассеянного излучения  (модифицированное универсальное уравнение), позволяющий проводить анализ с применением минимального количества стандартных образцов.

4.  Установлены и обоснованы принципы использования специфического вида рассеяния – резонансного комбинационного рассеяния (РКР) – для определения характера химической связи и содержаний элементов  в условиях рентгенофлуоресцентных измерений  (3 авторских свидетельства).  На оригинальной рентгеноспектральной установке, сконструированной на базе коротковолнового спектрометра, показано, что использование РКР позволяет улучшить предел обнаружения некоторых элементов.

Практическая значимость работы 

Созданный банк дифференциальных коэффициентов рассеяния и универсальные формулы для их оценки  являются основополагающим справочным материалом для разработки методик  РФА на принципах использования рассеянного излучения в качестве внутреннего стандарта.

Разработанные методики РФА горных пород, руд и продуктов их переработки внедрены  в практику ряда научно-производственных  лабораторий  (Института Механобр, Орловского Горно-обогатительного комбината в Забайкалье,  Джезказганского полиметаллического комбината в Казахстане).

Методики РФА полиметаллических руд и продуктов их передела на основе модифицированного универсального уравнения внедрены и с 1998 года являются методической основой производственного РФА в рентгеноспектральных лабораториях крупнейшего в России Норильского ГМК.

Результаты теоретических исследований и примеры их практического применения используются в учебных программах обучения и повышения квалификации специалистов по рентгеноспектральному анализу,  которые с 1991 года ведет автор в Санкт-Петербургском (Ленинградском) государственном университете.

На защиту выносятся:

1.  Теория расчетов интенсивности рассеянного излучения в условиях рентгеноспектральных измерений, основанная на уравнениях  диффузного рассеяния с дифференциальными коэффициентами рассеяния, рассчитанными по квантовомеханическим значениям атомных форм-факторов и функции некогерентного рассеяния с учетом дисперсионных поправок в области краев поглощения.

2.  Результаты расчетов (банк данных) атомных дифференциальных  коэффициентов для всего диапазона рентгеноспектрального анализа (по длинам волн, углам рассеяния и атомным номерам элементов) и универсальные аппроксимирующие формулы для оценки их значений, позволяющие проводить аналитические исследования применимости способов РФА на принципах использования рассеянного излучения.

3.  Алгоритм построения градуировочной характеристики РФА на  основе использования удельного аналитического параметра (отношения удельной интенсивности рентгеновской флуоресценции к внутреннему стандарту),  позволяющей анализировать сложные объекты переработки минерального сырья с высокими содержаниями определяемых и мешающих элементов.

4.  Модифицированное универсальное уравнение для расчета содержаний средних и тяжелых элементов (с атомными номерами Z 26)  при  РФА по способу  стандарта-рассеянного излучения.

5.  Результаты экспериментальных исследований резонансного комбинационного рассеяния РКР в области К-краев поглощения и способы определения характера химической связи и содержаний элементов с использованием пиков РКР.

6.  Методики РФА  на основе универсального уравнения, использовавшиеся в 1986 -1990 гг. в аналитических лабораториях Института Механобр,  Орловского ГОК, Джезказганского полиметаллического комбината,  и  внедренные  в 1998 г. в производственное применение в лабораториях ОАО «Норильский ГМК», а также в систему АСАК  технологического процесса флотационного обогащения медно-никелевых руд на Талнахской обогатительной фабрике.

Апробация  работы.  Материалы диссертации докладывались  на Всесоюзных Совещаниях по рентгеновской спектроскопии  (XI - Ростов-на-Дону, 1975; XII  - Ленинград, 1978;  .XIV - Иркутск, 1984;  XV – Ленинград,  1988),  Всесоюзных Совещаниях по рентгеноспектральному анализу (I – Орел, 1986;  II – Иркутск, 1989),  Всероссийских Совещаниях по рентгеноспектральному анализу  (IV – Иркутск, 2002;  V – Иркутск, 2006;  VI – Краснодар,  2008),  Всероссийской конференции «Аналитика России–2004» (Москва),  Всероссийских конференциях «Аналитические приборы» (Санкт-Петербург, II - 2005;. III - 2008), IV  Конференции по аналитическим методам при геохимическим исследованиям (Ленинград, 1972),  Конференции «Применение РС аппаратуры для решении аналитических задач черной и цветной металлургии» (Череповец, 1977),  Научной сессии «Ядерная геофизика в геологии» (Ленинград,  ЛГУ, 1988), XII Conference on Analytical Atomic Spectroscopy  (Moscow, 1990), Всероссийской  Конференции «Экоаналитика-96» (Краснодар, 1996), Совещании по рентгеноспектральным методам исследований  (Санкт-Петербург,1998),  IV Всероссийской конференции по преподаванию аналитической химии  (Краснодар, 1998).

Публикации.  По теме диссертации опубликовано 54 работы, в том числе  монография  «Рентгеноспектральный флуоресцентный анализ в геологии и геохимии», патент  РФ  и 4 авторских свидетельства.

Структура и объем диссертации. Диссертация состоит из введения,  4 глав,  выводов и списка литературы из 199 наименований.  Общий объем  220 стр.,  12 таблиц и  48 рисунков.

ОСНОВНОЕ СОДЕРЖАНИЕ РАБОТЫ

1.  МЕТОДОЛОГИЯ  ИССЛЕДОВАНИЙ  РАССЕЯНИЯ  ИЗЛУЧЕНИЯ

В  УСЛОВИЯХ  РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНЫХ  ИЗМЕРЕНИЙ

Рентгеновская флуоресценция, по интенсивности которой в РФА определяются содержания отдельных элементов, является результатом нескольких процессов взаимодействия первичного излучения с веществом пробы.  Основная доля этой интенсивности возникает в результате возбуждения атомов фотонами первичного спектра, но она может быть увеличена вторичным возбуждением флуоресцентными линиями других элементов (называемым также «избирательным возбуждением»),  рассеянным излучением, а также  фото-  и  оже-электронами.

Вывод уравнений, учитывающих все процессы взаимодействия, базируется на формуле интенсивности  флуоресценции аналитической линии определяемого элемента А,  возбужденной  потоком монохроматического первичного излучения,  которая известна как формула Блохина-Шермана,  и при измерениях в насыщенных слоях записывается:

                               (1)

где  CA – определяемое массовое содержание, KA  - постоянная, не зависящая от состава пробы (произведение атомных констант определяемого элемента и величин, характеризующих фиксированные условия измерений),  m1  и  mi – массовые коэффициенты ослабления пробой первичного и флуоресцентного излучения (с длиной волны соответственно 1  и i );    и – углы падения первичного излучения на поверхность пробы и отбора вторичного спектра, соответственно.

При невыполнении условия «насыщенности» излучающего слоя, в частности, при сильной коллимации первичного потока  излучающий и рассеивающий объем пробы будет иметь в сечении форму трапеции или треугольника, и формула усложняется. Такая ситуация, в частности, наблюдается в спектрометрах с острофокусными рентгеновскими трубками и с поликапиллярными фокусирующими линзами.  Но в спектрометрах с мощными рентгеновскими трубками, которые использовались в настоящей работе, условия измерений обычно соответствуют «насыщенным» слоям.

Базовая формула (1) интенсивности  IA  (или соответствующей измеряемой плотности потока фотонов nA)  сохраняет адекватность и при сложном полихроматическом первичном спектре, если этот спектр заменяется монохроматической линией с «эффективной» или «эквивалентной» длиной волны , т.н.  «монохроматическое приближение».  Это,  во-первых, существенно упрощает расчеты интенсивности флуоресценции, а во-вторых,  позволяет оценить главный матричный эффект – влияние поглощения возбуждающего первичного излучения и самой флуоресценции  в матрице пробы.  Т.к.  возбуждение флуоресценции рассеянным излучением и вторичными электронами обычно существенно меньше фотонного первичного возбуждения (эффекты второго и третьего порядков),  при отсутствии вторичного избирательного возбуждения эта формула обеспечивает достаточно точные результаты  при теоретических расчетах интенсивности флуоресценции определяемого элемента.

Рассеянное излучение (в отличие от флуоресцентного) не является изотропным,  его интенсивность  IS зависит не только от химического состава пробы, но и от ее кристаллической структуры и от геометрических условий регистрации вторичного спектра (угла рассеяния = + ,  расходимости падающего на пробу и отбираемого излучения  и  др. факторов). При этом для расчета его интенсивности можно учитывать только однократное рассеяние, т.к. вероятность рассеяния рентгеновского излучения обычно существенно меньше  - вероятности фотопоглощения  ( « )  и многократное рассеяние практически не происходит.  Поэтому формулы для расчета интенсивности I выводятся  аналогично зависимостям интенсивности флуоресценции – через рассеяние элементарным слоем в предположении диффузного характера рассеяния (что является полностью строгим для некогерентного комптоновского рассеяния, а для когерентного только отчасти).  Результаты интегрирования интенсивности Iпо всему рассеивающему объему пробы зависят от соотношения ширины потока первичного излучения и толщины рассеивающего слоя.

Для широких параллельных потоков  первичного и вторичного излучения  при толщине пробы, заметно превышающей  толщину  «насыщенного слоя», получаем уравнение, аналогичное уравнению (1):

,                        ( 2 )

где  KS – постоянная, зависящая от аппаратурных  условий измерений;  dm1 /d - массовый дифференциальный коэффициент рассеяния первичного излучения (1) в элементарный телесный угол  d ,  характеризующий вероятность рассеяния первичных фотонов всеми элементами, составляющими пробу,  под определенным углом  рассеяния  =+ ;  m1  и  mS – массовые коэффициенты ослабления пробой, соответственно, первичного и рассеянного излучения (S).

Использование  в числителе формулы  (2)  вместо дифференциального коэффициента  dm /d  массового интегрального (по телесному углу ) коэффициента  m некорректно,  поскольку в реальных условиях интенсивность рассеянного излучения  IS  измеряется в узком телесном угле  d, а  интегральный коэффициент m определяет вероятность рассеяния под всеми возможными углами,  т.е.  в полный телесный угол = 4. 

Для теоретических расчетов интенсивностей по формулам (1) и (2) массовые коэффициенты ослабления пробой  m  могут быть получены из существующих справочников, составленным по экспериментальным измерениям или теоретическим расчетам.  Но в этих справочниках ко времени начала настоящей работы данные о дифференциальных коэффициентах рассеяния, необходимые для расчета интенсивности рассеянного излучения,  отсутствовали,  поэтому их расчет был первоочередной теоретической задачей.

1. 1.  Коэффициенты рассеяния рентгеновского излучения

Массовые дифференциальные коэффициенты  dm1 /d  для отдельных элементов могут быть рассчитаны по соответствующим значениям дифференциальных атомных коэффициентов (сечений) da1 /d  так же, как рассчитываются интегральные коэффициенты взаимодействия (умножением на число Авогадро N0 и  делением на атомную массу A):

                               (3)

Для пробы сложного состава учитывается  Ck - массовая доля каждого k-элемента и определяется средневзвешенный массовый дифференциальный коэффициент всей пробы:

                               (4)

Дифференциальные сечения когерентного и некогерентного рассеяния являются сложными функциями длины волны рассеиваемого излучения ,  угла рассеяния и атомного номера элемента Z. Они рассчитываются для каждого элемента через дифференциальные сечения рассеяния на свободном электроне  (сечение Томсона deT/d  или Клейна-Нишины-Тамма deKNT/d):

для когерентного рассеяния  ,                (5)

для некогерентного (комптоновского)  рассеяния (6)

где  F  - атомный форм-фактор; F – поправка на аномальное рассеяние вблизи края поглощения;  Z  - атомный номер  элемента;  S - функция некогерентного рассеяния.

Величины F и S определяются на основе квантовомеханического метода самосогласованного поля Хартри-Фока-Слэйтера и табулируются для каждого элемента в зависимости от универсального аргумента -1 · sin(/2). 

В банках данных по коэффициентам ослабления обычно приводились только интегральные коэффициенты рассеяния .  Впервые банк дифференциальных коэффициентов  был опубликован нами, в него вошли атомные дифференциальные коэффициенты когерентного и некогерентного рассеяния  40 элементов (в диапазоне Z = 4 - 92)  для характеристических K-линий 8 элементов, пять из которых используются для приготовления зеркал анодов рентгеновских трубок (Ag, Mo, Ge, Cu, Cr),  а  K-линии трех других (Cl, Si, Mg)  характеризуют длинноволновую область рентгеновского спектра = 5-10 . Значения этих дифференциальных сечений для 7 углов рассеяния (00 , 30 0 , 600 , 900, 1200 , 1500 , 1800 )  позволяют рассчитать интенсивность рассеяния во всем диапазоне РФА  (как по всему волновому спектру, так и по геометрическим условиям регистрации вторичного излучения).  Все перечисленные данные были включены в «Рентгеноспектральный справочник» Блохина М.А. и  Швейцера И.Г. (1982 г.)  и обычно используются в работах, посвященных применению  рассеянного излучения в РФА.

Но табулированные значения  da /d  не дают возможности в аналитической форме проследить функциональные зависимости рассеяния отдельно по каждому из трех реальных аргументов  ,  Z и ,  что бывает совершенно необходимо сделать при общих теоретических оценках. Поэтому для аналитического представления дифференциальных сечений da /d  нами было предложено использовать более простой способ форм-факторных расчетов Томаса-Ферми с усредненными электронными форм-факторами, при котором  атомный форм-фактор рассеяния F  является функцией аргумента g =  5,91 · -1 · Z -1/3· sin(/2),  а  функция некогерентного рассеяния  S  зависит от аргумента v = 2,21 -1 Z -2/3 sin  (/2). Сопоставление квантовомеханических значений и расчетов по Томасу-Ферми позволило получить  простые аппроксимирующие формулы:

       ,                (7)

       ,                (8)

которые в диапазоне рентгеноспектральных измерений (g = 0,1-5 ;  v = 0,1- 0.3)  точнее, чем расчеты по Томасу-Ферми, аппроксимируют квантовомеханические значения атомных форм-факторов F  и  функции некогерентного рассеяния  S .

На основе этих аппроксимаций можно определить дифференциальные коэффициенты рассеяния для некогерентных линий:        

                       (9)

Для когерентного рассеяния необходимо учесть поправку на аномальное рассеяние F. В коротковолновой области, если < 0,9 K, когда аномальное рассеяние практически не влияет,  этой поправкой можно пренебречь

       .                (10а)

В длинноволновой стороне от К-края поглощения (при  > 1,1 K , но < 0.9 L1) аномальное рассеяние приближенно учитывается уменьшением значения атомного форм-фактора на 2  (число K-электронов) и формула преобразуется:

       .                (10б)

Формулы (8), (9а) , (9б)  позволяют рассчитать функциональные зависимости коэффициентов рассеяния от реальных аргументов  , , Z ,  не прибегая к табулированным цифровым данным,  где эти зависимости не видны.





О точности оценок дифференциальных сечений по этим формулам можно судить по графикам зависимости  da/d  от атомного номера  Z  рассеивающих элементов (рис. 1) и от длины волны (рис. 2), где сплошные линии соответствуют расчетам по точным квантовомеханическим значениям  атомных форм-факторов, а пунктирные – расчетам по формулам (9), (10а) , (10б).

Рис.1.  Зависимости da/d  когерент-ного (кривые 1, 2) и некогерентного рассеяния (3, 4) от атомного номера Z  рассеивающих элементов  для  K-ли-ний Cr  (кривые 1 и 3) и  Mo  (кривые 2 и 4)  анодов.

Рис. 2. Зависимости da/d  от длины волны  когерентного (кривые 1, 2) и некогерентного рассеяния (кривые 3, 4) для Si (кривые 2 , 4)  и  Fe  (кривые 1 и 3).

Как видно, аппроксимирующие формулы дают достаточную для оценок когерентного и комптоновского рассеяния точность – отклонение от квантовомеханических значений  не превышают 10 - 20 отн. %. Исключение представляет только узкая область вблизи К-краев поглощения = (0,9 - 1,1) K,  где проявляется аномальная дисперсия функции атомного рассеяния F и происходит третий вид рассеяния – резонансное комбинационное рассеяние  (РКР) – которое можно наблюдать в специальных экспериментальных условиях,  отличных от аналитических условий РФА  (раздел 2.4).

1.2.  Экспериментальные исследования и расчеты

интенсивности когерентного и комптоновского рассеяния

в условиях РФА

В реальных условиях рентгеноспектральных измерений рассеяние первичного излучения происходит на определенной совокупности атомов, которая может различаться как по химическому составу, так и по взаимному расположению атомов. При некогерентном рассеянии взаимное расположение атомов не играет роли, так как рассеянное излучение по фазам не связано. Поэтому интенсивность некогерентного рассеяния от элементарного объема пропорциональна daнк/d и числу атомов в этом объеме, при любом их расположении, т.е. происходит диффузное рассеяние, которое определяется только химическим составом.

Когерентное рассеяние зависит от взаимного расположения атомов, оно может быть отчасти диффузным или дифракционным, происходящим на кристаллах в соответствии с законом  Брэгга-Вульфа.  Поскольку реальные пробы (порошковые пробы минерального сырья и продукты его переработки, металлы, сплавы и др. объекты анализа) обычно представляют собой поликристаллы - смесь беспорядочно ориентированных кристаллитов, необходимо определить какой вид рассеяния (диффузный или дифракционный) на поликристаллических пробах преобладает в условиях рентгеноспектральных измерений. От этого зависит принцип расчета регистрируемого рассеянного излучения.

Для определения соотношения дифракционного и диффузного компонентов рассеяния были сняты дифрактограммы - зависимости интенсивности - потока рассеянного излучения nS  от угла рассеяния при узкоколлимированных пучках первичного и рассеянного излучения и монохроматическом первичном излучении.

Рис.3.  Дифрактограммы чистых металлов

а – алюминий,  б – цинк,  в – свинец.

Дифрактометр  KG-3/10  Rigaku Denki с графитовым монохроматором. Первичное излучение CuK  ( = 1,54).

Для оценки качественных соотношений двух компонентов рассеяния чистые металлы были выбраны потому, что на них более ярко, чем на реальных пробах минерального сырья - смешанных многофазных порошках, проявляются дифракционные максимумы.

Результаты измерений nS построены в зависимости от используемого при  дифрактометрическом анализе универсального аргумента  = - 1 ·sin /2 .  По этим графикам nS() можно определить соотношение дифракционного (отдельные пики) и диффузного (непрерывный фон)  компонентов только когерентного рассеяния (т.к. при первичном CuK-излучении некогерентное рассеяние для использованных металлов пренебрежимо мало).

Условия рентгеноспектральных измерений отличаются от условий снятия дифрактограмм (узкие пучки) значительно большей расходимостью потоков, прежде всего падающего на пробу первичного излучения.  Поэтому регистрируемая в рентгенофлуоресцентном спектрометре величина nSкг, соответствует площади, ограниченной кривой nS () в определенном интервале значений  . На рис. 3 по оси абсцисс указаны интервалы изменений    при  небольшой расходимости угла рассеяния = 90±100  для K-линий используемых анодов (Cr, Cu,Ge).

Очевидно, что доля дифракционного компонента, зависящего от кристаллической структуры пробы, при фиксированных условиях рентгеноспектральных измерений скорости счета когерентно рассеянных линий nSкг будет определяться долей дифракционных максимумов в площади кривой nS () в соответствующем интервале .  Как следует из рис. 3,  эта доля не превышает 1/3 как по всей площади кривых, так и по фиксированным интервалам при реальной расходимости потоков регистрируемого излучения.  Главный же вклад в значение nSк дает диффузный фон, интенсивность которого зависит от химического состава, причем этот вклад возрастает с увеличением , т.е. с уменьшени­ем . В этих условиях влияние кристаллической структуры на nSкг  не должно превышать 30 %,  что и наблюдается на практике.  С увеличением угловой расходимости потоков первичного и регистрируемого излучения влияние кристаллического строения пробы будет уменьшаться (в предельном случае, при рассеянии в полный телесный угол 4,  значение nSкг будет зависеть только от химического состава пробы).

Для определения адекватности расчетов по формулам  диффузного однократно рассеянного излучения (формула 2) экспериментальным значениям nS  было проведено специальное исследование, которое показало, что  при измерениях на кристалл-дифракционных спектрометрах, когда ширина некогерентного пика заметно больше ширины когерентного, лучше, как и следует ожидать, с теорией совпадают оценки по площади пиков.  Однако, и скорости счета nTS и nнкS ,, измеренные при настройке спектрометра на максимумы пиков когерентного и комптоновского рассеяния, с достаточной точностью совпадают с расчетами.  На измеряемые значения nкS  влияет также кристаллическая структура пробы, которая в коротковолновой области изменяет относительное значение nкS на несколько десятков процентов по сравнению с расчетами, учитывающими только химический состав, а в длинноволновой области ( > 2 ) может оказать решающее воздействие.  Значение nTS  от кристаллической структуры практически не зависит, т.к. первичный тормозной спектр полихроматичен и дифракционные максимумы, вызванные его разными участками, сливаются.

Эти экспериментальные результаты, полученные в условиях широкого потока первичного излучения,  обеспечивающих корректность исходной формулы (2),  показали, что интенсивность рассеянного пробой излучения, рассчитанная по формулам диффузного рассеяния с учетом только химического состава пробы,  совпадает с экспериментом даже для когерентных линий.  Кристаллическое строение пробы оказывает лишь некоторое влияние на интенсивность когерентного рассеяния монохроматических линий анода рентгеновской трубки  nSкг,  усложняя ее зависимость от химического состава.  Изменения экспериментальных интенсивностей некогерентного рассеяния совпадают с теоретическими изменениями  как при оценке по площади комптоновского пика, так и при измерениях в его максимуме.

Таким образом,  в условиях РФА формулы однократного диффузного рассеяния с использованием табулированных значений дифференциальных коэффициентов или аппроксимирующих формул обеспечивают  точность расчетов, необходимую для общего теоретического исследования возможностей способа стандарта-фона.

2.  РАЗВИТИЕ ТЕОРИИ РФА НА ПРИНЦИПАХ

ИСПОЛЬЗОВАНИЯ РАССЕЯННОГО ИЗЛУЧЕНИЯ

В  КАЧЕСТВЕ  ВНУТРЕННЕГО  СТАНДАРТА        

2.1.  Теоретическое исследование возможностей

различных вариантов способа стандарта-фона

Во вторичном спектре анализируемой пробы наблюдается рассеянное полихроматическое излучение рентгеновской трубки, его тормозной компонент создает непрерывный фон для всех флуоресцентных линий,  который используется в качестве внутреннего стандарта в способе стандарта-фона, поскольку его интенсивность зависит от состава пробы.  Кроме того, в результате рассеяния характеристических линий анода в спектре пробы наблюдаются интенсивные пики когерентного и некогерентного рассеяния, которые также могут быть эффективно использованы в качестве внутреннего стандарта.  Поэтому более точным определением методики является термин «способ стандарта-рассеянного излучения»,  хотя обычно применяется канонизированный термин  «способ стандарта-фона».

Из уравнений (1) и (2) следует теоретическое значение аналитического параметра  в способе стандарта-фона

R  =   =                 (11)

Очевидно, что при фиксированных условиях измерений KA / KS  = const .  Кроме того,  для условий, в которых  был применен способ стандарта-фона,  когда определяются малые содержания тяжелых элементов в легких матрицах,  и пробах не проявлены края поглощения между первичным излучением 1, аналитической линией i  и рассеянным излучением  S , постоянной величиной будет также отношение  ,  т.к. во всем диапазоне первичного и вторичного спектра массовые коэффициенты ослабления пробы µm ~3.

Следовательно, величина аналитического параметра R определяется соотношением CA  и массового дифференциального коэффициента рассеяния dm1 /d . При постоянном коэффициенте рассеяния (не меняющемся при изменении состава матрицы) она будет прямо пропорциональна искомому содержанию CA  . Поэтому для оценки эффективности использования различных видов рассеяния, прежде всего необходимо оценить изменения дифференциальных коэффициентов  когерентного и некогерентного рассеяния  в реальных условиях, например,  для  распространенной в современной практике РФА ситуации – при рассеянии RhK-излучения рентгеновской трубки  в “геометрии” многоканального кристалл-дифракционного спектрометра (угол =1200).

Рис. 6. Зависимость массовых дифференциальных коэффициентов рассеяния чистых элементов от атомного номера  Z .

Для чистых элементов от углерода  (Z=6) до цинка (Z=30) величина  dm1 /d  некогерентного рассеяния меняется слабо -  в диапазоне изменения  Z = 6 - 30 плавно уменьшается примерно на 25 % (от 0,0102 до 0,00771  см2 · г-1 · ср-1).  Для  когерентного рассеяния, наоборот, эта величина изменяется очень сильно, возрастая почти  на порядок (от 0,00184 до 0,0159 см2 · г -1 · ср-1).  Следовательно,  аналитический параметр R = IA / Iнк  будет гораздо меньше зависеть от состава матрицы, чем при использовании  в качестве внутреннего стандарта  Iкг.

При измерении интенсивности рассеянного тормозного излучения  IST ,  вероятность рассеяния определяется суммой дифференциальных  коэффициентов обоих видов рассеяния.  Поэтому на легких элементах (Z = 6 -16),  когда преобладает некогерентное рассеяние, тормозной фон является хорошим внутренним стандартом. При более тяжелых матрицах простое отношение  R = IA / IST будет меняться так же, как и для  R = IA / Iкг .

Все сказанное относится к рассеянию коротковолнового излучения (длина волны  RhK-линии = 0.613 ) и тормозному фону такой же длины волны.  В длинноволновой области, где тормозной фон формируется в основном за счет когерентного рассеяния,  он может служить хорошим внутренним стандартом только в самых легких матрицах (водные растворы, растительные пробы и т.п.), что и  демонстрируется в ряде работ.

Таким образом, из общих теоретических соображений в условиях широкого диапазона изменений состава матрицы  несомненные преимущества в традиционном варианте способа стандарта-фона (с применением простого отношения R = IA / IS)  имеет использование некогерентных комптоновских пиков или коротковолнового тормозного фона, хотя при этом простое отношение пик-фон будет зависеть от состава матрицы из-за изменения ее рассеивающих свойств (рис. 6).

2.2. Расширение возможностей способа

стандарта - рассеянного излучения                

2.2.1. Вывод  уравнения для определения низких содержаний

Задача разработки общего методического подхода к выполнению  РФА  по способу стандарта - рассеянного излучения, свободного от указанного ограничения, состоит  в определении формулы аналитического параметра R , который  при любом изменении состава  наполнителя зависит только от содержания определяемого элемента. 

В поиске такого решения мы исходили из следующего соотношения  -  при малых содержаниях (CA < 1%),  когда поглощающие и рассеивающие характеристики пробы (m  и  dm /d )  определяются только составом наполнителя, отношение  интенсивностей аналитической линии и рассеянного излучения  R = IA / IS должно быть пропорционально  искомому содержанию  ~  СА.  Это условие можно записать в такой форме

       (12)

Здесь  A = IA  / CA – удельная интенсивность аналитической линии (скорость счета имп/с  на 1% элемента А),  которая в соответствии с формулой (1) равна

               (13)

Чтобы условие (12) было выполнено,  обе величины  (и удельная интенсивность A, и  внутренний стандарт - интенсивность рассеянного излучения IS ,  зависящие от массовых коэффициентов ослабления первичного m1, флуоресцентного mi  и рассеянного излучения mS.)  при изменении состава матрицы должны меняться пропорционально (синхронно). Индикацией этой синхронности является график взаимной связи (корреляции)  A  и  IS . 

При линейном графике корреляции  A ( IS ),  проходящем через начало координат (через точку IS = 0),  эти величины связаны простым соотношением 

A = K IS ,                                         (14)

где  K = dA / dIS  = const  (угловой коэффициент наклона прямой).  Поскольку IA = A CA ,  то при любых изменениях состава матрицы простое отношение пик-фон  пропорционально искомому содержанию  IA / IS  = K  CA .

При криволинейном графике корреляции A ( IS )  величина  K = dA / dIS  const меняется, и отношение A / IS  будет зависеть от состава матрицы, т.е. условие (12)  не может быть выполнено.

Если график корреляции  A ( IS )  представляет прямую,  не проходящую через начало координат, а пересекающую ось  IS  в точке I0  (прямая «сдвинута» по оси IS),  уравнение корреляции запишется

A = K ( IS  - I0        )                                (15)

В этом случае условие (12)  будет выполнено, если  в  качестве аналитического параметра использовать не простое отношение пик-фон,  а  отношение  интенсивности аналитической линии к  «исправленному» внутреннему стандарту

R = IA  / ( IS  -  I0  )  = K CA ,                        (16)

которое не зависит от состава матрицы, поскольку K  = const.

Таким образом,  для определения низких содержаний CA  наличие линейной корреляции A и IS  является необходимым условием эффективного применения способа стандарта-фона, при этом формула (16) дает более общее выражение аналитического параметра, чем простое отношение пик-фон  (11), являющееся его частным случаем.

Используя формулу (16) можно рассчитать искомое содержание

CA = R  /  K = [ IA  / ( IS  -  I0  )] /  dA / dIS        .                        (17)

Отношение  dA /dIS  в способе стандарта-фона является удельным параметром  аналогично тому, как  в способе внешнего стандарта, где аналитическим параметром служит просто интенсивность IA , а удельным параметром A .  Обозначая  удельный параметр R1 = A  / IS , из формулы (11) получим общую формулу для расчета содержаний в способе стандарта-фона

CA = R  / R1 .                                (18)

Из условия (12) следует, что удельный параметр R1  при низких содержаниях  не должен зависеть от состава матрицы.  Экспериментальная проверка этого условия выполнена на примере одного из важнейших аналитов в составе  полиметаллических руд - никеля (Z=28), определение которого в рудах и продуктах их переработки является типичной и важной задачей РФА.

На  рис. 7  приведены  теоретические графики отношений  INi / Iкг  и  INi / Iнк  в пробах с одинаковым содержанием никеля СNi = 1% , но с различными  однородными матрицами,  которые в разных сочетаниях могут быть ингредиентами реальных минеральных проб (C,  CO2 , MgO,  SiO2, CaO,  FeS2). Поскольку  СNi = 1% ,  интенсивность  nNi  при этом равна удельной  интенсивности  Ni , а отношение nNi / nS  - удельному параметру  R1Ni = Ni / nS  для способа стандарта-рассеянного излучения.

Рис. 7.  Теоретическая зависимость удельного параметра  R1Ni= Ni / Iот ослабляющих свойств матрицы. 1- Ni / Iкг  2 - Ni / Iнк  3 - Ni / IsT  4 - Ni /( Iнк + 1,2)

Как видно,  в этом весьма широком диапазоне матриц,  в котором  mi изменяется более чем на порядок (от 5,64 в чистом углероде до 228 см2/г  в пирите FeS2), при использовании комптоновского пика Iнк  будет достигнута вполне удовлетворительная компенсация матричного эффекта, поскольку  Ni / Iнк  практически постоянно (кривая 2).  При использовании когерентно рассеянной линии такой компенсации нет, т.к. отношение Ni / Iкг изменяется в несколько раз (кривая 1), сильно возрастая в легких матрицах, где  интенсивность  nкг  ничтожно мала. Рассеянное тормозное излучение IST, при котором оба вида рассеяния происходят одновременно и суммируются, в легких матрицах дает такой же эффект, как преобладающее некогерентное рассеяние, но в широком диапазоне  состава наполнителей полной компенсации матричного эффекта нет (кривая 3). 

Вывод о предпочтительности использования комптоновского пика (в коротковолновой части спектра  < 1 )  подтвержден многолетним опытом многих рентгеноспектральных лабораторий, и такой способ РСФА  давно и широко применяется  при анализе геологических и геохимических проб на рудные, редкие и рассеянные элементы, если СА  не превышает 1-3 %.  Он принят на вооружение многими приборостроительными фирмами, которые включают этот способ в пакет своего программного обеспечения.

Результат анализа рассчитывается по измеренным интенсивностям (скоростям счета соответствующих фотонов n [имп/с])  по уравнению

СА = САОС (nнкос /nАос) nA /nнк = KАос  nА  / nнк ,                                (19)

где  KАос = САос (nнк ос /nАос )= nнк ос/ AОС= (R1ОС ) -1 .

При низких содержаниях СА величина  KАос определяется на соответствующем образце сравнения с любым составом матрицы и остается практически постоянной для всех анализируемых проб, т.к. она обратно пропорциональна постоянному удельному параметру.

Тем не менее, теоретически некоторое уменьшение  dmнк /d при возрастании  Z наполнителя (рис. 6)  приводит к слабому увеличению отношения A / Iнк (рис. 7, кривая 2). Избежать этого можно, если учесть,  что при низких содержаниях  (в частности, при CNi= 0,1%)  график корреляции  удельной интенсивности  ηА = IА /СА и  Iнк (рис. 8) – прямая, которая  не проходит через начало координат, а  пересекает  ось  Iнк  в точке  Iо (на рис. 8  nо = - 1,2).  Для этого в величину измеренного внутреннего стандарта nнк нужно ввести постоянную поправку  nо , а  искомое содержание рассчитывать по формуле

СА = KАос nA / (nнк - nо) ,                        (20)

где  KАос = САОС  (nнкос - nо) / nАос .

Рис.  8 Корреляция удельной интенсивности  Ni

и внутреннего стандарта nнк

Этим приемом  введения постоянной поправки no удается  заметно улучшить компенсацию матричного эффекта – отношение удельной интенсивности  к  “исправленному” внутреннему стандарту ( nнк – no )  остается постоянным при изменении состава наполнителя от углерода до сульфида железа - пирита (рис. 7, кривая 4). Введение этой поправки no  в экспе-риментальные данные имеет смысл также из других соображений – для учета постоянной составляющей измеряемого рассеянного излучения (за счет рассеяния на деталях прибора и т.п.), которая «сдвигает» прямолинейный график.

Такой прием оценки линейности графика корреляции A и IS при малых значениях СА и меняющемся составе матрицы позволяет определить целесообразность использования других участков рассеянного излучения, не только некогерентных пиков.

Для иллюстрации этого приема на рис. 9  приведена теоретическая оценка возможности определения иттрия Y (Z=39) с использованием nSкг и nSнк молибденового анода (пиков рассеяния MoK-линий) и тормозного фона nTS .

Как видно, только зависимость Y (nнк) - график I на рис. 9 - удовлетворяет условию (12), поскольку это прямая, проходящая практически через начало координат, а отношение  Y  / nнк представляет ее угловой коэффициент, т.е. является величиной постоянной. Следовательно, аналитический параметр  R = nY /nнк ~·CY при изменении состава матрицы от самых легких породообразующих оксидов CO2 и B2O3  до самого тяжелого Fe2O3 (отметим, что удельная интенсивность аналитической линии Y  уменьшается при этом более, чем в 30 раз).

Рис. 9. Корреляция теоретических значений  Y  и  I(nS)

при изменении состава матрицы

Обозначения графиков  I -  корреляция с Iнк  ; II  - с  Iкг  III -  c  IS Т.

Состав матриц: 1 - Н2О, 2 - В2О3, 3 - СО2, 4 - Na2O, 5 - MgO. 6 - Al2O3, 7 - SiO2,         8 - P2O5, 9 - K2O, 10 - CaO, 11 - Fe2O3.  График IV - с  Iкг для бинарных смесей (различные соотношения В2О3 и  Fe2O3).

Что касается когерентно рассеянного излучения, то при изменении состава наполнителя в широких пределах график  корреляции Y и nкг не линеен (кривая II  на рис. 9), поэтому отношение R/CA будет изменяться при вариациях состава матрицы. Только в частных случаях, если наполнитель представляет собой смеси двух компонентов (например, крайних точек В2О3 и Fe2O3 ) в разных пропорциях при постоянстве их кристаллической структуры, будет наблюдаться прямолинейная корреляция A  и nкг (штриховая линия IV  на рис. 9)  и можно ожидать компенсации матричного эффекта, что и отмечается в ряде работ.

Линия корреляция  Y  с интенсивностью тормозного фона nТS (график III  на рис. 9) достаточно хорошо осредняется прямой, но не проходящей через начало координат, а пересекающей ось абсцисс в точке n0S.  Поэтому простое отношение Y / nТS  будет меняться при переходе от одной матрицы к другой.  Если же из тормозного фона nТS  вычесть значение n0S  ,  то получим угловой коэффициент наклона прямой Y / (nТS - n0S) = const , поэтому  аналитический параметр R = nY/(nТSк - n0S) = constСA  также не зависит от состава наполнителя. Таким образом, при линейном графике A(nS), вводя в рассеянное излучение постоянную поправку n0S ,  можно исключить матричный эффект, а более общим, чем (12), условием применимости способа стандарта-рассеянного излучения при низких СА, будет условие

(21)

где n0S - постоянная, определяемая  по графику корреляции A(nS).

Частным и предпочтительным  вариантом общего уравнения представляется уравнение (20) с использованием комптоновского пика, которое позволяет определять все средние и тяжелые элементы  (ZA = 26 - 92)  при их содержаниях  до 1-3 %  и при любом составе матрицы.  Таким образом практически полностью устраняется матричный эффект именно в той начальной области графиков  IA (CA),  где его влияние максимально.

Но с ростом содержания определяемого элемента начинает проявляться его скачок поглощения, происходит избирательное поглощение первичного и рассеянного излучения,  влияние которого зависит от состава матрицы,  поэтому базовое уравнение (20)  при содержаниях CA  > 3 %  не дает правильных результатов.

2.2.2. Обоснование  универсального  уравнения

и его модификация

После опубликования банка данных по дифференциальным коэффициентам рассеяния и формул для их вычисления нами была предложено логическое продолжение основополагающей  концепции способа – нахождение простого аналитического параметра, функционально связанного только с измеренными интенсивностями флуоресценции и рассеянного излучения и  не зависящего от матричных эффектов.  Такая возможность возникает из предложенного нами принципа построения уравнения для расчета содержания по отношению аналитического параметра R  к удельному параметру  R1  - уравнения (18) и (21).

После преобразования  (17) с учетом общего уравнения (18)

СА =  [ nA / (nнк - nо) ]  / R1ОС  ,                        (22)

где  удельный параметр  определяется  по стандартному образцу сравнения ОС  с низким содержанием  CAОС и любым составом матрицы R1ОС = (KAoc ) -1= (nАос/ САос) / (nнк - nо) =  = AОС / (nнк - nо).

При увеличении  содержаний определяемого элемента,  K-край поглощения которого  KA  находится с длинноволновой стороны от  1 и нк ,  вследствие эффекта избирательного поглощения  nнк  уменьшается быстрее, чем ηА  (т.к. µm1 и µms  увеличиваются быстрее, чем µmi),  и удельный параметр R1  возрастает.  Но  это увеличение R1  линейно  коррелирует  с интенсивностью nА , что иллюстрируется графиком на рис. 10, построенным по  теоретическим значениям интенсивностей  NiK и некогерентно рассеянной RhK-линии.

Рис. 10. Корреляция удельного параметра  R1Ni  и интенсивности аналитической линии nNi  в различных породообразующих компонентах.

Как видно,  для всех компонентов матриц графики R1 (nNi)  достаточно  близки и их можно аппроксимировать одной усредняющей прямой  R1 = 0,050 + 0,0027 nNi , где свободный член R10  = 0,050  и является частным значением параметра R1 при низких концентрациях никеля, а 0,0027 - угловой коэффициент наклона прямой.  Поскольку матрицы реальных проб состоят из смеси этих компонентов, для расчетов по уравнению (22)  в него можно подставить значение R1, описываемое уравнением аппроксимирующей прямой во всем диапазоне содержаний независимо от состава матрицы:

CA =  R / (R1 = 0,05 + 0,0027 nNi ) .                                       ( 23 )

Эффективность применения этого уравнения при определении никеля иллюстрируется следующими графиками:

Рис. 11. Градуировочные зависимости для определения содержания никеля в различных компонентах матриц минеральных проб

а – по интенсивности nNi (способ внешнего стандарта)

б по базовому уравнению способа стандарта-фона (20)  nNi / (nнк – n0)

в – по уравнению (23) CA = R / (R1 = 0,05 + 0,0027nNi )

Как видно, при изменении состава матрицы от углерода и самого легкого породообразующего окисла MgO до самого тяжелого FeS2  интенсивность nNi при одном содержании изменяется почти на 2 порядка (рис. 11а), особенно сильно при низких содержаниях никеля. Базовая формула (20) способа стандарта-фона устраняет матричный эффект поглощения именно в этой начальной области содержаний  (при CA < 1%), где влияние матричного поглощения максимально (рис. 11б),  но затем графики nNi / (nнк – n0)  расходятся.

Эта неоднозначность устраняется применением  уравнения (23), являющегося частным случаем уравнения (22), во всем диапазоне содержаний  до 70-80% никеля  (рис. 11в) практически даже в чистых компонентах матриц  (от самого легкого окисла MgO и основного силикатного окисла SiO2  до самого тяжелого компонента пирита FeS2).

Таким образом, при наличии в пробах одного рудного элемента общее уравнение (22) обеспечивает адекватную точность анализа во всем диапазоне его содержаний.

Но в полиметаллических рудах и продуктах их обогащения присутствуют значительные количества других рудных элементов с краями поглощения между первичным излучением и аналитической линией, и тогда рудные элементы становятся взаимно мешающими - их присутствие приводит к дополнительному избирательному поглощению. 

Так, при определении никеля мешающим элементом является медь, K-край поглощения которой расположен между λнк и λNiKα , поэтому даже при низком CNi  удельный параметр R/Ni  будет зависеть от CCu - содержания мешающего.  При малом CCu параметр R1= R10 , как и при его полном отсутствии.  C ростом CCu из-за избирательного поглощения первичного и некогерентно рассеянного излучения атомами мешающего элемента (меди) интенсивность nнк  уменьшается  быстрее, чем удельная интенсивность определяемого элемента ηА ,  а  величина R1  возрастает.  Но и  в этом случае сохраняется близкая к линейной  корреляция удельного параметра  определяемого элемента (никеля) R1Ni  и интенсивности флуоресценции мешающего элемента nM  (CuKα)  во всем диапазоне изменений содержаний меди CM (до 70-80%),  а зависимости  R1Ni(nM)  для всех компонентов матриц аппроксимируется  уравнением  прямой R1 A = R10 + bM nM .

Такая же линейная корреляция  удельного параметра  R1A  и интенсивности  nM  наблюдается для всех мешающих  элементов во всех компонентах матриц.  Поэтому в общем случае, при наличии в пробах всех (нескольких) мешающих элементов и широком диапазоне определяемых содержаний элемента  А величина  удельного параметра R1A  может  быть  определена  по  уравнению:

R1A =  R10  + aА nА  + bM  nM  ,                                (24)

где  aА  и bм - постоянные при определении одного элемента А  в присутствии нескольких мешающих М,  это угловые коэффициенты  соответствующих линейных корреляций удельного параметра R1A  и интенсивностей nА  и nM .

Такое построение корреляционных зависимостей, не выраженных в явной функциональной форме, аналогично математической связи функций, заданных параметрически (в данном случае величины  R1 , nА , nM  являются  функциями одинаковых аргументов  µm ).

После нахождения всех коэффициентов aА и bм содержание определяемого элемента  А  можно рассчитать по уравнению

СА  =  .    ,                        (25)

которое названо универсальным, поскольку оно применимо для расчета всех возможных содержаний определяемого элемента при любом составе матрицы и любых содержаниях мешающих элементов.

Предлагаемый приём устранения матричных эффектов основан не на определении состава матрицы, как это производится в системах уравнений связи (способах фундаментальных параметров, теоретических поправок и эмпирических регрессионных уравнений связи), а на составлении нелинейного уравнения (25),  вид которого практически не зависит от состава матрицы.  Вследствие этого отпадает необходимость измерять интенсивность флуоресцентных линий основных компонентов матрицы,  для его реализации достаточно измерений только интенсивности аналитической линии nA и линии внутреннего стандарта (некогерентного пика nнк),  а также флуоресцентных линий nM  обычно незначительного числа мешающих элементов.

Уравнение (25) было успешно апробировано на  рудах и продуктах переработки ряда металлов: тантала,  железа,  меди и молибдена, пульпах полиметаллических руд,  а также  в более сложном случае - при определении цинка, свинца и меди в комплексных рудах ряда месторождений и всех видах продуктов их переработки.  Как показано в работе 2 на теоретических моделях, при анализе редкометальных руд (стронция, бария, ниобия и тантала) в порошках  тонкого помола оно обеспечивает более точные результаты,  чем другие модификации способа стандарта-фона.

Однако это уравнение оказалось ограниченно применимым, т.к. для определения постоянных коэффициентов предусматривалось использование большого количества образцов сравнения, содержащих в определенных пропорциях определяемые и мешающие элементы.  Кроме того, точность анализа не всегда соответствовала установленным стандартам качества, что обусловлено использованием усредненной линейной корреляции параметра R1  с интенсивностями nА  и  nM .  Для улучшения метрологических характеристик анализа нами было предложено  в уравнение (25) дополнительно ввести квадратические члены (пропорциональные nА2  и  nм2),  учитывающие нелинейность корреляционных зависимостей параметра R1  от nА  и  nм.  Кроме того, по аналогии со способами эмпирических уравнений связи, в расчетном уравнении  используется не выраженная функционально корреляция величины R1 с интенсивностью комптоновского пика  nнк ,  которая  также  нелинейна.

На основании высказанных соображений удельный параметр R1  предложено рассчитывать его с учетом  этих  эффектов  второго порядка:

R1A = R10 + aА nА + Σ bмnм+ bнкnнк+ d нк nнк2 + dA nА2+Σ dмnм2         (26),

где  коэффициенты  bнк  , d нк ,  dA , dм в дополнительных членах  также являются постоянными.

После подстановки уравнения (26) в (18)  получаем модифицированное универсальное уравнение для реализации способа стандарта-рассеянного излучения:

СА  =  .   (27).

Насколько эффективен дополнительный учет корреляций удельного параметра R1 с интенсивностью  nнк  и введение квадратических членов показало сравнение результатов РФА по двум вариантам универсального уравнения (25) и (27)  с аттестованными значениями содержаний меди. В интервале содержаний меди от 0,312 до 66,8%  (было использовано 29 стандартных образцов) среднее  относительное расхождение с аттестованными значениями при расчетах по уравнению (25)  составило 7,9%,  а при использовании модифицированного уравнения (27)  оно уменьшилось до 2,8%.

Модифицированное универсальное уравнение может быть использовано для определения более тяжелых элементов, у которых края поглощения расположены с коротковолновой стороны от нк (например, серебро, палладий), при этом удельный параметр R1  с увеличением их содержания будет уменьшаться,  но так же линейно коррелировать с интенсивностями аналитических линий.

Вывод уравнения (27) построен на теоретических зависимостях, полученных для гомогенных проб и учитывающих основной матричный эффект – матричное поглощение первичного и вторичного излучения.  Влияние вторичного возбуждения и гетерогенности проб еще более усложняет матричные зависимости.  Но модифицированное уравнение (27)  дает новый алгоритм построения градуировочной характеристики,  легко реализуемый и автоматизируемый благодаря минимальному числу измерений и простым вычислениям.  Для его реализации необходимо иметь градуировочный массив реальных продуктов с известными содержаниями аналитов,  охватывающими  весь диапазон содержаний определяемых и мешающих элементов.  Постоянные коэффициенты  aA,  bM ,  bнк , dнк ,  dA ,  dM ,  n0  определяются методом  множественной регрессии  по измерениям этих реальных продуктов,  которые точно так же, как и анализируемые пробы, тщательно измельчаются, что обеспечивает стабилизацию микроабсорбционных неоднородностей. При этом автоматически учитываются все матричные эффекты: как наиболее значимое матричное поглощение, с учетом которого и получено универсальное уравнение, так и вторичное возбуждение, и влияние микроабсорбционных неоднородностей.  Последнее дает основание утверждать, что при выполнении указанных условий его применения модифицированное уравнение является физически обоснованным регрессионным уравнением связи, охватывающим весь диапазон определяемых содержаний.

2.3.  Исследование возможностей применения резонансного комбинационного рассеяния РКР

Этот вид рассеяния связан с аномальным когерентным рассеянием вблизи краев поглощения, когда энергия фотонов приближается к краю поглощения и вследствие взаимодействия собственных и вынужденных колебаний электронов атома начинают проявляться резонансные явления. Это приводит, во-первых, к резкому уменьшению интенсивности когерентного рассеяния (поправка F на аномальное рассеяние), а во-вторых, к появлению вторичных фотонов с энергией, меньшей  первичной энергии фотонов Е1 на значение энергии связи электронов уровней, лежащих выше резонансного. В оптической спектроскопии явление комбинационного (рамановского) рассеяния известно давно и широко используется.  В рентгеновском диапазоне комбинационное рассеяние было открыто лишь в 1974 г.  К. Спарксом.  Мы показали, что этот вид рассеяния, названное резонансным комбинационным рассеянием (РКР), может быть использовано в РФА и рентгеновской спектроскопии.

В соответствии с квантовомеханической теорией  в процессе РКР один электрон  K-оболочки переводится в зону проводимости, даже если  Е1 <  Ек + EF  (ЕF - уровень Ферми).  Такой переход оказывается возможным благодаря сложению амплитуд вынужденных и собственных колебаний K-электронов.  Из начального состояния возбуждения атом выходит чаще всего в конечное состояние с LIII - вакансией (на LIII – подуровне) и выбросом электрона на свободный внешний дискретный  p-уровень (с определенным главным квантовым числом)  или в непрерывный спектр,  а в результате этих переходов атом излучает фотон РКР,  обозначаемый  R1 (по аналогии с флуоресцентной K1 –линией) с энергией  EРК = ER1=  E1 – (EL3 + EF). Если вакансия на K-уровне заполнится электронами с других вышележащих уровней (например, LII  или M-уровня), появятся соответствующие линии РКР (R2 или R). 

Когда энергия первичного фотона ненамного превышает энергию К-края поглощения, одновременно с РКР происходит фотоэлектрическое поглощение и эмиссия флуоресцентных линий, из которых самая интенсивная  K1-линия совпадает с фотонами РКР  R1. Поэтому линии РКР практически можно наблюдать только при энергиях Е1, меньших, чем энергия  K-уровня.

Для наблюдения отдельных линий РКР нужен интенсивный источник монохроматического излучения и спектрометр очень высокого разрешения, с аппаратурной шириной линии <1 кэВ.  Такие измерения возможны только с применением синхротронного излучения.  Суммарный пик РКР, обусловленный всем L-уровнем, удается наблюдать, используя характеристическое излучение рентгеновской трубки, монохроматизированное с помощью кристалла, и полупроводниковый спектрометр.

Для изучения возможностей использования РКР  в РФА на базе коротковолнового кристалл-дифракционного спектрометра ФРС-2 нами была построена специальная установка. 

РИС. 12.  Схема установки для наблюдения РКР.

Излучение рентгеновской трубки (РТ) с молибденовым анодом направляется прямо на кристалл-монохроматор (КМ) кварца (1011) в высоко-разрешающей рентгенооптической схеме Кошуа, что позволяет выделять любую из линий K-серии молибдена и направлять ее на рассеивающий образец  (пробу П), который помещается за узкой щелью (0,1 мм) на фокальном круге.  Вторичное рассеянное излучение (nS)  регистрируется Si(Li)-детектором (ППД)  и 4096-канальным анализатором импульсов (АИ) NS-720 фирмы "Princeton Gamma-Tech."  при реальном разрешении всего спектрометра 150 эВ  по линии 5,9 кэВ.

На рис. 13 приведены некоторые спектры, полученные на этой установке при облучении  чистых металлов (Be, Al, Cu, Zr, Nb, Mo) только одной MoK1-линией (Е1=17,48 кэВ).  Спектры нормированы по интенсивности комптоновского пика nнк.

РИС. 13.  Энергодисперсионные спектры рассеянного излучения MoK1-линии вблизи К-краев поглощения.

Во вторичном спектре образцов всех металлов  четко выделяются пики когерентного nк и некогерентного nнк рассеяния MoK1-линии (Е1=17,48 кэВ).  Относительное значение nк возрастает с ростом Z рассеивающего элемента. Исключением является только образец циркония, так как первичное излучение располагается вблизи его K-края (17,999 кэВ), что вызывает резонансное уменьшение сечения когерентного рассеяния daк/d  (дисперсионная поправка F)  и появление в спектре циркония четкого пика РКР (nрк),  отстоящего от nк на расстояние EL циркония. Менее интенсивный пик nрк виден в спектре ниобия, K-край которого расположен дальше от Е1, и совсем слабый - в спектре молибдена.  В остальных спектрах линии РКР не проявлены, так как значение Ек этих элементов весьма значительно отличается от Е1.

Как видно, при Е1 Ек в спектрах четко проявляются резонансные эффекты. Поскольку при этом пк уменьшается, а nрк увеличивается, наиболее сильно будет меняться отношение nрк /nк.  Так, при рассеянии MoK1-линии для циркония это отношение равно 0,17, для ниобия - 0,016, а для молибдена всего 0,003.  Если же в качестве первичного излучения использовать MoK1-линию, условие резонанса будет выполняться для молибдена, причем более точно, чем в предыдущем случае для циркония. Тогда на образце чистого молибдена при тех же условиях измерений  (угол рассеяния =135°)  отношение  nрк / nк  возрастает до 0,38.

Проведенное исследование позволило сформулировать аналитические принципы использования РКР:

- по энергетическому сдвигу линии РКР относительно флуоресцентной линии элемента или когерентной первичной линии можно судить о фазовом состоянии элемента, поскольку  влияние химической связи на положение линии РКР определяется энергией только одного уровня,  более чувствительного к изменению химической связи, чем флуоресцентные линии, положение которых определяется разницей энергий двух одновременно реагирующих уровней;

- по отношению интенсивностей РКР и когерентного рассеяния в области аномальной дисперсии и за ее пределами можно определять  содержание элемента, край поглощения которого  с коротковолновой стороны приближен к первичному излучению.

3.  ПРАКТИЧЕСКОЕ  ПРИМЕНЕНИЕ  РФА  МИНЕРАЛЬНОГО  СЫРЬЯ

НА ПРИНЦИПАХ ИСПОЛЬЗОВАНИЯ РАССЕЯННОГО  ИЗЛУЧЕНИЯ

3.1.  Определение редких и рассеянных элементов в горных породах

Для решения этой, одной из важнейших аналитических задач при геологических и геохимических исследованиях, способ стандарта-рассеянного излучения (стандарта-фона) является оптимальным методическим принципом РФА. 

Автор диссертации в течение многих лет участвовал во внедрении и развитии этого методического подхода в производственных и научных лабораториях, где анализировались минеральные пробы на многие редкие и рассеянные, а также рудные элементы: Rb, Sr, Y, Zr, Nb, Mo, Ta, U, Th, Pb.

Одним из типичных и  востребованных при геохимических исследованиях микроэлементов является иттрий. Как было показано в разделе 2.3.1 на основе теоретических расчетов, наилучшим внутренним стандартом для его определения является некогерентно рассеянный пик. Этот теоретический вывод полностью подтверждается результатами измерений, полученными на спектрометре ФРС-2 с молибденовой трубкой. На рис. 13  приведены экспериментальные графики корреляции удельной интенсивности K1 -линии иттрия и интенсивности  когерентного nSк  и некогерентного nSнк рассеяния MoK-линии анода и рассеянного тормозного излучения nST рядом с аналитической YK-линией.

РИС. 14. Корреляция экспериментальных значений Y и nS  (Су = 0,1%) в различных наполнителях  (1 - Н3ВОз; 2 - 0,67 Н3ВО3 + 0,33 AI2O3;  3 - А12О3; 4 - СаСО3; 5 - Fe2O3)

а - для некогерентно (/)  и когерентно (II)  рассеянного МоК-излучения;

б - для тормозного фона (III) при  S  = 0,83 .

Как и по теоретическим расчетам, экспериментальные линии корреляции Y c интенсивностью некогерентного пика и рассеянного тормозного прямолинейны,  но пересекают ось абсцисс nS не в начале координат. Поэтому очевидна необходимость корректировать стандарт-фон  на величину noS.  Сильная нелинейность экспериментальной корреляции ηΥ и nкг  не позволяет рекомендовать когерентный пик в качестве внутреннего стандарта.

Насколько  важно введение постоянной поправки n0 в величину внутреннего стандарта иллюстрируется рис. 15, построенным по тем же измерениям, что и рис. 14.

РИС. 15. Изменение отношения удельной интенсивности YK-линии к скорости счета тормозного стандарта-фона nTS  при изменении матриц (их состав см. рис.14)

I - в  качестве  внутреннего стандарта использована  nTS; 

II - стандарт исправлен на значение n0S 

Как видно, отношение удельной интенсивности Y  к стандарту-фону (т.е. удельный параметр R1 ) без введения поправки n0S (пунктирная кривая I) изменяется  в 2 раза,  а  при  введении этой  поправки остается практически постоянным (линия II). Соответственно будет меняться и правильность определения иттрия.

Одной из стратегических целей геологических работ являются поиски и разведка радиоактивного сырья.  Поэтому определение урана и сопутствующих элементов – одна из приоритетных аналитических задач.  В  лабораториях организаций Мингео России массовый РФА на рудные, редкие и рассеянные элементы  ZA = 27Сo – 92U  проводится практически только по методике способа стандарта - некогерентно рассеянных коротковолновых линий рентгеновских трубок с Ag,, Mo и Pd анодами.  Методика во всех аналитических лабораториях регулярно проходит государственную аттестацию.  Для этого используются безвакуумные спектрометры, разработанные для этой цели НПП «Буревестник»: ФРС-2, АРФ-4,  АРФ-6.  В настоящее время предусмотрена разработка новой модели АРФ-7.

Уран в горных породах и даже в рудах является микроэлементом (Сu<0,1%), а наполнители представляют собой разнообразные смеси оксидов породообразующих элементов. Расчет содержаний по измеренным интенсивностям ULа1-линии и некогерентно рассеянного Ка-излучения молибденового анода Ιнк  при отсутствии мешающих элементов ведется по формуле (14).

Но в присутствии элементов  с краями поглощения между аналитической Lа1-линией ( = 0,91 ) и стандартом - некогерентно рассеянной MoK-линией ( = 0,735 ) необходимы поправки. Таким элементом является Sr ,  имеющий  К-край поглощения  вблизи внутреннего стандарта ( = 0,77 ).  Поэтому необходимо ввести поправку, которая определяется по корреляции удельного параметра R1U с интенсивностью ISr .

Рис. 16.  Корреляция  удельного параметра R1U и интенсивности флуоресценции мешающего элемента стронция.  а- теория;  б измерения на ФРС-2

C учетом этой корреляции содержание урана рассчитывается по формуле

CU  = [IU /( Iнк -45)]  · (R10 + bM ISrKa) -1                                (28)

где R10 – удельный параметр при отсутствии стронция ( в масштабе  рис. 13 б  он равен 0,75), bM – угловой коэффициент линейного графика корреляции R1 (ISr )  на рис.13 б.

При анализе горных пород на редкие и рассеянные элементы обычно мешающих элементов нет, и введение поправки не требуется.  Способ стандарта-рассеянного излучения является оптимальной методикой, редко осложненной дополнительными измерениями и вычислениями.  Более сложная ситуация возникает при анализе руд и продуктов их обогащения.

3.2.  Анализ моноэлементных руд и продуктов их переработки

Идеальным полигоном для практической проверки универсального уравнения в самом простом случае – при определении одного элемента и отсутствии мешающих элементов – являются разнообразные железные руды. 

РИС. 17. Корреляция удельного параметра  R1Fe и интенсивности nFe

Для измерений использовался аналитический комплекс на базе  многоканального спектрометра СРМ-18 с рентгеновской трубкой с палладиевым анодом.  Пробы истирались до -300 меш (размер зерен  < 45 мкм ).

В результате усреднения графика R1 (рис. 17) получено единое уравнение

CFe= (nFe/nнк) (0,388 +0, 000212 nFe)-1                                        (29 )

по которому анализировались железные руды самых разных месторождений ( Кольского полуострова, Карелии, Курской МА,  Кривого Рога), а также стандартные образцы руд этих регионов. Состав исходных руд отличается большим разнообразием, еще шире диапазон изменения состава в продуктах переработки (хвосты, немагнитные и магнитные  промпродукты и концентраты), в частности, содержание железа изменяется от 2 до 70%.  Результаты анализа по воспроизводимости и правильности соответствовали всем требованием  отраслевого стандарта качества  ОСТ 48-165-80.

Подобные результаты были получены на других месторождениях с одним рудным элементом: тантала и вольфрама.

3.3.  Анализ полиметаллических руды и продуктов их переделов

РФА с использованием первого варианта универсального уравнения (25) был проведен на комплексных рудах цинка, свинца и меди нескольких месторождений и всех видах продуктов их переработки.  Для анализа использовали спектрометр СРМ-18  (тот же, как и на железо, работы проводились на базе Института Механобр).

Для расчета содержаний свинца рабочая формула аналогична простой формуле (23), т.к. медь и цинк не имеют краев поглощения между некогерентным пиком палладия и аналитической линией свинца PbL1:

CPb= (nPb/nнк) (1,800 +3,00 10-5 nPb)-1                                        (30 )

Для меди мешающими являются оба элемента, и цинк, и свинец,  поэтому расчет производится по общему уравнению с учетом всех интенсивностей

CCu= (nCu/nнк) (0,75 + 2,68 10-5 nCu + 5,60 10-5 nZn+6,4 10-5 nPb) -1       (31)

Для улучшения показателей РФА было получено модифицированное универсальное уравнение (27), которое было применено в лабораториях ЗФ ОАО ГМК «Норильский Никель» для анализа медно-никелевых руд и их переделов на всех стадиях процесса обогащения.  Анализ твердофазных проб проводили на спектрометрах ARL-8660 и ARL-9800 швейцарской фирмы ARL с рентгеновскими трубками 3GH/RH (Rh-анод, 50 кВ, 50 мА).  Для обработки результатов анализа использовали стандартное математическое обеспечение WinXRF,  которое было также адаптировано под универсальные уравнения способа стандарта-фона.  Для определения 4 элементов (никеля, меди, кобальта и железа) использовались их аналитические Kα-линии, а в качестве внутреннего стандарта - некогерентно рассеянное на пробе RhKα-излучение рентгеновской трубки (комптоновская линия с длиной волны λнк = 0,065 нм).  Скорости счета на аналитических линиях (nCu ,  nNi ,  nCo , nFe) и на некогерентно рассеянном пике (nнк )  измеряли при экспозиции 10 секунд.

Разработанный алгоритм построения градуировочной характеристики был основанием для внедрения РФА в систему непрерывного контроля пульповых потоков на Талнахской обогатительной фабрике. Для этого использовалась автоматическая система аналитического контроля (АСАК), разработанная НПП «Буревестник» (Санкт-Петербург) совместно с ЗАО «Технолинк», на базе четырёх анализаторов потока пульпы  АР-31-Н. Каждый анализатор имеет 15 проточных кювет, блок спектрометрических каналов с фокусировкой по Иоганссону, настроенных на NiKα, CuKα, FeKα – линии и некогерентно рассеянное излучение PdKα-линии анода рентгеновской трубки БХВ-8  (40 кВ, 40 мА). Время измерения для каждой кюветы составляет 40 секунд (четыре раза по 10 секунд).

По результатам измерений  nNi , nCu , nCo , nFe,  nнк  на аттестованных балансовых продуктах, охватывающих весь диапазон содержаний определяемых элементов (35 проб),  методом наименьших квадратов рассчитывали коэффициенты в уравнениях  (21).  Для этого была использована программа множественной регрессии WinXRF программного обеспечения спектрометров фирмы ARL, адаптированная для таких расчетов.  В результате были найдены модифицированные универсальные уравнения для расчета содержаний всех определяемых элементов (Ni, Cu, Co, Fe) во всех анализируемых продуктах.  Для элементов (никеля и меди), представляющих основной интерес, получены следующие уравнения:

СNi =  nNi ⋅ (nнк  + 5,87)-1 ⋅ (1,22 + 0,001289 ⋅ nNi + 0,001075 ⋅ nCu + 0,0137 ⋅ nCo +

+ 0,0512⋅nнк -1,64 e-7⋅nNi2 + 3,72 e-7⋅ nCu2 - 9,09 e-6⋅nCo2 - 3,997 e-4⋅nнк2 ) -1       (32)

СCu =  nCu ⋅ ( nнк + 4,45)-1⋅ (1,3588 + 0,000878⋅ nCu + 0,0007308⋅ nNi +

+ 0,03415⋅ nнк + 1,058 e-7 ⋅ nCu 2  - 4,146  e-8 ⋅ nNi2  - 2,726 e-4 ⋅ nнк2) -1               (33)

Аналогичные уравнения  получены также для кобальта и железа.

Было проведено сравнение предложенного алгоритма РФА с традиционным способом уравнений α-коррекции, при котором  требуется индивидуальное уравнение для каждого продукта или группы близких по составу продуктов.  Более 300 проб различных технологических продуктов Норильского комбината (хвосты, шлаки, никелевый, медный концентрат, штейн никелевый ПВП, файнштейн медно-никелевый, медный штейн, пирротиновый концентрат, никелевые обороты, смесь никелевых концентратов с содержаниями аналитов и сопутствующих элементов от 0,01 до 70%) были проанализированы также по 40 уравнениям способа α-коррекции. В таблице 1 приведены результаты сравнения точности анализа с использованием обоих способов по некоторым продуктам, соответствующих максимальному разбросу содержаний аналитов (приводятся среднеквадратические расхождения РФА с результатами атомно-эмиссионного и атомно-абсорбционного контрольных методов). Как видно, точность полученных результатов по 4 модифицированным универсальным уравнениям (по одному на каждый определяемый элемент)  не уступает точности  анализа по 40 уравнениям связи.

Таблица 1.  Сравнение точности результатов анализа различных технологических продуктов двумя способами РФА

Название продукта

Определяемый элемент

Среднее содержание%

Относительное среднеквадратическое расхождение с результатами  контрольных методов,  %

Модифицированное

уравнение

Уравнения α-коррекции

Хвосты отвальные

Cu

0,15

4,8

6,5

Ni

0,52

5,6

4,8

Co

0,018

11,1

17,8

Fe

34,7

1,7

1,7

Никелевый штейн ПВП

Cu

17,7

1,6

1,7

Ni

31,5

1,9

1,6

Co

0,65

4,6

3,1

Fe

26,2

2,1

1,7

Файнштейн медно-никелевый

Cu

43,8

1,1

1,1

Ni

30,5

1,6

1,3

Co

0,80

2,9

2,5

Fe

2,65

5,3

4,2

Медный штейн ПЖВ

Cu

60

1,2

1,3

Ni

10,5

2,7

2,5

Co

0,21

3,7

4,2

Fe

6,28

2,4

4,0

Смесь никелевых концентратов

Cu

3,75

4,0

3,7

Ni

8,2

2,7

2,6

Co

0,36

2,2

3,3

Fe

45,0

1,6

1,7

Для характеристики правильности результатов РФА руд и продуктов их переработки, получаемых при использовании модифицированных универсальных уравнений, производится  рентгеноспектральные определения никеля и меди в стандартных образцах состава, аттестованных другими методами (АЭСА-ИСП, ААСА). В самом широком диапазоне содержаний (никеля 0,03-65%  и меди 0,092-70%) систематических расхождений результатов РФА и номиналов СОС не наблюдается, что подтверждается и оценками по критерию Стьюдента.

Модифицированное универсальное уравнение  в течение ряда лет (с 1998 года) используется в рентгеноспектральных лабораториях Норильского комбината для определения содержаний полезных компонентов в руде и во всех продуктах её обогащения (в том числе, при непрерывном контроле процесса флотации в пульпе). Точность используемого способа обеспечивает выполнение требований отраслевых стандартов.  При этом заметно увеличилась производительность и надежность определений, внедрение новой модификации РФА позволило существенно сократить время и затраты на калибровку и перекалибровку анализаторов, оперативно вводить их в эксплуатацию для непрерывного автоматического контроля пульповых потоков, стабильно и точно вести технологические процессы обогащения.  Так, анализ 10 балансовых продуктов  на 4 элемента (Ni, Cu, Co, Fe)  при традиционной методике требует составления 40 уравнений связи, для определения коэффициентов в них необходимо более 300 образцов сравнения. При общем числе продуктов НГМК около 100 требуется составление более 400 уравнений связи и порядка 3000 градуировочных образцов сравнения.  Использование модифицированного универсального уравнения позволяет анализировать все продукты по 4 уравнениям (одно на каждый определяемый элемент), для определения коэффициентов в которых необходим градуировочный массив из 30-40 образцов сравнения. 

На основе рассматриваемого алгоритма на Талнахской обогатительной фабрике (ТОФ) создана автоматическая система аналитического контроля (АСАК) для анализа пульповых потоков.  Система разработана НПП «Буревестник» (Санкт-Петербург) совместно с ЗАО «Технолинк» на базе четырёх анализаторов потока пульпы  АР-31-Н. Каждый анализатор имеет 15 проточных кювет, блок спектрометрических каналов с фокусировкой по Иоганссону, настроенных на NiKα, CuKα, FeKα – линии и некогерентно рассеянное излучение PdKα-линии анода рентгеновской трубки БХВ-8.  Время измерения для каждой кюветы (каждого потока пульпы) составляет 40 секунд (четыре раза по 10 секунд). В циклическом режиме непрерывно с периодичностью 15 минут система выполняет измерения на каждом из четырёх спектрометров в соответствии с циклограммой работы. После завершения измерений на последней (15-й) кювете следует возврат спектрометрического блока на первое гнездо системы калибровки и ожидание начала следующего цикла.

Для расчётов содержаний никеля и меди в каждом потоке пульпы по двум модифицированным универсальным уравнениям (32) и (33) используются откорректированные скорости счёта, адаптированные на каждом анализаторе по 10-15 реперным образцам к базовым спектрометрам, на которых проведена градуировка уравнений.  Поскольку анализаторы АР-31-Н  выполняют автоматическое измерение интенсивностей на каждой кювете,  это позволяет определять содержания меди и никеля во всех двадцати шести пульповых продуктах в соответствии с циклограммой работы Талнахской обогатительной фабрики. Правильность результатов определения никеля и меди на пульповых спектрометрах проверяется периодическим отбором твердофазных проб и их анализом по аттестованной методике атомно-эмиссионного методом анализа с индуктивно-связанной плазмой. Систематических расхождений результатов РФА и АЭСА не наблюдается, что подтверждается оценками по критерию Стьюдента и свидетельствует о достаточной степени надёжности и достоверности результатов АСАК на основе непрерывного РФА по предложенному алгоритму.

3.4. Возможности разработанного алгоритма РФА

в системе аналитического контроля 

производства драгоценных металлов

После успешного производственного внедрения универсального алгоритма для анализа полиметаллических руд и их переделов он был применён в более сложной ситуации - для анализа продуктов производства  платиноидов.  При этом требуется определение содержаний  Ag, Pd, Rh, Ru,  Pt и Au, поэтому  необходимо использовать трубку с Mo-анодом.  Особенность применения нового алгоритма заключается в том, что края поглощения определяемых элементов располагаются в широком волновом диапазоне и находятся по разные стороны от линии внутреннего стандарта – рассеянной MoK-линии.

Поскольку  L-края  поглощения тяжелых элементов - Pt и Au - находятся с длинноволновой стороны от MoK,  в этом случае удельный параметр R1  увеличивается (рис. 18) с ростом интенсивности аналитических линий, так же как это было для никеля и меди.

РИС. 18.  Теоретическая корреляция удельного параметра при определении платины

R1Pt = [(npt / (nнк- no)] / Cpt

и интенсивности nPtL  в разных матрицах (Pd  и  FeS2)

Для остальных, более легких элементов - Pd, Ag, Rh, Ru, K-края которых располагаются  с коротковолновой стороны от внутреннего стандарта,  корреляция будет иметь обратный знак (для палладия - рис.19).

РИС. 19.  Корреляция удельного параметра R1Pd  и интенсивности  nPdK

в разных матрицах :FeS2  и Pt +FeS2 (1:4)

Для оценки возможностей разработки методики РФА на принципе использования модифицированного уравнения были проведены измерения реального массива твердофазных продуктов металлургического цеха  Заполярного Филиала ОАО «ГМК «Норильский никель»- шламов, кеков, шлаков и концентратов.

Анализ проводился на волноводисперсионном многоканальном спектрометре ARL,  оснащенном рентгеновской трубкой с молибденовым анодом.  В качестве аналитических использовались K-линии Ag, Pd, Rh, Ru  и  L-линии  Pt и Au, а в качестве внутреннего стандарта – некогерентно рассеянное MoK- излучение рентгеновской трубки.  Твёрдофазные продукты после доизмельчения до крупности 75 микрон в мельнице фирмы  «Herzog»  прессовались в таблетки с подложкой из борной кислоты.  Результаты РФА  контролировались по аттестованным методикам выполнения измерений (МВИ) на основе традиционных методов анализа драгоценных металлов (классических - пробирной плавки в никелевый штейн, гравиметрии, титриметрии, атомной абсорбции, атомной  эмиссии с ИСП и масс-спектрометрии).

Статистическая обработка  результатов измерений градуировочного массива образцов позволила получить рабочие уравнения для всех 6 платиноидов, в частности,  для определения платины и палладия:

CPt = [nPt / (nнк + 0,415)] (0,00256 + 3,57 e-06 nPt  + 0,00018 nAu + 3,4 e-06 nSe +

+ 0,0543 nнк + 6,29 e-08 nPt2 - 1,4 e-06 nAu2 + 2,12 e-09 nSe2 - 0,02475 nнк2 ) -1 (34)

CPd = [ nPd / (nнк + 0,64)] ( 0,4387 + 7,5 e -05 nPd  -  8,3 e-05 nAg + 0,01126 nнк +

+ 1,27 e-08 nAg2 + 1,5 e-09 nPd2 -1,9 e-05 nнк2 ) -1                                 (35)

Сравнение результатов РФА, полученных по этим уравнениям, с результатами контрольных методов показывает высокую степень точности результатов, получаемых по универсальному алгоритму РФА.  В широком диапазоне определяемых содержаний всех драгоценных металлов при значительном изменении состава твёрдофазных проб существует реальная возможность получения приемлемой точности анализа без разрушения твёрдой фазы образца. Это позволит существенно снизить стоимость выполнения КХА  и  в десятки раз повысить оперативность в получении достоверной аналитической информации.

Поскольку аналитический контроль производства платиновых металлов в настоящее время базируется, в основном, на недостаточно экспрессных методах, требующих перевода проб в удобную фазу для растворения, разделения и концентрирования компонентов, предлагаемая экспрессная методика РСФА представляется перспективной.  Ее производственное внедрение включено в планы рентгеноспектральной лаборатории ЗФ ОАО “ГМК «Норильский Никель»,  что должно дать значительный экономический эффект.

ВЫВОДЫ

1.  Разработан новый методологический подход к количественному рентгенофлуоресцентному анализу сложных многокомпонентных объектов на принципах использования рассеянного излучения, основанный на теоретических и экспериментальных исследованиях процесса рассеяния рентгеновского излучения в условиях рентгеноспектрального анализа.

2.  Создан банк дифференциальных и интегральных коэффициентов рассеяния, рассчитанных на основе квантовомеханических форм-факторных  данных, а также выведены формулы, аппроксимирующие сложные зависимости  атомных дифференциальных коэффициентов рассеяния от длины волны, атомного номера элемента и угла рассеяния.

3.  На основе экспериментальных исследований определен принцип расчета интенсивности рассеянного излучения в условиях рентгеноспектральных измерений с кристалл-дифракционной аппаратурой - по формулам диффузного рассеяния как для некогерентного комптоновского, так и для  когерентного рассеяния.

4.  Проведены экспериментальные исследования резонансного комбинационного рассеяния и показаны возможности его использования для изучения характера химических связей элементов и для количественного элементного анализа.

5.  На основе установленных фундаментальных зависимостей интенсивности рассеянного излучения усовершенствована общая методология РФА по способу стандарта-рассеянного излучения: предложен новый принцип составления уравнения для расчета содержаний элементов  с использованием в качестве аргумента удельного аналитического параметра и обосновано простое универсальное уравнение для определения аналитов во всем диапазоне содержаний от предела обнаружения до практически моноэлементных образцов. Разработанные на этом принципе методики РФА горных пород, руд и продуктов их переработки внедрены  в практику ряда научно-производственных  лабораторий  (Института Механобр, Орловского Горно-обогатительного комбината в Забайкалье,  Джезказганского полиметаллического комбината в Казахстане).

6.  Предложен новый алгоритм построения градуировочной характеристики РФА по способу стандарта - рассеянного излучения (модифицированное универсальное уравнение),  позволяющий проводить анализ с применением минимального количества стандартных образцов.  Показано, что модифицированное уравнение  применимо для анализа твердофазных проб с большими содержаниями мешающих элементов, вызывающих избирательное поглощение и вторичное возбуждение. Предложенное уравнение является вариантом физически обоснованного регрессионного уравнения, которое при условии стабилизации микроабсорбционных неоднородностей работает во всем диапазоне изменений содержаний определяемых элементов и состава матриц.

7.  Предложенный алгоритм прошел апробацию на  реальных многокомпонентных образцах минерального сырья, внедрен и используется в производственных условиях в системе аналитического контроля состава полиметаллических руд и продуктов их переработки в лабораториях Норильского ГМК, а также в АСАК технологического процесса флотационного обогащения медно-никелевых руд на Талнахской обогатительной фабрике. Применение разработанной методики дает значительный экономический эффект.

8.  На основе успешного внедрения алгоритма для анализа полиметаллических руд и продуктов их переработки показаны возможности усложнения объектов анализа на принципах модифицированного уравнения и обоснованы возможности применения разработанного алгоритма для выполнения РФА в системе аналитического контроля производства драгоценных металлов.  Его производственное внедрение включено в планы рентгеноспектральной лаборатории ЗФ ОАО “ГМК «Норильский Никель».

Общим итогом выполненной работы является теоретическое и экспериментальное обоснование нового направления в рентгенофлуоресцентном анализе на принципах использования рассеянного излучения и  создание на его основе общих алгоритмов и конкретных методик РФА минерального  сырья  и  продуктов  его  переработки.

Основное содержание диссертации опубликовано в следующих работах:

1.  Бахтиаров А.В.  Рентгеноспектральный флуоресцентный анализ в  геологии  и  геохимии (монография) - Л.:  Изд-во Недра, 1985. - 144 с.

2.  Бахтиаров А.В.,  Чернобережская С.А.  Коэффициенты рассеяния рентгеновских лучей // Аппаратура и методы рентгеновского анализа. Л., Машиностроение. -1972. - вып.11. - С. 200-218.

3.  Бахтиаров А.В.,  Пшеничный Г.А.  Формулы для приближенного расчета дифференциальных сечений рассеяния рентгеновского излучения малой энергии  // Аппаратура и методы рентгеновского анализа. Л., Машиностроение. - 1973. - Вып.12. - С. 68-72.

4.  Бахтиаров А.В., Николаев В.П., Межевич А.Н.  Исследование применимости способа стандарта-фона при определении тяжелых элементов в легких средах рентгеноспектральным флуоресцентным методом // Аппаратура и методы рентгеновского анализа. Л., Машиностроение. -1974. - Вып.13. - С. 140-152.

5.  Бахтиаров А.В., Сериков И.В.  Рассеяние рентгеновского излучения в условиях рентгеноспектрального анализа // Аппаратура и методы рентгеновского анализа. Л., Машиностроение. - 1977. - Вып.19.  С. 3-13.

6.  Бахтиаров А.В.,  Блохин М.А.,  Мейер В.А.  Исследование фона коротковолнового спектрометра по Кошуа  с использованием ППД высокого разрешения  // Аппаратура и методы рентгеновского анализа. Л., Машиностроение. - 1977. - Вып.19. - С. 118-133.

7.  Бахтиаров А.В. Возможности способа стандарта-фона в рентгеноспектральном флуоресцентном анализе  // Аппаратура и методы рентгеновского анализа. Л., Машиностроение. -1978. - Вып.21. - С. 3-15.

8.  Бахтиаров А.В., Жуковский А.Н., Мейер В.А.  О перспективах конструирования коротковолновых рентгеновских спектрометров // Аппаратура и методы рентгеновского анализа. - Л., Машиностроение. - 1980. - Вып.23. - С.30-37.

9.  Крекнин Ю.С.,  Рогачев И.М., Плотников Р.И., Сениченкова Т.Г., Бахтиаров А.В. Клейнштюк К., Квернер Г.  Опыт использования способа стандарта-фона при рентгеноспектральном флуоресцентном анализе пульп // Аппаратура и методы рентгеновского анализа. Л., Машиностроение. -1982. - Вып.27. - С. 3-10.

10.  Пшеничный Г.А., Мейер В.А., Кадочников А.Н., Бахтиаров А.В., Жуковский А.Н.  Эффект аномальной дисперсии и его проявление в спектрах  резонансно рассеянного гамма -  и  рентгеновского излучения полупроводникового спектрометра  //  Вестник ЛГУ.-1982. - № 24, - С.33-43.

11.  Авторское свидетельство №1057824  от 01.08.1983.  Пшеничный Г.А.,  Бахтиаров А.В., Кадочников А.Н., Жуковский А.Н.  Способ рентгенофлуоресцентного анализа  химических связей атомов элементов. 

12.  Авторское свидетельство №1074241 от 15.10.1983.  Пшеничный Г.А., Мейер В.А.,  Бахтиаров А.В., Кадочников А.Н. Способ анализа вещества с использованием когерентного  рассеяния гамма- и рентгеновского излучения. 

13.  Верман Н.А.,  Строганов Д.Н.,  Бахтиаров А.В.  Рентгеноспектральный анализ железа в железных рудах и продуктах их обогащения // Обогащение руд. - Л. – 1985.- №2 - С. 13-17.

14.  Авторское свидетельство №1163718  от 22.02.1985. Пшеничный Г.А., Кадочников А.Н.,  Бахтиаров А.В. Жуковский А.Н.  Способ рентгенофлуоресцентного анализа. 

15.  Бахтиаров А.В., Строганов Д.Н., Лукницкий В.А., Верман Н.А. Рентгеноспектральный флуоресцентный анализ  железных руд и продуктов их переработки по универсальному уравнению способа стандарта-фона  //  Заводская лаборатория. - 1986. - т.52  №4.- С. 24-27.

16.  Бахтиаров А.В., Коробейникова Л.П., Коробейников С.И.  Методика рентгеноспектрального флуоресцентного анализа тантала в рудах, минералах и продуктах переработки на редкометальных  месторождениях гранитоидного типа // Вестник ЛГУ, геология. Л. 1988.  Деп. ВИНИТИ  17.05.88  №3842-В88. - 16 с.

17.  Бахтиаров А.В.,  Строганов.Д.Н., Строганова Е.Г., Сидоров А.Ф. Рентгеноспектральное определение рудных металлов в многоэлементных рудах и продуктах их переработки по универсальному уравнению способа стандарта-фона // Журнал аналитической химии. - 1990. - Т. 45, № 10.-  С. 2005-2014.

18.  Патент РФ № 2240543.  Приоритет от 17.10.2002. Макарова Т.А., Бахтиаров А.В.,  Зайцев В.А.  Способ рентгенофлуоресцентного анализа элементного состава вещества. 

19.  Бахтиаров А.В., Зайцев В.А., Макарова Т.А.  Многоэлементный рентгеноспектральный анализ руд и продуктов их переработки по способу стандарта-фона с использованием модифицированного универсального уравнения // Журнал аналитической химии. - 2007.  -  Т. 62. № 4. - С. 395-401.

20.  Зайцев В.А., Макарова Т.А., Барков А.В., Бахтиаров А.В., Москвин Л.Н.  Неразрушающий контроль состава полиметаллических руд и продуктов обогатительного цикла. //  Журнал «Цветные металлы». - 2006. - № 8. - С. 60-67.

21.  Зайцев В.А., Макарова Т.А., Барков А.В.,  Бахтиаров А.В., Москвин Л.Н.  Рентгенофлуоресцентный анализ полиметаллических руд и их переделов в системе автоматического контроля качества. // Заводская  лаборатория. - 2007. - Т.73. №4. - С.3-11.

22.  Zaitsev V.A.,  Makarova T.A.,  Barkov A.V., Bakhtiarov A.V.,  Moskvin L.N. X-Ray Fluorescent Analysis of Complex Ores and Related Conversion Products in an Automated Quality Control System // Inorganic Materials. Pleiades Publishing. - 2008. - V.44. №14. - P. 1559-1566.

23.  Бахтиаров А.В.  Рентгенофлуоресцентный анализ с использованием рассеянного излучения // Заводская лаборатория. 2009. - Т.75. №9. - С. 3-11.


1 Смагунова А.Н.,  Белова Р.А.,  Афонин В.П.,  Лосев Н.Ф. Способ стандарта-фона в рентгеновском  спектральном флуоресцентном анализе // Заводск. лаборатория. 1964.  Т.30.  № 4.  С. 426-431.

2  Павлова Т.О., Филькенштейн А.Л., Воронов А.В.  Сравнение вариантов способа стандарта-фона при РФ определении макрокомпонентов в порошковых пробах. Зав. лаб. Диагностика материалов. Т.66. № 3. С. 6-9.

 





© 2011 www.dissers.ru - «Бесплатная электронная библиотека»

Материалы этого сайта размещены для ознакомления, все права принадлежат их авторам.
Если Вы не согласны с тем, что Ваш материал размещён на этом сайте, пожалуйста, напишите нам, мы в течении 1-2 рабочих дней удалим его.