WWW.DISSERS.RU

БЕСПЛАТНАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ БИБЛИОТЕКА

загрузка...
   Добро пожаловать!

Pages:     || 2 | 3 | 4 | 5 |

На правах рукописи

Манакова Алёна Юрьевна ИЗМЕРЕНИЕ НИЗКОЙ АЛЬФА-АКТИВНОСТИ МАТЕРИАЛОВ МИКРОЭЛЕКТРОНИКИ:

МЕТОДИКА И ОБОРУДОВАНИЕ.

Специальность 01.04.01 – «Приборы и методы экспериментальной физики»

АВТОРЕФЕРАТ

диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук

Ижевск – 2009 2

Работа выполнена ГОУ ВПО «Удмуртский государственный университет»

Научный консультант: кандидат технических наук, Буденков Бронислав Алексеевич

Официальные оппоненты:

доктор физико-математических наук Дорофеев Геннадий Алексеевич кандидат технических наук Морозов Виктор Александрович

Ведущая организация: ГОУ ВПО «Ижевский государственный технический университет»

Защита состоится 28 декабря 2009 г. в 15:00 часов в ауд. 2, корп. 4 УдГУ на заседании диссертационного совета ДМ 212.275.03 при Удмуртском государственном университете по адресу: 426034, г. Ижевск, ул. Университетская, 1.

Отзывы на автореферат в двух экземплярах, заверенные гербовой печатью, просим направлять по адресу:

426034, г. Ижевск, ул. Университетская, 1.

С диссертацией можно ознакомиться в библиотеке Удмуртского государственного университета, с авторефератом – на сайте http://lib.udsu.ru.

Автореферат разослан «_ » 2009 г.

Ученый секретарь диссертационного совета, к. ф.-м. н., доцент _П.Н. Крылов 3

ОБЩАЯ ХАРАКТЕРИСТИКА РАБОТЫ

Диссертационная работа посвящена созданию методики производственного контроля низкой и ультра низкой альфа-активности материалов лабораторным газовым пропорциональным счётчиком, разработке и созданию опытного образца оборудования для измерения низкой и ультра низкой альфа-активности материалов микроэлектроники в производственных условиях.

Объект исследования - измерение низкой и ультра низкой поверхностной альфа-активности веществ.

Предмет исследования - технологии проведения измерений и создание приборов и оборудования для определения низкой и ультра низкой альфа-активности материалов микроэлектроники.

Актуальность темы. Задача измерения низких уровней альфа-активности материалов микроэлектроники была впервые сформулирована в 1978 году, когда было выявлено, что альфа-частицы с энергией выше 1 МэВ могут быть одной из причин мягких сбоев элементов динамической памяти [Л1]. Стремительное развитие микро- и нано - электроники ставит новые задачи перед исследователями и разработчиками технологий применяемых материалов и приборов контроля. С уменьшением топологии интегральных схем увеличивается влияние альфа-частиц на частоту сбоев в работе как динамических, так и статических элементов памяти и других микроэлектронных устройств. Для реализации 180-нм топологии требуются материалы, альфа-активность которых не превышает 0,02 (час·см2), для 130-нм / топологии эта величина не должна превышать 0,002/(час·см2).

В России низко альфа-активные (0.02 – 0.01 /(час·см2)), сверх низко активные (0.005 – 0.002 /(час·см2)) и ультра низко активные (0.001/(час·см2)) свинец, олово, свинцово-оловянные сплавы, безсвинцовые сплавы, медь, никель и другие материалы, используемые в микропроцессорах, микросхемах памяти и других элементах с характеристическими размерами структур менее 180 нм, с 1998 года производит ЗАО «Чистые технологии» (до 2005 года - «Материалы микроэлектроники») (г. Ижевск).

Для сертификации материалов микроэлектроники по альфа-активности в основном применяют поверхностные методы измерений. Альфа-активность среднего и низкого уровней (ниже 0,05 /(час·см2)) обычно измеряют пропорциональными газовыми счетчиками в виде многопроволочных пропорциональных камер.

Выпускаемые в настоящее время серийно многопроволочные пропорциональные камеры позволяют в лабораторных условиях при длительных измерениях определять активность образцов на уровне 0,005 /(час·см2) и выше с достаточной достоверностью. Современные материалы микроэлектроники обладают активностью порядка 0.001 /(час·см2) и ниже, которую существующие приборы не позволяют достоверно измерять. Необходимость применения таких приборов возникает на производстве – при выходном и входном контроле материалов микроэлектроники. Поэтому использование существующих лабораторных приборов на производстве требует разработки специальных методик их применения [1]. В ЗАО «Чистые технологии» для измерения альфа-активности материалов применяются газовые пропорциональные счётчики модели 1950 производства “Alpha Sciences Inc.” (ранее - “Spectrum Sciences Inc.”) (США).

Важнейшим условием применения детектора для входного контроля является обеспечение устойчиво низкого уровня его фона от 0,002отсчётов/(час·см2) и ниже.

Необходимо также увеличение допустимой площади образца выше общепринятой 1000 см2 для возможности осуществления экспресс-контроля больших партий материалов. Для снижения погрешности измерений, особенно на уровне фона, прибор должен позволять вести длительный попеременный счёт фона и образца без вскрытия камеры. Нерешённой проблемой является задача калибровки детекторов, т.к.

отсутствует стандартный низко альфа-активный эталон и стандартная методика поверки приборов.

Таким образом, в настоящее время актуальны разработка методики производственного контроля материалов микроэлектроники с применением существующих приборов и создание нового прибора для измерения низкой альфа-активности материалов микроэлектроники, удовлетворяющего современным требованиям [1].

Цель работы заключается в создании методики и оборудования для измерения низкой и ультра низкой альфа-активности материалов микроэлектроники. В соответствии с поставленной целью в работе решены следующие задачи:

1. Исследование характеристик газового пропорционального счётчика модели 1950, “Alpha Sciences Inc.” (США), в том числе его спектральной чувствительности.

2. Исследование влияния составляющих фона многопроволочной газовой пропорциональной камеры на величину рабочего фона прибора модели 1950, “Alpha Sciences Inc.” (США).

3. Разработка рекомендаций по снижению рабочего фона газового пропорционального счётчика модели 1950, “Alpha Sciences Inc.” (США).

4. Исследование альфа-активности образцов материалов микро- электроники в зависимости от их состава и геометрической формы.

5. Разработка методики производственного контроля низкой и сверх низкой альфа-активности материалов микроэлектроники с применением газового пропорционального счётчика модели 1950, “Alpha Sciences Inc.” (США).

6. Создание конструкции низкофонового детектора альфа-частиц большой площади.

7. Измерение альфа-активности конструкционных и технологических материалов для низкофонового детектора альфа-частиц.

8. Разработка и изготовление опытного образца газового пропорционального счётчика для измерения уровня альфа-излучения материалов с чувствительностью ниже 0,0005 альфа-распадов с см2 в час.

9. Тестирование опытного образца газового пропорционального счётчика для измерения уровня альфа-излучения материалов с чувствительностью ниже 0,альфа-распадов с см2 в час.

10. Разработка и тестирование калибровочного источника альфа-излучения для низкофоновых газовых пропорциональных счётчиков большой площади.

Методы исследований. В диссертации использован комплексный подход, включающий теоретические и экспериментальные методы исследований. В экспериментальных исследованиях применялись статистические методы обработки результатов экспериментов.

Достоверность результатов исследований и работоспособность созданных систем и устройств подтверждена экспериментальными исследованиями и практически реализованными разработками.

Научная новизна заключается в исследовании характеристик серийного лабораторного прибора для измерения альфа-активности, разработке методики его применения для производственного контроля альфа-активности материалов микроэлектроники, в создании опытного образца промышленного низкофонового детектора альфа-частиц. Из полученных в диссертационной работе результатов как новые и актуальные могут рассматриваться следующие:

1. Исследование вкладов компонентов фона многопроволочной газовой пропорциональной камеры в результирующий фон прибора модели 1950, “Alpha Sciences Inc.” (США).

2. Выявление неконтролируемой систематической погрешности существующих серийных газовых пропорциональных счётчиков альфа-частиц большой площади.

3. Метод измерения спектральной чувствительности счётчиков альфаизлучения.

4. Выявление чувствительности газовых пропорциональных счётчиков модели 1950, “Alpha Sciences Inc.” (США) к альфа-частицам с энергией менее 1 МэВ.

5. Методика производственного контроля низкой и сверх низкой альфаактивности материалов микроэлектроники.

6. Конструкция низкофонового детектора альфа-частиц большой площади.

7. Экспериментальное определение альфа-активности АБС-пластика, оргстекла, полиэтилена, полипропилена, стали различных марок, фторопласта, силиконового герметика, медной и вольфрамовой проволок, моющих технологических растворов и протирочного материала.

8. Опытный образец газового пропорционального счётчика для измерения уровня альфа-излучения материалов и изделий с собственным фоном 0,6 отсчётов в час при рабочей площади детектора 1500 см2 с калибровочным источником альфаизлучения активностью 0,2±0,006 /(час·см2).

Реализация и внедрение работы. Результаты диссертационной работы использованы при разработке методики производственного контроля низкой и ультра низкой альфа-активности материалов микроэлектроники, выпускаемых ЗАО “Чистые технологии”, а также при создании опытного образца газового пропорционального счётчика для измерения альфа-активности материалов в производственных условиях в ЗАО “Чистые технологии ”.

Положения, выносимые на защиту.

1. Выявление неконтролируемой систематической погрешности существующих серийных газовых пропорциональных счётчиков альфа-частиц большой площади.

2. Метод измерения спектральной чувствительности счётчиков альфаизлучения.

3. Методика производственного контроля низкой и сверх низкой альфаактивности материалов микроэлектроники.

4. Опытный образец газового пропорционального счётчика для измерения уровня альфа-излучения материалов и изделий с фоном 0,6 отсчётов в час при рабочей площади детектора 1500 см2 с калибровочным источником активностью 0,2±0,006 /(час·см2).

Апробация работы. Материалы диссертационной работы докладывались и обсуждались на Всероссийской научно-технической конференции «Микро- и наноэлектроника – 2001» (Звенигород, 2001), I Всероссийской конференции «Аналитические приборы» (С.-Петербург, 2002), VI Международном совещании «Проблемы прикладной спектрометрии и радиометрии» (Менделеево, 2002).

Публикации. Материалы диссертационной работы полностью отражены в научных изданиях. Общее число публикаций – 13, в том числе: статьи в рецензируемых журналах – 2; статьи в журнале, сборнике и материалах конференций – 1;

патент – 1; отчет о НИР – 1, тезисы докладов конференций – 8.

Личный вклад. Теоретические и экспериментальные результаты, изложенные в диссертации, получены лично соискателем. Постановка задач, определение методов их решения и анализ результатов экспериментов при исследованиях низкой альфа-активности материалов микроэлектроники и создании методики производственного контроля проведены совместно с соавторами опубликованных работ при непосредственном участии соискателя. Автором самостоятельно проводились измерения альфа-активности материалов. Автор осуществлял руководство работами по внедрению методики контроля низкой альфа-активности на производстве материалов микроэлектроники. Автором поставлены научные задачи, выбраны пути их решения и предложена их реализация в разработке прибора для измерения ультра низкой альфа-активности. Автор принимал непосредственное участие в сборке, калибровке и тестировании опытного образца прибора.

Диссертационная работа состоит из введения, трёх глав, заключения, списка литературы из 91 наименования и 6 приложений. Диссертация изложена на страницах, содержит 17 рисунков, 17 таблиц. В приложениях предоставлены документы о практическом использовании результатов работы.

СОДЕРЖАНИЕ РАБОТЫ

Введение содержит обоснование актуальности темы диссертационной работы, формулировку целей и задач, описание научной новизны, практическую значимость, защищаемые положения и раскрывает структуру диссертации.

В первой главе «Альфа-активность материалов микроэлектроники и её измерение» с целью постановки задачи проведён анализ литературных данных.

Глава состоит из четырёх разделов. В первом разделе рассмотрены основные при чины возникновения случайных сбоев в элементах интегральных схем, и показано, что альфа-активность материалов микроэлектроники, наряду с космическим излучением, является основной причиной возникновения мягких ошибок в статических и динамических элементах памяти.

Второй раздел посвящён альфа-активности материалов микроэлектроники как причине случайных сбоев элементов интегральных схем. Описан механизм нарушения альфа-частицами работы микроэлектронных устройств, рассмотрены источники альфа-активности материалов микроэлектроники, способы её снижения и учёта. Показано, что задача достоверного измерения низкой и ультра низкой альфаактивности материалов микроэлектроники становится всё более актуальной по мере уменьшения топологии интегральных схем.

В третьем разделе дан обзор методов измерения альфа-активности материалов микроэлектроники. Рассмотрев конструкционные особенности и эксплуатационные характеристики основных типов счётчиков альфа-активности, автор приходит к заключению, что для входного и технологического контроля низко альфаактивных материалов в микроэлектронной промышленности наибольшими преимуществами обладают многопроволочные пропорциональные камеры.

В четвёртом разделе рассмотрены перспективы приборостроения для измерения низкой альфа активности материалов микроэлектроники. Показано, что использование существующих многопроволочных пропорциональных камер в производственных условиях требует разработки специальных методик для их применения [1]. Сделан вывод о том, что для решения задач измерения альфа-активности современных материалов микроэлектроники целесообразно создание нового прибора, обеспечивающего необходимую точность результатов в производственных условиях.

Pages:     || 2 | 3 | 4 | 5 |






© 2011 www.dissers.ru - «Бесплатная электронная библиотека»