WWW.DISSERS.RU

БЕСПЛАТНАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ БИБЛИОТЕКА

   Добро пожаловать!


 

На правах рукописи

ОТХМАН Набиль Заки Сабир

метод повышения метрологической надежности

аналоговых блоков информационно-

измерительных систем

Специальность 05.11.16 – Информационно-измерительные и

управляющие системы (технические науки)

АВТОРЕФЕРАТ

диссертации на соискание ученой степени

кандидата технических наук

Тамбов 2012

Работа выполнена на кафедре «Конструирование радиоэлектронных и микропроцессорных систем» в федеральном государственном бюджетном образовательном учреждении высшего профессионального образования «Тамбовский государственный технический университет» ФГБОУ ВПО «ТГТУ».

Научный руководитель

Чернышова Татьяна Ивановна,

доктор технических наук, профессор

Официальные оппоненты:

Федюнин Павел Александрович,

доктор технических наук, профессор,
Федеральное государственное казенное военное образовательное учреждение высшего профессионального образования

«Военный учебно-научный центр Военно-воздушных сил» «Военно-воздушная
академия им. проф. Н.Е. Жуковского и
Ю.А. Гагарина, г. Воронеж», начальник кафедры «Управление воинскими частями связи и радиотехнического обеспечения авиации»

Жуков Николай Павлович,

доктор технических наук, профессор,

ФГБОУ ВПО «ТГТУ», заведующий
кафедрой  «Гидравлика и теплотехника»

Ведущая организация

ФГБОУ ВПО «Липецкий государственный технический университет»

Защита диссертации состоится 20 декабря 2012 г. в 11 часов на заседании диссертационного совета  Д.212.260.05 ФГБОУ ВПО «ТГТУ»
по адресу: 392000, г. Тамбов, ул. Советская, д. 106, Большой актовый зал.

Отзыв на автореферат в двух экземплярах, заверенных гербовой печатью, просим направлять по адресу: 392000, г. Тамбов, ул. Советская,
д. 106, ФГБОУ ВПО «ТГТУ», ученому секретарю совета Д.212.260.05 З.М. Селивановой.

С диссертацией можно ознакомиться в библиотеке ФГБОУ ВПО «ТГТУ».

Автореферат диссертации размещен на официальном сайте ФГБОУ ВПО  «ТГТУ» http://www.tstu.ru.

Автореферат разослан 19 ноября 2012 г.

Ученый секретарь

диссертационного совета Селиванова Зоя Михайловна

ОБЩАЯ ХАРАКТЕРИСТИКА РАБОТЫ



Актуальность работы. В настоящее время среди различных групп средств измерений (СИ) широкое применение получили информационно-измерительные системы (ИИС), характеризующиеся разнообразием выполняемых функций и позволяющие реализовывать достаточно сложные алгоритмы измерения. алгоритмическая, структурная и конструктивная сложность ИИС ставит актуальным вопрос обеспечения необходимого уровня их метрологической надежности (МН).

Под метрологической надежностью понимают свойство средств измерений сохранять во времени метрологические характеристики (МХ) в пределах установленных норм при эксплуатации в заданных режимах и условиях использования, техническом обслуживании, хранении и транспортировании. Следовательно, метрологическая надежность определяется характером и темпом изменения нормируемых метрологических характеристик исследуемого СИ.

Для ИИС наиболее значимым показателем метрологической надежности являются метрологический ресурс (МР), оцениваемый временем пересечения реализаций нестационарного случайного процесса изменения во времени метрологической характеристики границ поля допуска, и вероятность сохранения метрологической исправности в произвольный момент времени эксплуатации.

Как показывают теоретические и практические исследования, наиболее ответственными для ИИС в метрологическом отношении являются аналоговые блоки (АБ), входящие в состав измерительных каналов (ИК) и выполняющие различные функции преобразования измеряемой величины. Преобладание для таких блоков в общем потоке отказов постепенных метрологических отказов, определяемых только при проведении метрологических проверок и вызванных постепенным изменением, а в конечном итоге, выходом за допуск метрологических характеристик, выдвигают на первый план вопрос оценки метрологической надежности аналоговых блоков, входящих в измерительный канал, и ИИС в целом. Кроме того, усложнение ИИС и выполняемых ими функций, а также необходимость модернизации используемой элементной базы, ставят актуальной задачу разработки методов повышения метрологической надежности проектируемых информационно-измерительных систем.

Разработка методов повышения метрологической надежности информационно-измерительных систем с учетом их схемотехнического решения и оптимальный выбор элементной базы являются актуальной задачей, решение которой позволит потребителю проектировать ИИС с требуемым уровнем МН, а также формировать проектные решения по созданию информационно-измерительных систем с максимально возможным уровнем показателей метрологической надежности.

Целью диссертационной работы является повышение метрологической надежности ИИС с помощью разработки метода повышения показателей метрологической надежности аналоговых блоков ИИС на этапе их проектирования при заданном схемотехническом решении.

Для достижения поставленной цели необходимо решить следующие задачи:

  • разработать алгоритм повышения метрологической надежности по критерию заданного значения метрологического ресурса ИИС;
  • разработать алгоритм повышения метрологической надежности ИИС по критерию максимума метрологического ресурса;
  • разработать алгоритм повышения метрологической надежности по критерию максимума вероятности сохранения метрологической исправности ИИС.

Объект исследования: метрологическая надежность аналоговых блоков ИИС.

Предмет исследования: процессы изменения метрологических характеристик ИИС.

Методы исследования – математическое моделирование, теоретическая метрология, математическая статистика, компьютерное моделирование.

Научная новизна. В диссертации получены следующие основные результаты, характеризующиеся научной новизной:

1. Разработан метод повышения метрологической надежности аналоговых блоков измерительных каналов и ИИС в целом, отличающийся изменением номиналов элементной базы, обеспечивающих при заданном схемотехническом решении аналоговых блоков оптимальные значения показателей их метрологической надежности.

2. Предложены новые алгоритмы повышения метрологической надежности ИИС по критериям заданного значения метрологического ресурса, максимума значения метрологического ресурса и максимума вероятности сохранения метрологической исправности. Алгоритмы заключаются в поиске оптимальных значений номиналов элементной базы аналоговых блоков ИИС на этапе их проектирования.

3. Разработана обобщенная методика оценки и повышения метрологической надежности информационно-измерительных систем, в которой впервые предложен единый алгоритм повышения показателей метрологической надежности исследуемых СИ при их проектировании.

Основные положения, выносимые на защиту:

1. Метод повышения метрологической надежности проектируемых ИИС при заданном их схемотехническом решении.

2. Алгоритм повышения метрологической надежности аналоговых блоков ИИС по критерию заданного метрологического ресурса.

3. Алгоритм повышения метрологической надежности аналоговых блоков ИИС по критерию максимума метрологического ресурса.

4. Алгоритм повышения метрологической надежности аналоговых блоков ИИС по критерию максимума вероятности метрологической исправности в произвольный момент времени предстоящей эксплуатации.

5. Обобщенная методика оценки и повышения метрологической надежности ИИС.

Практическая значимость и результаты внедрения.

1. Разработанный метод повышения метрологической надежности при проектировании аналоговых блоков ИИС позволяет повысить показатели метрологической надежности разрабатываемых СИ при неизменном их схемотехническом решении и сохранении их функционального назначения.

2. Создано программное обеспечение, реализующее алгоритмы повышения метрологической надежности ИИС.

3. Использование разработанных алгоритмов и программ их реализации позволяет повысить метрологическую надежность АБ и ИИС в целом не менее чем на 9%.

4. Результаты диссертационной работы приняты к использованию на ОАО «Талвис» и кафедре КРЭМС ФГБОУ ВПО «ТГТУ».

5. Результаты работы могут быть использованы в качестве инженерных методик оценки и повышения метрологической надежности широкого класса электронных ИС.

Апробация работы. Основные научные и практические результаты исследований по теме диссертации докладывались на IV Международной научно-практической интернет-конференции «Перспективные вопросы мировой науки» (Днепропетровск, 2008), Международной научно-техни-
ческой конференции «Диагностика – 2009» (Курск, 2009), 5-й Международной заочной научно-практической конференции «Глобальный научный потенциал» (Тамбов, 2009), XIV научной конференции ТГТУ «Фундаментальные и прикладные исследования, инновационные технологии, профессиональное образование» (Тамбов, 2009), Седьмой Международной теплофизической школе «Теплофизические исследования и измерения в энергосбережении, при контроле, управлении и улучшении качества продукции, процессов и услуг» (Тамбов, 2010), II Международной кластерной научно-практической конференции «Аспекты ноосферной безопасности в приоритетных направлениях деятельности человека» (Тамбов, 2011), Международной научной конференции «Актуальные научные достижения» (Чехия, 2011), Всероссийской научной школе «Актуальные проблемы нано- и микроэлектроники» (Тамбов, 2011).





Публикации. По материалам диссертации опубликовано 13 печатных работ, в том числе четыре статьи в ведущих рецензируемых научных журналах.

Структура и объем работы. Диссертация состоит из введения, четырех глав, заключения, списка литературы, трех приложений, изложена на 170 страницах и содержит 22 рисунка, 12 таблиц, список литературы включает 107 наименований.

ОСНОВНОЕ СОДЕРЖАНИЕ РАБОТЫ

Во введении обоснована актуальность темы диссертации, сформулированы цели и задачи работы, раскрыты научная новизна и практическая значимость проводимых в диссертации исследований.

В первой главе проведен информационный обзор и анализ задач, связанных с общей характеристикой проблемы МН в измерительной технике, а также анализ существующих методов повышения метрологической надежности ИИС. Показано, что основными путями повышения МН являются применение в ИИС высокостабильных элементов; создание для элементов ИИС условий работы, снижающих интенсивность их старения (дрейфов); выбор схемных решений и номинальных значений элементов, обеспечивающих минимальные коэффициенты влияния недостаточно стабильных элементов; применение элементов с разными направлениями скоростей дрейфа (селективный подбор скоростей дрейфа); резервирование элементов и блоков ИИС. Наиболее целесообразным путем повышения МН на этапе проектирования электронных СИ, в том числе ИИС, является повышение показателей МН за счет замены более ненадежных с точки зрения метрологической надежности элементов АБ на элементы с более высокими показателями метрологической стабильности, позволяющими достичь оптимальных значений как метрологического ресурса, так и вероятности сохранения метрологической исправности в произвольные моменты времени предстоящей эксплуатации.

Проведено изучение причин старения элементной базы аналоговых блоков ИС и показано, что остается актуальным решение задачи оценки и повышения МН исследуемых СИ. Кроме того, для существующих и вновь проектируемых ИИС не решены задачи обеспечения требуемого и оптимального уровня показателей их МН при эксплуатации, что снижает эффективность практического применения указанных СИ.

Проведена постановка задачи исследования.

Вторая глава посвящена разработке метода повышения показателей метрологической надежности аналоговых блоков ИИС, основанного на построении математических моделей изменения во времени метрологических характеристик исследуемых ИИС. Особо значимыми показателями МН являются метрологический ресурс и вероятность сохранения метрологической исправности в произвольный момент времени эксплуатации.

Расчет названых показателей МН производится на основе прогнозирования состояния нормируемых метрологических характеристик ИИС на область значений времени предстоящей эксплуатации.

Следует отметить, что повышение МН может рассматриваться для каждого из названных показателей, при этом выбирается один из значимых путей повышения МН на стадии проектирования ИИС, позволяющих увеличивать или с учетом качества элементной базы при заданной структуре СИ. Разработан общий алгоритм повышения метрологической надежности СИ, представленный на рис. 1, где пунктиром выделен блок, который является элементом научной новизны диссертации.

Рис. 1. Алгоритм повышения метрологической надежности ИИС

Очевидно, что достаточно важными этапами представленного алгоритма, от реализации которых зависит результат решения задачи оптимизации, являются блоки 1 – 5, определяющие методологию оценки и прогнозирования метрологических характеристик ИИС. Анализ представленной схемы, кроме того, показывает, что одним из основных и ответственных этапов реализации рассматриваемого алгоритма является процедура математического моделирования исследуемых метрологических характеристик.

Метрологические свойства и метрологическая надежность ИИС в наибольшей степени определяются метрологическими свойствами измерительного канала (ИК), который относится к основным функциональным узлам, входящим в ИИС.

В состав ИК входят аналоговые блоки. Увеличивая значения выбранных показателей метрологической надежности аналоговых блоков, входящих в измерительный канал, можно повысить МН измерительного канала и ИИС в целом.

Как показано на рис. 1, задача повышения МН может рассматриваться как задача оптимизации одного из показателей МН, решаемая посредством варьирования параметров комплектующих элементов АБ (блок 7).

При этом оптимизация параметров производится с расчетом обеспечения наилучшего качества. Кроме того, при решении таких задач необходимо учитывать сохранение функционального назначения проектируемого АБ, т.е. должны выполняться требования к выходным характеристикам аналоговых блоков и ИИС в целом.

Для проведения оптимизации необходима математическая модель АБ, целевая функция и оптимизационный алгоритм (рис. 2).

Целевая функция формализует требования, предъявляемые к АБ. В рассматриваемой задаче – это увеличение показателей МН проектируемой ИИС. В качестве целевых функций выступают основные показатели МН, т.е. и При этом может рассматриваться решение задачи оптимизации при достижении заданного и максимума , а также максимума в определенный момент времени предстоящей эксплуатации.

Оптимизационный алгоритм ищет экстремум целевой функции. На рис. 2 представлена структура взаимодействия названых составляющих, необходимых для решения задачи повышения метрологической надежности ИИС.

Рис. 2. Общая схема процесса оптимизации

– вектор параметров комплектующих элементов блока; – начальное значение параметров комплектующих элементов; – оптимальное значение параметров комплектующих элементов.

Разработанный метод повышения МН предполагает реализацию трех алгоритмов повышения соответствующих показателей метрологической надежности ИИС. Разработан алгоритм повышения метрологической надежности ИИС по критерию требуемой величины метрологического ресурса.

Задача заключается в разработке алгоритма обеспечения требуемого уровня метрологического ресурса при заданном уровне значимости g путем подбора номиналов элементов и может быть представлена в виде

при     (1)

где – метрологический ресурс ИИС в целом; – значение заданного метрологического ресурса; t – время; – совокупность метрологических характеристик СИ; – вектор внешних возмущающих воздействий; область внешних возмущающих воздействий; g – уровень значимости; – совокупность выходных характеристик СИ; – область работоспособности.

Разработан алгоритм повышения МН по критерию максимума МР.

Задача повышения метрологического ресурса проектируемой ИИС формулируется следующим образом: подобрать элементную базу так, чтобы при данном схемотехническом решении метрологический ресурс достиг максимального значения для проектируемой информационно-измерительной системы при условии сохранения ее функционального назначения. Указанная задача может быть записана в виде

  при  (2)

где – метрологический ресурс ИИС в целом; – значение метрологического ресурса i-го АБ; t – время; – совокупность метрологических характеристик ИИС; – совокупность выходных характеристик ИИС.

Очевидно, что решению задачи (2) предшествует задача нахождения максимального значения величины метрологического ресурса каждого из АБ, составляющих измерительный канал, т.е. в качестве целевой функции рассматривается величина максимального ресурса каждого АБ.

Разработан алгоритм повышения метрологической надежности по критерию максимума вероятности сохранения метрологической исправности путем подбора номиналов элементов, обеспечивающих максимальное значение выбранного показателя метрологической надежности информационно-измерительных систем:

при     (3)

где – вероятность сохранения метрологической исправности; – допустимое значение метрологических характеристик; t – время; – совокупность выходных характеристик информационно-измерительных систем.

Очевидно, что решению задачи (3) предшествует задача нахождения максимального значения вероятности сохранения метрологической исправности каждого из АБ, составляющих измерительный канал.

На рисунке 3 представлена обобщенная блок-схема, определяющая структуру реализации разработанных алгоритмов повышения показателей метрологической надежности ИИС. Основные этапы разработанных алгоритмов повышения МН заключаются в следующем.

  1. Формируется база данных по блокам, составляющим ИК ИИС, в которую входят структурная и принципиальная схемы, параметры элементной базы и технические характеристики, определяющие функциональное назначение составляющих ИК блоков.
  2. На основе анализа структурной и электрической схем для каждого аналогового блока, входящего в измерительный канал ИИС, строится математическая модель его функционирования:

  (4)

характеризующая зависимость значений нормируемой для исследуемого блока метрологической характеристики S от значения входного параметра x и параметров элементной базы ={ξ1, ξ2, ..., ξn}.

  1. Производится статистическое моделирование состояния метрологических характеристик исследуемых блоков, которое заключается в последовательном моделировании с учетом процессов старения параметров элементов схем в каждом временном сечении области контроля Т1, и моделировании реализаций метрологических характеристик блоков в различных временных сечениях . При этом используется известное допущение о нормальном законе распределения параметров элементов.

4. с помощью методов интерполяции по полученным в области контроля Т1 значениям параметров закона распределения метрологической характеристики и , для каждого блока строится математическая модель процесса изменения во времени метрологической характеристики.

Математические модели представляют собой совокупность аналитических зависимостей, полученных для функции изменения во времени математического ожидания исследуемой МХ и функций, характеризующих изменение во времени границ отклонения возможных значений метрологической характеристики от ее математического ожидания, определяемых выражением

(5)

где с – постоянный коэффициент, выбираемый в зависимости от заданного уровня доверительной вероятности Р и закона распределения метрологической характеристики (на практике выбирается с = 3 при уровне доверительной вероятности Р = 0,997 и нормальном законе распределения МХ); – значение среднеквадратического отклонения МХ.

5. Определяются показатели МН экстраполяцией зависимостей и , составляющих математическую модель изменения во времени исследуемой метрологической характеристики на область предстоящей эксплуатации.

6. В случае несоответствия значений показателей МН требованиям, представленным выражениями (1), (2), (3), реализуется один из алгоритмов повышения МН по показателям и

Для повышения МН в математической модели аналогового блока выделяются элементы, увеличение или уменьшение во времени параметров которых вызывает максимальное изменение значений метрологической характеристики. Выделение этих элементов осуществляют по величине нормируемой частной производной вида:

, (6)

где – значения частных производных, вычисленных по номинальным значениям параметров j-го комплектующего элемента блока; – параметры комплектующих элементов блока; – среднеквадратичное отклонение параметра j-го комплектующего элемента блока.

Затем осуществляется ранжирование элементов по абсолютному значению . Выделяются элементы, имеющие максимальное значение , по которым проводится поиск оптимального значения выбранного критерия оптимизации при условии сохранения работоспособности схемы проектируемого аналогового блока.

7. Далее реализуется процедура поиска оптимальных значений параметров выбранных элементов, обеспечивающих решение поставленных задач оптимизации в соответствии с условиями (1), (2), (3). Реализация разработанных в диссертации алгоритмов осуществляется с использованием основных положений метода конфигураций, который предполагает выполнение процедуры пробного поиска и рабочего поиска до момента получения требуемых или максимальных значений оптимизируемых показателей МН.

8. Процедура поиска оптимальных значений параметров элементной базы предполагает реализацию математического моделирования МХ и расчет показателей МН на каждом шаге поиска.

Рис. 3. Продолжение

Следует особо отметить, что проверка работоспособности проектируемого аналогового блока производится на каждом этапе после замены соответствующих элементов.

Описанный процесс производится до достижения требуемых или максимальных значений показателей МН каждого проектируемого аналогового блока измерительного канала и ИИС в целом.

В третьей главе представлена обобщенная методика повышения метрологической надежности при проектировании ИИС.

Методика основана на теоретических положениях методов повышения МН, разработанных в диссертации. Методика позволяет оценить показатели МН проектируемых ИИС, а также решать при необходимости задачи повышения выбранных показателей МН по критериям требуемого и максимального значения метрологического ресурса и максимума вероятности метрологической исправности.

В соответствии с методикой вводится единый алгоритм оценки и повышения метрологической надежности при проектировании информационно-измерительной системы. Блок-схема разработанной методики оценки, прогнозирования и повышения метрологической надежности ИИС приведена на рис. 4, где пунктиром выделены блоки, которые являются элементами научной новизны диссертации.

В четвертой главе представлены результаты практического применения разработанного метода и обобщенной методики повышения показателей метрологической надежности измерительного канала ИИС. Исследованы наиболее часто используемые на практике схемные решения АБ,

измерительные каналы информационно-измерительных систем, реализующих контактные и бесконтактные методы теплофизических измерений: аналого-импульсный преобразователь (АИП) и нормирующий усилитель, используемый в бесконтактных средствах НК.

Нормируемой метрологической характеристикой каждого из исследованных блоков являлась основная относительная погрешность

, (7)

где Uвых, Uвых.н – измеренное и номинальное значения выходного сигнала соответственно.

Условие метрологической исправности для каждого аналогового блока измерительного канала ИИС с учетом выбранной метрологической характеристики может быть записано в виде

(8)

Для каждого из названных блоков в соответствии с разработанной методикой построены математические модели. Экстраполяция математических моделей изменения основной относительной погрешности блоков позволила оценить значения показателей метрологической надежности. Показана возможность повышения показателей МН для каждого из рассматриваемых блоков. В соответствии с разработанной методикой осуществлена замена элементов с доминирующим влиянием на метрологическую характеристику на другие номиналы, что позволило получить более высокий уровень метрологической надежности проектируемых устройств.

В таблице 1 представлены сводные данные по реализации методики повышения показателей метрологической надежности для исследуемых аналоговых блоков измерительных каналов ИИС.

1. Результаты повышения метрологической надежности

Показатели МН

Типы блоков

Повышение МН
по критерию заданного значения МР

Повышение МН
по критерию максимума МР

Повышение МН по критерию максимума Pиспр

Значения МР до оптимизации, ч

Заданные
значения МР, ч

Значения МР до оптимизации, ч

Значения МР после оптимизации, ч

Значения Pиспр до оптимизации

Значения Pиспр после оптимизации

АИП

38 550

42 000

38 550

42 420

0,77

0,87

Нормирующий усилитель

32 000

35 000

32 000

39 000

0,70

0,80

Подробные расчеты решения задачи повышения показателей метрологической надежности рассматриваемых аналоговых блоков информационно-измерительных систем приведены в диссертации.

Полученные результаты показывают, что применение разработанной методики при проектировании ИИС позволяет дать вероятностную оценку выбранному показателю метрологической надежности таких устройств, а также увеличить значение показателя метрологической надежности ИИС более чем на 9%. Таким образом, достигнута основная цель диссертационной работы – решена задача оценки и повышения метрологической надежности аналоговых блоков измерительных каналов и ИИС в целом.

В приложениях приведены текст компьютерной программы повышения показателей метрологической надежности АБ ИИС исследуемых блоков, а также результаты статистического моделирования и материалы по внедрению.

ОСНОВНЫЕ РЕЗУЛЬТАТЫ РАБОТЫ

1.  В результате анализа существующих методов повышения метрологической надежности ИИС показано, что они не учитывают оптимальный выбор элементной базы. Это снижает адекватность построенных математических моделей метрологических характеристик, а также эффективность и точность прогнозирования метрологической надежности проектируемых ИИС. Поэтому первоочередной задачей в области метрологического обеспечения ИИС является разработка методов повышения метрологической надежности с учетом оптимального выбора элементной базы.

2.  Предложен метод повышения показателей метрологической надежности ИИС. Метод позволяет выбрать параметры элементной базы, обеспечивающие при заданном схемотехническом решении аналоговых блоков оптимальные значения показателей МН для проектируемого аналогового блока измерительного канала и ИИС при условии сохранения функционального назначения проектируемых СИ в целом.

3.  Разработан алгоритм повышения метрологической надежности ИИС по критерию требуемой величины метрологического ресурса, основанный на математическом моделировании метрологических характеристик исследуемого блока. Алгоритм заключается в поиске оптимальных значений параметров элементной базы аналоговых блоков, обеспечивающих требуемое значение выбранного показателя метрологической надежности.

4. Предложен алгоритм поиска максимума метрологического ресурса аналоговых блоков, входящих в состав измерительных каналов ИИС, который позволяет при использовании математической модели АБ и базы данных по элементам определить максимально возможное значение метрологического ресурса исследуемых аналоговых блоков и ИИС в целом.

5.  Разработан алгоритм повышения метрологической надежности ИИС по критерию вероятности сохранения метрологической исправности. Алгоритм заключается в поиске оптимальных значений параметров элементной базы аналоговых блоков ИИС, обеспечивающих максимальное значение показателя вероятности сохранения метрологической исправности в произвольный момент времени предстоящей эксплуатации информационно-измерительных систем.

6.  На основе предложенного в диссертации метода разработана обобщенная методика повышения метрологической надежности информационно-измерительных систем, которая позволяет реализовать единый алгоритм прогнозирования метрологической надежности исследуемых СИ при их проектировании и повышения выбранного показателя метрологической надежности ИИС.

7.  Экспериментальная проверка предложенной обобщенной методики позволяет дать вероятностную оценку выбранных показателей метрологической надежности таких устройств, а также увеличить значение показателя метрологической надежности ИИС более чем на 9%.

В результате выполнения диссертационной работы получено решение научной задачи оценки и повышения метрологической надежности ИИС на основе математического моделирования нестационарных случайных процессов изменения во времени исследуемых метрологических характеристик с использованием аппарата аналитико-вероятностного прогнозирования.

СПИСОК ПУБЛИКАЦИЙ ПО ТЕМЕ ДИССЕРТАЦИИ

Публикации в изданиях, рекомендуемых ВАК РФ

  1. Отхман, Н.З. Математическое моделирование метрологических характеристик аналоговых измерительных средств / Н.З. Отхман // Вопросы современной науки и практики. Университет им. В.И. Вернадского. – 2007. – № 1(7). – С. 197 – 200.
  2.  Чернышова, Т.И. Повышение метрологической надежности аналоговых блоков измерительных систем / Т.И. Чернышова, Н.З. Отхман,
    Л.И. Рожнова // Вестник Тамбовского государственного технического университета. – 2009. – Т. 15, № 1. – С. 80 – 85.
  3. Чернышова, Т.И. Повышение показателей метрологической надежности при проектировании информационно-измерительных систем /
    Т.И. Чернышова, Н.З. Отхман, В.И. Полухин // Вестник Тамбовского государственного технического университета. – 2011. – Т. 17, № 2. – С. 365 – 370.
  4. Чернышова, Т.И. Повышение метрологической надежности информационно-измерительных систем / Т.И. Чернышова, Н.З. Отхман // Вопросы современной науки и практики. Университет им. В.И. Вернадского / спец. выпуск (36)/(2011). – С. 86 – 90.

Статьи и материалы конференций

1. Отхман, Н.З. Метод повышения метрологической надежности измерительных систем путем оптимального выбора номиналов элементов / Н.З. Отхман, И.Г. Васильев // Труды [ТГТУ]. – Тамбов. – 2008. – Вып. 21. – С. 139 – 143.

2. Чернышова, Т.И. Повышение метрологической надежности электронных измерительных средств / Т.И. Чернышова, Н.З. Отхман // Бъдещето проблемите на световната наука – 2008 : материали за IV Междунар. науч. практ. конф., 17 – 25 дек. 2008. – София, 2008. – C. 29 – 31.

3. Чернышова, Т.И. Метод повышения метрологического ресурса при проектировании электронных измерительных средств / Т.И. Чернышова, Н.З. Отхман, И.Г. Васильев // Фундаментальные и прикладные исследования, инновационные технологии, профессиональное образование : материалы 13-й науч. конф. Тамб. гос. тех. ун-та. – 2008. – С. 63–64.

4. Чернышова, Т.И. Повышение метрологической надежности аналоговых блоков информационно-измерительных систем / Т.И. Чернышова, Н.З. Отхман // Информационно-измерительные, диагностические и управляющие системы-1 : материалы Междунар. науч.-техн. конф. – 2009, 13 – 15 мая 2009 г. – Курск. – Ч. 1. – C. 24 – 27.

5. Чернышова, Т.И. Повышение метрологического ресурса при проектировании измерительных систем / Т.И. Чернышова, Н.З. Отхман, В.И. Полухин // Глобальный научный потенциал : 5-я Междунар. заочная науч.-практ. конф. – Тамбов, 16–17 июня 2009. – C. 48–49.

  1. Чернышова, Т.И. Повышение показателей метрологической надежности аналоговых блоков информационно-измерительных систем / Т.И. Чернышова, Н.З. Отхман // Теплофизические исследования и измерения в энергосбережении, при контроле, управлении и улучшении качества продукции, процессов и услуг : VII Междунар. теплофиз. шк. – Тамбов, 2010. – С. 135 – 137.
  2. Отхман, Н.З. Повышение показателей метрологической надежности электронных измерительных средств // Аспекты ноосферной безопасности в приоритетных направлениях деятельности человека : материалы
    II Междунар. кластерной науч-практ. конф. – Тамбов : Изд-во ТР-ПРИНТ, 2011. – С. 86–87.
  3. Отхман, Н.З. Метод повышения уровня метрологической надежности проектируемых электронных измерительных средств / Н.З. Отхман // Актуальные научные достижения, 27 июня – 05 июля 2011 г., Чехия. – С. 54 – 56.
  4. Отхман, Н.З. Оценка и повышение метрологического ресурса проектируемых электронных измерительных средств / Н.З. Отхман,
    В.И. Полухин // Актуальные проблемы нано – и микроэлектроники : Всерос. науч. шк. – Тамбов. – 2011. – C. 220–221.
  5. Свидетельство № 2011610915 о регистрации программы для ЭВМ. Программа оценки и повышения метрологической надежности по критерию максимума метрологического ресурса / Т.И. Чернышова,
    Н.З. Отхман (РФ) ; опубл. 24.01. 2011 г.
  6. Свидетельство № 2011611057 о регистрации программы для ЭВМ. Программа оценки и повышения метрологической надежности по критерию требуемого метрологического ресурса / Т.И. Чернышова,
    Н.З. Отхман (РФ) ; опубл. 31.01. 2011 г.





© 2011 www.dissers.ru - «Бесплатная электронная библиотека»

Материалы этого сайта размещены для ознакомления, все права принадлежат их авторам.
Если Вы не согласны с тем, что Ваш материал размещён на этом сайте, пожалуйста, напишите нам, мы в течении 1-2 рабочих дней удалим его.