WWW.DISSERS.RU

БЕСПЛАТНАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ БИБЛИОТЕКА

загрузка...
   Добро пожаловать!

Pages:     | 1 | 2 ||

Отличие численных значений экспериментальных и теоретических данных не превышает 30%, что вполне удовлетворяет требованиям, предъявляемым к экспресс методам.

5. На основе результатов теоретических и экспериментальных исследований обоснованы основные конструктивные и эксплуатационные требования, которым должна отвечать аппаратная база, предназначенная для контроля шероховатости поверхности.

6. В соответствии с предложенной физико-математической моделью обосновано конструктивное решение макета прибора, пригодного к применению непосредственно в технологическом процессе.

7. Выполненный анализ адекватности физико-математической модели по результатам сопоставления данных рабочего эталона и разработанного макета прибора позволяет рекомендовать разработанный метод и реализующий его прибор к применению в производстве наравне со стандартными контактными измерителями высотных параметров шероховатости.

8. Определено, что использование настраиваемых вычислительных элементов в измерителе в совокупности с разработанным ПО для процесса контроля высотных параметров шероховатости позволяет гибко адаптировать возможности прибора под потребности автоматизированного процесса.

9. Сертификация разработанного и изготовленного прибора в Госстандарте РФ и утверждение его в качестве нового типа измерителя шероховатости поверхности позволяет расширить номенклатуру контролируемых типов поверхностей.

СПИСОК НАУЧНЫХ ТРУДОВ ПО ТЕМЕ ДИССЕРТАЦИИ 1. Mendeleev V.Ya., Skovorod'ko S.N., Porotov V.N., Kim K.Yu. "Small optical device for measurement of surface roughness" - Proceedings of SPIE v.4607, pp.214-216 (2001).

2. Alimov S.I., Kim K.Yu., Mendeleev V.Ya., Skovorod'ko S.N., Porotov V.N. “Portable optical sensor for surface roughness measurements” Steel Times International v.26, n.26, p.28 (2002).

3. Ким К.Ю. “Оптический метод бесконтактного контроля шероховатости поверхностей” Тезисы доклада на межвузовской научно-технической конференции “Микроэлектроника и информатика - 2002”. МИЭТ 2002. – С.4. Ким К.Ю., Грушевский А.М. “Особенности автоматизированного оптического контроля шероховатости поверхности кремния в процессе его утонения.” Тезисы доклада на межвузовской научнотехнической конференции “Микроэлектроника и информатика - 2004”. МИЭТ 2004. - С.5. Ким К.Ю., Никулин В.Б., Грушевский А.М. “Оптический метод бесконтактного контроля шероховатости при автоматизации технологического процесса”. Известия высших учебных заведений.

Электроника.- 2004.- №5.- C.79-83.

6. Ким К.Ю., Менделеев В.Я. “Теоретическая и экспериментальная оценка коэффициента отражения слабошероховатых поверхностей”.

7. Тезисы доклада конференции “Лазеры. Измерения. Информация.”.

Санкт-Петербург. 2004. - С.8. Ким К.Ю., Никулин В.Б., Грушевский А.М. “Оптический контроль шероховатости поверхностей при автоматизации технологических процессов”. Известия ВУЗов ”Электроника”, Вып.5, 2004. - с.38-9. Ким К.Ю., Ларионов Н.М. “Автоматический контроль шероховатости в техпроцессе” Тезисы доклада конференции “Актуальные проблемы информатизации. Развитие информационной инфраструктуры, технологий и систем – 2008”, МИЭТ.- M.- 2008.- С. Формат 60x84 1/16. Уч.-изд.л. 1,2.Тираж 100 экз. Заказ.

Отпечатано в типографии ИПК МИЭТ.

124498, Москва, Зеленоград, проезд 4806, д.5. МИЭТ

Pages:     | 1 | 2 ||






© 2011 www.dissers.ru - «Бесплатная электронная библиотека»